RU170734U1 - Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов - Google Patents

Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов Download PDF

Info

Publication number
RU170734U1
RU170734U1 RU2016146278U RU2016146278U RU170734U1 RU 170734 U1 RU170734 U1 RU 170734U1 RU 2016146278 U RU2016146278 U RU 2016146278U RU 2016146278 U RU2016146278 U RU 2016146278U RU 170734 U1 RU170734 U1 RU 170734U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
reflector
resonator
hole
measuring
phase
Prior art date
Application number
RU2016146278U
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Владимирович Бадьин
Игорь Олегович Дорофеев
Григорий Ефимович Дунаевский
Валентин Иванович Сусляев
Игорь Владиленович Минин
Олег Владиленович Минин
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ, НИ ТГУ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ, НИ ТГУ) filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ, НИ ТГУ)
Priority to RU2016146278U priority Critical patent/RU170734U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU170734U1 publication Critical patent/RU170734U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G01R27/06Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Использование: для измерения и контроля коэффициента отражения электромагнитных волн от плоских объектов. Сущность полезной модели заключается в том, что в резонаторном устройстве, содержащем последовательно соединенные СВЧ генератор, калиброванный аттенюатор, открытый двухзеркальный резонатор с элементами связи и отверстием в одном из отражателей для облучения исследуемого объекта, а также устройство перемещения образца, регистратор положения исследуемого образца и регистратор амплитуды резонансного колебания отверстием в отражателе и исследуемым объектом расположена формирующая фотонную струю диэлектрическая частица из материала с малыми диэлектрическими потерями на используемой для измерений частоте, имеющая характерные размеры не менее 0,5 длины волны используемого излучения. Технический результат: обеспечение возможности измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов в широком диапазоне длин волн, от сантиметрового до оптического, с субволновым разрешением и повышения точности измерений. 1 ил.

Description

Полезная модель относится к средствам радиоволновой неразрушающей СВЧ диагностики материалов. Устройство может быть использовано для измерения и контроля коэффициента отражения электромагнитных волн от плоских объектов.
Известно устройство для измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов, описанное в [1]. Данное устройство работает по схеме нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО), обеспечивает размещение исследуемого образца на плоской поверхности НПВО-элемента с высоким показателем преломления, обеспечивающим полное внутреннее отражение излучения от поверхности раздела НПВО-элемента и образца, подачу светового пучка на поверхность раздела НПВО-элемента и образца, и регистрацию отраженного светового пучка. В качестве светового пучка используют пучок монохроматического излучения с расходимостью не более 5⋅10-2 рад.
К недостаткам данного устройства можно отнести невысокую чувствительность, характерную для пучковых методов, а также разрешающую способность хуже дифракционного предела, несмотря на использование пучков с низкой расходимостью.
Известно устройство для ближнеполевого СВЧ-контроля параметров материалов, содержащее СВЧ-генератор с подключенным к нему прямоугольным волноводом, имеющим измерительное устройство с волноводной резонансной системой в качестве оконечного устройства, причем оконечное устройство содержит емкостную металлическую диафрагму, отличающееся тем, что на емкостную металлическую диафрагму наложен плоскопараллельный образец диэлектрика с площадью, равной площади фланца волновода, а на образец диэлектрика наложен зонд в виде металлической проволоки с заостренным концом, изогнутым под прямым углом, отрезок зонда большей длины расположен на диэлектрической пластине перпендикулярно щели в диафрагме, отрезок зонда с заостренным концом меньшей длины перпендикулярен плоскости образца диэлектрика [2]. Данное устройство использует резонаторный метод и позволяет достичь очень высокого разрешения при взаимодействии с объектом, однако, по сути, в квазистатическом поле. К тому же устройство работает практически только в сантиметровом диапазоне длин волн.
Наиболее близким к заявляемому техническому решению по технической сущности и достигаемому техническому результату является устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов, описанное в [3] (выбрано за прототип). Устройство реализует квазиоптический резонаторный метод измерения модуля и фазы плоскопараллельных листовых материалов. Исследуемый объект находится за отверстием в одном из отражателей открытого резонатора. Перемещая объект, исследуют поле резонаторных колебаний излучения.
К недостаткам такого устройства можно отнести то, что к геометрическим характеристикам отверстия предъявляются достаточно противоречивые требования. С одной стороны, размеры отверстия необходимо выполнять как можно большими по сравнению с длиной волны для достижения минимальной расходимости пучка между зеркалом и объектом, с другой – их необходимо уменьшать для достижения более высокой локальности измерений и уменьшения вариаций амплитуды поля по его площади. Поэтому локальность измерений здесь ограничена величиной, заметно превышающей длину волны, а погрешность измерений велика.
Технической задачей полезной модели является возможность измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов с субволновым разрешением в широком диапазоне длин волн, от сантиметрового до оптического, и повышение точности измерений.
Поставленная задача решена следующим образом. В резонаторном устройстве, содержащем последовательно соединенные СВЧ генератор, калиброванный аттенюатор, открытый двухзеркальный резонатор с элементами связи и отверстием в одном из отражателей для облучения исследуемого объекта, а также устройство перемещения образца, регистратор положения исследуемого образца, регистратор амплитуды резонансного колебания, в отличие от прототипа между указанным отверстием в отражателе и исследуемым объектом расположена формирующая фотонную струю диэлектрическая частица из материала с малыми диэлектрическими потерями на используемой для измерений частоте, имеющая характерные размеры не менее 0.5 длины волны используемого излучения и не более 0,5 радиуса резонансного пучка на отражателе.
Устройство поясняется схемой фиг. 1.
Устройство включает в себя открытый СВЧ резонатор 1, образованный двумя зеркальными отражателями 2 и 3, СВЧ генератор сигнала 4, калиброванный аттенюатор 5, индикатор 6, регистраторы 7 и 8, исследуемый объект (образец) 9, элементы связи 11. В одном из отражателей выполнено измерительное отверстие 10, в котором размещают диэлектрическую частицу 13, за ней расположено устройство перемещения образца 12. Частица выполнена из материала с малыми диэлектрическими потерями на используемой для измерений частоте и имеет характерный размер, сравнимый с длиной волны падающего излучения.
Перемещения объекта осуществляют в области за дальней относительно отражателя 3 плоскостью диэлектрической частицы 13, при этом электрическое поле, падающее на исследуемый объект 9, формируется данной частицей, через нее же в открытый резонатор возвращается отраженный сигнал.
Устройство работает следующим образом.
Сигнал с генератора 4 через первый элемент связи 11 возбуждает в открытом резонаторе 1 основной типа колебаний, который имеет максимум поля на оси резонатора и наибольшую однородность по площади измерительного отверстия. Волна резонансного колебания проходит через диэлектрическую частицу 13, отражается от исследуемого объекта 9 и возвращается в резонатор. В то же время регистратор 8 фиксирует изменение положения исследуемого образца при его перемещении устройством 12. При перемещении образца амплитуда колебаний в резонаторе изменяется. Изменение амплитуды прошедшего через другой элемент связи 11 резонатор сигнала измеряется калиброванным аттенюатором 5 и регистрируется регистратором 7, подключенным к индикатору 6.
Модуль и фазу коэффициента отражения от объекта измеряют следующим образом. Исследуемый объект 9 располагают вплотную с внешней стороны отражателя 3 напротив отверстия 10. С помощью устройства перемещения 12 образец 9 удаляют от зеркала 3 и индикатором 6 фиксируют первое экстремальное значение коэффициента передачи открытого резонатора, минимальное Аmin, или максимальное Аmax. Затем последовательно находят второе экстремальное значение, соответственно максимальное Аmax или минимальное Аmin. Модуль коэффициента отражения находят по формуле:
Figure 00000001
,
где
Figure 00000002
, а з – коэффициент полезного действия отверстия. Значение з может быть определено путем замены исследуемого образца 9 на калибровочный объект с коэффициентом отражения, близким к 1, например, отполированный металлический лист:
Figure 00000003
,
где
Figure 00000004
, при этом
Figure 00000005
находятся тем же способом, что и для исследуемого образца 9.
При положении исследуемого образца 9, соответствующем экстремальному значению коэффициента передачи Аmax или Аmin, с помощью регистратора 8 определяют расстояние от исследуемого образца 9 до отражателя 3, соответственно bmax или bmin. Таким же образом определяют расстояния
Figure 00000006
и
Figure 00000007
, соответствующие экстремальным значениям коэффициентов передачи
Figure 00000008
и
Figure 00000009
для калибровочного объекта. Фаза коэффициента отражения от образца вычисляется по формуле
Figure 00000010
,
либо по формуле:
Figure 00000011
,
где λ – длина волны используемого типа колебаний открытого резонатора.
В заявленном резонаторном устройстве, в отличие от прототипа, величину отверстия можно уменьшить до величины, которая примерно равна половине длины волны, поскольку характерный размер диэлектрической частицы, выполненной, например, в форме кубика или параллелепипеда, может быть достаточно мал. При этом за гранью кубика, обращенной к объекту, формируется фотонная струя (область повышенной интенсивности) [4], размеры которой в направлении, перпендикулярном оси резонатора, становятся меньшими дифракционного предела, что существенно повышает локальность измерений коэффициента отражения образцов. В то же время, в направлении оси резонатора величина фотонной струи может составлять величину более двух длин волн. Это позволяет при измерении фазы использовать несколько отсчетов, что повышает точность измерений.
При использовании диэлектрических частиц другой формы, например, сферы или призмы, ее характерный размер должен быть порядка длины волны используемого излучения [5-6]. Таким образом, уменьшение размеров измерительного отверстия в отражателе открытого резонатора при использовании диэлектрической частицы не только не приводит к увеличению расходимости пучка, а наоборот, позволяет существенно уменьшить площадь взаимодействия резонансного колебания с исследуемым объектом. При этом также повышается равномерность распределения амплитуды поля на отверстии.
Технический результат достигается за счет того, что в указанном отверстии, между отражателем и измеряемым объектом расположена малая диэлектрическая частица, формирующая фотонную струю, с характерным размером не менее 0,5 длины волны используемого излучения. При размерах более 0,5 радиуса резонансного пучка на отражателе эффект локализации взаимодействия с объектом незначителен.
Литература:
1. Патент РФ 2396547 C1, МПК G01N21/43, опубл. 10.08.2010.
2. Патент РФ 2529417 C1; МПК G01N22/00, G01R27/26, опубл. 27.09.2014.
3. А.С. СССР 748283, МКИ G01R27/26, опубл. 15.07.1980.
4. Terajets produced by 3D dielectric cuboids / V. Pacheco-Pena, M. Beruete, I. V. Minin, O. V. Minin // Appl. Phys. Lett. 2014. V.105, Pp. 084102.
5. Патент РФ № 153686 U1. Устройство для формирования фотонной струи с увеличенной глубиной фокуса.
6. Патент РФ 160810 U1. Субволновой датчик волнового фронта.

Claims (1)

  1. Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов, содержащее последовательно соединенные СВЧ генератор, калиброванный аттенюатор, открытый двухзеркальный резонатор с элементами связи и отверстием для облучения подвижного объекта в одном из отражателей, а также устройство перемещения образца, регистратор положения исследуемого образца, регистраторы амплитуды резонансного колебания, отличающееся тем, что между указанным отверстием в отражателе и исследуемым объектом расположена формирующая фотонную струю диэлектрическая частица из материала с малыми диэлектрическими потерями на используемой для измерений частоте, имеющая характерные размеры не менее 0,5 длины волны используемого излучения и не более 0,5 радиуса резонансного пучка на отражателе.
RU2016146278U 2016-11-25 2016-11-25 Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов RU170734U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016146278U RU170734U1 (ru) 2016-11-25 2016-11-25 Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016146278U RU170734U1 (ru) 2016-11-25 2016-11-25 Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU170734U1 true RU170734U1 (ru) 2017-05-04

Family

ID=58697199

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016146278U RU170734U1 (ru) 2016-11-25 2016-11-25 Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU170734U1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1478152A1 (ru) * 1987-06-03 1989-05-07 Предприятие П/Я Г-4355 Устройство дл измерени модул и фазы коэффициента отражени в СВЧ-трактах
RU2396547C1 (ru) * 2009-05-04 2010-08-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Новосибирский государственный университет (НГУ) Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов
CN102353849A (zh) * 2011-07-07 2012-02-15 中国航天科工集团第二研究院二〇三所 一种毫米波黑体后向电压反射系数的测量方法
RU2529417C1 (ru) * 2013-10-25 2014-09-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов
RU153686U1 (ru) * 2014-12-30 2015-07-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи с увеличенной глубиной фокуса

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1478152A1 (ru) * 1987-06-03 1989-05-07 Предприятие П/Я Г-4355 Устройство дл измерени модул и фазы коэффициента отражени в СВЧ-трактах
RU2396547C1 (ru) * 2009-05-04 2010-08-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Новосибирский государственный университет (НГУ) Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов
CN102353849A (zh) * 2011-07-07 2012-02-15 中国航天科工集团第二研究院二〇三所 一种毫米波黑体后向电压反射系数的测量方法
RU2529417C1 (ru) * 2013-10-25 2014-09-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов
RU153686U1 (ru) * 2014-12-30 2015-07-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи с увеличенной глубиной фокуса

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10509065B1 (en) Imaging of electromagnetic fields
CN108152602B (zh) 一种基于量子相干效应的天线增益测量装置
US10215696B2 (en) System for determining at least one property of a sheet dielectric sample using terahertz radiation
CA2525158C (en) A specific absorption rate measuring system, and a method thereof
CN108548658B (zh) 一种单层膜光学元件应力和光学损耗同时测量的方法
JP2009300108A (ja) テラヘルツ分光装置
CN103884298A (zh) 基于导模的金属表面粗糙度测量系统及方法
CN106842227B (zh) 基于零折射率超材料的精密光学测距方法
EP3906418B1 (en) Imaging of electromagnetic fields
Ozturk et al. Measurement methods and extraction techniques to obtain the dielectric properties of materials
CN116429239A (zh) 一种低温强磁条件下检测纳米机械谐振器振动的装置
JP2012185116A (ja) 光学特性評価装置および光学特性評価方法
US7618465B2 (en) Near-field antenna
RU170734U1 (ru) Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов
CN103884422A (zh) 用于太赫兹近场测量的准光型探头、探测系统及探测方法
Mikhnev et al. Time-domain terahertz imaging of layered dielectric structures with interferometry-enhanced sensitivity
JP2869861B2 (ja) 準光学共振器を用いたミリ波サブミリ波用装置
CN2911666Y (zh) 高密度光栅偏振相关自成像的探测装置
JP6989911B2 (ja) 分光素子、測定方法、及び測定装置
Hejase et al. Design and test of wide-band terahertz dielectric sub-wavelength focusing probes
US10466096B2 (en) Fiber optic hydrophone sensors and uses thereof
CN100570326C (zh) 高密度光栅偏振相关自成像的探测方法和装置
CN112327063B (zh) 一种提高微波电场测量空间分辨率的装置及方法
KR101017796B1 (ko) 접촉형 테라헤르츠 시간 도메인 분광 장치
Chao et al. Dielectric permittivity measurements of thin films at microwave and terahertz frequencies