SU1185269A1 - Способ измерени диэлектрической проницаемости плоскопараллельных диэлектриков - Google Patents

Abstract

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ, включающий облучение исследуемого плоскопараллельного диэлектрика с расположенной за ним металлической подложкой электромагнитной волной, фазовую модул цию отраженной волны, измерение комплексного коэффициента отражени  и расчет по измеренной величине диэлектрической проницаемости, отличающийс  тем, что, с целью обеспечени  локальности измерений, фазовую модул цию отраженной волны осуществл ют возбуждением ультразвуковых колебаний в контролируемом участке прижатого.к металлической подложке исследуемого, плоскопараллельного диэлектрика, нормально к его поверхности. 2. Способ ПОП.1, отличающийс  тем, что, с целью контрол  неоднородностей диэлектрической проницаемости плоскопараллельньгх диэлектриков , последовательно возбуждают § различные участки поверхности иссле (/) С дуемого плоскопараллельного диэлектрика и по изменени м модул  коэффициента отражени  суд т об изменени х диэлектрической проницаемости по поверхности исследуемого плоскопараллельного диэлектрика,

Description

Изобрет ение относитс  к радиотехническим измерени м в диапазоне СВЧ н может быть использовано дл  измере ни  диэлектрической проницаемости плоскопараллельных диэлектрикой и дл  контрол  ее неоднородностей. Цель изобретени  - обеспечение локальности измерений и контроль нео нородностей диэлектрической проница емости плоскопараллельных диэлектри ков. На чертеже предстайлена функциональна  схема устройства, реализующе го предлагаемьй способ измерени  диэлектрической проницаемости плосконаправленных диэлектриков. Устройство содержит генератор СВЧ 1 вентиль 2, направленный ответвитель циркул тор 4, приемо-передающую анте ну 5, регулируемый фазовращатель 6, регулируемый ахтйнюатор 7, двойной волноводный тройник 8, детектор 9, индикатор 10, плоскопараллельный диэлектрик 11, металлическую подложку 12, пьезоэлектрический преобразо- ватель 13,генератор 14 ультразвуковой частоты. Способ измерени  диэлектрической проницаемости плоскопараллельных диэлектриков реализуетс  следующим образом, ПлоскопараллелЬный диэлектрик 11 облучают электромагнитной волной с помощью приемо-передающей антенны 5, возбуходаемой генератором СВЧ 1, чере вентиль 2, направленный ответвитель и циркул тор 4. В плоскопараллельном диэлектрике 11 возбуткдаютс  ультразвуковые колебани  с помощью пьезоэлектрического преобразовател  13, наход щегос  вконтакте с металлической подложкой 12,к которой прижат плоскопараллельный диэлектрик 11. Напр жение ультразвуковой частоты подаетс  на пьезоэлектрический преобразователь 13 от генератора 14 ультразвуковой частоты. Волна, отраженна  от участка металлической подложки 12, где расположен пьезоэлектрический преобразователь 13,оказываетс  промодулированной по фазе с ультразвуковой частотой. Она принимаетс  приемо-передающей антенной 5 и через циркул тор 4, двойной волноводный тройник 8 поступает на детектор 9, на которьш одновременно поступает часть опорного сигнала от генератора СВЧ 1 через вентиль 2, направленный ответвитель 3,. регулируемый фазовращатель 6 и двойной волноводньш тройник 8. Индикатором 10 измер етс  амплитуда переменной составл ющей выходного сигнала детектора (определ юща  коэффициент отражени , по которой суд т о диэлектрической Проницаемости). Размер зоны локализации измерений определ етс  поперечными размерами пьезоэлектрического преобразовател . Дл  контрол  неоднородностей диэлектрической проницаемости исследуемого плоскопараллельного диэлектрика последовательно возбуждают его различные участки поверхности и по изменени м модул  коэффициента отражени  суд т об изменени х диэлектрической проницаемости по поверхности исследуемого плоскопараллельного диэлектрика .

Claims (2)

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ, включающий облучение исследуемого плоскопараллельного диэлектрика с расположенной за ним металлической подложкой электромагнитной волной, фазовую модуляцию отраженной волны, измерение комплексного коэффициента отражения и расчет по измеренной величине ди электрической проницаемости, отличающийся тем, что, с целью обеспечения локальности измерений, фазовую модуляцию отраженной волны осуществляют возбуждением ультразвуковых колебаний в контролируемом участке прижатого.к металлической подложке исследуемого, плоскопараллельного диэлектрика, нормально к его поверхности.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью контроля неоднородностей диэлектрической проницаемости плоскопараллельных диэлектриков, последовательно возбуждают различные участки поверхности исследуемого плоскопараллельного диэлек^! трика и по изменениям модуля коэффициента отражения судят об изменениях диэлектрической проницаемости по поверхности исследуемого плоскопараллельного диэлектрика.

,SU .„.И85269

S 1185269