SU991165A1 - Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий - Google Patents
Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий Download PDFInfo
- Publication number
- SU991165A1 SU991165A1 SU813333768A SU3333768A SU991165A1 SU 991165 A1 SU991165 A1 SU 991165A1 SU 813333768 A SU813333768 A SU 813333768A SU 3333768 A SU3333768 A SU 3333768A SU 991165 A1 SU991165 A1 SU 991165A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thickness
- coating
- coating thickness
- ultrasonic method
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Description
(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ
ПОКРЫТИЙ
Иэобратание относитс к измарительной технике, а именно к способам неразрушакщего контрол толпины изделий, и может быть использовано дл измерени толщины защитных покрытий в любой отрасли машиностроени .
Известен способ измерени толщины покрыти , основанный на определении зависимости затухани поверхностных волн от толщины покцмлти 1 .
Недостатком этого способа вл етс низка точность, особенно при измерении толщины покрытий из материалов с высоким значением коэффициента затухани ультразвуковых колебаний или нанесенн 1х на криволинейную поверхность .
Известен также ультразвуковой способ измерени , толщины покрытий, основанный на измерени х частотной зависимости коэффициента отражени от поверхности покрыти С2.
Этот способ может примен тьс лишь когда существует достаточно резка граница между покрытием и подложкой, а волновые сопротивлени материалов подложек и покрыти различаютс не менее, чем на 50 %.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому
результату вл етс ультразвуковой способ измерени толщины покрь тий, заключающийс в том, что в покрытии возбуждают колебани посредством воздействи на него ультразвуковых волн, направление распространени которых не совпадает с нормалью к его поверхности , и измер ют .интенсивность сигнала , отраженного от покрыти .
to
Толщину покрыти определ ют исход из предельного значени угла d между нормалью к поверхности объекта и направлением распространени ультразвуковых волн, при котором возбуж15 дают волны Рэле , о .наличии которых, в свою очередь, суд т по результатам интенсивности сигналов, отраженных от материала покрыти 3.
Недостатком способа вл етс низ20 ка точность измерений, котора св зана с необходимостью изменени и последующего определени значени угла oi в процессе измерени толщины покрыти .
25
Цель изобретени - повыианив точности измерений, в частности, покрытий малой толщины.
Поставленна цаль достигаетс тем, что согласно ультразвуковому
30 способу измерени толщины покрытий/ заключающемус в том, что в материале покрыти возбуждают колебани посредством воздействи на него ульт развуковых волн, направление раапроотрешени которых не совпадает с нор малью к его поверхности, и измер}пот интенсивность сигнала отраженного от покрыти , фиксируют частоту, соот ветствующую минимуму амплитудно-частотной характеристики отрс1женного сигнала, и по ней определ ют толщину Покрыти На фиг, представлена функциональ на схема устройства дл осуществлени предложенного способа как в импульсной , так и в непрерывном режиме; на фиг.2 - пример характерного графика зависимости частоты.,; , соответствующей минимуму на амплитудной характеристике отраженного сигнала, от толщины d покрыти . Устройство включает излучающий 1 и принимающий 2 преобразователи, подключенные соответственно к генера тору 3 и спектроанализатору 4, и рас положенные в ванне 5, наполненной жидкостью б наклонно к плоскости поверхности издели 7 с покрытием мгшо толщины. При непрерывном излучении ультразвуковых волн, в качестве спек роанализатора используютс вольтметр S, подключенный к принимающему преоб разователю 2 и частотомер 9, соединенный с выходом генератора 3 (соответствующие св зи на фиг.1 показаны пунктиром).. Минимум на амплитудно-частотной характеристике отраженного сигнала обусловлен тем, 4to пси некотором определенном соотношении между часто той ультразвуковой волны f, углом d падени ее на поверхность издели и толщиной d покрыти часть энергии
Относительна погрешность,
Claims (3)
1.Авторское свидетельство СССР 538223, кл. Q 01 В 17/02, 1976.
2.Авторское свидетельство СССР по за вке 2861747/18-28,
кл. G 01 В 17/00, 1980.
3.Авторское свидетельство СССР 575476, кл. Q 01 В 17/02, 1980 (прототип).
«li&f
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813333768A SU991165A1 (ru) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813333768A SU991165A1 (ru) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU991165A1 true SU991165A1 (ru) | 1983-01-23 |
Family
ID=20975266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813333768A SU991165A1 (ru) | 1981-08-25 | 1981-08-25 | Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU991165A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2542622C1 (ru) * | 2013-09-10 | 2015-02-20 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерства промышленности и торговли РФ | Способ и устройство для измерения толщины и плотности гололедных отложений |
-
1981
- 1981-08-25 SU SU813333768A patent/SU991165A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2542622C1 (ru) * | 2013-09-10 | 2015-02-20 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерства промышленности и торговли РФ | Способ и устройство для измерения толщины и плотности гололедных отложений |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4274288A (en) | Method for measuring the depth of surface flaws | |
US5708191A (en) | Ultrasonic fluid densitometry and densitometer | |
US20120055239A1 (en) | Multiphase fluid characterization system | |
US5886250A (en) | Pitch-catch only ultrasonic fluid densitometer | |
GB2298277A (en) | Delay line for an ultrasonic probe with an interface allowing inbuilt calibration | |
CA2352839A1 (en) | Apparatus and method for evaluating the physical properties of a sample using ultrasonics | |
US4574637A (en) | Method for measuring surface and near surface properties of materials | |
US4307614A (en) | Method and apparatus for characterizing surface flaws utilizing ultrasonic surface waves | |
SU991165A1 (ru) | Ультразвуковой способ измерени толщины покрытий | |
JP2001343365A (ja) | 金属薄板の厚み共振スペクトル測定方法及び金属薄板の電磁超音波計測方法 | |
Kumar et al. | A novel method to determine the acoustic impedance of membrane material | |
Lofqvist | Ultrasonic wave attenuation and phase velocity in a paper-fibre suspension | |
Douville et al. | Critical evaluation of continuous‐wave Doppler probes for carotid studies | |
KR930020478A (ko) | 음향 에너지 주파수 감쇠를 이용하여 파손된 핵연료봉을 탐지하기 위한 방법 및 장치 | |
USH2112H1 (en) | Method for measuring coating thickness using ultrasonic spectral tracking | |
SU1183887A1 (ru) | БЕСКОНТАКТНЫЙ ИМПЕДАНСНЫЙ <СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОКРЫТИЯ ^ИЗДЕЛИЙ | |
JPS59192907A (ja) | 厚み測定方法 | |
SU1379621A1 (ru) | Ультразвуковой способ измерени толщины полимерных покрытий | |
SU1231453A1 (ru) | Ультразвуковой измеритель концентрации растворов | |
SU1185269A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости плоскопараллельных диэлектриков | |
Kushibiki et al. | Precise velocity measurements for thin specimens by line-focus-beam acoustic microscopy | |
SU900179A1 (ru) | Способ определени ширины диаграммы направленности ультразвуковых преобразователей и дефектоскопов и устройство дл осуществлени способа | |
SU1073692A1 (ru) | Акустический способ контрол физико-механических свойств поверхностного сло твердых тел | |
SU1748043A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента отражени акустических сигналов | |
RU2138778C1 (ru) | Способ оценки толщины колонны при ультразвуковом методе контроля |