SU114075A1

SU114075A1 - Фотоэлектрический прибор дл объективного определени степени кристалличности излома стального слитка

Info

Publication number: SU114075A1
Application number: SU583666A
Authority: SU
Inventors: В.Е. Ляхов; хов В.Е. Л
Original assignee: В.Е. Ляхов; хов В.Е. Л
Priority date: 1957-09-25
Filing date: 1957-09-25
Publication date: 1957-11-30

Description

Изобретение относитс к приборам дл измерени степени кристалличности и излома стального образца. Известные приборы дл металлографического анализа не дают возможности достаточно объективно и быстро оценивать степень кристалличности иЗоТОма.

Дл устранени этогО недостатка нредлагаетс степень К1)исталличности излома металлического образна определ ть путем сравнени света , отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона.

Дл уменьшени в.ти ни общей освещенногт; o6j)a3Ha интенсивность отраженного света измер ют в перпендикул рном или близком к этому, направлении по отношению к направлению светового потока, ндугцего от осветите.л . При этом, сравниваетс интенсивность света, отраженного от обгцей освещенной поверхности в направлении, фиксированном с помощью собирательной линзы при вращении образца в плоскости излома на 360°. Дл измерени отраженного света используютс фотоэлемент, ламповый усилитель и самопишущий или показывающий логометр. Логометр или другой индикатор могут быть проградуированы в безразмерных единицах , например в биллах и т. п.

Индикатор включаетс по мостовой схеме на выходе лампового усилител , стройство прибора по сп етс чертежом, где представлена его принципиальна схема. Предметньп столик /, получающий вращение от электропривода через черв чную пару J, служит дл удерживани образца 5. Осветитель 4 направл ет пучок света на иоверхность излома образца. Отраженный свет с помощью собирательной линзы о направл етс на фотоэлемент 6. Возннкающий здесь фототок усиливаетс с помощью электронных л а МП 7 и S. Обмотки 5 и/О логометра включены в анодную цень лампы 8. Обмотка 10 логометра обтекаетс посто нным по величине током, соответствующие --/ алойному фототоку. Угол поворота указател логометра иропорционалеи относительному нзменению кристалличности излома образца , по сравнению с эталоном.

Предмет изобретени

Claims

1.Фотоэлектрический прибор дл определени степени кристзотличности изло.ма стального слитка, о тличающийс тем, что, с целью объективного анализа степени кристалличности излома, быстроты и точности определени , в основу прибора положено сравнение интенсивности света, отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона к фиксированном направлении.

2.Форма выполнени прибора по п. 1, отличающа с тем, что дл уменьшени вли ни общей освещенности образца, в качестве фиксированного направлени выбрано направление, перпендикул рное (или близкое к нему) направлению лучей, падающих на поверхность излома.

3.Форма выполнени прибора по п. 1, о т л и ч а ю щ а с тем, что дл более объективной оценки кристалличности излома сравниваютс суммарные интенсивности отраженного света от общей освещенности поверхности излома в фиксированном направлении с помощью линзы и от поверхности по всем возможным направлени м (от О до 360°) с помощью поворотного стола и самопищущего или показывающего прибора.

4.Форма выполнени прибора по пп. 1, 2 и 3, отличающа с тем, что дл определени относительной кристалличности в любых безразмерных единицах непосредственно по щкале прибора используетс индикатор (например, логометр ) с включением его по мостовой схеме в аноды лампы усилени фототока.