SU102321A1 - Способ определени качества обработки стекл нной шлифованной поверхности - Google Patents

Description

IlfuMMCTOM изобретени   вл етс  спогпб определени  качества стекл нной шлифованной ноперхноети, осооенкость которого заключаетс  в том, что на исследуемую поверхность направл ют скольз щий но поверхности пучок световых лучей и но отношению спектральных коэффициентов отражени  этих лучей от псследуемой и эталонной поверхности суд т о средней высоте неровностей поверхности .

Снособ основан на изменении снектралыЕого состава света, отражаемого от матовых стекл нных новерхностей.

Измерение средней высоты микронеровностей производитс , например, в инфраООЛЫШ1Х (76-86) красных лучах при углах паденн  лучей }ia 1гсслсдуомую ловерхность .

Оптическа  схема нрибора дл  осуН1ествлени  предлагаемого способа изображена на чертел;е. Прибор. включает коллиматор (Л) н приемное устройство (Б). Еоллнматор состоит нз источника света (1), расположенного в фокусе объектива (2), и нр моугольной призмы (3), наклоненной под углом 3° к горизонтальной нлоскости дл  обеспечени  заданного угла надени  лучей света в 84°. Перед объективом (-2) расноложена ирисова  диафрагма () дл  и..мепении величины надающего на исследуемую поверхность энергетического потока излучени . Пучок свита, выход щий из коллиматора , надает на нглифованную (исслодуемую ) попе)хность, а отраженные от icec лучи нонадают на пр моугольную призму (б), также .Т1аклоненную под углом 3° к горизонтальной нлоскости, и собираютс  в фокусе объектива (G) на диафрагме (7), за которой располо;ке11ы дво ковогнута  линза (8) и серннсто-серебр ный фотоэлемент (9), соединенный со стрелочным гальванометром (10). Дл  исключени  рассе нного света между нсточником света (1) н объективом (2), объективом (6) н диафрагмой (7) расноложено несколько поперечных диафрагм. Инфракрасный светофильтр (11) слу;);ит дл  выделени  участка спектра. Источник света - лампа накаливани  - питаетс  от аккумул торов или другого стабнлизированного источннка тока.

Качество шлнфованной стекл нной поверхности может определ тьс  трем  сиособами: 1) но градуировочной кривой, 2) путем сравнени  И слсдусмпй iioHejixности с образцовой и Я) непосредственным отсчетом средней высоты микронеровностей по шкале гальванометра, заранее нроградуированной по тарированным пбразпам.

Предмет и з о б р е т г и и  

Способ оиределенн  качества обработки стекл нной П1лнфованной поверхности, о т л и ч а ю щ и и е   тем, что, е целью измерени  средней втлсоты ми1;ронеровнос .тей, на исследуемую ноиерхимстг, направл ют скольз п(ий пучо|; (световых лучей, угол падени  которь1х близок к 90°, и но отношению спектральных коэффициентов отражени  этих лучей от псследусмой и этало1шои новерхн()стп суд т о средней высоте микронеровностей.