SU148927A1 - Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов - Google Patents
Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристалловInfo
- Publication number
- SU148927A1 SU148927A1 SU732766A SU732766A SU148927A1 SU 148927 A1 SU148927 A1 SU 148927A1 SU 732766 A SU732766 A SU 732766A SU 732766 A SU732766 A SU 732766A SU 148927 A1 SU148927 A1 SU 148927A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light
- crystallographic
- sample
- directivity
- single crystals
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Известны приборы дл определени кристаллографической направленности монокристаллов, в которых определение ориентации монокристаллов производитс по способу световых фигур. Предлагаемый прибор отличаетс от известных тем, что, с целью увеличени точности определени , на пути светового луча смонтирована группа зеркал дл многократного отражени . Кроме того, прибор универсален, так как позвол ет измен ть измерительную базу «образец-экран. Это достигаетс тем, что предметный столик смонтирован на шариковых направл ющих .
На чертеже показана схема прибора, иллюстрирующа его действие . В качестве источника света используют лампу накаливани / (8 в, 30 вт) с нитью накала, имеющей точечную проекцию на плоскость , перпендикул рную оптической оси. Свет, пройд конденсатор 2, фокусируетс на сменной диафрагме 5 величина которой ступенчато регулируетс от 0,2 до 2 мм. Далее луч света, отразивщись от зеркала 4, направл етс в длиннофокусный объектив 5 (типа Юпитер-11 фр. 135 мм), после чего суживающийс пучок света, последовательно отража сь от зеркал 6, 7 и образца 8, попадает на матовый экран 9. Объектив фокусируетс таким образом, чтобы изображение отверсти диафрагмы 5 совпало с плоскостью экрана 9. Юстировка установки производитс с помощью эталонного образца (например, зеркала), устанавливаемого на базировочную плоскость вместо образца 8. При этом изображение в виде свет щейс точки поворотом зеркала 7 выводитс в центр экрана. Изображение на матовом экране рассматриваетс на просвет с помощью зеркала 0 в смотровое окно.
Зеркала б и // и образец 8 укреплены на перемещающейс по стрелке платформе. На чертеже она .изображена в переднем крайнем положении. При этом рассто ние «образец-экран равно 114,5 мм, а одно деление щкалы, равное 1 мм, соответствует отклонению 15. В
№ 148927- 2 крайнем заднем ноложении нлатформы образец 8 занимает место зеркала 6, а место образца - зеркало П. При этом рассто ние «образец- экран по ходу луча равно 523 мм, а одно деление шкалы в этом случае соответствует отклонению кристаллографической оси на 3 мин.
Шкала экрава имеет боковой подсвет, что делает ее отчетливо различимой при наблюдении.
В установке базировочна площадка под образец расположена горизонтально , в св зи с этим возрастает точность базировки слитков и упрощаетс базировка пластин и кристаллов, которые могут просто накладыватьс на предметное стекло. В этом случае слаба точка, отра женна от поверхности стекла, вл етс указателем базовой плоскости , а расположение этой точки относительно световой фигуры, получающейс в результате рассе ни света образцом, немедленно указывает на совпадение или несовпадение базовой и определ емой кристаллографической плоскостей.
Предлагаемый прибор компактен и удобен в обращении.
Из-за удобного горизонтального расположени базовой плоскости в установке отказалось возможным применить известную ранее приклейку слитков на предметный столик дл разрезки на станках абразивной резки полотнами.
Прибор может быть использован в лабораторной практике и в цехах механической обработки полупроводниковых материалов.
Предмет изобретени
Claims (2)
1.Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов по способу световых фигур, смонтированный в светозащищенном корпусе, снабженный источником освещени , длиннофокусным объективом, матовым экраном и предметным столиком дл креплени измер емых образцов, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности определени , на пути луча смонтирована система зеркал, многократно отражающа луч.
2.Форма выполнени устройства по п. 1, отличающа с тем, что, с целью изменени измерительной базы «образец-экран, платформа с предметным столиком смонтирована на щариковых направл ющих .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU732766A SU148927A1 (ru) | 1961-05-27 | 1961-05-27 | Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU732766A SU148927A1 (ru) | 1961-05-27 | 1961-05-27 | Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU148927A1 true SU148927A1 (ru) | 1961-11-30 |
Family
ID=48304131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU732766A SU148927A1 (ru) | 1961-05-27 | 1961-05-27 | Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU148927A1 (ru) |
-
1961
- 1961-05-27 SU SU732766A patent/SU148927A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4285597A (en) | Goniophotometer for measuring the gloss and/or light diffusion of surfaces | |
GB1415397A (en) | Optical measuring device | |
US3664751A (en) | Accessory for microscopes for use as a two-beam photometer | |
SU148927A1 (ru) | Прибор дл определени кристаллографической направленности монокристаллов | |
US2518240A (en) | Projection microscope | |
US5296914A (en) | Electro-optical measurement and focusing apparatus | |
US2488146A (en) | Optical projection comparator with projected standard scales and templets therefor | |
US2747284A (en) | Double image micrometer | |
US3124638A (en) | Apparatus for the orientation of crystals | |
US20160238525A1 (en) | V-block refractometer | |
US2401691A (en) | Photoelectric range finder | |
Capstaff et al. | A compact motion picture densitometer | |
US3023663A (en) | Die wear microscope | |
US3055259A (en) | Optical measuring devices | |
US3238838A (en) | Viewing and illuminating device | |
US3615124A (en) | Apparatus for marking points in photograms | |
SU408200A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ДЕФЕКТОСКОПИИ ПРОЗРАЧНЫХ | |
US2989889A (en) | Rangefinders and like optical instruments | |
JPH0118370B2 (ru) | ||
US3726596A (en) | Optical device for forming measuring and reference beams of light | |
RU2282170C2 (ru) | Устройство для контроля качества объективов | |
GB618376A (en) | Improvements in or relating to collimators | |
SU130700A1 (ru) | Способ определени качества поверхности, например бумаги | |
US2403738A (en) | Range finder construction | |
US2844989A (en) | Means for measuring small degrees of optical density |