SU1126581A1 - Вакуумный фоторезист - Google Patents

Вакуумный фоторезист Download PDF

Info

Publication number
SU1126581A1
SU1126581A1 SU833549913A SU3549913A SU1126581A1 SU 1126581 A1 SU1126581 A1 SU 1126581A1 SU 833549913 A SU833549913 A SU 833549913A SU 3549913 A SU3549913 A SU 3549913A SU 1126581 A1 SU1126581 A1 SU 1126581A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
pigment
vacuum
photoresist
microns
evaporation
Prior art date
Application number
SU833549913A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Иванович Васильев
Евгений Иванович Балабанов
Юрий Максимович Бунаков
Ариадна Владимировна Игнашева
Александр Васильевич Иващенко
Эдуард Петрович Калошкин
Виктор Васильевич Титов
Яков Иванович Точицкий
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7850
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7850 filed Critical Предприятие П/Я А-7850
Priority to SU833549913A priority Critical patent/SU1126581A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1126581A1 publication Critical patent/SU1126581A1/ru

Links

Landscapes

  • Paints Or Removers (AREA)

Abstract

Применение пигмента зеленоватоголубого флотацианинового у формулы: С1 г при содержании хлора 5% в качестве вакуумного фоторезиста,

Description

ю
О)
О1
00 iИзобре ,тение относитс  к технолог гии и материалам дл  микроэлектороники , в/частности к применению фталоцианинового пигмента в качестве вакуумного фоторезиста. Известно применение фотополимернзугощихс  и фотрдеструктируюпрхс  композиций на основе азидов в качестве фоторезистов при плазменной обработке ll . Недостатком известных фоторезис тов  вл етс  необходимость использо вани  так назьгоаемых мокрых способов нанесени  иДши про влени . Пленку фоторезиста получают на защи щаемой поверхности из раствора с последуюшдми операци ми фиксировани , задубливани , св занными с использованием органических или неорг нических растворителей; Это. обсто тельство нарушает непрерьшность единой вакуумной технологии производства полупроводниковых приборов печатных плат и интегралыл 1Х схем, что повышает веро тность возникновени  дефектов в защитных покрыти х , ухудша  качество приборов. Так при производстве сверхбольших ,интег ральных схем высокой степени интеграции с трименением традиционных фоторезистов выход пригодных приборов составл ет доли процента. Переход к субмикронным размерам элементов , диктуемьй дальнейшим увеличением степени интеграции при производстве приборов в микррэлектронике ,практически невозможен или вызьгоает огромные трудности при приме нении традиционных фоторезистов, так как они не обеспечивают получени  требуемого разрешени  (1 мкм) и требуемой дефектности при разме- pax дефектов пор дка 0,1 мкм. .Это объ сн етс  тем, что дл  получени  .рельефа с высоким разрешением толщина сло  фоторезиста должна быть сравнимой с размером элемента, т.е быть менее 1 мкм. Получение подобных пленок из раствора очень сложно . Образование скрытых изображений при исполь,зовании обычных фотореаистов требует значительных энергий fv 1 Дж/см, и процесс образовани  скрытого изображени  не носит порогового характера, .что не позвол ет р&зработать автоматизированный процесс производства. Известно применение безметал ных фталоцианинов в Х- форме 1 в качестве .светочувствительного материала 12. Известно также применение металлофталоцианинов в качестве органич:еских полупроводников . Известно применение пигмента зеленовато-голубого фталоцианинового У в кач.естве крас щего аген-та в полиграфических красках и лакокрасочнькх материалах з. На основании известных примеров использовани  безметальные фталоцианины , Б частности, пигмент зеленовато-голубой фталоцианиновый У, не примен ли по данному изобретению. Целью изобретени   вл етс  разработка нового вакз умного фоторезиста , позвол ющего повысить разрешающую способность при производстве микроэлементов электронных схем, снизить Дефектность сло  фоторезиста , а тахсже упрощение технологии производства защитного сло , позвол ющее осуществить замкнутый вакуумный цикл производства интегральных схем. , / . Указанна  цель достигаетс  тем, что используют пигмент зеленоватоголубой фталоцианиновый У формулы: при содержании хлора 5% в качестве вакуумного фоторезиста. Использование пигмента зеленовато-голубого фталоцианинового У в качестве фоторезиста позвол ет осуществить сухое нанесение защитной пленки методом термического испарени  в вакууме и сухое про вление в вакууме лазерным излучением без использовани  органических или неорганических,растворителей, а также получить бездефектные пленки на поверхности различных подложек, обеспечить получение элементов интегральных схем с субмикронными размерами при вакуумной лазерной литографии; материал фоторезиста имеет порог по величине плотности мощности и плотности .энергии лазерного излучени , устойчив к действию, трав щих фреоно вых плазм и ионного облучени  с эне гией ионов 10 эВ, и полностью ис пар етс  под действием лазерного из лучени . Пример 1. Навеску пигмента зеленовато-голубого фталоцианино вого У помещают в тигель-испаритель высоковакуумной установки, например ВУ11-4. Рабочий объем системы откачивают до давлени  остаточных паров не более 10 мм рт.ст., после чего включают нагреватель и дово д т температуру тигл  до 400-420с, ,которзпо контролируют термопарой. Пигмент испар ют и осаждают на защищаемой поверхности подложки, форт миру  плотную зеркальную пленку толщиной от 0,1 до 1, мкм. Врем  . испарени  определ ют с учетом величины навески пигмента, требуемой толщины сло , конструкции тигл -испар тал . Коэффициент отражени  хшенки пигмента при толщине 0,50 ,6 мкм составл ет 30% в об,пасти длин волн 630-690 нм. С помощью микроскопа и электронного микроскопа в полученных пленках не Удалось обнарзгапнть ни одного дефекта размером более О S, 1 мкм на площади 10 см Пример 2. Подложки с нанесенными пленками пигмента помещают в вакуумнзгю камеру, которую откачи .вают до остаточного давлени  не более 10 мм рт.ст. Те участки подложки , которые должны быть открыты при про влении изображени , облучают излучением лазера через шаблон с помощью проекционной оптики. В результате поглощени  энергии лазер ного излучени  пигментом происходит его локальный нагрев и испарение . Длины волн лазерного излучени  под действием которых происходит испарение пигмента, составл ют Ц 0,69 мкм, 0,63 мкм, 0,490 ,51 мкм, 0,34 мкм, 0,266 кмм. Испа рение пигмента носит пороговый характер . Дл  излучени  с длиной волг ны Х 0,69 мкм порогова  плотность 10 Вт/см, мощности составл ет . дл  0,49-0,51 мкм-10 Вт/см, дл  0,266 МКМ 10 - 10 Вт/см Порогова  плотность энергии испарени  0,05-0,1 Дж/см. Плотность энер гии полного испарени  пленки пигмента зависит от толщины пленки 1 1 и при толщине ,7 мкм составл ет Дж/см о Разрешение, получаемое при применении пигмента зависит от качества проекционной оп тикиИ позвол ет получить элементы с субми1фонными размерами при использовании лазерного излучени  с длиной волны 0,266 мкм. Дл  По влени  изображени  не требуетс  дополнительных операций, запись и про вление изображени  осуществл ют одновременно. Пример 3. Подложки с нанесенными пленками пигмента помещают в в установку ионноплазменного травлени , например, во фреоновой плазме со следующими параметрами: давление CF4/ 5-Ю - мм рт.ст., ускор ющее напр жение 4 кВ, ток пучка 200 мА. Пленка пигмента не мен ет своей толщины при действии плазмы в течение 50 мин, при начальной толщине пленки пигмента 0,6-0,7 мкм, Пигмент устойчив к действию фреоновых плазм. Пример 4. Подложки с нанесенными пленками пигмента помещают в установку дл  ионного облучени , Еленка пигмента в данном случае маскирует полупроводниковую подложку от облучени  ионами В, Р, Аг, при энергии пучка ионов до 150 кэВ и толщине пленки пигмента 0,6- . 0,7 мкм. Пленка устойчива к действию ионного облучени  с энергией ионов 10 эВ. Пигмент полностью удал ют с поверхйости подложки под действием кислородной плазмы. Пленки пигмента не тер ют своих свойрт1в после пребывани  в обеспыленной атмосфере воздуха при относительной влажности 50-60% и температуре 20-50°С в течение длительного времени. Металлсодержащие фталоцианины не могут быть использованы в качестве вакуумного фоторезиста, так как при нагреве в вакууме до 400500 С происходит частичный обмен атома металла комплекса на атом материала подложки, при этом атом металла комплекса может диффундировать в подложку полупроводника. Это приводит к неконтролируемому легированию полупроводниковой подложки , что вызьшает брак. Кроме того , при удалении сло  вакуумного . фоторезиста в кислородной плазме

Claims (1)

  1. II 13 (21) 3549913/23-05 (22) 10.02.83 (46) 30.11.84'. Бюл. № 44 (72) А.И. Васильев, Е.И. Балабанов, Ю.М. Бунаков, А.В. Игнашева,
    A. В. Иващенко, Э.П. Кслошкин,
    B. В. Титов и Я.И. Точицкий (53) 677J842.346.1(088.8) (56) 1. Forecast of VSLI Processing· A Historial Review of hte First
SU833549913A 1983-02-10 1983-02-10 Вакуумный фоторезист SU1126581A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833549913A SU1126581A1 (ru) 1983-02-10 1983-02-10 Вакуумный фоторезист

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833549913A SU1126581A1 (ru) 1983-02-10 1983-02-10 Вакуумный фоторезист

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1126581A1 true SU1126581A1 (ru) 1984-11-30

Family

ID=21048773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833549913A SU1126581A1 (ru) 1983-02-10 1983-02-10 Вакуумный фоторезист

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1126581A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Forecast of VSLI Processing i- A Historial Review of hte First Dry-Processed 1C, t.. C. Penn., IEEE Transactions on Electrdn Divices.vol.. ЕД--26, № 4, 1979, p. 640643. 2. Венкатараман К. Хими , синтетических красителей, т. 5, 1978, с. 217. 3.. Степанов Б.И. Введение в химию и технологию органических красителей. М., Хими , 1977, с. 433, 448-449. ceitoif и - lai ng( I MHBli«iJW4 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4960675A (en) Hydrogen ion microlithography
US4443532A (en) Induced crystallographic modification of aromatic compounds
US4777119A (en) Method for developing poly(methacrylic anhydride) resists
US4405710A (en) Ion beam exposure of (g-Gex -Se1-x) inorganic resists
JP5033891B2 (ja) ペリクル膜の製造方法
US5250395A (en) Process for imaging of photoresist including treatment of the photoresist with an organometallic compound
Tubbs et al. Photographic applications of lead iodide
US3695908A (en) Thin films of alpha fe2o3 and method of forming
US4874632A (en) Process for forming pattern film
US4489146A (en) Reverse process for making chromium masks using silicon dioxide dry etch mask
KR930010221B1 (ko) 도전성 화합물을 이용한 패턴 형성 방법
CH645740A5 (en) Method for manufacturing photographic masks of tinted glass from a photographic emulsion
SU1126581A1 (ru) Вакуумный фоторезист
JPH06347997A (ja) 構造体の欠陥修正方法
US4144066A (en) Electron bombardment method for making stained glass photomasks
JPH01154050A (ja) パターン形成方法
US5567551A (en) Method for preparation of mask for ion beam lithography
US4933263A (en) Forming method of resist pattern
JP2002088478A (ja) 成膜方法
ITMI960382A1 (it) Procedimento di formazione di configurazione ultrafine e procedimento di incisione ultrafine utilizzando derivato di
Dikova et al. The mechanism of photoinduced transformations in amorphous As2S3 thin films
JPS6245969B2 (ru)
US4508813A (en) Method for producing negative resist images
US4595649A (en) Glassy TiO2 polymer films as electron beam charge dissipation layers
JPH0732119B2 (ja) X線リソグラフビームラインの均一性を改善する方法