SU1112412A1 - Запоминающее устройство - Google Patents

Запоминающее устройство Download PDF

Info

Publication number
SU1112412A1
SU1112412A1 SU833600091A SU3600091A SU1112412A1 SU 1112412 A1 SU1112412 A1 SU 1112412A1 SU 833600091 A SU833600091 A SU 833600091A SU 3600091 A SU3600091 A SU 3600091A SU 1112412 A1 SU1112412 A1 SU 1112412A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
outputs
matrix
control
output
Prior art date
Application number
SU833600091A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Александрович Верниковский
Эдуард Петрович Калошкин
Валерий Константинович Конопелько
Владислав Валентинович Лосев
Анатолий Кузьмич Панфиленко
Анатолий Иванович Сухопаров
Павел Павлович Урбанович
Владимир Юрьевич Фомин
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6007
Минский радиотехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6007, Минский радиотехнический институт filed Critical Предприятие П/Я Р-6007
Priority to SU833600091A priority Critical patent/SU1112412A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1112412A1 publication Critical patent/SU1112412A1/ru

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО , содержащее дешифратор адреса слова , выходы которого соединены с числовыми шинами матрицы основных и резервных элементов пам ти, разр дные шины которой подключены к одним из входов основных и резервных усилителей соответственно, одни из управл юших входов которых соединены с выходом формировател  управл ющих сигналов, а выходы подключены к входам выходного блока, матрицу программируемых элементов пам ти, одни из входов которой соединены с выходами регистра адреса разр да и входами деижфратора адреса разр да, а другие входы объединены с входами регистра адреса разр да и  вл ютс  одними из адресных входов устройства, информационными входами которого  вл ютс  одни из входов формировател  управл ющих сигналов, другие входы которого и управл ющие входы выходного блока  вл ютс  одними из управл ющих входов устройства , другими управл ющими входами которого  вл ютс  управл ющие входы матрицы программируемых элементов пам ти, выходом устройства  вл етс  выход выходного блока, отличающеес  тем, что, с целью повышени  быстродействи  устройства, в него введены источник опорного напр жени , и две группы формирователей сигналов, причем входы одних из формирователей сигнаi лов подключены к выходам дешифратора адреса разр да, а выходы - к другим управ (Л л ющим входам основных усилителей, входы других формирователей сигналов соединены , с выходами матрицы программируемых элемеитов пам ти, а выходы - с другими управл ющими входами резервных усилителей , выходы источника опорного напр жени  подключены к другим входам основных и резервных усилителей. to ;ib

Description

Изобретение относитс  к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении больших интегральных схем запоминающих устройств с произвольной выборкой информации, имеющих большую площадь кристаллов, где требуетс  увеличить выход правильно функционирующих изделий с высоким быстродействием.
Известно запоминающее устройство, содержащее матрицуэлементов пам ти (ЭП), схемы логики обрамлени  и схемы коррекции , позвол ющие исправл ть ошибки, вызванные дефектами ЭП, которые расположены в нескольких разр дах матрицы ЭП при наличии такого же числа дополнительных разр дов в матрице (I.
Недостатком этого устройства  вл етс  низкое быстродействие.
Наиболее близким техническим рещением к изобретению  вл етс  запоминающее устройство , содержащее дешифратор адреса слова, соединенный с числовыми адресными щинами матрицы основных и резервных ЭП разр дные шины которых соединены соответственно с основными и резервными усилител ми записи считывани  (УЗС), первые управл ющие входы которых св заны с выходом схемы управлени  записью считыванием , входами подключенной к шинам выборки кристалла, разрешени  записи и входной информации , входы дешифратора адреса разр да соединены с первыми входами матрицы программируемых элементов И, и выходами буферных схем, выходы которых соединены с вторыми входами матрицы программируемых алементов И, третьи входы которой под ключаютс  к управл ющим входам програМ мировани , информационный выход основных и резервных УЗС соединен с входом выходного блока, управл ющие входы к.оторого подключены к шинам выборки кристалла и разрешени  записи, выход выходного блока  вл етс  выходом устройства {2J.
Недостатками известного устройства  вл ютс  низкое быстродействие из-за задержек сигналов коррекции в цел х запрета обращени  к дефектному ЭП основной матрицы , а также сложность устройства.
Целью изобретени   вл етс  повышение быстродействи  устройства.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в запоминающее устройство, содержащее дешифратор адреса слова, выходы которого соединены с числовыми щинами матрицы ос (ювных и резервных ЭП, разр дные шины которвй подключены к одним из входов основных и резервных усилителей соответственно , одни из управл ющих входов которых соединены с выходом формировател  управл ющих сигналов, а выходы подключены к входам выходного блока, матрицу программируемых ЭП, один из входов которой соединены с выходами регистра адреса разр да и входами дещифратора адреса разр да , а другие входы объединены с входами
регистра адреса разр да и  вл ютс  одними из адресных входов устройства, информационными входами которого  вл ютс  одни из входов формировател  управл ющих сигналов, другие входы которого и управл ющие входы выходного блока  вл ютс  одними из управл ющих входов устройства, другими управл ющими входами которого  вл ютс  управл ющие входы матрицы программируемых ЭП выходом устройства -
О выход выходного блока., введены источник опорного напр жени  и- две группы -формирователей сигналов, причем входы одних из формирователей сигналов подключены к выходам дешифратора адреса разр да, и выходы - к другим управл ющим входам основных усилителей, входы других формирователей сигналов соединены с выходами матрицы программируемых ЭП, а выходы - с другими управл ющими входами резервных усилителей, выходы источника опор0 ного напр жени  подключены к другим входам основных и резервных усилителей.
На фиг. I изображена функциональна  схема предложенного устройства; на фиг. 2 - принципиальные схемы наиболее предпочти5 тельных вариантов выполнени  усилителей, формирователей сигналов, матрицы программируемых ЭП и формирователей сигналов .
Предложенное устройство содержит матрицы 1 и 2 основных и резервных ЭП соот0 ветственно с числовыми шинами 3, дешифратор 4 адреса олова, разр дные шины 5 и 6 матриц 1 и 2 соответственно, основные 7 и резервные 8 усилители с одними из управл ющих входов 9, формирователь 10 управл ющих сигналов с входами 11 - 13, другие управл ющие входы 14 и 15 соответственно усилителей 7 и 8.
Устройство содержит также формирователи 16 и 17 сигналов с входами 18 и 19 соответственно, дешифратор 20 адреса раз0 р да, матрицу 21 программируемых ЭП с управл ющими входами 22 и одними из входов 23, регистр 24 адреса разр да с входами 25, источник 26 опорного напр жени  и выходной блок 27 с входами 28 и выходом 29. Матрица 21 программируемых ЭП содержит (фиг. 2) плавкие перемычки 30, контактные площадки 31-33 запоминающие транзисторы 34-37. Формирователь 10 управл ющих сигналов содержит управл ющие транзисторы 38 и 39, формирователи
16 сигналов - диоды 40-42, формирователи 17 сигналов - диоды 43 и 44, усилители 7 и 8 - усилительные транзисторы 45 и 46 соответственно.
Предложенное устройство работает следующим образом.
5 После изготовлени  кристалла запоми-нающего устройства (ЗУ) осуществл етс  его контроль с целью вы влени  местоположени  дефектных ЗП матрицы I. При
установлении адреса дефектного ЭП этот адрес заноситс  в матрицу 21 посредством пережигани  соответствующих плавких св зей , т.е. вместо имеющего дефекты ЭП раз р да матрицы 1 подключаютс  ЭП матрицы 2. Если этот разр д матрицы 2 содержит дефектные ЭП, то он не используетс .
Рассмотрим в качестве примера процесс пережигани  плавкой перемычки (фиг. 2). Ее пережигание и настройка запоминающего элемента матрицы 21 (транзистор 36), так же как и других запоминающих элементов того же разр да матрицы 21, осуществл етс  путем подачи соответствующих напр жений на контактные площадки 33 и кода адреса дефектного разр да на входы 25 матрицы 21. Дл  пережигани  перемычки 30 на вход 23 подаетс  низкий уровень потенциала, соответствующий логическому нулю, на площадку 33 - высокий уровень напр жени , достаточный дл  пережигани  перемычки 30. На площадку 31 подаетс  уровень напр жени , достаточный дл  отпирани  соответствующего транзистора 34 и пережигани  перемычки. Уровни напр жени  и тока определ ютс  конструкторско-технологическими особенност ми устройства . После пережигани  перемычек 30 соответствующий дополнительный разр д матрицы 2 выполн ет функции дефектного разр да матрицы 1. Напр жени  на контактные площадки 31-33 подаютс  на входы 22.
В рабочем режиме (записи или считывани ) на площадки 33 внещние сигналы не подаютс , и транзисторы 34 и 35 не вли ют на работу устройства, так как они отключены от входов 25.
При эксплуатации устройства в режиме записи информации на входы 11 -13 подаютс  логические сигналы выборки кристалла , разрещени  записи и информации соответственно , а на адресные входы - адрес опращиваемого ЭП. При этом происходит возбуждение выходов дещифраторов 4 и 20 в соответствии с кодом адреса опращиваемого ЭП. Возбужденна  щина 3 дещифратора 4 подключает ЭП матрицы 1 выбранного слова к щинам 5 и в исправный ЭП матрицы I, выбираемый сигналом одного из входов 18 дещифратора 20, происходит запись информации, поступающей по входу 13.
При поступлении адреса дефектного разр да возбуждаетс  один из выходов 18 дешифратора 20 и один из выходов 19 матрицы 21. Сигналы с выходов 18 и 19 поступают на соответствующие формирователи 16 и 17. Однако, поскольку на выходах формирователей 16 и 17 формируетс  разный уровень напр жени  - на выходе 15 уровень напр жени  выще, чем на выходе 14, то включаетс  один из усилителей 8, так как идентичные транзисторы 45 и 46 усилителей 7 и 8 образуют токовый ключ с источником 26 в цепи эмиттеров (фиг. 2), и транзистор 46 соответствующего усилител  8 подключает ток источника 26 к одной из шин 6 в зависимости от записываемой информации, отключив тем самым транз-истор 45 соответствующего усилител  7. Управление источником 26 основано на эффекте перехвата тока тем из транзисторов 45 и 46, на базу которого поступает более высокий уровень напр жени .
При отсутствии дефектных ЭП в опрашиваемом разр де матрицы 1 на выходах 15 формирователей 17 находитс  низкий уровень сигнала, это обеспечивает подключение источника 26 к щине 5. Режим считывани  задаетс  формирователем 10. Сигнал о состо нии опрашиваемого ЭП исправного разр да матрицы 1 поступает с выхода 28 усилителей 7 на выход 29 устройства через блок 27. Если опрашиваетс  дефектный разр д матрицы I, то происходит обращение к соответствующему ЭП матрицы 2, в который и записывалась считываема  информаци . Обращение к ЭП матрицы 2 обеспечиваетс  теми же услови ми, которые разрешили обращение к нему в режиме записи. Усилители 7 и 8 работают в режимах записи и считывани , однако в режиме записи считанна  с шин 5 и 6 информаци  не проходит на выход 29 устройства, так как блок 27 стребируетс  сигналами на входах И и 12. Управление источником 26 осуществл етс  через усилители 7 и 8 путем подачи сигналов с входов И -13.
Таким образом, предлагаемое устройство , как и известное, позвол ет производить 1юррекцию дефектных ЭП в матрицах 1 и 2 при наличии резервных ЭП матрицы 2, но с более высоким быстродействием. Быстродействие предлагаемого устройства выще за счет исключеии  задержки сигнала, запрещающего обращение к дефектному ЭП путем блокировки соответствующего усилител , что привело также к упрощению устройства .
29

Claims (1)

  1. ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее дешифратор адреса слова, выходы которого соединены с числовыми шинами матрицы основных и резервных элементов памяти, разрядные шины которой подключены к одним из входов основных и резервных усилителей соответственно, одни из управляющих входов которых соединены с выходом формирователя управляющих сигналов, а выходы подключены к входам выходного блока, матрицу программируемых элементов памяти, одни из входов которой соединены с выходами регистра адреса разряда и входами дешифратора адре- са разряда, а другие входы объединены с входами регистра адреса разряда и являются одними из адресных входов устройства, информационными входами которого являются одни из входов формирователя управляющих сигналов, другие входы которого и управляющие входы выходного блока являются одними из управляющих входов устройства, другими управляющими входами которого являются управляющие входы матрицы программируемых элементов памяти, выходом устройства является выход выходного блока, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия устройства, в него введены источник опорного напряжения и две группы формирователей сигналов, причем входы одних из формирователей сигналов подключены к выходам дешифратора адреса разряда, а выходы — к другим управляющим входам основных усилителей, входы других формирователей сигналов соединены. с выходами матрицы программируемых элементов памяти, а выходы — с другими управляющими входами резервных усилителей, выходы источника опорного напряжения подключены к другим входам основных и резервных усилителей.
    1112
    ГС
SU833600091A 1983-06-02 1983-06-02 Запоминающее устройство SU1112412A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833600091A SU1112412A1 (ru) 1983-06-02 1983-06-02 Запоминающее устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833600091A SU1112412A1 (ru) 1983-06-02 1983-06-02 Запоминающее устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1112412A1 true SU1112412A1 (ru) 1984-09-07

Family

ID=21066560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833600091A SU1112412A1 (ru) 1983-06-02 1983-06-02 Запоминающее устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1112412A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2463672C1 (ru) * 2008-11-10 2012-10-10 Шарп Кабусики Кайся Устройство отображения

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 877614, кл. G II С 11/00, 1980. 2. Авторское свидетельство СССР № 980165, кл. G II С 11/00, 1981 (прототип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2463672C1 (ru) * 2008-11-10 2012-10-10 Шарп Кабусики Кайся Устройство отображения

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4473895A (en) Semiconductor memory device
US5627786A (en) Parallel processing redundancy scheme for faster access times and lower die area
US6097644A (en) Redundant row topology circuit, and memory device and test system using same
JPH07226100A (ja) 半導体メモリ装置
US5122987A (en) Semiconductor memory device with individually addressable space cells capable of driving a data bus
JPH0574191A (ja) 半導体記憶装置
US5717643A (en) Semiconductor memory device with testing function
JPH01109599A (ja) 書込み・消去可能な半導体記憶装置
US4254477A (en) Reconfigurable memory circuit
KR870009395A (ko) 불휘발성 메모리 회로
US5511025A (en) Write per bit with write mask information carried on the data path past the input data latch
KR100281284B1 (ko) 컬럼 리던던시 회로
US5880992A (en) Electrically erasable and programmable read only memory
SU1112412A1 (ru) Запоминающее устройство
JP2755926B2 (ja) 冗長性実施回路
JPS6353785A (ja) Cmos半導体メモリのワ−ドまたはビツト線の復号方法
JP3282188B2 (ja) 半導体メモリ装置
US4567580A (en) Redundancy roll call technique
US5177573A (en) Semiconductor integrated circuit device
US5305265A (en) Semiconductor memory device having column selection circuit activated subsequently to sense amplifier after first or second period of time
US5708613A (en) High performance redundancy in an integrated memory system
JP3898390B2 (ja) 半導体記憶装置
KR100534206B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 리던던시 디코더
US6240029B1 (en) Memory column redundancy
JPH04356789A (ja) 半導体メモリ装置