SU1105754A1 - Способ определени качества наклеивани тензорезисторов - Google Patents

Abstract

СПОСОБ.ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРВЗИСТОРОВ, заклю-; чающийс  в том, что тензорезистйр наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измер ют его сопротивление, о т л и ч ающи и с   тем, что, с целью повышени  точности, после измерени  сопротивлени  образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры , при которой проводилось наклеивание тензорезистора.измер ют сопротивление , тензорезистора и по измен.ёнию сопротивлени  определ ют качество наклеивани .

Description

СП

4J

ел

4i Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к тензоме рическим измерени м, и предназначен дл  определени  качества наклеивани тензорезисторов, Известен способ определени  качества наклеивани  тензорезисторов, заключающийс  в том, что на наклеен ный тензорезистор подают импульс электрического тока, в 5-15 раз пре вьлиающий рабочий, и по обугливанию основы обнаруживают непроклеенные участки тензорезистора Cl Недостатки способа - низка  точность оценки качества наклеивани  и невозможность автоматизации процесса определени  качества. Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  спо соб определени  качества наклеивани тензорезисторов, заключающийс  в том, что тензорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измер ют его сопротивление 2 . Данный способ характеризуетс  не высокой точностью определени  качес ва наклеивани , I . Цель изобретени  - повышение точ ности. Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу определени  качества наклеивани  1;ензорезис торов, заключающемус  в том,что тен зорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор элек трический ток и измер ют его сопро .тивление, после измерени  сопротивлени  образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры , нагревают до температуры, при которой проводилось наклеивание тен зорезистора, измер ют сопротивление тензорезистора и по измерению сопро тивлени  определ ют качество наклеивани . Способ осуществл етс  следующим образом Тензорезистор наклеивают на образец и пропускают через тензорезистор электрический ток, величина которого выбираетс  из услови  сохранени  работоспособности тензорезистора . Измер ют сопротивление тензорезистора Затем образец помещают в среду, имеющую отрицательную температуру , и выдерживаетс  так в течение времени, необходимого дл  охлаждени  образца до температуры среды. После этого образец нагревают до температуры, при которой проводилось первоначальное измерение,и по истечение времени, необходимого дл  прин ти  образцом указанной температуры, вновь измер ют сопротивление тензорезистора. Качество наклеивани  определ ют по изменению сопротивлени  тензорезистора. Физическа  сущность предлагаемого способа состоит в том, что при охлаждении образца неприклеенные участки тензорезисторов испытывают сильное коробление, решетка тензорезистора деформируетс , в результате мен етс  его сопротивление. После нагрева образца с некачественно наклеенными тензорезисторами до температуры, при которой производилось первоначальное измерение сопротивлени ,основа тензорезистора (в силу своей пластичности и наличи  остаточных деформаций) преп тствует решетке тензорезистора прин ть первоначальное положение, в результате величина его омического сопротивлени  .значительно отличаетс  от первоначальной . Способ по изобретению позвол ет повысить точность определени  качества наклеивани  тензорезисторов в процессах измерени  деформаций и напр жений с помощью тензорезисто

Claims (1)

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ,» заклю-\ чающийся в том, что тензорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицатель^ ной температуры, нагревают до температуры, при которой проводилось накле* ивание тензорезистбра.измеряют сопротивление тензорезистора и по изменению сопротивления определяют качество наклеивания. _ §

   -а .. с