SU1657945A1 - Способ контрол качества приклейки тензорезисторов на металлических поверхност х - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, в частности к тензометрии. Цель изо- бетени  повышение надежности и точности контрол  качества приклейки тензорезисто- ров Сущность изобретени  заключаетс  в том что измер ют емкость между решеткой приклеенного тензорезистора и металлической поверхностью конструкции, на которую тензореэистор наклеен, после чего сравнивают эту емкость с емкостью, измеренной дл  эталонного образца Поскольку емкость очень слабо зависит от температуры (благодар  слабой температурной зависимости диэлектрической проницаемости примен емых клеев), нет необходимости эталонный и испытуемый тензорезисторы содержать в одинаковых температурных услови х.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, в частности к тензометрии.

Цель изобретени  - повышение надежности и точности контрол 

Способ контрол  качества наклейки тензорезисторов на металлических поверхност х заключаетс  в том, что измер ют емкость между решеткой тензорезистора и поверхностью детали и сравнивают ее с эталонной .

Поскольку емкость очень слабо зависит от температуры (благодар  слабой температурной зависимости диэлектрической проницаемости примен емых клеев), нет необходимости эталонный и испытуемый тензорезисторы содержать в одинаковых температурных услови х. Не зависит емкость также и от материала металлической поверхности , на которую наклеиваетс  тензоре- зистор. При использовании измерительного

сигнала частотой 10 Гц емкостное сопротивление дл  большинства используемых тензорезисторов и клеев не превышает | 10 -10 Ом, что позвол ет производить надежные измерени  с большой точностью. Процесс измерени  занимает очень мало времени и может производитьс  дистанционно . Возможна также автоматизаци  как регистрации, так и сравнени  с эталоном.

Эталонный образец готов т следующим образом.

На измерительную консольную балку равного сопротивлени  длиной 0,5 м и толщиной м наклеивают с помощью кле  БФ-2 два тензорезистора типа 2ФКТК с длиной базы 10 мм и сопротивлением Ом. Наклейку тензорезисторов производ т по следующей технологии. Нанос т слой кле , который выдерживают на воздухе при 20°С в течение 1 ч, затем в

О

ел

VI

о

4 СП

течение 15 мин при 55-60°С, затем в течение 1 ч при . После этого производ т приклейку тензорезистора при 140-150°С в течение 1 ч. Давление прижима тензорезистора к детали во врем  приклейки составл ет 6 кгс/см2.

После того, как тензорезистор приклеен , производ т изгиб балки посредством смещени  ее свободного конца на 10 мм и с помощью приклееных тензорезисторов производ т измерение ее относительной деформации. В качестве измерительного прибора используют тензоусилитель То- паз-4.

Полученные результаты показали, что отклонение измеренной относительной деформации от теоретической, вычисленной по формуле

Ј

Wk I2

где h - толщина балки;

дк - величина прогиба конца балки;

I - длина балки,

составл ет не более 5%, что не намного превышает погрешность измерений на приборе Топаз-4 (2%). Емкость между решетками приклеенных тензорезисторов и основанием (балкой), измеренна  с помощью прибора ВМ 560 (Тесла), позвол ющего измер ть емкости с точностью ±0,1 пФ, равна 88 пФ дл  одного тензорезистора и 90,2 пФ дл  другого. Сопротивление клеевого сло , измеренное на тераомметре Е6-13А, равно дл  обоих тензорезисторов 2-1011-5-1011Ом.

Совпадение теоретической и измеренной относительной деформации дает основание считать качество приклейки данных тензорезисторов хорошим и эти образцы считать эталонными.

П р и м е р 1. На ту же измерительную балку приклеивают такие же два тензорезистора типа 2ФКТК. При наклейке несколько нарушена технологи  приклейки - выдержку сло  кле  осуществл ют на воздухе в течение 1 ч при комнатной температуре, а затем осуществл ют приклейку тензорезистора в течение 1 сут при комнатной температуре и давлении прижима 6 кгс/см .

Емкость дл  одного тензорезистора в этом случае равна 79,2 пФ, а дл  другого 75,6 пФ. Сопротивление клеевого сло  дл 

этих образцов не отличаетс  от сопротивлени  клеевого сло  эталонных образцов,

Сравнение относительной деформации, измеренной с помощью этих тензорезисторов . с теоретической дает отклонени  10% дл  одного образца и 12% дл  другого.

П р и м е р 2 Два тензорезистора того же типа и размера наклеивают на ту же балку равного сопротивлени  с нарушением технологии приклейки. На этот раз приклейку осуществл ют сразу же после нанесени  сло  кле  и провод т при комнатной температуре в течение 1 сут при давлении 3 кгс/см . Емкости в этом случае

равны 70,1 и 61.8 пФ. Сопротивление же клеевого сло  и в этом случае не отличаетс  от сопротивлени  эталонных образцов.

Сравнение относительной деформации, измеренной с помощью этих тензорезисторов , с теоретической дает отклонени  15 и 20%.

Как видно из примеров, предлагаемый способ контрол  позвол ет быстро, надежно недостаточно высокой степенью точности

определ ть качество приклейки тензорезисторов , в то врем  как измерение сопротивлени  клеевого сло  (прототип) еще не дает достоверного результата.

Таким образом, использование предлагаемого способа контрол  качества приклейки тензорезисторов на металлические поверхности обеспечивает по сравнению с существующими способами контрол  более высокую надежность и точность измерений,

а также меньшее врем  измерений при возможности дистанционного измерени  и автоматической регистрации и сравнени  измер емой емкости с эталонной. При этом нет необходимости поддерживать одинаковые услови  дл  эталонного и измер емого образца.

Claims (1)

1. Формула изобретени  Способ контрол  качества наклейки тензорезисторов на металлических поверхност х , включающий в себ  измерение электрического параметра, характеризующего качество приклейки, и сравнение этого параметра с эталонной величиной, о т личающийс  тем, что, с целью повышени  надежности и точности контрол , в качестве измер емого параметра используют емкость