SU1098455A1 - Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах - Google Patents

Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах Download PDF

Info

Publication number
SU1098455A1
SU1098455A1 SU833530657A SU3530657A SU1098455A1 SU 1098455 A1 SU1098455 A1 SU 1098455A1 SU 833530657 A SU833530657 A SU 833530657A SU 3530657 A SU3530657 A SU 3530657A SU 1098455 A1 SU1098455 A1 SU 1098455A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
boat
temperature
diffusion
loading
multilayer structures
Prior art date
Application number
SU833530657A
Other languages
English (en)
Inventor
Ю.М. Локтаев
В.С. Марквичева
Я.Д. Нисневич
В.Ф. Лопуленко
Л.Н. Писарева
Original Assignee
Всесоюзный Электротехнический Институт Им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Электротехнический Институт Им.В.И.Ленина filed Critical Всесоюзный Электротехнический Институт Им.В.И.Ленина
Priority to SU833530657A priority Critical patent/SU1098455A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1098455A1 publication Critical patent/SU1098455A1/ru

Links

Landscapes

  • Thyristors (AREA)

Abstract

СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СИЛЬНОЛЕГИРОВАННЫХ ОБЛАСТЕЙ-В МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУРАХ силовых -полупроводниковых приборов,, включающий- осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин дл  получени  легированного окисла, помещение в лодочку вертикальной стопки пластин, совмещенных одноименными, сторонами,, загруаку лодочкк в нагретую печь и проведение диффузии при температуре1100 1300 С в точке газа с расходом.более 3 л/мин, -отли-чающи с  тем, что, с целью -увеличени х процента выхода годных приборов путем повышени  однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивлени  диф- . фузионных слоев, .эагрузку лодочки-провод т в потоке кислорода-при температуре на 50-350°С меньшей,, чем температура диффузии, и через 15-60 мин после загрузки лодочки в- печь начина- г ют нагревать до температуры диффузии со скоростью

Description

Изобретение относитс  к технологии изготовлени  полупроводниковых приборов, а именно к диффузии акцепторных , и донорньгх примесей дл  создани  кре ниевых многослойных струк тур силовых, полупроводниковых приборов . Известен способ изготовлени  многослойной структуры силового тиристора , в котором область изготав ливают в р-п-р структуре локальной диффузией фосфора из легированных окисных пленок, осаждаемых из раство ров. Однако низка  однородность и воспроизводимость поверхностного сопротивлени  сло  привод т к боль шим значени м пр мого падени  напр жени . Кроме того, этим способом при %+ изготовлении -эмиттера нельз  одновременно сформировать р -область на противоположной стороне структуры необходимую дл  улучшени  параметров тиристора. Наиболее бл:изким по технической сущности к изобретению ;1вл етс  способ формировани  сильнолегированных областей в многослойных структурах силовых полупроводниковых приборов, включающий осаждение растворов на по верхность кремниевых пластин дл  получени  легированного окисла, помеще ние в лодочку вертикальной ст.опки пл стин, совмещенных одноименными сторонами , загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при темпе ратуре 1100-1300°С в потоке газа с расходом более 3 л/мин. Недостаток заключаетс  в том, что этим способом нельз  изготовить п+ и р+ - области в многослойных структурах тиристоров с. высокой однородностью и. воспроизводимостью поверхно ного сопротивлени  диффузионных слое ( легировани ), а низка  однородность и воспроизводимость легировани  п+ областей приводит к неравномерному распределению тока по площади структур, а следовательно, к ув личению пр мого падени  напр жени  к на отдельных тиристорах, так и его среднего значени  в партии, и ухудш нию ди н амич ее ких пар аметр ОБ. Целью изобретени   вл етс  увели чение процента выхода годных приборов путем повьшени  однородности и воспроизводимости noBepxHOCtHoro со противлени  диффузионных слоев. 1 55I Поставленна  достигаетс  тем, что в способе формировани  сильнолегированных областей в многослойных структурах силовых полупроводниковых приборов, включаюи1ем осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин дл  получени  легированного окисла , помещение в лодочку вертикальной стопки пластин, совмещенных одноименными сторонами, загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при температуре 1100-1300°С в потоке газа с расходом более 3 л/мин, загрузку лодочки провод т в потоке кислорода при температуре на 50-350°С меньшей, чем температура диффузии, и через 15-60 мин после загрузки, печь начинают нагревать до температуры диффузии со скоростью 1-10°С/мин. При отсутствии специальной технологической операции термодеструкции пленок последн   происходит при загрузке в нагретую диффузионную печь. При деструкции происходит окисление и испарение продуктов окислени  и разложени  исходных компонентов раствора и продуктов их химического взаимодействи , а также испарение из формирующейс  стекловидной пленки окислов фосфора , мышь ка, сурьмы и бора, причем в атмосфере кислорода происходит быстрее термодеструкци  и меньше испар ютс  из пленки окислы этих примесей. К началу диффузии примесей стекловидна  пленка должна быть окончательно сформирована и находитьс  в равновесии с кремнием, например полна , деструкци  легированных фосфором и мышь ком пленок происходит при температуре 800°С, а легированных бором при 1050 С. Поэтому загрузка пластин должна производитьс  в печь, нагретую на ЗО-ЗЗО С ниже, чём темпера- . тура диффузии. Если температура загрузки пластин в печь будет ниже более чем на 350°С или менее чем на 50°С по сравнению с температурой диффузии, то в первом случае за счет увеличени  длительности нагрева печи до температуры диффузии будет уменьшатьс  уровень легировани  из-за излишнего испарени  примесей, а во втором случае сближение температуры деструкции и диффузии ухудшит однородность и воспроизводимость легировани , так как диффузи  и деструкци  будут происходить одновременно. В зависимости от массы загружаемьк пластин (может составл ть 2 кг) дл  проведени  деструкции и установлени теплового равновеси  необходимо от 15 до 60 мин. Затем печь вместе с пластинами должна нагретьс  до температуры диффузии с небольшой скоростью , 1-10°С/мин, обеспечивающей равномерный нагрев всех загруженных пластин. Только в этом случае можно обеспечить высокую однородность и .воспроизводимость легировани  как п так и р+ слоев. Уменьшение времени деструкции и установлени  теплового равновеси  ниже 15 мин и увеличение скорости нагрева.печи выше 10°С/мин не позврл ет всю рабочую площадку п чи одновременно нагреть да температуры диффузии, что приводит к ухудшению однородности и воспроизводимости легировани , особенно при коротких процессах диффузии. Увеличение времени установлени  теплового равновеси  более 1 ч и уменьшение скорости нагрева ниже 1°С/мин нецелесообразно , так как только увеличи вает длительность процесса диффузии Примеры, Способ был исполь зован дл  изготовлени  нескольких опытных партий многослойных- структу тиристора типа Т173-1250. Р-п-р стр туры были изготовлены по типовому техпроцессу Диффузией алюмини  и бо ра из легированных окисных пленок в .кремниевые пластины п-типа проводимости с удельным сопритивлением 180 Ом-см,шлифованные микропорошком М28. Локальна  маскирующа  плен ка бьша сформирована термическим ок лением с последующей фотолитографией по существующему техпроцессу. Донорный раствор содержал компоненты в следующем количественном соотношении , см : Этиловый спирт 96 Ортофосфорна  кислота , 70% Азотна  кислота, Тетраэтоксисилан Акцепторный раствор содержал ком понент в следующем количественном с 1 г отношении, см: Этиловый спирт 96 Азотн-а  кислота, конц.0,4 Алюминий азотнокислый , гидрат8 Тетраэтоксисилан 15 Триэтоксибор32 Растворы осаждались на центрифуге при частоте вращени  2800 об/мин, затем пластины складывались плотной вертикальной„стопкой в кварцевую лодочку . Лодочка с пластинами опытных партий резко загружалась в нагретую до температуры 900, 1050, или печь, а лодочка с пластинами контрольной партии - равномерно в течение 20 мин в печь, нагретую до температуры диффузии. Диффузионна  термообработка 1роводилась при температуре 1250°С в течение 2 ч в кварцевой трубе диаметром 110 мм при расходе кислорода 10 л/мин на опытных парти х и расходе аргона 40 л/мин на контрольной партии. Оценка однородности и воспроизводимости легировани  пи р областей проводилась по результатам измерений поверхностного сопротивлени  диффузионных слоев. Изменени  проводили в 13 точках на каждом диффузионном слое структуры и из каждой партии дл  измерений бралось по 6 пластин. По результатам измерений рассчитывались средние значени .поверхностного сопротивлени  в пар.тии (Rg) со стороны п и р слоев и относительные среднеквадратические отклонени  по площади пластин - однородность легировани  (VOAH ) и между пластинами в партии - воспроизводимость легировани  (Vgocnp, - В табл. 1 представлены данные по режимам изготовлени  опытных и контрольной партии, а в табл. 2 данные по однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивлени  диффузионных п и р -областей. Таким образом, однородность и воспроизводимость легировани  п и .ластей многослойных структур тиристоров , изготовленных по данному способу , значительно вьпие, чем изготовленных по известному способу, Изобретение может быть применено дл  изготовлени  или р -областей вместо способа диффузии с использованием галогенидов фосфора и бора в п ртоке газа-носител , дл  изготовле510984556
ни  n-обпастей в многослойных струк- фузией фосфора, а также дл .изгртодтурных симисторов и п-п -структур лени  п- -слоев диффузией мьшь ка и дл  высоковольтных транзисторов диф- сурьмы.
Таблица 1
900
Формировалс  только п слой

Claims (1)

  1. СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СИЛЬНОЛЕГИРОВАННЫХ ОБЛАСТЕЙ-В МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУРАХ силовых -полупроводниковых приборов,, включающий- осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин для получения легированного окисла, помещение в лодочку верти- кальной стопки пластин, совмещенных одноименными, сторонами,· загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при температуре-1100 1300вС в точке газа с расходом.более 3 л/мин, отличающийся тем, что, с целью .увеличения, процента выхода годных приборов- путем повышения однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивления диф- . фузионных слоев,нагрузку лодочки-проводят в потоке кислорода при температуре на 50-350°С меньшей, , чем температура диффузии, и через- 15-60 мин после загрузки лодочки в- печь начина- ют нагревать до температуры диффузии * со скоростью (1-10)вС/мин.
    >
SU833530657A 1983-01-03 1983-01-03 Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах SU1098455A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833530657A SU1098455A1 (ru) 1983-01-03 1983-01-03 Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833530657A SU1098455A1 (ru) 1983-01-03 1983-01-03 Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1098455A1 true SU1098455A1 (ru) 1985-02-15

Family

ID=21042152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833530657A SU1098455A1 (ru) 1983-01-03 1983-01-03 Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1098455A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4778772A (en) Method of manufacturing a bipolar transistor
JPH0587986B2 (ru)
US8637328B2 (en) Integrated circuit having doped semiconductor body and method
US3208888A (en) Process of producing an electronic semiconductor device
US3748198A (en) Simultaneous double diffusion into a semiconductor substrate
JPS58164134A (ja) 半導体装置の製造方法
SU1098455A1 (ru) Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах
JP2792908B2 (ja) 高逆阻止電力ダイオードの製造方法
JPH0719750B2 (ja) グロ−放電型成膜装置
US4233093A (en) Process for the manufacture of PNP transistors high power
JPS5933255B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US4588454A (en) Diffusion of dopant into a semiconductor wafer
JPH033326A (ja) 半導体装置における多結晶シリコン膜の形成方法
JPS6112370B2 (ru)
JPS595630A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH01129413A (ja) 半導体基体への不純物導入方法
JPH01283919A (ja) プラズマドーピング方法
JPS5989460A (ja) サイリスタの製造方法
JPS6160572B2 (ru)
JPS62272521A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5916346A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0745841A (ja) 半導体装置の製造方法
KR850001097B1 (ko) 고주파 반도체 소자의 제조방법
JPS61144029A (ja) 燐を含有する酸化シリコン膜の製造方法及び製造装置
JPS62203383A (ja) 光起電力素子の製造方法