SU1098455A1 - Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах - Google Patents
Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1098455A1 SU1098455A1 SU833530657A SU3530657A SU1098455A1 SU 1098455 A1 SU1098455 A1 SU 1098455A1 SU 833530657 A SU833530657 A SU 833530657A SU 3530657 A SU3530657 A SU 3530657A SU 1098455 A1 SU1098455 A1 SU 1098455A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- boat
- temperature
- diffusion
- loading
- multilayer structures
- Prior art date
Links
Landscapes
- Thyristors (AREA)
Abstract
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СИЛЬНОЛЕГИРОВАННЫХ ОБЛАСТЕЙ-В МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУРАХ силовых -полупроводниковых приборов,, включающий- осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин дл получени легированного окисла, помещение в лодочку вертикальной стопки пластин, совмещенных одноименными, сторонами,, загруаку лодочкк в нагретую печь и проведение диффузии при температуре1100 1300 С в точке газа с расходом.более 3 л/мин, -отли-чающи с тем, что, с целью -увеличени х процента выхода годных приборов путем повышени однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивлени диф- . фузионных слоев, .эагрузку лодочки-провод т в потоке кислорода-при температуре на 50-350°С меньшей,, чем температура диффузии, и через 15-60 мин после загрузки лодочки в- печь начина- г ют нагревать до температуры диффузии со скоростью
Description
Изобретение относитс к технологии изготовлени полупроводниковых приборов, а именно к диффузии акцепторных , и донорньгх примесей дл создани кре ниевых многослойных струк тур силовых, полупроводниковых приборов . Известен способ изготовлени многослойной структуры силового тиристора , в котором область изготав ливают в р-п-р структуре локальной диффузией фосфора из легированных окисных пленок, осаждаемых из раство ров. Однако низка однородность и воспроизводимость поверхностного сопротивлени сло привод т к боль шим значени м пр мого падени напр жени . Кроме того, этим способом при %+ изготовлении -эмиттера нельз одновременно сформировать р -область на противоположной стороне структуры необходимую дл улучшени параметров тиристора. Наиболее бл:изким по технической сущности к изобретению ;1вл етс способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах силовых полупроводниковых приборов, включающий осаждение растворов на по верхность кремниевых пластин дл получени легированного окисла, помеще ние в лодочку вертикальной ст.опки пл стин, совмещенных одноименными сторонами , загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при темпе ратуре 1100-1300°С в потоке газа с расходом более 3 л/мин. Недостаток заключаетс в том, что этим способом нельз изготовить п+ и р+ - области в многослойных структурах тиристоров с. высокой однородностью и. воспроизводимостью поверхно ного сопротивлени диффузионных слое ( легировани ), а низка однородность и воспроизводимость легировани п+ областей приводит к неравномерному распределению тока по площади структур, а следовательно, к ув личению пр мого падени напр жени к на отдельных тиристорах, так и его среднего значени в партии, и ухудш нию ди н амич ее ких пар аметр ОБ. Целью изобретени вл етс увели чение процента выхода годных приборов путем повьшени однородности и воспроизводимости noBepxHOCtHoro со противлени диффузионных слоев. 1 55I Поставленна достигаетс тем, что в способе формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах силовых полупроводниковых приборов, включаюи1ем осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин дл получени легированного окисла , помещение в лодочку вертикальной стопки пластин, совмещенных одноименными сторонами, загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при температуре 1100-1300°С в потоке газа с расходом более 3 л/мин, загрузку лодочки провод т в потоке кислорода при температуре на 50-350°С меньшей, чем температура диффузии, и через 15-60 мин после загрузки, печь начинают нагревать до температуры диффузии со скоростью 1-10°С/мин. При отсутствии специальной технологической операции термодеструкции пленок последн происходит при загрузке в нагретую диффузионную печь. При деструкции происходит окисление и испарение продуктов окислени и разложени исходных компонентов раствора и продуктов их химического взаимодействи , а также испарение из формирующейс стекловидной пленки окислов фосфора , мышь ка, сурьмы и бора, причем в атмосфере кислорода происходит быстрее термодеструкци и меньше испар ютс из пленки окислы этих примесей. К началу диффузии примесей стекловидна пленка должна быть окончательно сформирована и находитьс в равновесии с кремнием, например полна , деструкци легированных фосфором и мышь ком пленок происходит при температуре 800°С, а легированных бором при 1050 С. Поэтому загрузка пластин должна производитьс в печь, нагретую на ЗО-ЗЗО С ниже, чём темпера- . тура диффузии. Если температура загрузки пластин в печь будет ниже более чем на 350°С или менее чем на 50°С по сравнению с температурой диффузии, то в первом случае за счет увеличени длительности нагрева печи до температуры диффузии будет уменьшатьс уровень легировани из-за излишнего испарени примесей, а во втором случае сближение температуры деструкции и диффузии ухудшит однородность и воспроизводимость легировани , так как диффузи и деструкци будут происходить одновременно. В зависимости от массы загружаемьк пластин (может составл ть 2 кг) дл проведени деструкции и установлени теплового равновеси необходимо от 15 до 60 мин. Затем печь вместе с пластинами должна нагретьс до температуры диффузии с небольшой скоростью , 1-10°С/мин, обеспечивающей равномерный нагрев всех загруженных пластин. Только в этом случае можно обеспечить высокую однородность и .воспроизводимость легировани как п так и р+ слоев. Уменьшение времени деструкции и установлени теплового равновеси ниже 15 мин и увеличение скорости нагрева.печи выше 10°С/мин не позврл ет всю рабочую площадку п чи одновременно нагреть да температуры диффузии, что приводит к ухудшению однородности и воспроизводимости легировани , особенно при коротких процессах диффузии. Увеличение времени установлени теплового равновеси более 1 ч и уменьшение скорости нагрева ниже 1°С/мин нецелесообразно , так как только увеличи вает длительность процесса диффузии Примеры, Способ был исполь зован дл изготовлени нескольких опытных партий многослойных- структу тиристора типа Т173-1250. Р-п-р стр туры были изготовлены по типовому техпроцессу Диффузией алюмини и бо ра из легированных окисных пленок в .кремниевые пластины п-типа проводимости с удельным сопритивлением 180 Ом-см,шлифованные микропорошком М28. Локальна маскирующа плен ка бьша сформирована термическим ок лением с последующей фотолитографией по существующему техпроцессу. Донорный раствор содержал компоненты в следующем количественном соотношении , см : Этиловый спирт 96 Ортофосфорна кислота , 70% Азотна кислота, Тетраэтоксисилан Акцепторный раствор содержал ком понент в следующем количественном с 1 г отношении, см: Этиловый спирт 96 Азотн-а кислота, конц.0,4 Алюминий азотнокислый , гидрат8 Тетраэтоксисилан 15 Триэтоксибор32 Растворы осаждались на центрифуге при частоте вращени 2800 об/мин, затем пластины складывались плотной вертикальной„стопкой в кварцевую лодочку . Лодочка с пластинами опытных партий резко загружалась в нагретую до температуры 900, 1050, или печь, а лодочка с пластинами контрольной партии - равномерно в течение 20 мин в печь, нагретую до температуры диффузии. Диффузионна термообработка 1роводилась при температуре 1250°С в течение 2 ч в кварцевой трубе диаметром 110 мм при расходе кислорода 10 л/мин на опытных парти х и расходе аргона 40 л/мин на контрольной партии. Оценка однородности и воспроизводимости легировани пи р областей проводилась по результатам измерений поверхностного сопротивлени диффузионных слоев. Изменени проводили в 13 точках на каждом диффузионном слое структуры и из каждой партии дл измерений бралось по 6 пластин. По результатам измерений рассчитывались средние значени .поверхностного сопротивлени в пар.тии (Rg) со стороны п и р слоев и относительные среднеквадратические отклонени по площади пластин - однородность легировани (VOAH ) и между пластинами в партии - воспроизводимость легировани (Vgocnp, - В табл. 1 представлены данные по режимам изготовлени опытных и контрольной партии, а в табл. 2 данные по однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивлени диффузионных п и р -областей. Таким образом, однородность и воспроизводимость легировани п и .ластей многослойных структур тиристоров , изготовленных по данному способу , значительно вьпие, чем изготовленных по известному способу, Изобретение может быть применено дл изготовлени или р -областей вместо способа диффузии с использованием галогенидов фосфора и бора в п ртоке газа-носител , дл изготовле510984556
ни n-обпастей в многослойных струк- фузией фосфора, а также дл .изгртодтурных симисторов и п-п -структур лени п- -слоев диффузией мьшь ка и дл высоковольтных транзисторов диф- сурьмы.
Таблица 1
900
Формировалс только п слой
Claims (1)
- СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СИЛЬНОЛЕГИРОВАННЫХ ОБЛАСТЕЙ-В МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУРАХ силовых -полупроводниковых приборов,, включающий- осаждение растворов на поверхность кремниевых пластин для получения легированного окисла, помещение в лодочку верти- кальной стопки пластин, совмещенных одноименными, сторонами,· загрузку лодочки в нагретую печь и проведение диффузии при температуре-1100 1300вС в точке газа с расходом.более 3 л/мин, отличающийся тем, что, с целью .увеличения, процента выхода годных приборов- путем повышения однородности и воспроизводимости поверхностного сопротивления диф- . фузионных слоев,нагрузку лодочки-проводят в потоке кислорода при температуре на 50-350°С меньшей, , чем температура диффузии, и через- 15-60 мин после загрузки лодочки в- печь начина- ют нагревать до температуры диффузии * со скоростью (1-10)вС/мин.>
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833530657A SU1098455A1 (ru) | 1983-01-03 | 1983-01-03 | Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833530657A SU1098455A1 (ru) | 1983-01-03 | 1983-01-03 | Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1098455A1 true SU1098455A1 (ru) | 1985-02-15 |
Family
ID=21042152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833530657A SU1098455A1 (ru) | 1983-01-03 | 1983-01-03 | Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1098455A1 (ru) |
-
1983
- 1983-01-03 SU SU833530657A patent/SU1098455A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4778772A (en) | Method of manufacturing a bipolar transistor | |
JPH0587986B2 (ru) | ||
US8637328B2 (en) | Integrated circuit having doped semiconductor body and method | |
US3208888A (en) | Process of producing an electronic semiconductor device | |
US3748198A (en) | Simultaneous double diffusion into a semiconductor substrate | |
JPS58164134A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
SU1098455A1 (ru) | Способ формировани сильнолегированных областей в многослойных структурах | |
JP2792908B2 (ja) | 高逆阻止電力ダイオードの製造方法 | |
JPH0719750B2 (ja) | グロ−放電型成膜装置 | |
US4233093A (en) | Process for the manufacture of PNP transistors high power | |
JPS5933255B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US4588454A (en) | Diffusion of dopant into a semiconductor wafer | |
JPH033326A (ja) | 半導体装置における多結晶シリコン膜の形成方法 | |
JPS6112370B2 (ru) | ||
JPS595630A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH01129413A (ja) | 半導体基体への不純物導入方法 | |
JPH01283919A (ja) | プラズマドーピング方法 | |
JPS5989460A (ja) | サイリスタの製造方法 | |
JPS6160572B2 (ru) | ||
JPS62272521A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS5916346A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0745841A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
KR850001097B1 (ko) | 고주파 반도체 소자의 제조방법 | |
JPS61144029A (ja) | 燐を含有する酸化シリコン膜の製造方法及び製造装置 | |
JPS62203383A (ja) | 光起電力素子の製造方法 |