SU1005227A1 - Connection clamp for electric device - Google Patents

Connection clamp for electric device Download PDF

Info

Publication number
SU1005227A1
SU1005227A1 SU813382011A SU3382011A SU1005227A1 SU 1005227 A1 SU1005227 A1 SU 1005227A1 SU 813382011 A SU813382011 A SU 813382011A SU 3382011 A SU3382011 A SU 3382011A SU 1005227 A1 SU1005227 A1 SU 1005227A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
elements
insulating
contact
microcircuit
axis
Prior art date
Application number
SU813382011A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Наум Петрович Чечельницкий
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8574
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8574 filed Critical Предприятие П/Я В-8574
Priority to SU813382011A priority Critical patent/SU1005227A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1005227A1 publication Critical patent/SU1005227A1/en

Links

Landscapes

  • Multi-Conductor Connections (AREA)

Description

Изобретение относ тс  к радиотех:нйке и может быть ис юльзовано, в част ности, в установках внутрисхемного   унклионадьного контрол  печатных плат. Известны различного рода одиночные пробники типа крокодил  пвл ющиес  универсальными устройствами дл  подкл чени  выводов любых радиодеталей, в том числе микросхем, к измерителю- 1 Однако в случае большого числа одновременно подключаемых выводов, что имеет место при подключении к иэмерителю микросхем, одиночные пробники неприемлемы из-за больших затрат времени на их установку. В этой св зи при измерени х микросхем наход т тфименейие групповые пробники, рассчитанные на одновременное подключение к измерителю всех выводов микросхемы. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату  вл етс  зажим, исполь зуемый дл  электрического прибора, со держащий расположенные на общей ос  а взаимно подпружиненные два изоа шо ЕЬ ных элемента, на каждом из которых расположены контактные элементы, выполненные из упругого материала. С нижней части лзо  пионных элементов имеютс  выступающие внутрь дл  захвата корпуса микросхемы. При работе оператор нажатием на верхние части изол ционных элементов разводит их нижние части (благодар  наличию шарнира) на угол, достаточный дл  установки зажима на микросхему. При отпускании оператором верхней части упом нутых элементов последние под действием пружины свод тс  нвзоними част ми внутрь до их упора в корпус микросхемы, при этом их нижние кромки захватывают мвкросх@.у за кор пус. Несколько ранее упругие контаз ты опираютс  на выводы микросх иоа. При дальнейшем движении упругие конта ты несколько прсгиббиютс , воздейству The invention relates to radio engineering and may be used, in particular, in in-circuit control of printed circuit boards. Various types of single crocodile probes known as universal devices for connecting pins of any radio components, including microcircuits, to the meter are known. However, in the case of a large number of simultaneously connected pins, as is the case when connected to an e-chip, single probes are unacceptable. for a lot of time to install them. In this connection, when measuring microcircuits, a group of probes is calculated, named for the simultaneous connection of all the microcircuit pins to the meter. The closest to the proposed technical essence and the achieved result is a clamp used for an electrical device, containing mutually spring-loaded two of the EH elements located on a common axis, each of which contains contact elements made of an elastic material. Protruding inwards from the bottom of the pionic elements are to grip the microchip body. During operation, the operator, by pressing the upper parts of the insulating elements, spreads their lower parts (due to the presence of a hinge) by an angle sufficient to install the clip on the microcircuit. When the operator releases the upper part of the said elements under the action of a spring, they are reduced by the inflatable parts inwards to their abutment into the body of the microcircuit, while their lower edges capture the microcircuits @ .y by the case. Somewhat earlier, the elastic contacts rely on the conclusions of the IC chips. Upon further movement, the elastic contacts will somewhat bend, affecting

на выводы микросхемы с усшгаем, доо таточным дл  контактировани  2 .on the pins of the microcircuit with the receiver, sufficient for contacting 2.

Однако такой электрический зажим не обладает необходимой надежностью контактировани , поскольку контактирование происходит по сгибу вывода в непосредственной близости от корпуса микросхемы, где зачастую имеют мео то пластмассовые пленки обло  ко{шу са. Кроме того, на выводах корпуса микросхемы после ее установки в плату могут наблюдатьс  остатки флюса в вид тонких пленок или. отдельных точечных включений. Это также снижает наде  норть контактировани . Сам контакт в такой конструкюш, не име  предвари тельного напр жени , претерпевает До достинсени  контактного усили  полную деформацию от ненапр женного состо вни  до этого усили , т.е. работает по пульсационному Ш1клу; Такой режим невыгоден дл  ресурса работы коатак та. При этом неразъемный характер установки контакта в изолтшонжш элементе вызьшает необходимость в замене всего элемента при поломке хот  бы одного контакта, т.е. ро юнтопригодность устройства низка . Все это снижает надежность устройства в целом.However, such an electrical clamp does not have the necessary reliability of contacting, since contacting occurs by bending the output in close proximity to the microcircuit case, where often plastic films of the film are wired. In addition, flux residues in the form of thin films or can be observed at the terminals of the microcircuit case after its installation into the board. individual point inclusions. It also reduces the hope of contacting. The contact itself in such a structure, which does not have a pre-stress, undergoes, before reaching the contact force, a complete deformation from an unstressed condition to this force, i.e. works on the pulsation Sh1klu; Such a regime is disadvantageous for the coatact operating resource. In this case, the integral nature of the installation of the contact in the insulation element necessitates the replacement of the entire element when at least one contact breaks, i.e. The device's low availability is low. All this reduces the reliability of the device as a whole.

Целью изобретени   вл етс  повышение надежности.The aim of the invention is to increase reliability.

Указанна  цель достигаетс  тем, что зажим снабжен расположенной мехъду изол ционными элементами на упом нутой оси изол ционной колодкой С ус гановпенными на ее противопопржных сторонах неподвижными 1СйнтЗЕТнымв элементами, каждый из изо  аоконных {Цементов выполнен с пазом на кгаь цевом участке и с выступом, щшчем упругие контактные элементы своей средней частью установпеиы на выогупвх . иза1Я1шонш ис эл левтов, взавмо действуют одним своим концом с НОПОА1ШЖНЫМИ контактными эпемевтамн, а ПК противоположные ЕОВДЫ. раоаоаожеиы в упом нутых пазах:.This goal is achieved by the fact that the clamp is provided with an insulating block located on the said axis with an insulating block With fixed on its opposing sides fixed 1 Synthetic elements, each of the aocular {Cements is made with a groove on a helix section and with a protrusion elastic. contact elements with its middle part are set on the top. Because of their actions, they operate at one end with a non-contact contact epem, and PCs are opposed to EOBDs. the above-mentioned slots :.

На фиг. 1 иэображеио предлагаемое устройство, продольный разрез; на фиг. контактна  система предлагаемого устро ства в увеличеннсы масштабе, разрез по оси одного из выводов провер емой мик росхемы; на фиг. 3 - то же, в аксонометрической проекшш.FIG. 1, the proposed device, a longitudinal section; in fig. the contact system of the proposed device is enlarged, a section along the axis of one of the conclusions of the microcircuit being tested; in fig. 3 - the same, in axonometric proekshsh.

Предлагаемый алеЕтрЕческ й зажим дл  контрол  вмонтвровавньос в плату микросхем (фиг. 1-3) соаер  г колод ку 1 с жестко в нем закрепленнымиThe proposed aerial ETHERCH clamp for controlling the integrated circuit chip (Fig. 1-3) coaer g block 1 with rigidly fixed in it

неподвижными контактами 2 с отверсти ми 3 дл  пайки приводов 4, идупшх к иамеритвЛ1ю. Корпус 1 свободно на ось 5, шарнирно скрепл шую изол ционные элементы 6 и 7. Элементы 6 и 7 имеют на В1 тренних сторонах 8 и 9 выступы 10 и 11 с р дом (по числу выводов микросхемы) игольчатых выступов 12. В нижней части элементы 6 и 7 имеют пазы 13 и 14 и перемычки 15 и 16, образующие нижние КРЮ4КИ. На игольчатые выступы 10 свободно надеты контакты 17 и 18. Нижние нонпы 19 и 2О контактов 17 и 18 лежат в пазах 13 и 14, а верхние концы 21 и 22 опираютс  своими изоггнутыми участками на неподвижные конта ты 2 КОЛОДКЕ 1. При эт(л,при отсутствии иavlep eмoй микросхемы 23, нижние концы 19 и 20 контактов 17 и 18 опирают с  на перемычки 15 и 16. Нижние кОнцы 19 и 20 контактов 17 и 18 загнуты внутр и заострены. Элементы 6 и 7 подпруж&нены пружиной 24 сжати  2.fixed contacts 2 with openings 3 for soldering the drives 4, and to the memory of the actuator. Case 1 is free on axis 5, hingedly insulating insulating elements 6 and 7. Elements 6 and 7 have on B1 of the lateral sides 8 and 9 of the projections 10 and 11 with a series (according to the number of terminals of the microcircuit) needles of the projections 12. At the bottom are elements 6 and 7 have grooves 13 and 14 and lintels 15 and 16, forming the lower KRYU4KI. Pin 17 and 18 are loosely put on needle protrusions 10. Lower nony 19 and 2O pins 17 and 18 lie in grooves 13 and 14, and the upper ends 21 and 22 rest with their bent sections on fixed contacts 2 POD 1. At this (l, in the absence of an avlepom microcircuit 23, the lower ends 19 and 20 of the pins 17 and 18 rest on the jumpers 15 and 16. The lower ends 19 and 20 of the pins 17 and 18 are bent inward and tapering. Elements 6 and 7 are spring-loaded and are not compressed by compression spring 2.

Электрический зажим дл  контрол  вмонтированных в плату микросхем работает следующим образом.The electrical clip for control embedded in the chip works as follows.

П|ж нажатии на верхние части 25 и 26 элементов 6 и 7 в направлении, обозначенном стрелками, элементы 6 и 7, враща сь относительно оси 5, сход тс  вверху до упора поверхност ми 27 и 28 друг 3 друга. При этом чаоти элементов 6 и 7, лежащие ниже оби 5, развод тс  на тот же угол, причем перемычки 15 и 16, воздейству  на нижние концы 19 и 20 контактов 17 и 18, развод т их в стороны от своей осевой плоскости так, что раосто ние между заостренными концами .противолежацщх ксютактсе 17 и 18Pressing the upper parts 25 and 26 of the elements 6 and 7 in the direction indicated by arrows, the elements 6 and 7, rotating about the axis 5, converge upward against the stop by the surfaces 27 and 28 of each other. At the same time, the chaos of elements 6 and 7, lying below obi 5, are divorced at the same angle, besides, jumpers 15 and 16, affecting the lower ends 19 and 20 of contacts 17 and 18, spread them apart from their axial plane so that the distance between the pointed ends of the opposite ligaments 17 and 18

. оказьтаетс  несколько больше paccTOja. Щ1Я между противопежшцщш внешними поверхност ми вьюодов вкросхемы 23. Затем зажим опускакхг на подлежащую микросхему 23 до упора п&ремычек 15 и 16 в ее вьтоды. Прв этом ее вьгаоды оказываютс  лежащими. turns out to be a bit more paccTOja. Shch1N between the protivopeshtstschshchsh the external surfaces of the views of the crochet 23. Then clamp down to the underlying microcircuit 23 until it stops p & straps 15 and 16 into its position. Prv this her lies are lying

в пазах 13 и 14. По отпускании эпеме : тов 6 и 7 последние под действием пружины 24 и контактов 17 и 18 вращают с  относительно оси 5 в направлении, обратном указанному стрелками, до упо ра нижних концов 19 н 20 контактов 17 и 18 в выводы мивросхемы 23. ХЫьнейщее движевЕе элементов 6 и 7 in slots 13 and 14. Upon releasing the epeme: com 6 and 7, the latter are rotated from the axis 5 in the opposite direction of the arrows by the action of the spring 24 and the contacts 17 and 18 to the end of the lower ends 19 and 20 of the contacts 17 and 18 to the terminals Mivroschemes 23. The newest moving elements 6 and 7

, происходит под дейстЕве)м только  ружв ны 24 и противодействием контактов 17 и IS до момента упоре скошенных хромок 29 в 30 в корпус мшфосхемы 23. Г этом скошенные 29 л 30 фнЕСВруют зажЕм относительно микросхемы как в шюскостн платы, так в в пер11енднкул5гфном к ней .направленвв. В нерабочем состо ни  (когда зажим не подсое шСен к микросхеме в не сжат по верхним ЧАСТЯМ 25 в 26) элементы 6 в 7 ушфаютс  друг в друга поверх- кост ми 31 в 32, расположенными н же оси. 5. При этом конта1фь1 17 в 18 опираютс  на неподвижные контакты 2 платы 1 , на перемычки 15 в 16 внизу в на поверхности 33 и 34 выступов 1О в 11 -в средней части, окааы ва сь предварительно нахф женными. Тем самым деформаци  KOHTSIKTOB l7 и 13 в процессе рабочего цикла оказываетс  в пределах, определ емых дсжуо камв на расположение вьюодов микроcxeMIbi , что практически приводит к уменьйению амплитуды их перемещени  в 3-4.раза по сра1вненвю с прототипом, у которого контакты предварительно : не напр жены.. Положительный эффект достигаетс , за счет следующих факторов: дублирование контактов в заострение контактных элементов сушественно уменьшают  тиость неконтактвроваЕош поскольку заостренные контактные пов хноств, {Развива  большое удельное давление, внеф ютс  в пленку флюса, если тако- ва  имеетс , а .также разрушают оксидные пле кв на луженных вьгеодах микросхемы; смена контактов вё требует вх отпайки н шсых aposaaoooB, сдд  иупл с разборке веразъшьшых к шсгрукцвй, вышедший вз стро  контакт просто уд л етс  и зам шетс  новым. . Формула взобретеннц Соедините1р ный зажим дл  электрвческого прибора, содержаший расположенные на обшей ос  и взаимно подпружиненные два нзол пйонных элемента, на каждом йз котсрых расположены подвижные контактные , выпоп пенные вз упругого , о т. л вч а ю ш и и с   тем, что, с целью псь выЬени  надежиоств, он снабжен рао положенной между взол цвоивымв элементами на упом нутой оси изол ционной колодкой с уст шовлэйиымв на ее про тивоположнык стсрсшах неподвижными ксщтактными эл мсеитами, каждый из изол ционных эпеметч в выполнен с пазс л на концевом участке в с высту пом, првчем подввжиые контактные эпеменгы своей средней частью уставов- лены ва выступах.вэо лшовных эпгалао тов, взавмод ствуют спивм .CBOBMI концом с вепоивн таымв койттргиыьд элем штамв, а их противопопойшае концы расположены в упсш нутык п зах. Источии в ввфсфмаюош, прин тые 13О внимание прв эксп рт эе 1.Патент США Ms 31Y17O9. кп.. 339-259, 1965. 2.Патент США № 35О6949, кл. 339-174, 1970.It occurs under the action of only the guns 24 and the counteraction of the contacts 17 and IS until the moment the beveled hromke 29 is 30 into the case of the circuit board 23. In this case, the beveled 29 liter 30 will be detected with respect to the microcircuit in both the board and the perpendicular to it .directed In the idle state (when the clamp is not connected to the microcircuit in not compressed by the upper PARTS 25 in 26), the elements 6 in 7 are wedged into each other by surfaces 31 in 32 located on the same axis. 5. At the same time, the contact 17 in 18 rests on the fixed contacts 2 of the board 1, on the jumpers 15 in 16 downwards on the surface 33 and 34 of the projections 1O in 11 in the middle part, turned out to be preliminarily attached. Thus, the deformation of KOHTSIKTOB l7 and 13 in the course of the working cycle is within the limits determined by the location of the microcheMIbi viewpoints, which practically leads to a decrease in the amplitude of their movement by 3-4 times compared with the prototype, whose contacts are tentative: wives .. A positive effect is achieved due to the following factors: the duplication of contacts in the sharpening of contact elements significantly reduces the contactlessness of contactlessness because the pointed contact surfaces, {Having developed a large specific pressure flux, if it exists, and also destroys the oxide plots on the tinned chips of the microcircuit; change of contacts requires you to tap off a pair of aposaaoooBs, sdpws from disassembling those who are to the shafts, leaving the contact just goes off and replaces it with a new one. . Formula Acquired Connecting clip for an electric device, containing two spring section elements located on the common axis and mutually spring-loaded elements, on each of which are movable contact, foamy elastic elements, so that In order to determine the reliability, it is equipped with an insulating block between the head and the elements on the said axis with an insulation block on its opposite sides with stationary contact elements, each of which is insulated with a gap at the end section with a speech, the primary contact epem- gages, with their middle part, are set up in the protrusion of the upper and lowering epalo- gates, end up with the. Sources in the United States of America, taken 13O attention prv expr rt ee 1.US Patent Ms 31Y17O9. KP. 339-259, 1965. 2. US Patent No. 35О6949, cl. 339-174, 1970.

Фиг.гFigg

Claims (1)

Формула изобретенииClaims Соединительный зажим для электрического прибора, содержащий расположенные на общей оси и взаимно подпружиненные два изоляционных элемента, на каждом йз‘которых расположены подвижные контактные элементы, выполненные из упругого материала, отличающий с я тем, что, с целью повышения надежности, он снабжен расположенной между изоляционными элементами на упомянутой оси изоляционной колодкой с установленными на ее про» тивоположны сторонах неподвижными 1 контактными элементами, каждый из изоляционных элементов выполнен с пазом на концевом участке и с выступом, причем подвижные контактные элементы своей средней частью установлены на выступах изоляционных элементов, взаимодействуют одним свснмй концом с неподвижными контактными элементами, а их противоположные концы расположены в упомянутых пазах.A connecting clamp for an electrical appliance, comprising two insulating elements located on a common axis and mutually spring-loaded, on each of which there are movable contact elements made of an elastic material, characterized in that, in order to increase reliability, it is provided located between the insulating elements on the said axis with an insulating block with fixed 1 contact elements mounted on its opposite sides, each of the insulating elements is made with a groove at the end section and with the protrusion, and the movable contact elements with their middle part are mounted on the protrusions of the insulating elements, interact with one end with fixed contact elements, and their opposite ends are located in the said grooves.
SU813382011A 1981-12-23 1981-12-23 Connection clamp for electric device SU1005227A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813382011A SU1005227A1 (en) 1981-12-23 1981-12-23 Connection clamp for electric device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813382011A SU1005227A1 (en) 1981-12-23 1981-12-23 Connection clamp for electric device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1005227A1 true SU1005227A1 (en) 1983-03-15

Family

ID=20992425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813382011A SU1005227A1 (en) 1981-12-23 1981-12-23 Connection clamp for electric device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1005227A1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4618208A (en) * 1985-05-16 1986-10-21 Nikko Kogyo Kabushiki Kaisha Circuit test clip
US4981441A (en) * 1985-03-06 1991-01-01 Minnesota Mining And Manufacturing Co. Test clip for PLCC
US6814609B2 (en) * 2001-12-20 2004-11-09 Mechano Electronics, Inc. Electrical signal read-out method and device therefor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4981441A (en) * 1985-03-06 1991-01-01 Minnesota Mining And Manufacturing Co. Test clip for PLCC
US4618208A (en) * 1985-05-16 1986-10-21 Nikko Kogyo Kabushiki Kaisha Circuit test clip
US6814609B2 (en) * 2001-12-20 2004-11-09 Mechano Electronics, Inc. Electrical signal read-out method and device therefor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5127837A (en) Electrical connectors and IC chip tester embodying same
USRE36217E (en) Top load socket for ball grid array devices
KR20000005260A (en) Conductive contact unit system
MY112007A (en) Socket apparatus
EP0030407A1 (en) Electrical test probe for use in testing circuits on printed circuit boards and the like
KR100958135B1 (en) contact probe
SU1005227A1 (en) Connection clamp for electric device
JP3017180B1 (en) Contact pins and sockets
US20190157780A1 (en) Electrical conductor connection
US4112363A (en) Multicontact test probe apparatus
US6614247B2 (en) Socket apparatus and method for removably mounting an electronic package
EP0428681B1 (en) Improved electrical connectors and ic chip tester embodying same
US3432645A (en) Sensing arrangement for perforated data cards
KR20220014634A (en) Test socket of integrated circuit module
KR200260960Y1 (en) probing device
SU1649692A1 (en) Contact device for integrated circuit testing
CN220171186U (en) FPC takes test point and golden finger testing arrangement
KR960000161Y1 (en) Testing apparatus of parts insertion and clinching for hetero parts insertion device
SU989626A1 (en) Contact device
SU1457181A1 (en) Contact device
KR0127183Y1 (en) Clamp jig device
SU402173A1 (en) CONTACT DEVICE
KR20100088191A (en) In-system programming device and connector using the same
SU1051622A1 (en) Device for testing semiconductor devices
PL122975B2 (en) Apparatus for connecting electric circuit with measuring-monitoring system