SU1004922A1 - Logic probe - Google Patents

Logic probe Download PDF

Info

Publication number
SU1004922A1
SU1004922A1 SU813328492A SU3328492A SU1004922A1 SU 1004922 A1 SU1004922 A1 SU 1004922A1 SU 813328492 A SU813328492 A SU 813328492A SU 3328492 A SU3328492 A SU 3328492A SU 1004922 A1 SU1004922 A1 SU 1004922A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probe
logic probe
input
logic
amplifier
Prior art date
Application number
SU813328492A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Олег Зиновьевич Мазлин
Original Assignee
Горьковский Автомобильный Завод
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Горьковский Автомобильный Завод filed Critical Горьковский Автомобильный Завод
Priority to SU813328492A priority Critical patent/SU1004922A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1004922A1 publication Critical patent/SU1004922A1/en

Links

Landscapes

  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Description

(54) ЛОГИЧЕСКИЙ ПРОБНИК(54) LOGICAL PROBE

1one

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при наладке и контроле цифровых узлов на интегральных схемах.The invention relates to an instrumentation technique and can be used in setting up and monitoring digital nodes on integrated circuits.

Известен логический пробник, содержащий источники питани , злементы сравнени , логический преобразователь, иидикаюр 1. ,A logic probe is known that contains power sources, reference elements, logic converter, id 1.,

Недостатком известного пробника  вл ютс  ограниченные функциональные возможности из-за невозможности регистрации импульсных сигналов.A disadvantage of the known probe is the limited functionality due to the impossibility of registering pulse signals.

Наиболее близким к изобретению  вл етс  испытатель цифровых интегральных схем, содержащий повторитель, дифференциальный усилитель , усилитель, злементы задержки, два триггера, индикаторы, злементы согласовани , элементы блокировки 2. X Недостатком известного, устройства  вл етс  его сложность.Closest to the invention is a digital integrated circuit tester comprising a repeater, a differential amplifier, an amplifier, delay elements, two triggers, indicators, matching elements, and blocking elements 2. X A disadvantage of the known device is its complexity.

Цель изобретени  - упрощение логического пробника.The purpose of the invention is to simplify the logic probe.

Поставленна  цель достигаетс  тем, чтов логическом пробнике, содержащем первый и Второй индикаторы, триггер, первый и второйThe goal is achieved by the logic probe containing the first and second indicators, trigger, first and second

элементы задержки, повторитель, соединенный выходом с входом дифференциального усилител , первый выход которого соединен через усилитель с входом первого инвертора, второй Выход - с входом второго инвертора, выходы первого и второго инвертора соединены с соот ветствуюншми мервыми и вторыми входами первого индикатора и триггера, первый .выход которого соединен с входом второго индикатор ра, непосредственно и через первый злемент delay elements, a repeater connected by an output to the input of a differential amplifier, the first output of which is connected through an amplifier to the input of the first inverter, the second output - to the input of the second inverter, the outputs of the first and second inverters are connected to the corresponding inputs of the first indicator and trigger, the first .the output of which is connected to the input of the second indicator pa, directly and through the first element

10 задержки - с третьим входом триггера, соединенного четвертым входом через второй элемент задержки с вторым тротера.10 delay - with the third input of the trigger, connected by the fourth input through the second delay element with the second troter.

На чертеже приведена блок-схема устройIS ства.The drawing shows a block diagram of the device.

Пробник содержит повторитель 1Удиффер вциальный усилитель 2, первый з емент 3 согласовани  усилитель 4, первый инвертор 5, втррой злемент 6 согласовани , второй инвертор The probe contains a repeater 1Udifferential amplifier 2, the first element 3 matching amplifier 4, the first inverter 5, the second element 6 matching, the second inverter

20 7, триггер 8, первый 9 и второй 10 элементы задержки, второй 11 и первый -12 индикаторы .20 7, trigger 8, first 9 and second 10 delay elements, second 11 and first 12 indicators.

Claims (2)

1. Авторское свидетельство СССР N 513330, 1. USSR author's certificate N 513330, кл. G 01 R 31/28, 1976.cl. G 01 R 31/28, 1976. 2. Испытатель цифровых интегральных схем2. Digital Integrated Circuit Tester ИЦИС, Техническое описание, 1975 (прототип).ICIS, Technical Description, 1975 (prototype). ffff
SU813328492A 1981-08-18 1981-08-18 Logic probe SU1004922A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813328492A SU1004922A1 (en) 1981-08-18 1981-08-18 Logic probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813328492A SU1004922A1 (en) 1981-08-18 1981-08-18 Logic probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1004922A1 true SU1004922A1 (en) 1983-03-15

Family

ID=20973288

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813328492A SU1004922A1 (en) 1981-08-18 1981-08-18 Logic probe

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1004922A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL211560A1 (en) THE METHOD OF TESTING THE CHAIN AND THE ROBIN
US3517175A (en) Digital signal comparators
US3582882A (en) Randomness monitor
JPS5483341A (en) Digital integrated circuit
SU1004922A1 (en) Logic probe
DE69522663T2 (en) BYPASS CONTROL FOR SCAN TEST WITH AUTOMATIC RESET
JPS5455141A (en) Diagnosing shift circuit
US4103148A (en) Dynamic pulse difference circuit
SU1566481A1 (en) Voltage-to-code converter
SU1000948A1 (en) Device for checking digital assemblies
JPS63171049U (en)
JPS57105053A (en) Integrated circuit which has incorporated testing circuit for fault detecting circuit
SU847504A1 (en) Device for obtaining difference frequency of pulses
SU1705778A1 (en) Probe to check logic device circuits
RU95121148A (en) QUARTZ THERMOMETER
SU546085A1 (en) Clock Synchronization Indicator
JPH03108676A (en) Measuring method of delay time of integrated circuit
SU1533001A1 (en) Frequency divider
SU575767A1 (en) Pulse shaper
SU1619332A1 (en) Device for teaching the designing of logic modules
SU938221A1 (en) Multi-function logic probe
JPS57124928A (en) Edge detection circuit
SU1536509A1 (en) Code converter
SU886276A2 (en) Meter of relative mean power of broadcasting signals
SU1282335A1 (en) Self-checking device for checking 3-out-of-6 code