SK93395A3 - Method and dichrograph for measurment of spectropolarimetric characteristics of optically active matters - Google Patents

Description

Oblasť techniky

Vynález sa týka spôsobu merania cirkulárneho dichroizmu, optickej rotácie a absorpcii opticky aktívnych, tzv. gyrotropných látok pre rôzne vlnové dĺžky prostredníctvom spektropolarizačného prístroja a konštrukcie prístroja, ktorým je možné uvedené merania uskutočniť.

Doterajší stav techniky

V súčasnej dobe sa realizuje meranie spektier cirkulárneho dichroizmu tzv. spektropolarimetrickými prístrojmi - dichrografmi, ktorých pomocou je možné po úprave ich optickej sústavy merať i ďalšie požadované veličiny tiež skúmanej látky, ako je jej optická rotácia a absorpia. Pre meranie cirkulárneho dichroizmu je prístroj tvorený aspoň zdrojom lúčov so známou vlnovou dĺžkou, lineárnym polarizátorom, modulátorom elipticity, nosičom, prípadne kyvetou pre skúmanú látku a detektorom žiarenia. Pre meranie optickej rotácie pomocou toho istého prístroja je nutné inštalovať pred detektor analyzátor, ktorý transformuje natočenie roviny polarizácie do zmeny amplitúdy lúča. Pre merania absorpcie je naopak výhodné vylúčiť z optickej zostavy polarizačné prvky, teda polarizátor, modulátor elipticity a analyzátor.

V praxi to znamená, že pomocou existujúcich postupov a s využitím známych typov dichrografov, nie je možné všetky k tri uvedené veličiny merať súčasne, teda v reálnom čase. To sa však značne nevýhodne prejaví najmä v prípadoch, kedy sa vlastnosti skúmanej látky, napr. jej zloženie, menia rýchlo počas chemickej reakcie, alebo keď ide o nestálu látku s krátkodobým polčasom rozpadu, ako je napr. hyaluronidáza.

Ďalším nedostatkom existujúcich dichrografov je, že neumožňujú využitie referenčného lúča, na stanovenie zodpovedajúcej jednotky cirkulárneho dichroizmu, pretože v praxi nie sú dostupné etalonové látky, ktoré vykazujú konštantný cirkulárny dichroizmus v dostatočne širokej spektrálnej oblasti, napr. pre interval aspoň 300 až 600 nm. Táto skutočnosť značne obmedzuje presnoť merania s použitím dosial známych dichrografov.

Úlohou vynálezu je navrhnúť taký spôsob merania, ktorý podstatne zmenší uvedené nevýhody, teda ktorý umožní po úprave použiť existujúce typy dichrografov a merať hodnoty cirkulárneho dichroizmu, optickú rotáciu a absorpciu skúmanej látky súčasne, teda v reálnom čase a pritom v dostatočne širokom spektrálnom intervale.

Podstata vynálezu

Uvedenú úlohu rieši predmet vynálezu, ktorým je spôsob merania priepustnosti, cirkulárneho dichroizmu a optickej rotácie opticky aktívnej látky, pri ktorom sa pre zvolenú vlnovú dĺžku po predchádzajúcej kalibrácii meracej sústavy a určení jednotkových meraní veličín zisťuje pomocou harmonickej analýzy stav polarizácie meracieho lúča s modulovanou elipticitou po prechode opticky aktívnou látkou a analyzátorom, pričom sa amplitúdové zmeny meracieho lúča prevedú na zmeny elektrického signálu.

Podstatou spôsobu podlá vynálezu je, že z tohto eletrického signálu sa následne vyčlení nultá, prvá a druhá harmonická zložka, ktoré zodpovedajú priepustnosti, cirkulárnemu dochroizmu a optickej rotácii meranej opticky aktívnej látky, pričom frekvencia prvej harmonickej zložky zodpovedá modulačnému kmitočtu, načo sa amplitúdy takto zistených harmonických zložiek porovnajú s jednotkovými veličinami, získanými pri kalibrácii.

Pri použití dvojlúčového zariadenia, ktorého druhý lúč tvorí referenčný lúč, ktorý sa vyčlení zo zdroja meracieho lúča je ďalšou podstatou vynálezu, že referenčný lúč sa kalibruje a modulu j e zhodne s meracím lúčom a zmeny amplitúdy referenčného lúča sa prevedú na zmeny elektrického signálu striedavo s pre3 vodom zodpovedajúcich zmien amplitúd meracieho lúča, pričom frekvencia striedania oboch lúčov je aspoň lOx menšia, než je modulačná frekvencia.

Podstatou dichrografu na uskutočnenie spôsobu podľa vynálezu, ktorý je tvorený zdrojom lúča so známou vlnovou dľžkou, lineárnym polarizátorom, modulátorom elipticity, spojeným s generátorom modulačného napätia, meranou vzorkou, analyzátorom a detektorom elektromagnetického žiarenia, na jeho výstupu sú pripojené aspoň dva úzkopásmové zosilňovače je, že za lineárnym polarizátorom je v smere vstupného lúča umiestnený delič lúča, za ktorým sú vytvorené dva lúče, merací lúč a referenčný lúč, pričom v dráhe meracieho lúča je ďalej umiestnený modulátor elipticity meracieho lúča, pripojený ku generátoru modulačného napätia a merací analyzátor, ktorých optické osi sú vzhľadom na optickú os lineárneho polarizátora orientované pod uhlom 45° a medzi nimi je uložená meraná vzorka (7), napr. kyveta a v dráhe referenčného lúča (5) je ďalej umiestnený modulátor (65) elipticity referenčného lúča (5), ktorého optická os je vzhľadom na optickú os (20) lineárneho polarizátora orientovaná pod uhlom 45° aspoň referenčný analyzátor, ktorého optická os je vzhľadom na optickú os lineárneho polarizátora orientovaná pod uhlom + 45 ° jednotkový uhol α , a že v dráhach meracieho lúča a referenčného lúča sú ďalej umiestnené optické prvky, s výhodou zrkadlá, na privedenie týchto lúčov na detektor eklektromagnetického žiarenia, na jeho výstup je pripojená trojica úzkopásmových zosilňovačov, ktorých pracovná frekvencia zodpovedá frekvencii modulátorov elipticity a druhý úzkopásmový zosilňovač, ktorého pracovná frekvencia zodpovedá dvojnásobku frekvencie modulátorov elipticity, a že je ďalej v dráhach meracieho lúča a referenčného lúča upravený prerušovač lúča.

Ďalšou podstatou dichrografu podľa vynálezu je, že jednotkový uhol a má hodnotu + 0,1° až ±40°,v prípade že prerušovač lúčov je súčasťou deliča vstupného lúča, že modulátor meriaceho lúča a modulátor referenčného lúča sú tvorené spoločným modulátorom elipticity a že zdroj vstupného lúča je tvorený monochro-U mátorom.

Spôsob merania a dichrogaf podľa vynálezu vykazuje v porovnaní s doterajším stavom techniky podstatný pokrok v tom, že umožňuje súčasne, teda v reálnom čase, merať všetky tri uvedené veličiny skúmanej látky, teda absorpciu, optickú rotáciu a cirkulárny dichroizmus, prípadne určiť, ktoré z posledných vlastností skúmaná látka nemá. Ďalšou výhodou predmetu vynálezu je, že merania môžu byť uskutočnené kontinuálne v širokom rozsahu vlnových dĺžok.

Prehľad obrázkov na výkresoch

Príkladné uskutočnenia dichrografu podľa vynálezu sú schématicky znázornené na pripojených výkresoch, kde je na obr. 1 znázornená bloková schéma dichrografu a na obr.. 2 až 4 priebehy elektrických vektrov polarizovaných lúčov v rovinách A a B podľa obr. 1.

Príklady spôsobu merania a uskutočnenia vynálezu

Dichrograf podľa obr. 1 je tvorený zdrojom 1 vstupného monochromatického lúča 100, napr. laserom, alebo monochromatického lúča s nastaviteľné premennou vlnovou dĺžkou, napr. monochromátorom. Vstupný lúč 100 prechádza lineárnym polarizátorom 2 a vstupuje do deliča 2 lúčov, tvoreného napr. kombináciou polopriepustného a odrazového zrkadla. Za deličom 2 ^a lúča 100 je d'alej upravený prerušovač 30 lúčov, tvorený napr. známym a preto neznázorneným rotačným členom - clonkou, ktorej činnosť je riadená elektronicky. Z prerušovača 30 vystupuje vstupný lúč 100 striedavo ako merací lúč 4 a referenčný lúč 5, pričom striedanie je realizované zvolenou prepínacou frekvenciou.

Merací lúč 4 prechádza d’alej modulátorom 64 elipticity meracieho lúča, meranou vzorkou 7, napr. kyvetou s roztokom, ktorého parametre sa zisťujú, meracím analyzátorom 2/ ktorý je tvorený napr. kryštalickým polarizátorom obvyklej konštrukcie a zrkadlom 11 je privedený na detektor 13 elektromagnetického žiarenia, napr. na vhodné fotoelektrické čidlo, ako je fotoelektrický násobič.

Referenčný lúč 5 prechádza ďalej referenčným modulátorom 65 elipticity, ktorého parametre sú zhodné s parametrami modulátora 65 meracieho lúča. Výhodne je možné realizovať oba tieto modulátory elipticity ako spoločný modulátor 6.. Ďalej prechádza referenčný lúč 5 achromatický^n štvrťvlnovým fázovým elementom 9, ktorý je napr. tvorený známou dvojicou vzájomne protibežne uložených klinových doštičiek z anizotropného materiálu, z ktorých jedna je pozdĺžne posuvná a do referenčného lúča 5 je vkladaný alternatívne, ako je uvedené ďalej. Referenčný lúč 5 ďalej prechádza referenčným analyzátorom 10, ktorý má rovnaké vlastnosti a parametre, ako merací analzyátor 8. Po výstupe z referenčného analyzátora 10 je referenčný lúč 5, podobne ako merací lúč 4. privedený zrkadlom 12 na rovnaký detektor 13 elektromagnetického žiarenia.

K výstupom 134, 135, 136 detektora 13 je pripojená trojica zosilňovačov, rovnosmerný zosilňovač 14, prvý úzkopásmový zosilňovač 15, a druhý úzkopásmový zosilňovač 16 „ úzkopásmové zosilňovače 15, 16 sú realizované napr. ako synchrónne detektory v bežnom zapojení a sú súčasne pripojené ku generátoru 17 striedavých napätí, z ktorých jedno - napätie s niššou frekvenciou - je určené pre riadenia modulátora 64, 65 elipticity meracieho a referenčného lúča, prípadne spoločného modulátora 6 elipticity a druhé má dvojnásobnú frekvenciu a je určené pre druhý úzkopásmový zosilňovač 16. Jednou z nutných podmienok správnej činnosti dichrografov konštruovaného podlá vynálezu je, že pracovná frekvencia generátora 17 je podstatne, najmenej lOx väčšia, než je pracovná frekvencia prerušovača 30./ teda než je frekvencia prepínania vstupného lúča 100 do smeru meracieho lúča A a referenčného lúča 5. V príkladnom uskutočnení pri sústave podlá obr. 1 je pracovná frekvencia prerušovača 30 lúčov napr. 100 Hz, zatialčo pracovná frekvencia generátora 17 modulačného napätia je 50 kHz.

Celá sústava dichrografu podlá obr. 1 je doplnená ovládacím, registračným a vyhodnocovacím zariadením .18, ktoré už nesúvisí s podstatou vynálezu a môže byť realizované niektorými zo známych zariadení, alebo môže byť tvorené riadiacim počítačom, vybaveným zodpovedajúcim softwarom.

Na obr. 2 sú v priemete do roviny výkresu znázornené priestorové stavy polarizácie vstupného lúča 100 v rovine A podľa obr. 1, teda pred meranou vzorkou 7. Príslušný elektrický vektor 41, prechádza v priebehu modulácie do tvaru elipsy, kruhu a naopak. Lineárne polarizovaný stav zodpovedá stavu polarizácie pri nulovom napätí na modulátore 64 meracieho lúča, prípadne na modulátore 65 referenčného lúča.

Na obr. 3 je potom znázornená poloha elektrického vektora 41 lineárne polarizovaného vstupného lúča 40 v rovine B podľa obr. 1, teda po jeho prechode kyvetou 7 s meranou vzorkou v prípade, že tento vykazuje iba optickú rotáciu. Na obr. 4 sú tiež znázornené polohy či priebehy elektrického vektora 41 v prípade, že meraná vzorka vykazuje iba cirkulárny dichroizmus. Z obr. 4 je zrejmé, že amplitúdy ľavotočivej zložky 421 a pravotočivej zložky 422 sú v dôsledku fyzikálnych vlastností meranej látky rozdielne. Dôsledkom tejto skutočnosti je, že po ich zložení na výstupe z meranej vzorky 7 opisuje koniec príslušného súčtového elektrického vektora elipsu, ktorá je znázornená na obr. 4 čiarkované. V prípade, že meraná vzorka 7 vykazuje ako optickú rotáciu, tak cirkulárny dichroizmus, je os výslednej elipsy pootočená o istý uhol , a elipticita je daná uhlom, ktorého tangenta je určená pomerom malej poloosi 442 a veľkej poloosi 441, ako je zrejmé z obr. 4. Vzhľadom k tomu, že meraná vzorka 7 vykazuje prakticky vždy istú absorpciu, je amplitúda príslušného vektora v rovine B podľa obr. 1, teda za meranou vzorkou 2 menšia, než zodpovedajúca amplitúda toho vektora v rovine A, teda pred meranou vzorkou ]_.

Meranie hodnôt jednotlivých veličín je založené na porovnaní stavov polarizácie meracieho lúča 4. pred meracím analyzáto7 rom a referenčného lúča 5 a za referenčným analyzátorom 10 podlá obr. 1.

Merací lúč 4 je napr. po prechode modulátorom 64· elipticity modulovaný tak, ako je znázornené na obr. 2. V prípade, že meraná vzorka 7 vykazuje všetky tri merané veličiny, teda istú absorpciu, cirkulárny dichroizmus i optickú rotáciu, menia sa jednak amplitúdy a teda i súvisiace intenzity jeho elktrickej zložky úmerne hodnotám jednotlivých meraných veličín. Tieto zmeny sú pritom vztiahnuté k pôvodnej rovine 400 lineárne polarizovaného meracieho lúča a danej uhlovej polohe meracieho analyzátora 8.

V druhej vetve, teda v referenčnom lúči 5, ktorý je polarizovaný na výstupe z modulátora 65 referenčného lúča 5 rovnako, ako merací lúč 4_ na výstupe z modulátora 64. Referenčný analyzátor 10 je pritom podlá vynálezu orientovaný tak, že jeho polarizačná rovina je vzhladom na zodpovedajúcu polarizačnú rovinu meracieho analyzátora 8 uhlovo pootočená o istý, predom zvolený a nastavený jednotkový uhol a, napr. o 1°. Po prechode referenčného lúča 5 referenčným analyzátorom 10 teda dôjde k modifikácii intenzít I meracieho lúča 4 a referenčného lúča 5, takže na výstupoch 134, 135, 136 detektora 13 sú generované elektrické prúdy, ktoré obsahujú nulovú harmonickú zložku, úmernú absorpcii meranej látky, prvú harmonickú zložku, úmernú hodnote cirkulárneho dichroizmu meranej látky a druhú harmonickú zložku, úmernú optickej rotácii meranej látky. Jednotlivé frekvenčné zložky sú vztiahnuté k základnej harmonickej, ktorá zodpovedá frekvencii generátora 17 modulačného napätia modulátorov 64 , 65 meracieho a referenčného lúča. Pre amplitúdy jednotlivých harmonických zložiek platia vzťahy pre nultu harmonickú ..........I_Q = k_Q. C pre prvú harmonickú............1-^ = k₁. sin a pre druhú harmonickú.........I₂ = k₂- sin kde t, je koeficient priepustnosti meranej latky

T T ib , ‘•'í r - 1/2 . arcsin ---------ζ - ζ a Y = 1/2 (S_R - Ó_L) pričom a sú koeficienty priepustnosti cirkulárne polarizovaných lúčov R a L,

5r, 8_l sú posuny lúčov R a L,

Y je elipticita spôsobená cirkulárnym dichroizmom a l

'f je uhol natočenia roviny polarizácie spôsobenej optickou rotáciou

Koeficient k_Q/ k^, k₂ ^sa určia ako konštanty meracej sústavy kalibrácie pred meraním takto:

Koeficient k_Q je určený rozdielom fotoelektrických prúdov v prípadoch, kedy je meraná vzorka 7_, tvorená napr. kyvetou podlá obr. 1 zaplnená jednak látkou s priepustnosťou 2^=1., napr. destilovanou vodou a jednak látkou s priepustnosťou «τt- =0, co možno simulovať napr. uzavrenim prechodu meracieho lúča 4.

Pre meranie koeficienta k^ sa do meracieho lúča 4 inštaluje pred merací analyzátor 8 achromatický štvrťvlnový fázový element 9 orientovaný pod uhlom 45° vzhladom na rovinu 400 elektrického vektora, ktorý spolu s meracím analyzátorom 8, orientovaným vzhladom na rovinu 400 elektrického vektora pod uhlom 45°+ a simuluje prítomnosť etalonovej achromatickej dichroickej látky, ktorá vyvoláva elipticitu meracieho lúča 4 s hodnotou = a. Veličina Ύ je nezávislá na vlnovej dĺžke zdroja 1 vstupného lúča 100. Hodnota k^ sa pritom určí z rozdielu hodnôt fotoelektrických prúdov pri orientácii meracieho analyzátora 8 jednak pod uhlom 45°, jednak po jeho následnom pootočení o zvolený jednotkový uhol, napr. o 1°. V praxi je výhodné voliť jednotkový uhol z intervalu + 0,1° až 40 °. Podobne sa po vylúčení achromatického štvrťvlnného fázového elementu 9_ určí aj koeficient k₂.

Rovnakým postupom sa uskutoční meranie koeficientov k_Q, k k₂, zodpovedajúcich referenčnému lúču 5. Všetky tieto koeficienty pre merací lúč 4. i referenčný lúč 5 sú potom uložené v ovládacom, registračnom a vyhodnocovacom zariadení 18.

Po skončení kalibrácie, ktorá sa uskutočňuje iba pri inštalácii dichrografu a pri periodických kontrolných meraniach, je achromatický štvrťvlnový,fázový element 9 z optickej dráhy vylúčený a referenčný analyzátor 10 je pri meraní ponechaný pootočený o spomenutý, pri kalibrácii definovaný jednotkový uhol, v opísanom príkladnom uskutočnení o 1°. Merací analyzátor 8 sa natočí späť do východiskovej polohy a = 0°.

Pri meraní vzorky 7 sú vďaka prerušovaču 30 lúča porovnávané amplitúdy nultých harmonických meracieho lúča 4 a referenčného lúča 5, čo umožňuje získať koeficient priepustnostiZmeranej vzorky 7 a súčasne sú amplitúdy prvé a druhé harmonické, ktoré zodpovedajú stavu meracieho lúča 4, porovnávané s jednotkovou amplitúdou druhej harmonickej, ktorá zodpovedá referenčnému lúču 5. To umožňuje získať hodnoty cirkulárneho dichroizmu a optickej rotácie Ϋ . Pritom pomer prvej a druhej harmonickej referenčného lúča 5 bol určený a zaregistrovaný ovládacím, registračným a vyhodnocovacím zariadením 18 pri už popísanej kalibrácii.

Použitie referenčného lúča 5, ktorý je modulovaný napr. s výhodou spoločným modulátorom 6 rovnako, ako merací lúč 4, umožňuje dosiahnuť vysokú reprodukovateínosť pri meraní absopcie, cirkulárneho dichroizmu i optickej rotácie, a to vďaka vylúčeniu vplyvu fluktuácie zdroja 1 vstupného lúča 100, spoločného madulátora 6 elipticity, citlivosti detektora 13 a súvisiaceho elektronického reťazca. Stabilita spoločného modulátora 6 sa naviac priebežne zabezpečuje pomocou sústavnej kontroly pomeru amplitúd nultej a druhej harmonickej referenčného lúča

5.

Vysoká presnosť merania je daná presnosťou mikrometrických skrutiek, ktorými sa natáča merací analyzátor 8 i referenčný analyzátor 10. Zvýšenie presnosti pri meraní cirkulárneho dichroizmu je dosiahnuté pomocou simulácie achromatického štvrťvlnového fázového elementu 9 a referenčného analyzátora 10, ktorý je v prítomnosti achromatického stvrťvlnového fázového elementu využitý ako kompenzátor cirkulárneho dichroizmu. V tomto prípade umožňuje dichrograf uskutočňovať merania s najväčšou možnou presnosťou, t.j. pomocou nulovej kompenzačnej metódy.

Pri meraní pri niekoľkých vlnových dĺžkach, napr. s pomocou monochromátora, ako zdroja 1 vstupného monochromatického lúča 100, sa určenie koeficientov k_Q až k₂ uskutoční analogicky pre všetky požadované vlnové dĺžky.

Priemyselné využitie

Spôsob merania spektropolarimetrických vlastností opticky aktívnych látok a dichrograf podľa vynálezu je možné vzhľadom na možnosť získania okamžitých hodnôt absopcie, optickej rotácie a cirkulárneho dichroizmu a na možnosť realizácie merania pre vlnovú dĺžku, prakticky ľubovoľne zvolenú z daného spektrálneho oboru, vhodne využiť pri výskume gyrotropných látok, hlavne v oblasti organickej chémie, farmakológie, biofyziky, biochémie a pod.

Claims (7)

1. PATENTOVÉ NÁROKY

   1. Spôsob merania priepustnosti, cirkulárneho dichroizmu a opticky aktívnej látky, pri ktorom sa pre zvolenú vlnovú dĺžku po predchádzajúcej kalibrácii meracej sústavy a určení jednotkových meraných veličín zisťuje pomocou harmonickej analýzy stav polarizácie meracieho lúča s modulovoanou elipticitou po prechode opticky aktívnou látkou a analyzátorom, pričom sa amplitúdové zmeny meracieho lúča prevedú na zmeny elektrického signálu, vyznačujúci sa tým, že z tohto elektrického signálu sa následne vyčlení nultá, prvá a druhá harmonická zložka, ktoré zodpovedajú priepustnosti, cirkulárnemu dichroizmu a optickej rotácii meranej opticky aktívnej látky, pričom frekvencia prvej harmonickej zložky zodpovedá modulačnému kmitočnú, a potom sa amplitúdy takto zistených harmonických zložiek porovnajú s jednotkovými veličinami, získanými pri kalibrácii.
2. 2. Spôsob merania podía nároku 1 s použitím dvojlúčového zariadenia, v ktorom druhý lúč tvorí referenčný lúč, ktorý sa vyčlení zo zdroja meracieho lúča, vyznačujúci sa tým, že referenčný lúč (5) sa kalibruje a moduluje zhodne s meracím lúčom (4) a zmeny amplitúdy referenčého lúča (5) sa prevedú na zmeny elektrického signálu striedavo s prevodom zodpovedajúcich zmien amplitúd meracieho lúča (4), pričom frekvencia striedania oboch lúčov je aspoň lOx menšia, než je modulačná frekvencia.

   Dichrograf na uskutočnenie spôsobu podlá nároku 2, tvorený zdrojom lúča so známou vlnovou dĺžkou, lineárnym polarizátorom, modulátorom elipticity, spojeným s generátorom modulačného napätia, meranou vzorkou, elektromagnetického žiarenia, na aspoň dva úzkopásmové zosilňovače lineárnym polarizátorom (2) je v analyzátorom a detektorom jeho výstup sú pripojené vyznačujúci sa tým, že za smere vstupného lúča (100) umiestnený delič (
3. 3) lúča, za ktorým sú vytvorené dva lúče, merací lúč (4) a referenčný lúč (5), pričom v dráhe meracie12 ho lúča (4) je ďalej umiestnený modulátor (64) elipticity meracieho lúča (4), pripojený ku generátoru (17) modulačného napätia a merací analyzátor (8)', ktorých optické osi (60, 80) sú vzhľadom na optickú os (20) lineárneho polarizátora (2) orientované pod uhlom 45° a medzi nimi je uložená meraná vzorka (7), napr. kyveta a v dráhe referenčného lúča (5) je ďalej umiestnený modulátor (65) elipticity referenčného lúča (5), ktorého optická os (60) je vzhladom na optickú os (20) lineárneho polarizátora (2) orientovaná pod uhlom 45° a aspoň referenčný analyzátor (10), ktorého optická os (101) je vzhladom na optickú os (20) lineárneho polarizátora (2) orientovaná pod uhlom 45° + jednotkový uhol (a), a že v dráhach meracieho lúča (4) a referenčného lúča (5) sú ďalej umiestnené optické prvky, s výhodou zrkadlá (11, 12), na privedenie týchto lúčov na detektor (13) elektromagnetického žiarenia, na jeho výstup je pripojená trojica úzkopásmových zosilňovačov, jednosmerný zosilňovač (14), prvý úzkopásmový zosilňovač (15), ktorého pracovná frekvencia zodpovedá frekvencii modulátorov (64, 65) elipticity a druhý úzkopásmový zosilňovač (16), ktorého pracovná frekvencia zodpovedá dvojnásobku frekvencie modulátorov (64, 65) elipticity, a že je ďalej v dráhach meracieho lúča (4) a referenčného lúča (5) upravený prerušovač (30) lúča.
4. 4. Dichrograf podlá nároku 3, vyznačujúci sa tím, že jednotkový uhol (a) má hodnotu + 0,1° až + 40°.
5. 5. Dichrograf podlá nároku 3 alebo 4, vyznačujúci sa tým, že prerušovač (30) lúčov je súčasťou deliča (3) vstupného lúča.
6. 6. Dichrograf podlá niektorého z nárokov 3 až 5, vyznačujúci sa tým, že modulátor (64) meracieho lúča (4) a modulátor (65) referenčného lúča (5) sú tvorené spoločným modulátorom (6) elipticity.
7. 7. Dichrograf podlá niektorého z nárokov 3 až 6, vyznačujúci sa tým, že zdroj (1) vstupného lúča (100) je tvorený monochromátorom.