SE451097B - Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark - Google Patents

Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark

Info

Publication number
SE451097B
SE451097B SE8008509A SE8008509A SE451097B SE 451097 B SE451097 B SE 451097B SE 8008509 A SE8008509 A SE 8008509A SE 8008509 A SE8008509 A SE 8008509A SE 451097 B SE451097 B SE 451097B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
sheet
housing
collector
directed
source
Prior art date
Application number
SE8008509A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8008509L (sv
Inventor
J J Howarth
Original Assignee
Measurex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Measurex Corp filed Critical Measurex Corp
Publication of SE8008509L publication Critical patent/SE8008509L/sv
Publication of SE451097B publication Critical patent/SE451097B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Description

451 097 10 15 20 25 30 35 v? 2 organ för uppbärande av källan och uppsamlaren på ena sidan av arket pä ett konstant avstånd från arket, J? varvid det första organet är en fluidström från huset, vilken är riktad för att träffa arket väsentligen vinkelrätt mot arket; ett normeringsorgan beläget på arkets andra sida, samt ett andra organ för uppbä- rande av normeringsorganet och utsändande av en fluid- ström för hållande av normeringsorganet pà ett konstant avstånd från arket, varvid fluídströmmen är riktad för att träffa arket väsentligen vinkelrätt mot arket.- Uppfinningen kommer att beskrivas närmare nedan med hjälp av utföringsexempel under hänvisning till medföl- jande ritningar. Pig 1 visar i perspektiv en del av appa- raten för mätning av valda egenskaper hos ett rörligt ark. Fig 2 visar schematiskt och delvis i blockform samt i sektion en del av apparaten i fig 1. Fig 3 visar i plan- vy ett av elementen i fig 2.
US 3 641 349 visar hur en egenskap hos en bana eller ett arkmaterial, som framställs i en pappersmaskin, kan mätas medelst på en vagn monterade kännare och detekto- rer. Vagnen förflyttas i tvärriktningen under det att arkmaterialet rör sig i en maskinriktning, vilken är vinkelrät mot tvärriktningen. Fig l åskådliggör en av- sökare 10, som innefattar en ram ll, vilken har ett par åtskilda, övre och undre, parallella balkar 12 och l3, som sträcker sig i tvärriktningen för arkmaterialet el- ler papperet, vilket indikeras med hänvisningssiffran 14 och framställs i en icke visad pappersmaskin. Arket 14 förflyttas genom avsökaren i den medelst pilen 16 visade riktningen. övre och undre mäthuvuden l7 och 18 är anordnade i ramen ll samt i tvärriktningen för arket 14. Speciellt rör sig arket l4 genom ett gap 19 mellan mäthuvudena l7 och 18. Drivningen för mäthuvudena är sådan, att de kan avlägsnas från arket eller med andra ord förflyttas förbi arkets sidokant i båda förflytt- ningsriktningarna. .n- 10 15 20 30 35 451 097 3 Apparaten 20 enligt föreliggande uppfinning åskåd- liggöres i fig 2, varvid ett hus 22 i det övre mäthuvu- det 17 är placerat på arkets 14 ena sida. Huset 22 be- står av en första kalott 24 och en andra kalott 26, vilka båda har väsentligen halvklotform, samt ett ringformigt organ 28, vilket är huvudsakligen plant. Insidan av den första kalotten 24 kan ha en reflekterande, spridande eller speglande yta. Den andra kalotten 26 är ett fönster.
Den första kalotten 24 och den andra kalotten 26 är kon- centriska och det ringformiga organet 28 förbinder ka- lotterna med varandra. Huset 22 är så placerat, att det ringformiga organet 28 ligger i det närmaste parallellt med arket 14 och närmare detta ark än den första eller andra kalotten. En källa 30 i huset 22 kan emittera ett strålknippe av elektromagnetisk strålning 32. För mätning av färg eller ljushet föredrages ett ringformat, puls- styrt xenonrör, som framställs och säljes av ILC Techno- logy. Strålknippet 32 från källan 30 är så riktat, att det passerar genom den andra kalotten 26 och träffar ar- ket 14 (visas som en streckad linje). Det ljus från käl- lan 30, som inte direkt riktas mot arket 14, reflekteras från'den första kalotten 24 för att därefter riktas mot arket 14. Strâlningen från källan 30 kan absorberas och reflekteras av arket 14. En del av strålningen, som ref- lekteras från arket 14 (det reflekterade strålknippet 34) uppsamlas medelst en uppsamlare, som innefattar en lins 36 och en fiberoptik 38. Det reflekterade strâlknippet 34 följer en bana, som generellt visas med en streck- prickad linje. Linsen 36 fokuserar det reflekterade strålknippet 34 mot änden av fiberoptiken 38 i huset 22. Linsen 36 är belägen i eller nära den andra kalot- ten 26. Fíberoptiken 38 sträcker sig ut från huset 22.
Vid fiberoptikens andra ände inriktas det reflekterade strålknippet 34 mot ett gitter 40 och reflekteras däri- från mot en detektor 42. Gittret 40 används vid mätning av arkets 14 färg, varvid det reflekterade strâlknippets 34 färgspektrum sprides ut över detektorn 42. Denna de- 10 15 20 25 30 35 45l 097 4 tektor kan vara ett diodfält. Ett luftinlopp 44 är an- ordnat i den första kalotten 24. Detta inlopp 44 tillåter införing av luft i huset 22. Ett flertal luftutlopp 46 är anordnade i det ringformiga organet 28. Utloppen 46 tillåter utmatning av luft från huset 22 under ett kon- stant tryck, varvid luften träffar arket 14 med en rörel- seriktning, som är väsentligen vinkelrät mot arket 14.
Ett normeringsorgan 50 är anbragt på arkets 14 andra sida. Detta normeringsorgan innefattar ett plant parti 52 och ett roterande organ 54, t ex en trumma, som är fast- satt därpå. Det roterande organets 54 ytteryta rengöres kontinuerligt medelst ett rengöringsorgan 58, t ex en borste. Det plana partiet 52 uppbär luftutlopp 60. Dessa luftutlopp tillåter luftströmmar mot arket l4 i en rikt- ning, som är väsentligen vinkelrät mot arket 14. Luftut- loppen ligger huvudsakligen i linje med luftutloppen 76 i huset 22. Det roterande organets 54 ytteryta 56 är vänd mot arket 14 och har ett känt reflektionssvar på det infallande strålkníppet 32. Under normering, dvs då ar- ket 14 ej befinner sig mellan det övre och undre mäthuvu- det 17 resp 18 och dessa huvuden befinner sig på ena si- dan am ramverket ll, inriktas strålknippet 32 mot det roterande organets 54 yta 56. Det reflekterade strål- knippet 34 från ytan 56 användes för att jämföra detta med kända normer. Denna jämförelse syftar till att korrigera fel, t ex drift i elektroniken, lampans åldrande och smuts på linsen 36. Rengöringsorganets 58 rengörings- operation är till för att ta bort smuts på ytan 56.
Under apparatens 20 drift införes tryckluft i huset 22 genom inloppet 44. Luften, som har konstant tryck, utmatas från huset 22 via utloppen 46. Luften riktas mot arket 14 väsentligen vinkelrätt mot detta. Vid kon- stant tryck kommer luften att hålla huset 22 på ett konstant avstånd från arket 14. På motsvarande sätt riktas luft under konstant tryck från normeringsorganet 50 mot arket 14 väsentligen vinkelrätt mot detta och vid linjär inriktning med utloppen 46 i det första huset 22. .s 10 15 25 30 45¶ 097 5 Luftströmmen mot arket 14 håller normeringsorganet 50 på ett konstant avstånd från arket 14. Under apparatens 20 drift emitterar källan 30 ett strålknippe 32 mot arket 14. Det reflekterade strålknippet 34 uppsamlas medelst linsen 36, vilken fokuserar strålknippet på ena änden av fiberoptiken 38. Fiberoptikens andra ände är så rik- tad, att den detektor 42. ljushet, kan riktar det reflekterade strålknippet 34 mot Olika egenskaper hos arket, t ex färg eller analyseras genom lämpligt val av spektral- frekvens hos strålknippet och detektorns 42 spektralsvar.
Under normeringen förflyttas apparaten 20 bort från arket, dvs arket 14 borttages. Eftersom luft från huset 22 inte längre träffar arket 14 för "lyftande" av huset _22 från arket, och eftersom luften från normerinsorga- net 50 inte längre träffar arket, kommer huset 22 och normeringsorganet 50 att förflyttas mot varandra tills avståndet mellan dem väsentligen motsvarar avståndet mellan huset 22 och arket l4. Kort sagt kommer norme- ringsorganet 50 att förflyttas till den position rela- tivt huset 22, som tidigare upptogs av arket 14.
I stort sett kan huset 22 ha metrisk form. Ju lättare huset 22 är desto mindre luft- vilken som helst geo- mängd krävs, eftersom luften måste träffa arket 14 och "lyfta" huset 22. Användningen av uppsamlaren, som inne- fattar linsen 36 och fiberoptiken 38 för uppsamling av det reflekterade strålknippet 34 och för inriktning av strålknippet mot detektorn 42, vilken ej befinner sig i huset 22, minskar husets 22 vikt. Huset 22 är endast ett lämpligt medel för att hålla källan 30 och uppsamlaren. Källan 30 och linsen 36 samt fiberop- tiken 38 kan ha vilken som helst geometrisk form. Det må påpekas att man för att ytterligare minska husets 22 vikt kan placera källan 30 utanför huset, så att fiber- optiken ansluter källan 30 till huset för att rikta lju- set mot arket 14. Källan 30 kan alstra vilken som helst elektromagnetisk strålningstyp innefattande infraröd och ultraviolett strålning. För färgmätning föredras 10 15 20 25 30 451 097 6 en D65-källa (North Sky Daylight). (D65 är en standard, som utarbetats av CIE - Commission Internationale de l'Eclairage.) En andra utföringsform av apparaten 20 innefattar en andra utföringsform av normeringsorganet 50 (fig 3).
Normeringsorganet 150 innefattar ett plant parti 152 och ett på normeringsorganet fäst, roterbart organ 154. Det roterbara organet 154, t ex en hexagonal trumma, har ett flertal yttre normeringsytor l56a, l56b, 156c etc. Det plana partiet 152 uppbär luftutlopp 160. Dessa utlopp gör det möjligt för luften att strömma ut och träffa ar- ket 14 i en riktning, som är väsentligen vinkelrät mot arket 14. Luftutloppcn ligger väsentligen i linje med luftutloppen 46 i huset 22. Varje ytteryta 1561 av det roterbara organet 154 kan placeras mittför arket 14 och har ett känt reflektionssvar på det infallande strål- knippet 32. Flertalet av yttre ytor l56i gör det möjligt att ställa in en ren ytteryta mittför arket l4 vid nor- meringen om en av ytterytorna blivit smutsig.
Fördelarna med apparaten 20 enligt föreliggande upp- finning är följande: För det första kan apparaten använ- das för avsökníng tvärs över arket, dvs apparaten 20 kan monteras på en vagn enligt fig l och förflyttas tvärs över arket i dettas breddriktning. För det andra är appa- raten okänslig för vibration och därför finns det många olika användningsområden för apparaten. Apparaten 20 (både huset 22 och normeringsorganet 50) hålles på ett konstant avstånd från arket 14, vilket gör apparaten okänslig för arkets vibration, dvs den oförutsägbara rörelsen hos arket 14 i en riktning, som har en kompo- nent_yinkelrätt mot arket. Slutligen utnyttjas ett nor- meringsorgan, som inte är förknippat med fel, som föror- sakas av smuts på själva normeringsorganet. xt. n-

Claims (4)

10 15 20 25 451 097 PATENTKRAV
1. Apparat för mätning av valda egenskaper hos ett rörligt ark (14), vilken apparat är okänslig för arkets vibration och innefattar en källa (30) på arkets ena sida, vilken är anordnad att emittera ett strålknippe (32) av elektromagnetisk strålning, varvid stràlkníppet är så riktat, att det träffar arket, och varvid strål- ningen är så vald, att strålknippet kan absorberas och reflekteras i beroende av de valda egenskaperna hos ar- ket, en uppsamlare (36, 38) på arkets ena sida, vilken är anordnad att mottaga en del (34) av det från arket reflekterade strålknippet, ett hus (22) för källan (30) och uppsamlaren (36, 38),en detektor (42), som är anordnad att mäta de valda egenskaperna hos arket i beroende av den medelst uppsamlaren mottagna strål- k ä n n e t e c k n a d av ett första organ 38) på ena sidan av arket (14) på ett konstant avstånd från ningen, för uppbärande av källan (30) och uppsamlaren (36, (14), varvid det första organet är en fluidström (22), träffa arket väsentligen vinkelrätt mot arket; ett arket (via 46) från huset vilken är riktad för att normeringsorgan (50; 150) beläget på arkcts andra sida, samt ett andra organ för uppbärande av normerings- 160) för hållande av normeringsorganet på ett konstant av- organet och utsändande av en fluidström (via 60; stånd från arket, varvid fluidströmmen är riktad för att träffa arket (14) väsentligen vinkelrätt mot arket.
2. Apparat enligt krav 1, k ä n n e t c c k n a d därav, att uppsamlaren är en lins (36) och en fiberoptik (38), att linsen är så placerad, att den fokuserar en del av det från arket reflekterande stràlknippet på ena änden av fiberoptiken, och att fiberoptikens andra ände är riktad mot detektorn (42).
3. Apparat enligt krav l eller 2, k ä n n e - t e c k n a d av att normeringsorganet (50) har ett 451 097 8 roterande organ (54) med ett rengöringsdon (58) i kontinuerlig kontakt med det roterande organet.
4. Apparat enligt krav 1 eller 2, k ä n n e - t e c k n a d av att normeringsorganet (150) innefattar ett roterbart organ (154) med ett flertal normerings- ytor (l56a, b, C). l Ca n
SE8008509A 1979-12-05 1980-12-04 Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark SE451097B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/100,417 US4319847A (en) 1979-12-05 1979-12-05 Apparatus to measure select properties of a moving sheet with improved standardization means

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8008509L SE8008509L (sv) 1981-06-06
SE451097B true SE451097B (sv) 1987-08-31

Family

ID=22279667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8008509A SE451097B (sv) 1979-12-05 1980-12-04 Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4319847A (sv)
JP (1) JPS56100346A (sv)
CA (1) CA1145007A (sv)
DE (1) DE3045336A1 (sv)
FI (1) FI73837C (sv)
GB (1) GB2065301B (sv)
SE (1) SE451097B (sv)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999014579A1 (en) * 1997-09-15 1999-03-25 Neles Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring properties of paper

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4422766A (en) * 1981-07-27 1983-12-27 Ppg Industries, Inc. Method of and device for reducing apparatus response time during the testing for moisture content in moving spaced plastic sheets
CH651664A5 (fr) * 1982-10-14 1985-09-30 Nestle Sa Procede et appareil de mesure de la brillance d'une couleur.
DE3330817A1 (de) * 1983-08-26 1985-03-14 Holstein Und Kappert Gmbh, 4600 Dortmund Vorrichtung zur bereitschaftsueberpruefung von inspektionsmaschinen
US4715715A (en) * 1984-11-06 1987-12-29 Measurex Corporation System for measuring the color of a material
US4685982A (en) * 1985-04-02 1987-08-11 Label-Aire Inc. Method and apparatus for sensing sheet-like elements
DE3526553A1 (de) * 1985-07-25 1987-01-29 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
DE3602395C2 (de) * 1986-01-28 1995-06-22 Tiede Gmbh & Co Risspruefanlagen Verfahren zur Selbstkontrolle einer optoelektronischen Rißerkennungsvorrichtung
FI78355C (sv) * 1986-05-27 1989-07-10 Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy Metod för mätning av glans och apparatur för tillämpning av metoden
FR2610116A1 (fr) * 1987-01-23 1988-07-29 Kis Photo Ind Dispositif de mesure de densite optique en reflexion
FR2615953B1 (fr) * 1987-05-27 1989-07-21 Centre Tech Ind Papier Dispositif pour etalonner un appareil de mesure de l'indice de formation d'une feuille de papier
US4877485A (en) * 1987-06-01 1989-10-31 Process Automation Business, Inc. Sheet inspection station with pneumatic sheet guide
EP0297271A3 (en) * 1987-06-01 1989-07-26 Abb Process Automation Inc. Sheet inspection station with pneumatic sheet guide
DE3803181A1 (de) * 1988-02-03 1989-08-17 Sick Optik Elektronik Erwin Optische oberflaecheninspektionsvorrichtung
US4877326A (en) * 1988-02-19 1989-10-31 Kla Instruments Corporation Method and apparatus for optical inspection of substrates
US4886355A (en) * 1988-03-28 1989-12-12 Keane Thomas J Combined gloss and color measuring instrument
JPH0249434U (sv) * 1988-09-29 1990-04-05
US5058982A (en) * 1989-06-21 1991-10-22 Orbot Systems Ltd. Illumination system and inspection apparatus including same
US5047652A (en) * 1990-04-16 1991-09-10 International Paper Company System for on-line measurement of color, opacity and reflectance of a translucent moving web
IL94368A (en) * 1990-05-11 1993-07-08 Orbot Systems Ltd Optic inspection apparatus and illumination system particularly useful therein
US5338361A (en) * 1991-11-04 1994-08-16 Measurex Corporation Multiple coat measurement and control apparatus and method
DE69233073T2 (de) * 1991-12-09 2004-03-18 Measurex Corp., Cupertino Sensor und Verfahren zur Messung ausgewählter Bestandteile eines Materials
US5276327A (en) * 1991-12-09 1994-01-04 Measurex Corporation Sensor and method for mesaurement of select components of a material
US5235192A (en) * 1991-12-09 1993-08-10 Measurex Corporation Sensor and method for measurment of select components of a material based on detection of radiation after interaction with the material
DE4201274C2 (de) * 1992-01-18 1995-02-23 Ver Glaswerke Gmbh Vorrichtung zum Messen der Reflexionseigenschaften einer mit einer teilreflektierenden Schicht versehenen Glasscheibe
US5343296A (en) * 1993-02-04 1994-08-30 Abb Process Automation Inc. Optical scanner with self contained standardization means
US5291029A (en) * 1993-05-13 1994-03-01 Westvaco Corporation Apparatus for measuring paper web properties while in situ of the paper machine with air jet stabilization
WO1996042008A1 (en) * 1995-06-12 1996-12-27 Measurex Corporation Backing-standards system for optical sensor
US5982534A (en) * 1997-06-18 1999-11-09 The Regents Of The University Of California Specimen illumination apparatus with optical cavity for dark field illumination
DE19732484A1 (de) * 1997-07-29 1999-02-18 Parsytec Computer Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fehlern auf der Oberfläche eines flexiblen Materialbandes
AU7786998A (en) 1998-06-16 2000-01-05 Orbotech Ltd. Illuminator for inspecting substantially flat surfaces
US6111651A (en) * 1998-07-16 2000-08-29 Neles Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring properties of a moving web
US6441904B1 (en) 1999-03-04 2002-08-27 Metso Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring properties of a moving fiber web
IL131284A (en) 1999-08-05 2003-05-29 Orbotech Ltd Illumination for inspecting surfaces of articles
US6914684B1 (en) * 2001-07-05 2005-07-05 Lexmark International, Inc. Method and apparatus for detecting media type
DE10142636B4 (de) * 2001-08-31 2006-04-20 Maschinenfabrik Wifag Verfahren und Vorrichtung zur Detektion einer Position einer bewegten Bedruckstoffbahn
JP4819673B2 (ja) * 2003-04-07 2011-11-24 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 平面物体の裏面にある印刷画像の目に見える裏写りを定量化するための方法および装置
KR100804033B1 (ko) * 2007-10-04 2008-02-18 주식회사 쓰리비 시스템 광학 필름 검사장치
JP5507353B2 (ja) * 2010-06-22 2014-05-28 株式会社Pfu 媒体供給装置
JP5558288B2 (ja) * 2010-09-16 2014-07-23 株式会社東芝 紙葉類検査装置
US9325860B2 (en) 2010-12-01 2016-04-26 Quadtech, Inc. Line color monitoring system
IL216903A (en) * 2010-12-10 2016-09-29 Advanced Vision Tech (A V T ) Ltd Conveyor facility with imaging background surface
WO2012143165A1 (en) * 2011-04-18 2012-10-26 Ismeca Semiconductor Holding Sa An inspection device
CN103777336B (zh) * 2012-10-22 2017-09-05 承奕科技股份有限公司 显微光学撷取装置用荧光辅具模组、基架及该装置
DE102019106702A1 (de) * 2019-03-15 2020-09-17 Chromasens Gmbh Bahnbeobachtungssystem und Verfahren zur Bahnbeobachtung

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA797489A (en) * 1968-10-29 Zellweger Ltd. Apparatus and method for determining the count of textile materials
US1978589A (en) * 1932-10-03 1934-10-30 Maynard D Mcfarlane Web detector for printing presses
US3455637A (en) * 1964-08-07 1969-07-15 Giannini Controls Corp Method and apparatus for measuring the opacity of sheet material
DE6915129U (de) * 1969-04-16 1969-09-25 Hell Rudolf Dr Ing Fa Vorrichtung zur erfassung von quetschfalten, knoten oder aehnlichen fehlstellen in durchlaufenden material-, insbesondere papierbahnen
US3641349A (en) * 1969-09-29 1972-02-08 Measurex Corp Method for measuring the amount of substance associated with a base material
US3793524A (en) * 1972-09-05 1974-02-19 Measurex Corp Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials
US3936189A (en) * 1974-03-13 1976-02-03 Sentrol Systems Ltd. On-line system for monitoring the color, opacity and brightness of a moving web
JPS5174787A (ja) * 1974-12-24 1976-06-28 Yanagisawa Tetsukosho Kk Jidohosoki
US3999860A (en) * 1975-10-10 1976-12-28 International Business Machines Corporation Apparatus for textile color analysis
JPS538278U (sv) * 1976-07-06 1978-01-24
NL7711138A (nl) * 1976-11-01 1978-05-03 Ici Ltd Detectie van discontinuiteiten in bewegende banen van plastic materiaal.
JPS54125288U (sv) * 1978-02-22 1979-09-01

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999014579A1 (en) * 1997-09-15 1999-03-25 Neles Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring properties of paper

Also Published As

Publication number Publication date
CA1145007A (en) 1983-04-19
GB2065301A (en) 1981-06-24
FI73837B (fi) 1987-07-31
SE8008509L (sv) 1981-06-06
DE3045336C2 (sv) 1990-02-01
JPS6342738B2 (sv) 1988-08-25
JPS56100346A (en) 1981-08-12
FI73837C (sv) 1987-11-09
GB2065301B (en) 1984-06-20
FI803780L (fi) 1981-06-06
US4319847A (en) 1982-03-16
DE3045336A1 (de) 1981-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE451097B (sv) Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark
SE450422B (sv) Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark
JP4203319B2 (ja) 本質的に単層の流れの中を移動する物体を自動的に検査するための装置および方法
JP2004529334A5 (sv)
AU646542B2 (en) Monitoring an apparatus which uses scanned radiation
US6497324B1 (en) Sorting system with multi-plexer
US3652863A (en) Detection of faults in transparent material using lasers
JP4824017B2 (ja) 物質の内部の光散乱によって物質の流れを検査するための装置及び方法
US4676648A (en) Method and apparatus for non-contact determination of run-out of a rotating body
FI101750B (sv) Ett förfarande och en apparat för en genomskinlig skivas optiska kvali tetsbestämning
JPS58169013A (ja) 光学的検査装置
JP2011506066A (ja) 選別装置用のセンサ素子、及び製品を選別するための方法
KR20210158856A (ko) 초분광 이미징을 사용하는 반도체 공정의 광학적 진단
US3589816A (en) Apparatus for detecting imperfections on a web
JP2009171967A (ja) 細長い形状の煙草製品を光学的に走査するユニット
US7557922B2 (en) Detection system for use in a sorting apparatus, a method for determining drift in the detection system and a sorting apparatus comprising such detection system
US5448363A (en) Food sorting by reflection of periodically scanned laser beam
US4248537A (en) Optical apparatus for determining the light exit angle from a material strip illuminated by a light bead
EP1724030A2 (en) Detection system for use in a sorting apparatus, a method for determining drift in the detection system and a sorting apparatus comprising such detection system
CA2384005A1 (en) Detection of inclusions in glass
US3849004A (en) Photo-detector for optical inspection system
US7605927B2 (en) Apparatus for optically determining the profile and/or upper surface properties of flat workpieces in a wide belt abrading machine
AU765183B2 (en) Detection of inclusions in glass
SE510242C2 (sv) Metod och mätsystem för detektering av defekter vid ytan av ett trästycke
KR20000014721U (ko) 스트립의 핀홀 검출장치

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8008509-5

Format of ref document f/p: F