SE450422B - Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark - Google Patents
Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt arkInfo
- Publication number
- SE450422B SE450422B SE8008510A SE8008510A SE450422B SE 450422 B SE450422 B SE 450422B SE 8008510 A SE8008510 A SE 8008510A SE 8008510 A SE8008510 A SE 8008510A SE 450422 B SE450422 B SE 450422B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- sheet
- housing
- collector
- source
- directed
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/42—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a backing surface of support or reference on the other side
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
15 20 25 30 35 450 422 2 Uppfinningen kommer att beskrivas närmare nedan med hjälp av utföringsexempel under hänvisning till medföl- jande ritningar. Fig 1 visar i perspektiv en del av appa- raten för mätning av valda egenskaper hos ett rörligt ark. Fig 2 visar schematiskt och delvis i blockform samt i sektion en del av apparaten i fig 1. 3 ' US 3 641 349 visar hur en egenskap hos en bana eller ett arkmaterial, som framställs i en pappersmaskin, kan mätas medelst på en vagn monterade kännare och detekto- rer. Vagnen förflyttas i tvärriktningen under det att - arkmaterialet rör sig i en maskinriktning, vilken är vinkelrät mot tvärriktningen. Fig l åskådliggör en av- sökare 10, som innefattar en ram ll, vilken har ett par åtskilda, övre och undre, parallella balkar 12 och 13, som sträcker sig i tvärriktningen för arkmaterialet el- ler papperet, vilket indikeras med hänvisningssiffran 14 och framställs i en icke visad pappersmaskin. Arket 14 förflyttas genom avsökaren i den medelst pilen 16 visade riktningen. övre och undre mäthuvuden 17 och 18 är anordnade i ramen ll samt i tvärriktningen för arket 14. Speciellt rör sig arket 14 genom ett gap 19 mellan mäthuvudena 17 och 18. Drivningen för mäthuvudena är sådan, att de kan avlägsnas från arket eller med andra ord förflyttas förbi arkets sidokant i båda förflytt- ningsriktningarna.
Apparaten 20 enligt föreliggande uppfinning åskåd- liggöres i fig 2, varvid ett hus 22 i det övre mäthuvu- det 17 är placerat på arkets 14 ena sida. Huset 22 be- står av en första kalott 24 och en andra kalott 26, vilka båda har väsentligen halvklotform, samt ett ringformigt organ 28, vilket är huvudsakligen plant. Insidan av den första kalotten 24 kan ha en reflekterande, spridande * eller speglande yta. Den andra kalotten 26 är ett fönster.
Den första kalotten 24 och den andra kalotten 26 är kon- H centriska och det ringformiga organet 28 förbinder ka- lotterna med varandra. Huset 22 är så placerat, att det ,. _-. .........._...._....,.......... 10 15 20 25 30 35 450 422 3 ringformiga organet 28 ligger i det närmaste parallellt med arket 14 och närmare detta ark än den första eller andra kalotten. En källa 30 i huset 22 kan emittera ett strålknippe av elektromagnetisk strålning 32. För mätning av färg eller ljushet föredrages ett ringformat, puls- styrt xenonrör, som framställs och säljes av ILC Techno- logy. Strålknippet 32 från källan 30 är så riktat, att det passerar genom den andra kalotten 26 och träffar ar- ket l4 (visas som en streckad linje). Det ljus från käl- lan 30, som inte direkt riktas mot arket 14, reflekteras från den första kalotten 24 för att därefter riktas mot arket 14. Strålningen från källan 30 kan absorberas och reflekteras av arket 14. En del av strålningen, som ref- lekteras från arket 14 (det reflekterade strålknippet 34) uppsamlas medelst en uppsamlare, som innefattar en lins 36 och en fiberoptik 38. Det reflekterade strålknippet 34 följer en bana, som generellt visas med en streck- prickad linje. Linsen 36 fokuserar det reflekterade strålknippet 34 mot änden av fiberoptiken 38 i huset 22. Linsen 36 är belägen i eller nära den andra kalot- ten 26. Fiberoptiken 38 sträcker sig ut från huset 22.
Vid fiberoptikens andra ände inriktas det reflekterade strålknippet 34 mot ett gitter 40 och reflekteras däri- från mot en detektor 42. Gittret 40 används vid mätning av arkets l4 färg, varvid det reflekterade strålknippets 34 färgspektrum sprides ut över detektorn 42. Denna de- tektor kan vara ett diodfält. Ett luftinlopp 44 är an- ordnat i den första kalotten 24. Detta inlopp 44 tillåter införing av luft i huset 22. Ett flertal luftutlopp 46 är anordnade i det ringformiga organet 28. Utloppen 46 tillåter utmatning av luft från huset 22 under ett kon- stant tryck, varvid luften träffar arket 14 med en rörel- seriktning, som är väsentligen vinkelrät mot arket 14.
Ett normeringsorgan 50 är anbragt på arkets 14 andra sida. Detta normeringsorgan innefattar ett plant parti 52, som är vänt mot arket 14, som har ett känt reflektionssvar på den infallande strålningen. Under normering, dvs då ar- 10 15 20 25 30 35 450 422 4 ket 14 ej befinner sig mellan det övre och undre mäthuvu- det 17 resp l8 och dessa huvuden befinner sig på ena si- dan av ramverket ll, inriktas strålknippet 32 mot partiet 52. Det reflekterade strålknippet 34 från partiet 52 an- vändes för att jämföra strålknippet med kända normer.
Denna jämförelse syftar till att korrigera fel, t ex drift i elektroniken, lampans åldrande och smuts på linsen 36. Luftutlopp 54 i normeringsorganet 50 tillåter luft- strömning mot arket l4 i en riktning, som är väsentligen vinkelrät mot arket 14. Utloppen 54 är i huvudsak linjärt inriktade med utklippen 46 i huset 22.
Under apparatens 20 drift införes tryckluft i huset 22 genom inloppet 44. Luften, som har konstant tryck, utmatas från huset 22 via utloppen 46. Luften riktas mot arket 14 väsentligen vinkelrätt mot detta. Vid kon- stant tryck kommer luften att hålla huset 22 på ett konstant avstånd från arket l4¿ På motsvarande sätt riktas luft under konstant tryck från normeringsorganet 50 mot arket 14 väsentligen vinkelrätt mot detta och vid linjär inriktning med utloppen 46 i det första huset 22.
Luftströmmen mot arket l4 håller normeringsorganet 50 på ett konstant avstånd från arket l4. Under apparatens 20 drift emitterar källan 30 ett strålknippe 32 mot arket 14. Det reflekterade strålknippet 34 uppsamlas medelst linsen 36, vilken fokuserar strålknippet på ena änden av fiberoptiken 38. Fiberoptikens andra ände är så rik- tad, att den riktar det reflekterade strålknippet 34 mot detektor 42. Olika egenskaper hos arket, t ex färg eller ljushet, kan analyseras genom lämpligt val av spektral- frekvens hos strålknippet och detektorns 42 spektralsvar.
Under normeringen förflyttas apparaten 20 bort från arket, dvs arket 14 borttages. Eftersom luft från huset 22 inte längre träffar arket 14 för "lyftande" av huset 22 från arket, och eftersom luften från normerinsorga- net 50 inte längre träffar arket, kommer huset 22 och m normeringsorganet 50 att förflyttas mot varandra tills avståndet mellan dem väsentligen motsvarar avståndet mellan huset 22 och arket l4. Kort sagt konmmr norme- 10 23 25 30 450 422 5 ringsorganet 50 att förflyttas till den position rela- tivt huset 22, som tidigare upptogs av arket l4.
I stort sett kan huset 22 ha vilken som helst geo- metrisk form. Ju lättare huset 22 är desto mindre luft- mängd krävs, eftersom luften måste träffa arket 14 och "lyfta" huset 22. Användningen av uppsamlaren, som inne- fattar linsen 36 och fiberoptiken 38 för uppsamling av det reflekterade strâlknippet 34 och för inriktning av strålknippet mot detektorn 42, vilken ej befinner sig i huset 22, minskar husets 22 vikt. Huset 22 är endast ett lämpligt medel för att hålla källan 30 och uppsamlaren. Källan 30 och linsen 36 samt fiberop- tiken 38 kan ha vilken som helst geometrisk form. Det må påpekas att man för att ytterligare minska husets 22 källan 30 utanför huset, så att fiber- källan 30 till huset för att rikta lju- Källan 30 kan alstra vilken som helst vikt kan placera optiken ansluter set mot arket l4. elektromagnetisk strålningstyp innefattande infraröd och ultraviolett strålning. För färgmätning föredras en D65-källa (North Sky Daylight). som utarbetats av CIE - Commission Internationals de (D65 är en standard, l'Eclairage.) Fördelarna med apparaten 20 enligt föreliggande upp- finning är följande: För det första kan apparaten använ- das för avsökning tvärs över arket, dvs apparaten 20 kan monteras på en vagn enligt fig l och förflyttas tvärs över arket i dettas breddriktning. För det andra hålles apparaten 20 (både huset 22 och normeringsorganet 50) på ett konstant avstånd från arket 14, vilket gör apparaten okänslig för arkets vibration, dvs den oförutsägbara rö- relsen hos arket 14 i en riktning, som har en komponent vinkelrätt mot arket.
Claims (4)
1. l. Apparat för mätning av valda egenskaper hos ett rörligt ark (14), vilken apparat är okänslig för arkets vibration och har dels en källa (30) på arkets ena sida, vilken är anordnad att emittera ett strålknippe (32) av elektromagnetisk strålning, varvid strålknippet är så riktat, att det träffar arket, och varvid strål- ningen är så vald, att strålknippet kan absorberas och reflekteras i beroende av de valda egenskaperna hos arket, dels en uppsamlare (36, 38) på arkets ena sida, vilken är anordnad att mottaga en del av det från arket reflekterade strålknippet, dels en detektor (42), som är anordnad att mäta de valda egenskaperna hos arket i beroende av den medelst uppsamlaren mottagna strål- ningen, och dels ett första organ för uppbärande av källan och uppsamlaren på ett konstant avstånd från arket, att det första organet är en fluidström, vilken är riktad för att träffa k ä n n e t e c k n a d av, arket (14) väsentligen vinkelrätt mot arket; ett på arkets andra sida anordnat normeringsorgan (50); samt ett andra organ för uppbärande av normeringsorganet på ett konstant avstånd från arket, vilket andra organ är en fluidström från normeringsorganet, vilken är riktad för att träffa arket väsentligen vinkelrätt mot arket och är anordnad i linje med det första organet.
2. Apparat enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d därav, att källan (30) och uppsamlaren (36, 38) är an- ordnade i ett hus (22).
3. Apparat enligt krav 2, k ä n n e t e c k n a d därav, att uppsamlaren är en lins (36) och en fiberoptik (38); att linsen är så placerad, att den fokuserar en del av det från arket (14) reflekterade strålknippet på ena änden av fiberoptiken; och att fiberoptikens andra ände är riktad att träffa detektorn (42). 450 422 '7
4. Apparat enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d därav, att strålningen ligger inom det synliga området av det elektromagnetiska spektrat.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/100,416 US4277177A (en) | 1979-12-05 | 1979-12-05 | Apparatus to measure select properties of a moving sheet |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8008510L SE8008510L (sv) | 1981-06-06 |
SE450422B true SE450422B (sv) | 1987-06-22 |
Family
ID=22279656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8008510A SE450422B (sv) | 1979-12-05 | 1980-12-04 | Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4277177A (sv) |
JP (1) | JPS56103357A (sv) |
CA (1) | CA1139962A (sv) |
DE (1) | DE3045319A1 (sv) |
FI (1) | FI73082C (sv) |
GB (1) | GB2066452B (sv) |
SE (1) | SE450422B (sv) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4422766A (en) * | 1981-07-27 | 1983-12-27 | Ppg Industries, Inc. | Method of and device for reducing apparatus response time during the testing for moisture content in moving spaced plastic sheets |
US4528507A (en) * | 1981-10-26 | 1985-07-09 | Accuray Corporation | Sheet measuring apparatus with two structurally isolated non-contacting surface follower bodies and wireless signal transmission |
US4660984A (en) * | 1984-09-04 | 1987-04-28 | Eastman Kodak Company | Reflectometer featuring an integrated cavity of enhanced efficiency |
EP0181155B1 (en) * | 1984-11-06 | 1990-09-19 | Measurex Corporation | System for measuring the colour of a material |
GB2175390A (en) * | 1985-05-14 | 1986-11-26 | Coal Ind | Probe for sensing outlines |
DE3701721A1 (de) * | 1987-01-22 | 1988-08-04 | Zeiss Carl Fa | Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung |
US4830504A (en) * | 1987-06-24 | 1989-05-16 | Measurex Corporation | Gloss gauge |
DK163837C (da) * | 1987-11-10 | 1994-09-05 | Neltec As | Apparat til farvekontrol af genstande |
US4824248A (en) * | 1987-12-21 | 1989-04-25 | Environmental Research Institute Of Michigan | Stabilized sensor device |
DE3806382A1 (de) * | 1988-02-29 | 1989-09-07 | Feldmuehle Ag | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von laufenden transparenten bahnen |
JPH0314408U (sv) * | 1989-06-27 | 1991-02-14 | ||
US5113081A (en) * | 1990-12-27 | 1992-05-12 | Eastman Kodak Company | Web inspection system and method with exposure, detection and sampling means |
US5338361A (en) * | 1991-11-04 | 1994-08-16 | Measurex Corporation | Multiple coat measurement and control apparatus and method |
US5276327A (en) * | 1991-12-09 | 1994-01-04 | Measurex Corporation | Sensor and method for mesaurement of select components of a material |
US5274243A (en) * | 1992-05-29 | 1993-12-28 | Eastman Kodak Company | Cylindrical allumination system for inspection of sheet material |
EP0677739B1 (de) * | 1994-04-14 | 1998-08-19 | Honeywell Ag | Vorrichtung zur Messwerterfassung |
WO1996035112A1 (en) * | 1995-05-05 | 1996-11-07 | Measurex Corporation | Sheet stabilizer for optical sensor |
US6982794B1 (en) | 1995-06-07 | 2006-01-03 | The Boeing Company | Directional reflectometer |
US5642189A (en) * | 1995-06-12 | 1997-06-24 | Measurex Corporation | Color sensor simulating standard source illuminant |
US5934140A (en) * | 1996-06-19 | 1999-08-10 | Xerox Corporation | Paper property sensing system |
US5835975A (en) * | 1996-06-19 | 1998-11-10 | Xerox Corporation | Paper property sensing system |
US5714697A (en) * | 1996-06-19 | 1998-02-03 | Xerox Corporation | Sheet materials mass measuring system |
US6483590B1 (en) | 2000-12-18 | 2002-11-19 | The Boeing Company | Instrument for rapidly characterizing material reflectance properties |
US6813026B2 (en) * | 2001-04-11 | 2004-11-02 | Therma-Wave, Inc. | Purge system for optical metrology tool |
US6588118B2 (en) * | 2001-10-10 | 2003-07-08 | Abb Inc. | Non-contact sheet sensing system and related method |
DE102006034783A1 (de) | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Giesecke & Devrient Gmbh | Sensor und Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut und Verfahren zur Sensor-Vorjustage |
JP2009058293A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Hamamatsu Metrix Kk | シート状ワーク検査装置 |
FR2925686B1 (fr) * | 2007-12-19 | 2012-02-24 | Le Verre Fluore | Dispositif optique de mesures par reflectance |
US8752831B2 (en) * | 2008-10-06 | 2014-06-17 | Xerox Corporation | Systems and methods for controlling substrate flatness in printing devices using the flow of air |
US8186675B2 (en) * | 2008-10-06 | 2012-05-29 | Xerox Corporation | Systems and methods for controlling substrate flatness in printing devices using vacuum and/or the flow of air |
US7957657B2 (en) * | 2009-02-12 | 2011-06-07 | Xerox Corporation | Universal module for enabling measurements on color printers |
DE102011083653A1 (de) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Voith Patent Gmbh | Messvorrichtung und Messverfahren zur Messung von Bahneigenschaften |
US9036153B1 (en) * | 2013-08-30 | 2015-05-19 | Google Inc. | Instrument for reflectivity measurement |
US9470633B2 (en) | 2014-02-14 | 2016-10-18 | Google Inc. | Method, apparatus and system for transmittance measurement |
JP6394825B1 (ja) * | 2018-02-08 | 2018-09-26 | 横河電機株式会社 | 測定装置および測定方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1978589A (en) * | 1932-10-03 | 1934-10-30 | Maynard D Mcfarlane | Web detector for printing presses |
US3455637A (en) * | 1964-08-07 | 1969-07-15 | Giannini Controls Corp | Method and apparatus for measuring the opacity of sheet material |
US3476482A (en) * | 1967-09-27 | 1969-11-04 | Conrac Corp | Opacimeter for comparing light from different areas of sample sheet |
US3641349A (en) * | 1969-09-29 | 1972-02-08 | Measurex Corp | Method for measuring the amount of substance associated with a base material |
US3793524A (en) * | 1972-09-05 | 1974-02-19 | Measurex Corp | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials |
US3890049A (en) * | 1973-09-17 | 1975-06-17 | Howell Lab Inc | Glossmeter for providing a linear response corresponding to true gloss readings |
US3936189A (en) * | 1974-03-13 | 1976-02-03 | Sentrol Systems Ltd. | On-line system for monitoring the color, opacity and brightness of a moving web |
US4029420A (en) * | 1974-12-27 | 1977-06-14 | Romilly John Simms | Light reflectance instrument |
US4033698A (en) * | 1975-10-10 | 1977-07-05 | International Business Machines Corporation | Apparatus for textile color analysis |
NL7711138A (nl) * | 1976-11-01 | 1978-05-03 | Ici Ltd | Detectie van discontinuiteiten in bewegende banen van plastic materiaal. |
JPS5937684Y2 (ja) * | 1978-02-22 | 1984-10-19 | 横河電機株式会社 | 厚さ測定装置 |
-
1979
- 1979-12-05 US US06/100,416 patent/US4277177A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-11-28 GB GB8038212A patent/GB2066452B/en not_active Expired
- 1980-12-02 DE DE19803045319 patent/DE3045319A1/de active Granted
- 1980-12-04 CA CA000366120A patent/CA1139962A/en not_active Expired
- 1980-12-04 JP JP17143680A patent/JPS56103357A/ja active Granted
- 1980-12-04 SE SE8008510A patent/SE450422B/sv not_active IP Right Cessation
- 1980-12-04 FI FI803779A patent/FI73082C/sv not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2066452B (en) | 1983-10-19 |
JPS56103357A (en) | 1981-08-18 |
DE3045319A1 (de) | 1981-09-17 |
SE8008510L (sv) | 1981-06-06 |
CA1139962A (en) | 1983-01-25 |
FI73082B (fi) | 1987-04-30 |
FI73082C (sv) | 1987-08-10 |
JPS6357732B2 (sv) | 1988-11-14 |
DE3045319C2 (sv) | 1990-07-12 |
GB2066452A (en) | 1981-07-08 |
US4277177A (en) | 1981-07-07 |
FI803779L (fi) | 1981-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE450422B (sv) | Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark | |
SE451097B (sv) | Apparat for metning av valda egenskaper hos ett rorligt ark | |
CA2813032C (en) | Laser induced breakdown spectroscopy analyser | |
JP4919355B2 (ja) | 有価文書を検査するための装置及び方法 | |
US3975098A (en) | Spectrofluorimeter | |
JP2004529334A5 (sv) | ||
US4004152A (en) | Apparatus for monitoring a moving web of material for faults | |
US20090159803A1 (en) | Apparatus for selected measurement of, in particular luminescent and/or fluorescent radiation | |
US9001331B2 (en) | Arrangement adapted for spectral analysis of high concentrations of gas | |
JP6596987B2 (ja) | 粒子計測装置 | |
US3965356A (en) | Apparatus for measuring a predetermined characteristic of a material using two or more wavelengths of radiation | |
CN100449308C (zh) | 检测连续行进的材料卷带中的孔的部件 | |
US7557922B2 (en) | Detection system for use in a sorting apparatus, a method for determining drift in the detection system and a sorting apparatus comprising such detection system | |
CN106415241A (zh) | Atr红外线光谱仪 | |
US10488337B1 (en) | Laser gas analyzer | |
EP3425376B1 (en) | Measuring device | |
EP1724030A2 (en) | Detection system for use in a sorting apparatus, a method for determining drift in the detection system and a sorting apparatus comprising such detection system | |
US7301164B2 (en) | Measuring apparatus | |
US7838813B2 (en) | Light beam receiver with interference signal suppression | |
US7242017B2 (en) | Device to detect and/or characterize individual moving objects having very small dimensions | |
DE4412889A1 (de) | Anordnung zur Überwachung einer Fest-Flüssig-Trenneinrichtung | |
CN220961233U (zh) | 一种红外织物检测器及红外检测的织物自动分拣生产线 | |
US4536655A (en) | Fluorometer having an improved optical system | |
US4833623A (en) | Orifice plate inspection apparatus and method | |
KR20000014721U (ko) | 스트립의 핀홀 검출장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NAL | Patent in force |
Ref document number: 8008510-3 Format of ref document f/p: F |
|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8008510-3 Format of ref document f/p: F |