SE443060B - Overvakningskoppling for kontroll av anslutningarna av lcd-indikatorer - Google Patents

Description

8104364-8 sker teckenbildningen genom modulation av yttre ljus i en ne- matisk kristallin substans på grund av påläggningen av ett yttre elektriskt fält. Såsom fördel betecknas allmänt den mycket ringa strömupptagningen av indikatorerna med flytande kristaller. Det- ta har emellertid till.följd att en segmentkontroll ej leder till några användbara resultat genom mätning av segmentströmmar enligt den kända metoden.

Analyserar man de möjliga felorsakerna vid indikatorer med flytande kristaller konstaterar man att fel på byggdelen, glasbrott, åldring, otäta mediumceller och liknande yttrar sig i att vid sådana fel alltid alla segment i ett indikerings-' element påverkas, dvs ett sådant fel är optiskt synligt.

Vid de med ögonen ej detekterbara indikeringsfelen ligger däremot felorsaken nästan uteslutande i utstyrningen och signalöverföringen. De orsaker som därvid kan leda till en falsk indikering ligger exempelvis i en inuti defekt utstyrnings- byggsten, i skadade ledarbanor, i synnerhet bortfall av en- skilda utstyrningsledningar, i felaktig kontaktering till indi- keringsbyggstenen eller liknande. I synnerhet de sist nämnda felkällorna leder till de optiskt ej förnímbara felindikeringar- na. Det är sålunda i synnerhet inom ramen för myndigheters till- stànd av justeringsbara apparater, såsom taxametrar, penning- och literräknare, fjärröverföringsanläggningar osv, ett obe-á' tingat krav att de med ögonen icke förnimbara felindikeringarna måste övervakas resp. indikeras.

Föreliggande uppfinning syftar till erbjudande av en övervakningsanordning för kontroll av LCD-anslutningar och till- hörande segmentdrivsteg, genom vilken en i multiplexförfarande drivbar indikering resp. dess enskilda segment, anslutningar, tilledningar och drivelement automatiskt eller utväljbart är kontrollerbara till minsta möjliga kostnad.

Detta syftemàl löses därigenom, att varje segment- elektrod över en förbindelse över en första ledarbana direkt är förbunden med en drivkoppling förreguljär utstyrning, och att samtidigt en för varje segmentutstyrning separat ström- slinga bildas över en andra ledarbana, att en provkondensator är anordnad i varje strömslínga, vilken vid utstyrning av det i strömslingan ingående segmentet över utstyrningsbyggstenen 8104364-8 laddas och urladdas i multiplexförfarandet.

I en föredragen utföringsform går laddningsström- slingan och urladdningsströmslingan för provkondensatorn över en för alla segmentdrivare identisk drivspänningsförsörjning, och i en för alla förprövning av utstyrbara segmentanslutningar identiskurladdningsströmslinga är ett motstånd anordat, på vilket ett genom en urladdningsström utlösbart spänningsfall är mätbart.

Pâ fördelaktigt sätt kan med den föreslagna anordning- en drivkopplingen användas såsom reguljär LCD-utstyrning och dessutom även såsom frånkopplingskrets i provfallet. Det för härledning av en provsignal vid kontrollen använda provhjälp- medlet, här enligt förslaget enligt uppfinningen en prov- kondensator, kan utan nackdelar lämnas kvar i utstyrnings- . cykeln, eftersom genom en tidsbegränsning av provförloppet utstyrningscykeln ej störes. Provförloppet initieras separat oberoende av den normala utstyrningen av segmenten, exempelvis genom en tidsberoende styrning var tionde sekund eller manuellt över en tangentmanövrering eller också över lämpliga förlopp i utstyrningslogiken. En provcykel avlöper i en följd av fem steg och är lämpligen styrbar över en mikroprocessor. l och för förverkligande av provkopplingen är standardbyggelement exempelvis kommersiellt tillgängliga CMOS-skiftregister eller temporära minnen (latches) användbara. Kopplingsanordningen möjliggör en utvalbar prövning av enskilda segment resp. deras anslutningar, tilledningar och drivelement. Pâ grund av en samtidig användning av utstyrningsbyggstenarna för prov- kopplingen reduceras kostnaden väsentligt.Dessutom är ledarban- uppdelningen mycket enkel på grund av en motsvarande anordning av provkondensatorerna, vilka alla gemensamt är lagda pà en potential.

I nedanstående beskrivning och på de bifogade rit- ningarna visas ett utföringsexempel av uppfinningen.

På ritningarna visar fig. 1 schematiskt en övervakningskoppling för en- skilda i snitt visade segmentanslutningar på en LCD-indikerings- enhet, fig. 2 en förenklad skiss av övervakningsanordningen 8104364-8 i provkondensatorernas laddningsfas, och fig. 3 en förenklad skiss av övervakningskopplingen i en provkondensators urladdningsfas vid funktionsprövning av ett i den aktuella strömslingan ingående segment. _ I regel föreligger någon typ av mätvärden eller be- räkningsresultat i en för den elektroniska bearbetningen lämp- lig form och visas dessa slutligen i en indikeringsdisplay i form av läsbara decimaltal. På känt sätt rör det sig mestadels om binärkodade decimalvärden, vilka sedan över en avkodar- drivare via sju styrledningar exempelvis tillföres en 7-segment- indikeringsenhet. Genom att de enskilda segmenten lyser upp i motsvarande konfiguration låter sig siffrorna "O" till "9“ inom en decimal visas. I fig. 1 visas i förenklad form en del av en utstyrning av segmenten i en indikator med flytande kristaller (LCD) 1. I ett delsnitt visas av indikeringen 1 med flytande kristaller på en glasplatta 2 ledarbanor 3 för kontak- tering av ett segment av indikeringsbyggstenen. Ledarbanorna 3 förbinds ledande över exempelvis en skiktgummiförbindare 4 eller en liknande interkonnektor med åtminstone två separata ledarbanor 5, 6 av en ledarplatta 15, vilken samtidigt kan vara ett hållarelement. Ledarbanan 3, vilken man vanligen även be- tecknar segmentelektrod, är alltså över en sålunda betecknad första ledarbana 5 direkt över en styrledning 7 förbindbar med en drivkoppling i en utstyrningsbyggsten 8. Som bekant erfordras sju styrledningar 7 för att via aktiveringen av de sju segment- en i ett indikeringselement av flytande kristall medelst kombi- nationen av de utvalda segmenten visa sifferbilderna "O" till "9". Samtidigt kontakteras över en andra ledarbana 6 ledarbanan 3 i varje segment ytterligare och bildas på detta sätt en för varje segmentutstyrning separat strömslínga i. I varje ström- slinga i är slutligen en provkondensator 9 anordnad, vilken vid utstyrningen av det i strömslingan i ingående segmentet över” utstyrningsbyggstenen 8 uppladdas och urladdas i mulitplex- förfarande. Provkondensatorerna 9 ligger alla gemensamt på en potential V'SS. Såsom framgår ytterligare av fig. 2 och 3 går en laddningsströmslinga iL och en urladdningsströmslinga iE över en för alla segmentdrivare identisk drivspänningsför- sörjning V55, V'SS. I en för alla för prövning av utstyrbara 8104364-8 segmentanslutningar 11 gemensam del av urladdningsströmslingan iE är ett motstånd 10 anordnat, på vilket ett genom en urladd- ningsström utlösbart spänningsfall är mätbart. Såsom segment- anslutning 11 förstås här sammanhängande den ledande förbind- ningen bestående av den första ledarbanan, över skiktgummi- förbindaren 4, segmentledarbanan resp. elektroden 3, över skikt- gummiförbindaren 4 till den andra ledarbanan 6. Segmentanslut- ningen 11 visas i förenklad form i fig. 2 och 3 genom en er- sättningskoppling.

I fig. 2 visas schematiskt sammanhangen för över- f vakningskopplingen i laddningsfasen av provkondensatorerna 9.

Såsom framgår av figuren används såsom utstyrningsbyggstenar 8 CMOS-element, vilka enligt förslaget förutom utstyrning sam- tidigt används såsom provkopplingselement, varigenom kostnaden för en övervakningskoppling väsentligt reduceras. Förloppen vid en prövning av funktionen av segmentanslutningarna 11 låter sig uppdelas i en följd av fem steg, vars utförandestyrning kan realiseras genom en icke närmare beskriven mikroprocessor 16. Laddningen av alla provkondensatorerna 9 sker i ett första steg, såsom visas i fig. 2, genom koppling av alla driv-CMOS- transistorer 12 till V . I följden kopplas såsom andra steg en för prövning utvaldD:egmentanslutning 11/1 (se fig. 3) till vss. Den i den aktuella strömslingan iE liggande provkonden-_. satorn 9/1 urladdar sig över en till VSS kopplad CMOS-transistor 13 över en gemensam ledning 14 till VSS och slutligen över motståndet 10 till V'SS kondensatorn 9 flyter vid intakt urladdningsströmslinga iE en . På grund av urladdningen av prov- enligt en exponentialfunktion avklingande ström i den aktuella urladdningsströmslingan iE. Urladdningsströmmen förorsakar enligt prövningsförloppets tredje steg ett inom avklingnings- tiden på motsvarande sätt förlöpande spänningsfall på motståndet . Detta spänningsfall gäller såsom kontrollkriterium och kan i denna egenskap inom avklingningstiden testas med avseende på tillåten amplitud. En kontroll kan sålunda genomföras på enkelt sätt, exempelvis över en transistor i emitterkoppling. I denna fas av prövningen kontrolleras dels kontakteringen med avseende på korrektfunktionssätt,dels även samtidigt provkondensatorn med avseende på felfri funktion. 8104364-8 - I det påföljande steget 4 efter kondensatorurladdnings- stömmens avklingning sker på nytt en kontroll av spännings- fallet på motståndet 10. Om nämligen exempelvis en segmentkort- slutning föreligger mellan segmenten 11 och 11/1 (se fig. 3), så leder ett sådant tillstånd till ett irreguljärt statiskt spänningsfall på motståndet 10, genom vilket återigen en signal kan indikeras i och för felidentifiering. På grund av en kortslutningsförbindelse mellan segmenten 11 och 11/1 ligger nämligen urladdningsströmslingan iE samtidigt på statiskt positiv spänning över förbindelsen till den genomkopplade driv- CMOS-transistorn 12 i det intilliggande kortslutna segmentet 11. Över den i fig. 3 för kortslutningsfallet antydda ström- slingan iK flyter då en ström, som förorsakar det statiska spänningsfallet på motståndet 10 för denna definierade fel- identifiering.

Det femte steget i provningsförloppsstyrningen består slutligen däri, att den prövade segmentanslutningen 11/1 enligt exemplet i fig. 3 åter kopplas till VDD. Detta tjänar till att tillse att vid den fortsatta prövningen av de andra segment- anslutningarna 11 ingen parallellkoppling av provkondensatorer 9 uppträder. Genom användande av CMOS-element för utstyrning och prövning förfogar man med fälteffekttransistorerna 12, 13 över nära nog ideala omkopplingselement för de förhållandevis- små strömmarna. I utföringsformen som standard-CMOS-byggstenar är även möjligheten av ett enskilt val av ett transistorpar 12, 13 given.

Claims (5)

8104364-8 7 PATENTKRAV

1. Övervakningskoppling för kontroll av anslutningarna av LCD-indikatorer och tillhörande segmentdrivsteg i en ut- styrningslogik med exempelvis över ledgummiförbindare (inter- konnektorer) över åtminstone två åtskilda ledarbanor uppdelat kontakterade segmentelektroder, k ä n n n e t e c k n d a d av att varje segmentelektrod (3) över en förbindning över en första ledningsbana (5) direkt är förbunden med en drivkoppling för reguljär utstyrning och att samtidigt en för varje segment- utstyrning separat strömslinga (i) bildas över en andra ledar- bana (6), att en provkondensator (9) är anordnad i varje ström- slinga, vilken kondensator vid utstyrníng av det i strömslingan (i) ingående segmentet (11) uppladdas och urladdas över ut- styrningsbyggstenen (8) i mulitplexförfarande.

2. Övervakningskoppling enligt krav 1, k ä n n e t e c\k - i L) strömslinga (iE) för provkondensatorn (9) går över en för alla n a d av attenladdningsströmslinga( och en urladdnings- segmentdrivare gemensam drivspänníngsförsörjning (VSS, V'sS), och att ett motstånd (10) är anordnat i en för alla för pröv- ning av utstyrbara segmentanslutningar (11) gemensam urladd- ningsströmslínga (iE), på vilket motstånd ett genom en ur- laddningsström utlösbart spänningsfall är mätbart.

3. Övervakningskoppling enligt krav 1 och 2, k ä n n e*~ t e c k n a d av att strömslingan (i) med provkondensatorn (9) i och för reguljär LCD-segmentutstyrning är beståndsdel i ut- styrningslogiken (8, 16) och över denna är omstyrbar och för provfallet låter sig omvandlas i en frånkopplingskrets.

4. Övervakningskoppling enligt kraven 1-3, k ä n n e - t e c k n a d av att ett provförlopp över frànkopplingskretsen initieras tidsseparerat från den normala segmentutstyrningen.

5. Övervakningskoppling enligt kraven 1 och 4, k ä n n e - t e c k n a d av att en mikroprocessor (16) är anordnad för styrning av ett stegvis avlöpande provförlopp.