SE433671B - Sett och krets for provning av en integrerad kretsbricka - Google Patents

Description

7812490- 10 15 20 25 30 - 35 2 Med insikt om det genom ovannämnda patentskrift åstadkomna framsteget inom tekniken kan ett ytterligare framsteg göras genom att för en given integrerad krets- bricka en identifiering göres av det unika mönster av bi- nära signaler, som kommer att uppträda på brickans an- slutningar, när valda binära signaler, eller rutiner,_cyk- liskt pålägges ett valt antal gånger på brickan med hjälp av en provenhet (benämnd generator i nämnda patentskrift).

Ett sådant unikt mönster benämnes teckenidentifiering eller signatur. Efter cykliskt pâläggande av rutinerna fast- ställes brickans logikfunktion vara felbehäftad, om signa- turen ej åstadkommes. Varje bricka, dvs en minneskrets, en registerkrets, en drivar-mottagarkrets, etc, har såle- des en unik signatur och i provenheten finns en rutin för varje klass av sådana brickor. Pâ varje bricka är dess- utom ett mönster av binära signaler eller koder kodade, vilka kommer att identifiera klassen, till vilken brickan hör. Denna kod kan också återfinnas genom cyklisk till- försel av binära signaler till brickan medelst provenhe- ten. Kopplingar är också åstadkomna på brickan, så att signaturen igenkännes (eller ej igenkännes, om brickan fungerar felaktigt) och klasskoden identifieras på en utgångsanslutning.

Genom utnyttjande av föreliggande uppfinning, som bildar del av själva brickan, kan således en tekniker på fältet för det första identifiera den typ av bricka som ~ .han provar och sedan, när han väl har funnit brickans rätta klass, detektera en eventuell felaktig funktion hos logikkretsarna.

Del av brickan bildar emellertid ocksâ, såsom nämnts ovan, kopplingar, vilka kommer att göra det möjligt för teknikern på fältet att identifiera eventuella frånkopp- lade ingångar eller kortslutna utgångar på brickan, innan fd förloppet att identifiera brickans klass och signatur ge- nomföres. Detta gör det naturligtvis möjligt för tekni- kern på fältet att spara tiden och kostnaden för prov- ning av en bricka beträffande logisk felfunktion i händel- se av att problemet ligger i avbrott eller kortslutningar i 10 15 20 25 30 35 7812490-6 3 anslutningar till respektive från själva brickan.

Ett allmänt ändamål med föreliggande uppfinning är därför att åstadkomma ett sätt för övervakning av in- tegriteten eller helheten hos en integrerad kretsbrickas ingångar och utgångar liksom integriteten hos brickans logikfunktion.

Ett mer bestämt ändamål med föreliggande uppfinning är att på själva den integrerade kretsbrickan åstadkomma en ingângsavbrottsdetektor för att övervaka brickan med avseende på eventuella ingångsledare, vilka är frånkopp- lade eller håller på att bli frånkopplade, och för att ange att en sådan frånkoppling eller förväntad frånkopp- ling förefinns. Ännu ett annat bestämt ändamål med uppfinningen är att på själva den integrerade kretsbrickan åstadkomma en utgångskortslutningsdetektor för att övervaka brickan be- träffande kortslutningar på någon brickutgång samt ange att en sådan kortslutning förefinns. Ännu ett annat och mycket betydelsefullt ändamål med föreliggande uppfinning är att åstadkomma en signatur- provnings- och diagnostiseringskrets, vilken bildar del av själva brickan, för att göra det möjligt för en tekni- ker att fastställa huruvida själva brickans logikfunktion är i kraft eller är felbehäftad.

Ett annat ändamål med uppfinningen är slutligen att åstadkomma en anordning, varigenom ingångsavbrottsdetek- torn, utgângskortslutningsdetektorn och signaturprov- nings-ochdiagnostiseringskretsen är försedda med enbart en enda anslutning på brickan.

För uppnående av ovannämnda ändamål innefattar sättet av det inledningsvis angivna slaget de åtgärder som är angivna i efterföljande patentkrav l och företrädesvis även de åtgärder som är angivna i efterföljande patentkráv“ 2. Den integrerade kretsen av det inledningsvis angivna slaget har de kännetecken som framgår av något eller några av de efterföljande patentkraven 3-16.

Ingångsavbrottsdetektorn innefattar ett par strömkopp- lade logikgrindar, av vilka en kontinuerligt avkänner till- 7812490-6 10 15 20 25 30 35 4 ståndet hos brickans ingångsledare samt i ett tillstànd kontinuerligt drar en förutbestämd, minimal ström från en annan brickas utgång i och för kontinuerlig avkänning av kontinuiteten i förbindelsen till ingångsledaren. Denna grind tjänstgör också som strömsänka för att sänka spän- ningen på ingången till en andra strömkopplad logikgrind i händelse av att brickans ingångsledare blir mer och mer re- sistiv, varigenom ett avbrott i ingångsförbindningen före- gripes, eller i händelse av att ingångsförbindningen faktiskt blir frånkopplad, så att den andra grinden, vilken ändrar sitt normala driftstillstánd, kommer att sända en varnings- signal till provnings- och diagnostiseringsstiftet.

Utgångskortslutningsdetektorn övervakar kontinuerligt ett par utgängsledare via ett spänningsdelarnät för upp- rättande av en spänningsskillnad i händelse av att den ena eller andra av ledarna blir kortsluten, vilken spännings- skillnad bringar en första strömkopplad kännargrind att ändra sitt normala tillstånd och bringar i sin tur en andra strömkopplad grind att sända en varningssignal till provnings- och diagnostiseringsstiftet till följd av att 'den andra grinden ändrar sitt normala tillstånd.

Signaturprovnings- och diagnostiseringsdetektorn slutligen innefattar en första OCH-grind_eller buffert för mottagning av utsignalerna från ingångsavbrottsdetek- torn och utgångskortslutningsdetektorn liksom insignalerna från en OCH-klasskodsgrind och en OCH-signaturgrind. I beroende av de mottagna signalerna ändrar denna OCH-buf- fertgrinds utsignal tillståndet hos en strömkopplad logik- grind, vilken sänder en signal till provnings- och diagnostiseringsstiftet. I händelse av att inget fel finns på brickans ingångar eller utgångar gör provnings- och diagnostiseringsstiftet genom påverkan av två ytterligare, strömkopplade logikgrindar det möjligt för teknikern att identifiera den provade brickans klass och, när väl rätt klass har valts, utföra cyklisk provning av brickan till dess att dennas signatur genereras och tillföres ingångar- na till OCH-signaturgrinden. Om då den korrekta signaturen ej alstras, så har teknikern fastställt att ett fel före- 10 15 20 25 30 35 7812490-6 5 finns i den provade brickans logikfunktion.

Uppfinningen skall beskrivas närmare i det följande under hänvisning till medföljande ritningar. Fig. l är en schematisk bild av två brickor av strömkopplad logik, från den andra vilka typiskt är sammankopplade, varvid en utgång den första brickan är kopplad till en ingång till brickan och i âskådliggörande syfte uppfinningen är visad enbart på den andra brickan. Fig. 2 är ett detaljerat krets- schema över en ingångsavbrottsdetektor (IOD) till en in- gångsdyna pâ den andra brickan, vilken dyna är kopplad till utgångsdynan på den första brickan, och denna figur visar också denna detektors förbindning med andra detektorer-och med provnings- och diagnostiseringsstiftet. Fig. 3 är ett kretsschema över en utgângskortslutningsdetektor (OSD) för ett par utgångsdynor, varvid enbart en utgång från ett par utgångsgrindar utnyttjas. Fig. 4 är ett detaljerat kretsschema över en annan utföringsform av en utgångskort-» slutningsdetektor, vilken utnyttjas, när båda utgångarna från en utgångsgrind är kopplade till utgångsanslutnings- dynor. Fig. 5 är ett kretsschema, som åskådliggör en signaturprovningskrets (STDD) för provning av brickans funktionsduglighet och visar den kretsen ansluten till provnings- och diagnostiseringsstiftet (T&D). Fig. 6 är ett flödesschema för provningen och diagnostiseringen av en bricka på plats under utnyttjande av ovanstående detek- torer.

I fig. l, vartill nu hänvisas, visas ett parti av ett par typiska kretsbrickor l och 2 av typen med strömkopplad logik (CML). För att som exempel åskådliggöra uppfinning-_ en har brickan l sin utgångsanslutning 12, visad som en utgångsdyna 0, kopplad medelst en ledare 14 till en in- gångsanslutning 16, också visad som en dyna I, till brickan 2. Varje bricka har typiskt ett flertal utgångsanslutnings- dynor 12 och ett flertal ingångsanslutningsdynor 16, av vilka för tydlighets skull endast några få är visade på brickorna 1 och 2. Utgångsdynan 12 är kopplad till en ty- pisk utgângsgrind l8 av typen strömkopplad logik (symboliskt visad), medan brickans 2 ingångsdyna l6 är kopplad.till en ingångsavbrottsdetektor 20 (IOD), vilken i denna figur är i781249Û-6 10 15 20 25 30 35 6 visad som ett block. Både utgångsgrindens l8 och ingångs- avbrottsdetektorns 20 koppling skall förklaras närmare i detalj längre fram. I För att åskådliggöra uppfinningen visas i fig. 1 (OSD), vilka är âskådliggjorda som block och visade anslutna också utgângskortslutningsdetektorer 22 och 22' till tvâ av utgångsdynorna 12. Brickan 2 har också en signaturprovnings- och diagnostiseringsdetektor 24 (STDD) samt en klasskodsdetektor 26 (CCD), vilka också är visade i blockform på_brickan 2. Signaturprovnings- och diagnosti- seringsdetektorn 24 är naturligtvis kopplad till brickans logikfunktionskretsar, eftersom detektorn 24 är avsedd att identifiera en felaktig funktion hos dem. Ingångsavbrotts- detektorn 20, utgångskortslutningsdetektqrerna 22, 22' och signaturprovnings- och diagnostiseringsdetektorn 24 är via en buffert 28 kopplade till en utgångsanslutnings- dyna 30, benämnd provnings- och diagnostiseringsstift (T&D). Provnings- och diagnostiseringsstiften 30 på ett flertal brickor är slutligen anslutna till en indikerings- anordning 32 av någon lämplig typ för att för en iakt- tagare indikera att en ingång är öppen eller att det finns en kortslutning på utgången från en särskild bricka.

Såsom tidigare förklarats är syftet med ovannämnda detektorer på var och en av brickorna att göra det möjligt för underhållspersonal på fältet att identifiera en fel- behäftad bricka på plats i ett datorsystem medelst en utsignal från provnings- och diagnostiseringsstiftet, exempelvis att en ingång, dvs antingen själva kontaktdynan eller en del av förbindningen mellan en annan bricka och dynan, är öppen eller nästan öppen (blir mer resistiv) eller att det finns en kortslutning av något slag på nâ- gon utgång. I händelse av en felaktig funktion hos logik- funktionskretsarna på själva brickan utnyttjas stiftet 30 i aan feibehäftaae brickan.

Hur allt detta åstadkommes skall nu förklaras närmare i detalj.

Ehuru ingångsavbrottsdetektorn 20, utgångskortslut~ för att på plats identifiera ningsdetektorerna 22, 22' och signaturprovnings- och diagnostiseringskretsarna 24 är visade enbart i brickan 2, 10 15 20 25 io* 35 78012490-6 7 är det klart att alla brickorna kan ha dessa kretsar, att det finns en ingångsavbrottsdetektor för varje ingångs- dyna 16-l6n, att i en utföringsform det finns en utgångs- kortslutningsdetektor för varje par av utgångsdynor 12-l2n samt vidare att det finns en signatur- och diagnoskrets för provning av integriteten hos brickans funktion på var- je bricka, vilka detektorer och kretsar samtliga är koppla- de till provnings- och diagnostiseringsdynan eller -stif- tet (T&D). Två utföringsformer av utgângskortslutnings- detektorn är visade på grund av det förhållandet, att i vissa fall både den "sanna" utgången och dennas komplement från utgângsgrinden 18 är kopplade till två utgångsdynor., För att i detta fall täcka en möjlig kortslutning mellan den sanna utgången och komplementet erfordras en andra ut- föringsform. Denna är på brickan 2 visad från utgångs- grinden l8'.

I brickan 2 är funktionen helt enkelt åskådliggjord som strömkopplade logikfunktionskretsar i blockschema- form för attâskâdliggöra uppfinningen. Brickans logikfunk- tion skulle kunna vara vilken som helst av ett antal funk- tioner i en dator.

Det är också underförstått, att i det följande ordet "öppen" i samband med en dyna eller ledare som exempel innefattar de möjliga avbrotten mellan utgångsdynan 12 på brickan l och ingångsdynan på brickan 2 antingen vid själva dynorna eller i_förbindningsledaren 14 mellan dem.

I efterföljande beskrivning är typiskt för strömkopplade logikgrindar det normala spänningssvinget ungefär 400 mV, varvid en "hög" nivå utgör logisk 0 (-40 mV 2 V i 0,0 V) toan en "låg" nivå utgör logisk 1 (-soo mv ¿ v ¿ -360 mv).

I fig. 2 visas en av ingångsavbrottsdetektorkretsarna 20 kopplad till en ingângsanslutningsdyna l6 på bricka 2.

Det finns en ingångsavbrottsdetektorkrets 20 för var och en av brickans ingångar och, såsom visat, är ingångsdynan 16 kopplad via en ledare 14 till brickans l utgångsanslutning 12. Var och en av anslutningarna l2 är typiskt kopplad till en strämkopplad logikutgångsgrind 18, vilken inne- fattar ett par differentiellt kopplade strömställartransis- 7812490-6 10 15 20 25 30 35 _ torer, såsom detektorer 20a-20n, 8 torer Tl och T2, varvid anslutningen 12 är kopplad mellan transistorns T2 kollektor och en drivresistor Rl, vilken i sin tur är kopplad till en referensspänning, såsom jord.

Kretsen 20 innefattar ett första strömställardon 34 (i det följande kommer sådana strömställardon som donet 34 att benämnas strömkopplade logikgrindar), vilket inne- fattar ett par differentiellt kopplade transistorer T3 och T4, vilkas emittrar är kopplade gemensamt via en kon- stantströmkäl1a.Gltill en spänningskälla VEE, vilken är negativ relativt jord. Transistorns T3 bas är direkt kopp- lad till ingångsdynan 16 vid en förbindningspunkt 36, medan dess kollektor är kopplad till en sådan referens- spänning som jord. Transistorns T4 bas är kopplad till en referensspänningskälla VREFl, som är negativ relativt jord, och dess kollektor är kopplad till ingångsdynan l6 via en resistor R2 vid en förbindningspunkt 38. Till för- bindningspunkten 38 är också ett par differentiellt koppla- de strömställartransistorer T5 och T6 anslutna, vilka bil- dar en andra strömkopplad logikgrind 40, för koppling till ingångsdynan 16 och den strömkopplade logikgrinden 34.

Transistorerna TS och T6 är gemensamt kopplade till den negativa spänningskällan VEE via en andra strömkälla G2, och transistorns T5 kollektor är kopplad till referens- spänningen, t ex jord. Transistorns T6 bas är kopplad till en tredje referensspänningskälla VREF2, vilken är mer nega- tiv än referensspänningskällan VREFI, och dess kollektor är kopplad i ett trådat ELLER-arrangemang tillsammans med alla andra utgångar från likartade ingångsavbrottsdetek- via en inverterare 42 och en buffert 28 till provnings- och diagnostiserings- stiftet 30. En parallellkoppling av en resistor R3 och en diod Dl i transistorns T6 kollektorkrets ger kollek- torspänningsnivån. Som ett ekempel på drivningen av in- gângsavbrottsdetektorn 20 mottages utsignalen från brickan l på ingången l6 via ledaren 14. Under förutsättning av typiska värden vid strömkopplad logik är det normala spän- ningssvinget ungefär 400 mV och värdet på referensspän- -200 mV, värdet på ningen VREFI vid transistorns T4 bas är 10 15 20 25 30 35 7812490-6 9 referensspänningen VREF2 vid transistorns T5 bas är -675mV och strömmen genom strömkällan Gl är 0,1 mA. Typiskt gäller också Rl=4O ohm och R2=30O ohm.

När utsignalen från utgången l2 har hög nivå (0,0 mV), har ingången och därmed transistorns T3 bas "hög" nivâ,_ varigenom transistorn T3 är ledande och ström flyter genom denna transistor, medan transistorn T4 är oledande, efter- -som referensspänningen på dess bas har ett lägre värde (VREFI < 0,0 V). När insignalen på dynan 16 har lâg nivå (-400 mv) är i stället transistorn T4 ledande och ström flyter genom denna, eftersom transistorns T4 bas har högre nivå (VREFI < ~400 mV) än transistorns T3 bas. Den första strömkopplade logikgrinden 34 övervakar_sâledes ingången 16 genom att dra en förutsägbar ström (0,1 mA) från driv- resistorn Rl i brickans l utgångsgrind 18, när ingången 16 har låg nivå. Denna minimala ström (0,1 mA) drages ge- nom resistorn R1 via transistorn T4 och resistorn R2 för att ej försämra utsignalen på dynan l2.

Under ovannämnda växlingar mellan hög och låg spän- ning växlar strömavledningen naturligtvis mellan transisto- rerna T3 och T4. Samma spänningssving uppfattas samtidigt av transistorns T5 bas, men eftersom transistorns T6 bas som referensspänning har en lägre spänning än den mest negativa spänningen i spänningssvinget (spänningen REF2 är mer negativ än -400 mV) kommer transistorn T6 att för- bli oledande till dess att transistorns T5 bas är mer ne- gativ än transistorns T6 bas. Spänningen på transistorns T6 kollektor är således normalt hög, eftersom ingen ström flyter genom transistorn T6 förrän transistorns T5 bas- spänning är lägre (dvs mindre än -675 mV).

I händelse av att resistansen hos ingångsdynan ökar, exempelvis genom korrosion, kommer följaktligen denna resistnnsökning att återspeglas i en ökning av spännings- fallet vid förbindningspunkten 38 och vid transistorns T5 bas. När spänningen på transistorns T5 bas når en punkt, där den är mer negativ än transistorns T6 bas, så blir transistorn TS oledande och transistorn T6 ledande. Ström- flödet genom transistorn T6 kommer att återspeglas som ett 7812490-6 10 15 20 25 30 35 , 10 spänningsfall vid transistorns T6 kollektor, vilket i sin tur kommer att inverteras av inverteraren 42 och åter- och diagnostiseringsstiftet 30, där II Il speglas på provnings- den normalt låga spänningen komer att övergå till nivå. ' _ Den strömkopplade logikgrinden 40 är således en kän- nare, vilken avkänner en ökning i resistansen via dynan 16. Kännaren 40 detekterar med andra ord inte endast öppna eller avbrutna ingångar vid exempelvis ingången l6 utan förutser också ett avbrott i det fall då resistansen grad- vis ökar mot ett öppet tillstånd, såsom genom korrosion eller någon annan försämring i ledningsförmâgan hos ingångs- stiftet. _ En första utföringsform av utgångskortslutningsdetek- l är visad i fig. 3, som visar denna ut- Såsom tidigare nämnts torn 22 i fig. föringsform av detektorn 22 i detalj. detekterar denna utgångskortslutningsdetektor 22 vissa kortslutningar på den strömkopplade logikbrickans utgångs- dynor, dvs kortslutningar till jord, kortslutningar till negativ matningskälla samt kortslutningar tillen annan utgång.

Typiskt är utgångsdynorna 12 (visade som l2a och l2b i denna figur) var och en kopplade via en sådan grind som grinden l8a resp l8b (delvis visade i fig. 2), vilken grind i sin tur är kopplad till utgângskortslutningsdetek- torn 22. Detektorkretsen 22 innefattar en första ström- kopplad logikgrind 44 i form av ett par differentiellt kopplade strömställartransistorer T7 och fß, vilkasemittrar gemensamt är kopplade till en negativ spänningskälla VEE via en strömkälla G3. Basen av transistorn T7 i grinden 44 är kopplad till ett spänningsdelarnät, som innefattar ett par resistorer R5 och R6, vilka är sammankopplade paral- lellt i en förbindningspunkt 46. Dessa resistorers mot- stående anslutningar är i sin tur kopplade en till den inverterade eller komplementära utgången från grinden l8a och den andra till den "sanna" utgången från samma grind l8a. På likartat sätt är transistorns T8 bas kopplad till ett likartat spänningsdelarnät, som innefattar resistorer 10 15 20 25 30 35 7812490-6 ll R7 och R8, vilka är parallellkopplade vid en förbind- ningspunkt 48, varjämte resistorn R7 är kopplad till den komplementära utgången från den andra grinden l8b och resistorn R8 är kopplad till den sanna utgången från denna grind. Det påpekas att i denna utföringsform dynan l2a är kopplad till den komplementära utgången från grinden 18, medan dynan l2b är kopplad till grindens l8b "sanna" utgång. (Härigenom skiljer sig denna utföringsform från den vilken ut- andra utföringsformen av denna detektor, föringsform skall förklaras i detalj längre fram.) Tran- sistorns T7 kollektor är vid en förbindningspunkt 50 ansluten till en första lastresistor R9, som i sin tur är ansluten till en andra referensspänningskälla, jord, medan transistorns T8 kollektor är ansluten vid en för- bindningspunkt 52 till en andra lastresistor Rl0, vilken i sin tur också är kopplad till referenskällan, jord.

Med dioder D2 resp D3 och två kondensatorer Cl resp C2 var sin av resistorerna R9 och Rl0 är Schottky- parallellkopplade. Transistorns T8 kollektor, resistorn Rl0, Schottky-dioden D3 och kondensatorn C2 är i sin tur 7 gemensamt kopplade till basen av en transistor TlO i en andra strömkopplad logikgrind 54, som innefattar transisto- rer Tl0, Tll och Tl2. Transistorns T7 kollektor, Schottky- dioden D2, resistorn R9 och kondensatorn Cl är också kopp- lade till transistorns Tll bas, medan transistorernas TIO och Tll kollektorer är kopplade till den andra referens- källan, är gemensamt kopplade till den negativa jord. Alla transistorernas TlO, Tll och Tl2emittrar spänningskällan VEE via en strömkälla G4. För att fullständiga beskrivningen av kretsen är transistorns Tl2 bas kopplad till en tröskel- spänning VTH och dess kollektor är kopplad via en förbind- och diagnostiserings- lastresistor Rl2 till ningspunkt 56 dels till provnings- stiftet 30 och dels i serie med en jord. _ Typiska värden i den ovan beskrivna utgångskortslut- ningsdetektorn är exempelvis spänningssving på grindarnas lßa och l8b utgångar på från 0,0 V till -400 mV, resistansvär- den på 1,7 kohm för resistorerna-R5-R8, resistansvärden på 7812490--6 ~ '10 15 20 25 30 35 12 2,5 kohm för resistorerna R9 och Rl0, resistansvärden på 400 ohm för resistorerna Rll och Rl3 samt ett resistans- värde på 800 ohm för resistorn Rl2.

I fråga om utgångskortslutningsdetektorns drift är de två grindarnas l8a och l8b båda utgångar dragna till de två spänningsdelarnäten, som innefattar de fyra resi- storerna RS-R8. Normalt är utsignalerna från dessa grindar sådana, att de två transistorerna T7 och T8 hålles i ett ledande tillstånd med lika stor ström flytande genom båda transistorerna. I detta tillstånd hålles transistorerna TlO och Tll oledande, eftersom deras bas är mer negativ (lägre) än tröskelspänningen VTH (-200 mV) på transistorns Tl2 bas. I likhet med den strömkopplade logikgrinden 40 i ingångsavbrottsdetektorn verkar-således den strömkoppla- de logikgrinden 44 som en kännare. Om någon av de "sanna" eller komplementära utgångarna från grindarna l8a och l8b kortslutes för att låta basen hos antingen transistorn T7 eller transistorn T8 få "hög" nivå, kommer emellertid den andra transistorn i den strömkopplade logikgrinden 44 att bli oledande, i vilket fall spänningen vid förbindnings- punkten 50 eller 52 kommer att få "hög" nivå, varigenom den ena eller den andra av strömstyrningstransistorerna Tl0 och Tll kommer att slå till och stoppa strömflödet genom transistorn Tl2 som följd av att basspänningsrefev rensvärdet VTH blir lägre än spänningen på basen av ifråga- varande transistor Tl0 resp Tll. I detta fall kommer spän- ningen i förbindningspunkten 56 att få "hög" nivå, eftersom strömmen genom transistorn Tl2 har avbrutits, vilket höjer den normalt låga spänningsnivån på provnings- och diagnos~ tiseringsstiftet 30 och anger ett fel eller en kortslutning vid en av de två utgångsgrindarna. ' Det skall här påpekas, att kondensatorerna Cl och C2, som är parallellkopplade med de två Schottky-dioderna D2 och D3 samt de två resistorerna R9 och Rl0, har till syfte att eliminera en falsk signal som följd av ett omkopplings- tillstånd, vilket skulle kunna induceras på grund av koaxialledningar, vilka kan vara kopplade till utgångs- grindarna och som för den strömkopplade logikgrinden 44 i vw' 10 15 20 25 30 35 '78-12490-6 13 kan se ut som en kortslutning. De två kondensatorerna a höjer tidskonstanten för resistor-diodkollektornätet, så att det tager längre tid att öka nivån till och över tröskelspänningen\H¶Dpå transistorns Tl2 bas, då tran-_ sistorn TIO eller Tll blir ledande.

Det skall här påpekas, att utgângskortslutnings- detektorn 22 övervakar ett par utgångsgrindar l8a och l8b, från vilka vardera endast en utgång är kopplad till externa kretsar, och en sådan detektor skulle övervaka sådana feltillstånd som kortslutning till jord, kortslut- ning till negativ matningskälla, kortslutningar till en annan utgång. I det fall att båda utgångarna från en ström- (se fig. l), dvs både dess sanna utgång och dess komplementutgång, var dragna kopplad logikgrind som grinden 18' till externa kretsar finns emellertid en möjlighet att dessa två utgångar kortslutes till varandra, vilket fel- tillstånd kretsen i fig. 3 ej skulle detektera. Som följd härav är den andra utföringsformen av denna utgångskort- slutningsdetektor 22' en modifiering av kretsen i fig. 3 och är närmare visad i fig. 4.

Av fig. 4 framgår det, att båda dynorna l2c och l2d är kopplade till enbart en utgângsgrind 18' och således är både den sanna utgången och komplementutgången från utgångsgrinden 18' anslutna till yttre kretsar. För att identifiera möjligheten av en kortslutning mellan de sanna och komplementära utgângarna är emellertid ingångar- na till utgångsgrinden 18' väsentligen dubblerade medelst en intern, strömkopplad logikgrind 60, som innefattar transistorer Tl4-Tl7, vilkas emittrar är gemensamt kopp- lade till en transistors Tl8 emitter i strömstyrande för- hållande.

Transistorns Tl8 bas har som referensspänning en tröskelspänning VTH, och transistorernas Tl4-Tl7 baser är kopplade till grindingângarna till utgângsgrínden 18'.

Transistorernas Tl4-Tl7 kollektorer är gemensamt kopplade till en förbindningspunkt 62 och via en lastresistor Rl4 till jord. Pâ likartat sätt är transistorns Tl8 kollektor kopplad till jord via en lastresistor Rl5 och även via en 7812490-6 10 15 20 25 30 35 . 14 förbindningspunkt 64 till en resistor R8', som är den ena av två resistorer i spänningsdelarnätet R7', R8', medan transistorernas Tl4-Tl7 kollektorer är kopplade via förbindningspunkten 66 till resistorn R6', som är den ena av två resistorer R5' och R6' i det andra spän- ningsdelarnätet¿ Det finns således två spänningsdelarnät, som innefattar resistorerna R5'-R8', motsvarande de lik- artat betecknade resistorerna i kretsen enligt fig. 2.

.Med undantag för en ytterligare, till spänningskällan VEE kopplad strömkälla G5 för matning av konstant ström till transistorernas Tl4-Tl8 emittrar arbetar således utgångs- kortslutningsdetektorn i fig. 4 identiskt med den i fig. 3 visade och samma hänvisningsnummer med tillägg av ett primtecken har använts i denna figur för komponenter, vil- ka fungerar på samma sätt som i fig. 3.

Nu hänvisas till fig. 5, som i detalj visar signa- turprovnings- och diagnostiseringskretsen 24 (STDD), inne- fattande klasskodgrinden 26_i fig. l. I denna figur är~ alla utgångar från ingângsavbrottsdetektorerna 20-20n visade som en ledare 70 och utgångarna från utgångskort- slutningsdetektorerna 22 och/eller 22' är visade som en ledare 72, vilka är förda till en negativ OCH-grind, tidigare benämnd buffert 28. Klasskodsgrinden 26 (CCD) är en negativ NAND-grind och en tredje negativ OCH-grind 76, benämnd signaturgrind (SIG), är kopplad till OCH-grin- den 28. Av NAND-grindens 26 fyra ingångsledare represen- terar tre, identifierade med siffrorna 2, 3 och 4_(i fig. 5 och i fig. l), de dynor på brickan som är avsedda för identifiering av brickans klass, dvs en registerbricka, en minnesbricka, en drivar-mottagarbricka eller en kom- binationsbricka (det inses att med tre ingångsledare en -identifiering av åtta olika brickklasser är möjlig). Ett flertal ingångar till OCH-grinden 76 är kopplade till brickans dynor och representerar en särskild brickas signa- tur (identifiering).

Den negativa NAND-grindens 26 utgång är kopplad till basen av en transistor T2l och OCH-grindens 28 utgång är kopplad till basen av en transistor T22 i en strömkopplad 10 15 20 25 30 35 '7812490-6 15 logikgrind 80, som innefattar transistorer T2l, T22 och T23, kopplade i strömstyrande förhållande. Transistorernas T2l, T22 och T23 emittrar är gemensamt kopplade till en konstantströmkälla G6 och sedan till en negativ spännings- källa VEE, och transistorns T23 bas är kopplad till en referensspänning VREF3. Transistorernas T2l och T22 kollek- torer är kopplade till jord, medan transistorns T23 kollek- tor är kopplad direkt till provnings- och diagnostiserings- stiftet 30 vid en förbindningspunkt 82. En resistor Rl5 är vid sin ena ände kopplad till förbindningspunkten 82 och vid den andra änden till en referenskälla, jord.

Provnings- och diagnostiseringsstiftet 30 är också kopplat till basen av en transistor T24 via en basresistor Rl6, vilken transistor ingår i en andra strömkopplad logikgrind 84, som innefattar två transistorer T24 och T25, vilkas emittrar gemensamt är kopplade till en negativ spänning VEE via en emitterresistor Rl7. Transistorns T25 bas är kopplad till en referensspänning ÜREF4. Transistorns T24 kollektor är kopplad till referenskällan, jord, medan transistorns T25 kollektor är kopplad vid en förbindnings- punkt 86 till en resistor RI8 och en diod D4, vilken senare låser spänningsnivân för transistorns T25 kollektor.

Förbindningspunkten 86 i grinden 84 är också kopplad till en inverterare 88, vars inverterade utgång är kopplad till bufferten 28 och vars ej inverterade utgång är kopplad till NAND-grinden 26 som en av dennas fyra ingångar samt också är kopplad via en förbindningspunkt 90 till basen av transistorn T22 i grinden 80, vilken förbindningspunkt 90 är belägen mellan buffertens 28 utgång och transistorn T22, för bildande av en trådad ELLER-förbindning.

Provnings- och diagnostiseringsstiftet 30 är vidare kopplat till basen av den ena av två transistorer T26 och T27, som bildar en tredje, strömkopplad logikgrind 92, via en basresistor Rl9, belägen mellan stiftet 30 och transistorns T26 bas. Den första transístorns T26 emitter är kopplad via en emitterresistor R20 till en konstant- strömkälla G7 och från denna till spänningskällan VEE, medan transistorns T27 emitter är kopplad direkt till G7 7812490-6 10 15 20 25 30 35 16 samt till resistorn R20. Transistorns T26 kollektor är kopplad till referenskällan, jord, medan transistorns 27 bas är kopplad till samma referenskälla, jord, och den senare transistorns kollektor via en förbindningspunkt 94 är kopplad till en ände av en till jord kopplad last- resistor R2l. Transistorns T27 kollektor är vid förbind- ningspunkten 94 också kopplad till en inverterare 96, vars inverterade utgång är kopplad till en ingång till OCH-grinden 76 (SIG) och vars andra utgång via en för- bindningspunkt 98 är kopplad till OCH-grindens 76 utgång under bildande av en trådad ELLER-anslutning.

Typiska värden i kretsen 24 i fig. 5 är -200 mV för 'den till transistorns T22 bas kopplade referensspänningen VREF3, -800 mV för referensspänningen VREF4, ett resistans- värde på 400 ohm för resistorerna R20 och R2l samt ett resistansvärde på 40 ohm för resistorn Rl5.

Beträffande arbetssättet för signaturprovnings- och diagnostiseringskretsen 24 hänvisas till flödesschemat i fig. 6. Under hänvisning till såväl fig. 5 som fig. 6 skall en förklaring ges av hur en serviceman på fältet skulle prova en bricka på plats. ' I I Det påminnes om att i händelse av att ett fel in- träffar, oavsett om en ingångsdyna är frånkopplad eller .en kortslutning uppträder på en utgång, en signal presen- teras för en iakttagare medelst indikeringsorganen 32.

Med hänvisning till flödesschemat i fig. 6 är således i ett första beslutsblock l0O, i vilket processen att diagnostisera_en provad bricka börjar, den första frågan huruvida provnings- och diagnostiseringsstiftet har hög eller låg nivå (0,0 V eller -400 mV). Eftersom provnings- och diagnostiseringsstiftet 30 normalt skall ha låg nivå, kommer iakttagaren, om nivån är hög, såsom angivet i be- handlingsblocket l02, att kontrollera beträffande "öppna" ingångar och "kortslutna" utgångar, härrörande från drif- ten av kretsarna, förklarade i samband med fig. 2, 3 och 4, och det är möjligt att hela undersökningen slutar på denna punkt.

Beträffande kretsen i fig. 5 skall det först påpekas 10 l5 20 25 30 35 7812490-6 17 att i grinden 80 spänningen VREF3 på transistorns T23 bas normalt är "hög" relativt den på transistorernas T2l och T22 baser, så att strömmen från konstantströmkällan G6 normalt flyter genom transistorn T23 och ger låg spänning i förbindningspunkten 82. I den strömkopplade logikgrinden 84 är också spänningen VREF4, vilken påtryckes transis- torns T25 bas, normalt lägre (VREF4 = -800 mV) än de nor- mala spänningssvingen på transistorns T24 bas (0,0 V till -400 mV), så att strömmen från den resistiva ström- källan Rl7 normalt flyter genom transistorn T24 och lämnar förbindningspunkten 86, som är kopplad till den normalt' “frånslagna" transistorn T25, på hög nivå. Med transistorns T27 bas kopplad direkt till jord i den strömkopplade lo- gikgrinden 92 är också transistorn T27 normalt “tillsla- gen" och ström från konstantströmkällan G7 flyter därige- nom, varvid förbindningspunkten 94 har låg nivå och tran- sistorn T26 är "frånslagen".

Av fig. 5 framgår det vidare att kretsarnas 20 ut- gångar är anslutna till ingångsledningen 70 och till OCH-grinden 28 via en inverterare 42, samt att kretsar- nas 22 och/eller 22' utgångar medelst ingångsledningar 72 är kopplade till OCH-grinden 28. Ledningen 70 har nor- malt hög spänning (0,0 mV) och ledningarna 72 har normalt låg nivå, när det ej finns något fel i någon av den pro- vade brickans ingångar eller utgångar, och OCH-grindens 28 utgång är normalt låg (varvid alla andra ingångar normalt är låga, såsom kommer att klart framgå av nedan- stående diskussion). OCH-grindens 28 utgång är kopplad till basen av den normalt "frånslagna" transistorn T22 i grinden 80. Om någon av ingângarna till OCH-grinden 28 från ingângsavbrottsdetektorerna och utgångskortslutnings- detektorerna får hög nivå på grund av ett fel i någon av den provade brickans ingångar eller utgångar, overksamgö- res emellertid OCH-grinden 28, varvid dess utgång får hög nivå (dvs mer positiv än referensspänningen VREF3, som ligger på -200 mV), varvid transistorn T22 blir le- dande, så att ström flyter genom denna och strömflödet genom transistorn T23 upphör. Upphörandet av strömflödet 7812490-6 10 15 20 25 30 35 18 genom transistorn T23 gör att kollektorspänningen i för~ bindningspunkten 82 får "hög" nivå liksom provnings- och diagnostiseringsstiftet 30, varigenom indikeringsorganen 32 i fic. l verksamgöres. 7 I I den händelse att provnings- och diagnostiserings- stiftet fortfarande har låg nivå är det klart, att den_ provade brickan uppvisar felaktig funktion, varvid en spänningskälla anslutes till provnings- och diagnosti- seringsstiftet 30. Denna spänningskälla kan vara vilken som helst lämplig, reglerad likströmskälla med förmåga ' att lämna i l,0 V vid 0-25 mA samt har spännings- och strömmätare, så att spänningen och strömmen kan över- -vakas. Detta är ett i beslutsblocket l02 åstadkommet steg. Samtidigt kopplas en ej visad prob med stift (till- ledare) i ett mot antalet ingångs- och utgångsdynor (eller stift) hos den provade brickan svarande antal till den provade brickan utan att denna drages ur sin hållare (sockel) eller kopplas bort från kretsen, till vilken den är ansluten, om den är fast inkopplad på ett krets- kort.

Av beslutsblocket l04 i fig. 6 framgår att om 25 mA erfordras för att upprätthålla -1,0 V på prov- nings- och diagnostiseringsstiftet 30 så kan teknikern urskilja att brickans rätta klass har identifierats (se behandlíngsblocket 106).

En brickklass identifieras genom påtryckning av en spänning på var och en av de härför avsedda dynorna hos en provad bricka medelst proben i en av operatören 'vald ordning. De härför avsedda dynorna är identifiera- de som ingångar 2, 3 och 4 till NAND-klasskodgrínden 26 (CCD) (se även fig. l), och detta sker genom åstadkomman- de av en sekvens av höga och låga nivåer (spänningar eller binära bitar), så att utsignalerna från brickans stift (om nödvändigt inverterad) samtliga kommer att bli låga på ledarna 2, 3 och 4. Valet av sekvenserna av spänningar på de ifrågakommande stiften kan vara resul- tatet av operatörens egen erfarenhet vid underhåll av de datoranordningar där brickan är belägen eller likartade io 15 20 25 30 35 h- 7812490-6 19 anordningar, och om valet är korrekt kommer 25 mA att erfordras för att upprätthålla spänningen -l,0 V på provnings- och diagnostiseringsstiftet 30. _ Skälet till detta krav på 25 mA kan förklaras med hjälp av fig. 5. Den spänning på -l,0 V som påtryckesl stiftet 30 gör basen av den normalt ledande transistorn T24 i grinden 84 mer negativ (-1,0 V är mer negativt än referensspänningen REF4 på -800 mV), så att transis- torn T24 kommer att bli oledande och strömmen flyta genom den nu ledande transistorn T25. Detta strömflöde återspeglas i att spänningen i förbindningspunkten 86 får låg nivå, vilket i sin tur återspeglar sig som en låg insignal till klasskodgrinden 26 som följd av inver- terarens 88 icke-inverterande utgång. Den icke-inverteran- de utgången från inverteraren 88 ger också låg spänning i förbindningspunkten 90 och på basen av transistorn T22 i grinden 80, medan inverterarens 88 inverterande utgång ger en hög spänning på bufferten 28 och gör dennas utsignal hög, men eftersom buffertens 28 utgång och inverterarens 88 icke-inverterande utgång i förbindningspunkten 90 är kopplade i ett trådat ELLER-arrangemang, förblir spän- ningen på transistorns T22 bas på låg nivå.

Eftersom ingångsledningen 1 till NAND-grinden 26 nu har låg nivå, kommer, om brickans klasskod har valts korrekt, alla ingångarna till NAND-grinden 26 att ha låg nivå. Grindens 26 utgång, som är kopplad direkt till basen av transistorn T2l i grinden 80, kommer genom att den nu har hög nivå att göra den normalt oledande transistorn T2l ledande, så att ström flyter från strömkällan G6 via transistorn T2l till jord. Samtidigt slås den normalt le- dande transistorn T23 från, så att strömmen på 25 mA från den till provnings- och diagnostiseringsstiftet anslutna strömkällan flyter genom resistorn Rl5 till jord (-l,0 V vid 25 mA genom 40 ohm, som är resistorns Rl5 värde).

Om brickans rätta klasskod ej hade valts av ingångarna 2, 3 och 4 till NAND-grinden 26 och någon skulle ha förblivit på hög nivå, så att transistorn T23 skulle ha förblivit ledande, så skulle resultatet bli att strömmen 7812490-6 10 15 20 25 So 35 20 på 25 mA, vilken av strömkällan tillföres provnings- och diagnostiseringsstiftet 30, skulle flyta till jord men detta skulle också strömmen via transistorn T23, var- för ett lägre värde än 25 mA skulle avläsas på strömkällans strömmätare._För iakttagaren skulle detta naturligtvis an- ge att den rätta klasskoden ej hade valts. _ Om den rätta klasskoden har valts genom ovanstående förlopp, såsom angivet i fig. 6, är det nästa steget att avlägsna källströmmen, såsom angivet i blocket 108.

Om å andra sidan en brickas rätta klasskod ej har valts, utföres, såsom visat i beslutsblocket ll0, en minskning av strömmen på provnings- och diagnostiseringsstiftet 30 till något mindre än 25 mA, såsom 15 mA.

I denna punkt i förloppet genomföres de-andra sju kombinationerna på stiften 2, 3 och 4 cykliskt, dvs valda höga och låga nivåer i olika ordning påtryckes stiften 2, 3 och 4, till dess att den rätta brickklasskoden slut- ligen återfinnes. Härvid stoppar operatören sekvensen på grund av det förhållandet att för att hålla ett värde -l,0 V på strömkällan strömstyrkan måste höjas till 25 mA som följd av grindens 26 arbetssätt (transistorn T25 i grinden 84 har förblivit tillslagen som följd av att spänningen -1,0 V fortfarande påtryckes provnings- och diagnostiseringsstiftet 30). I den händelse att den rätta klasskoden ej kan identifieras bland de kända klasskoder- na, såsom angivet i beslutsblocket 112, blir det klart för 7operatören.att den provade brickans signatur är okänd, och om ett fel fortfarande misstänkes skall brickan bytas ut.' _ ' Om å andra sidan brickans klasskod har identifierats (eftersom operatören kommer att känna till ordningen av höga och låga nivåer, som pâlagts ifrågavarande stift hos den provade brickan), är det nästa steget identifierat i ett behandlingsblock 114, där operatören inställer prov~ enheten för utförande av ett cykliskt påläggande av höga _och låga_spänningar i en känd rutin för erhållande av brickans signatur. Brickans klass kan naturligtvis iden- tifierasantingen före eller efter det att den negativa 10 15 20 25 30 3 7812490-6 21 spänningskällan avlägsnas från provnings- och diagnosti- seringsstíftet 30, eftersom operatören nu har nått fram till det tidigare identifierade steget, nämligen besluts- blocket 108.

Avlägsnandet av spänningen -1,0 V från stiftet 30 återför grinden 84 till dess normala driftstillstånd, dvs med transistorn T25 oledande och transistorn T24 ledande.

Transistorn T23 i grinden 80 återgår också till sitt nor- mala tillstånd, eftersom den transistorns T2l bas påtryckta spänningen nu är lägre än spänningen VREF3, som påtryckes transistorns T22 bas.

Såsom visat i blocket ll6 utgör nästa steg en änd- ring av polariteten för den provnings- och diagnostise- ringsstiftet 30 tillförda strömmen, och närmare bestämt matas 20 mA in i stiftet 30 och övervakas värdet på prov- enhetens voltmeter vid +0,4 V. Denna positiva spänning framträder i förbindningspunkten 82 genom att en ström på 10 mA flyter genom transistorn T23 och.en ström på 10 mA flyter genom resistorn Rl5 till jordl Samtidigt gör den positiva spänningen på +0,4 V den normalt oledande transistorn T26 i grinden 92 ledande, eftersom denna transistors basspänning nu är högre än den transistorns T27 bas påtryckta jordspänningen. Genom att transistorn T27 göres oledande höjes spänningen i förbindningspunkten 94 på transistorns T27 kollektor till en hög nivå (0,0 V), vilken nivå inverteras av inverteraren 96 för påtryckning av en låg spänning på ingången till OCH-signaturgrinden 76, vilket gör det möjligt för grinden 76 att mottaga brickans signaturer, vilka nu cykliskt genomgås av opera- tören. När den inverterade utgången från inverteraren 96 fick låg nivå, fick den icke-inverterade utgången vid förbindningspunkten 98 hög nivå och kombinerades därmed _ med den normalt höga utsignalen från grinden 76, vilket kommer att ge en hög nivå på bufferten 28, som kommer att förbli på hög nivå till dess att grindens 76 ingångar _samtliga får låg nivå, varvid förbindningspunkten 98 får låg nivå som följd av det trådade ELLER-arrangemanget.

Då systemet nu är klart för cyklisk genomgång av signa- 7812490-6 10 15 22 turerna, såsom framgår av blocket ll8, sekvenserar operatören den provade brickan genom ett antal cykler (ungefär 65 kilocykler), varvid brickans signatur skall presenteras som enbart låga nivåer på ingångsledningarna till OCH-grinden 76. Om härvid spänningen på provnings- och diagnostiseringsstiftet 30, såsom framgår av besluts- blocket 120, fortfarande ligger på +0,4 V (eftersom alla ingångarna till bufferten 28 nu har låg nivå) urskiljer operatören att den korrekta signaturen presenterades för OCH-grinden 76, varför i överensstämmelse med besluts- blocket l22 den provade brickan fungerar korrekt. I hän- gdelse av att brickan är felbehäftad och den för grinden 76 presenterade signaturen är felaktig kommer spänningen på stiftet 30 ej att vara +0,4 V, vilket anger att brickan är felbehäftad och skall bytas ut.

När brickan väl har ersatts startas förloppet från början för undersökning om den nyínsatta brickan nu fun- gerar korrekt.

Claims (16)

1. 0 15 20 25 30 35 7812490-6 23 PATENTKRAV « l. Sätt att prova en integrerad kretsbricka, på vilken en klasskod är kodad, vilken kod anger den typ av logikfunktion som är realiserad i kretsen, genom alstring av ett flertal binära signaler, när signaler från en yttre källa tillföres brickan, som också har ett flertal ingàngs- och utgàngsorgan, k ä n n e t e c k - n a t av åtgärderna att mäta ström- och spänningsni- våerna på ett valt utgångsorgan på brickan och bestämma huruvida mätningarna ligger pá förutbestämda nivåer samt att mata en ström av en första polaritet till det valda utgångsorganet och mata ett flertal logiksignaler till valda ingångsorgan på brickan till dess att spän- ningen pà det valda utgångsorganet uppnår ett förut- bestämt värde, varigenom brickans klass fastställes genom igenkänning av brickans klasskod.

2. Sätt enligt patentkravet l, k ä n n e t e c k - n a t därav, att en ström av en andra polaritet till- föres det valda utgångsorganet, att logiska signaler cykliskt tillföres brickans ingàngsorgan ett givet antal gånger för utvecklande av logiska signaturutsignaler från brickan samt att spänningen på det valda utgångs- organet mätes under det att strömmen av den andra pola- riteten på det valda utgàngsorganet upprätthàlles för att därmed fastställa huruvida kretsens logikfunktion är felbehäftad eller ej.

3. Integrerad krets med en logikfunktionskrets- anordning för utförande av en funktion i ett databe- handlingssystem samt med ett flertal ingàngs- och utgàngsorgan för förbindning av den integrerade kretsen med andra don i systemet, k ä n n e t e c k n a d av en felavkännande kretsanordning (20, 22, 22'), som är kopplad till ett valt utgàngsorgan (30) bland utgångs- organen och till ingångsorganen och/eller det eller de ej valda utgàngsorganen för avkänning av ett fel vid ingångsorganen och/eller det eller de ej valda ut- 7812490-6- 24 gångsorganen samt för alstring av en signal på det valda utgångsorganet (30).

4. Krets enligt patentkravet 3, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den felavkännande kretsanordningen (20), som är kopplad till ingångsorganen (16), inne- fattar en första (34) och en andra (40) logikgrind, varvid den första grinden är kopplad till ingàngsorganen och till den andra grinden för~avkänning av en resistans- höjning vid ingångsorganen och ändring av den andra grindens tillstånd som gensvar på resistanshöjningen, så att den andra grinden kommer att avge nämnda signal till det valda utgàngsorganet (30).

5. Krets enligt patentkravet 3 eller 4, k ä n - n e t e c k n a d därav, att den felavkännande krets- anordningen (22, 22'), som är kopplad till det eller de ej valda utgàngsorganen (12), innefattar första (44) och andra (S4) logikgrindar samt spänningsavkännande organ (RS, ... R8), som är kopplade till det eller de ej valda utgàngsorganen, varvid varje grind har ett initialtillstând genom de spänningsavkännande organens påverkan, den första grinden är kopplad till de spän- 2 ningsavkännande organen och till den andra grinden för avkänning av en onormal ändring av spänningsnivån vid det eller de ej valda utgàngsorganen och för ändring av den andra grindens tillstånd som gensvar på den onormala spänningsändringen, så att den andra grinden avger nämnda signal till det valda utgângsorganet (30).

6. Krets enligt något av patentkraven 3-5 med i kretsen kodade klasskodsorgan, vilka som gensvar på, från en yttre källa tillförda signaler kommer att alstra ett mönster av binära signaler, som identifierar den inbegripna bricktypen, samt med ett flertal ingångs- och utgångsorgan, k ä n n e t e c k n a d av en fel- avkännings- och provkretsanordningen, som är kopplad till ett valt av utgàngsorganen (30), och till klasskods- organen, samt organ för bestämning av den felavkännings- och provkretsanordningen innehållande brickans klass genom alstring av en signal pà det valda utgångsorganet, 7812490-6 25 när brickans rätta klass är vald.

7. Krets enligt patentkravet 6, k ä n n e t e c k - n a d därav, att organen för bestämning av brickklassen innefattar en logikgrind (80), som är kopplad till det valda utgàngsorganet, kretsorgan (28) för att hålla grinden i ett tillstànd vid tillförsel av en vald ström- och spänningsnivå av given polaritet på det valda ut- gàngsorganet samt för ändring av grinden till ett andra tillstànd, när brickans rätta klass är vald.

8. Krets enligt något av patentkraven 3-7 med en till sin logikfunktionskretsanordning korrelerad signa- tur, k ä n n e t e c k n a d av organ för att som gen- svar på ett valt utgàngsorgan (30) tillförda signaler igenkänna brickans signatur och därmed detektera even- tuellt fel i brickans logikfunktionskretsanordning genom alstring av en signal på det valda utgångsorganet.

9. Krets enligt patentkravet 8, k ä n n e t e c k - n a d därav, att organen för att som gensvar på det valda utgångsorganet (30) tillförda signaler igenkänna brickans signatur innefattar första (80), andra (97) och tredje (84) logikgrindar, vilka var och en är kopp- lade till det valda utgàngsorganet, kretsorgan (26, 28, 76) för att bibehålla varje grind i ett initial- tillstànd vid tillförseln av en vald strömnivà av given polaritet till det valda utgângsorganet samt organ för ändring av tillståndet för en av grindarna till ett andra tillstànd, när brickans signatur är igenkänd.

10. Krets enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den första grinden och spänningskän- nande organ är kopplade till ett par ej valda utgångs- organ (l2a, l2b).

11. ll. Krets enligt patentkravet S, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den första grinden och spänningskän- nande organ är kopplade till ett enda ej valt utgångs- organ.

12. l2. Krets enligt patentkravet 9, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den första grinden (80) i organen för igenkänning av bricksignaturen utgör del av samma grind. '7812490-6 r 26 (80) i organen för bestämning av brickklassen samt att den givna polariteten av strömmen för val av signaturen är motsatt den givna polariteten av strömmen för be- stämning av brickklassen.

13. Krets enligt patentkravet 4, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den första grinden (34) innefattar första (T3) och andra (T4) transistorer, vilka är kopp- lade i strömstyrande förhållande, och att den andra' grinden (40) innefattar tredje (T5) och fjärde (T6) transistorer, vilka är kopplade i strömstyrande för- hållande, varvid den första transistorns och den tredje transistorns baser är kopplade till ingångsorganen (16), medan den andra transistorns och den fjärde transistorns baser är kopplade till källor av olika spänningsnivåer, så att den första grinden kommer att som gensvar på en resistanshöjning vid ingângsorganen ändra tillstånd före en tillstàndsändring i den andra grinden.

14. Krets enligt patentkravet 5, k ä n n e t e c k - n a d därav, att den första grinden (44) innefattar första (T7) och andra (T8) transistorer, som är kopplade i strömstyrande förhållande samt att de spänningsav- kännande organen innefattar ett par spänningsdelarnät (R5, ... RB), varvid den första transistorns (T7) bas är kopplad till det första spänningsdelarnätet (R5, R6) och den andra transistorns (T8) bas är kopplad till det andra spänningsdelarnätet (R7, R8), samt att den andra grinden (54) innefattar tredje (T40), fjärde (T4l) och femte (T42) transistorer, varvid de tredje och fjärde transistorerna är kopplade till den femte tran- sistorn i strömstyrande förhållande; samt att de tredje och fjärde transistorernas baser är kopplade till de första och andra transistorernas kollektorer på sådant sätt, att den första grindens tillståndsändring kommer att ändra den andra grindens tillstånd, så att den femte transistorn kommer att avge nämnda signal till det valda utgångsorganet (30).

15. l5. Krets enligt patentkravet 7, k ä n n e t e c k - n a d därav, att grinden (80) innefattar första (T22) 7812490-6 27 och andra (T23) transistorer, kopplade i strömstyrande förhållande, varvid den första transistorns (T22) bas är kopplad till en NAND-grind (28) och den andra tran- sistorns bas är kopplad till en källa (VREF3) för en spänning av given nivå, den andra transistorns kollektor' är kopplad till det valda utgàngsorganet (30) och grin- den är i ett utgångstillstånd, när en given spänning och ström tillföres det valda utgångsorganet, och ändras till ett andra tillstånd, när valda logiksignaler till- föres NAND-grindens ingång. l

16. Krets enligt patentkravet 9, k ä n n e t e c k - n a d därav, att var och en av grindarna har ett par transistorer kopplade i strömstyrande förhållande, var- vid kollektorn av en av transistorerna i den första grinden är kopplad till det valda utgàngsorganet (30), en OCH-grind, basen av nämnda transistorer är kopplad till en första spänningskälla (VREF3), medan basen av den andra transistorn är kopplad till OCH-grindens (28) utgång, basen av en av transistorerna i den andra grin- den (97) är kopplad till det valda utgångsorganet, medan basen av den andra transistorn (T27) är kopplad till en andra spänningskälla, basen av en av transistorerna (24) i den tredje grinden (84) är kopplad till det valda utgångsorganet, medan basen av den andra transistorn (25) är kopplad till en tredje spänningskälla (VREF4), den senare transistorns kollektor är kopplad till OCH- grinden (28) för att åstadkomma utkoppling av 0CH-grin- den till den första grinden och en andra OCH-grind (26) för mottagning av dess signaturinsignaler, och den andra OCH-grindens utgång är kopplad till den första OCH- grinden, så att strömmen av ett givet värde och en given polaritet, tillförd det valda utgångsorganet (30), kom- mer att reagera som en spänning av en känd nivå, om bricksignaturen igenkännes.