SA518391866B1 - إلكترودات ضوئية وخلايا كهروكيميائية ضوئية مضاءة بواجهة ركيزة-إلكترود - Google Patents
إلكترودات ضوئية وخلايا كهروكيميائية ضوئية مضاءة بواجهة ركيزة-إلكترود Download PDFInfo
- Publication number
- SA518391866B1 SA518391866B1 SA518391866A SA518391866A SA518391866B1 SA 518391866 B1 SA518391866 B1 SA 518391866B1 SA 518391866 A SA518391866 A SA 518391866A SA 518391866 A SA518391866 A SA 518391866A SA 518391866 B1 SA518391866 B1 SA 518391866B1
- Authority
- SA
- Saudi Arabia
- Prior art keywords
- photoelectrode
- collector
- type
- contacts
- emitter
- Prior art date
Links
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 83
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims abstract description 61
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 50
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 50
- 239000010411 electrocatalyst Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims abstract description 26
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 29
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 27
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims description 24
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 16
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 16
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 7
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 4
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 4
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 4
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 3
- 230000001699 photocatalysis Effects 0.000 claims description 3
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000006260 foam Substances 0.000 claims description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000011941 photocatalyst Substances 0.000 claims description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 claims description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 24
- 239000010405 anode material Substances 0.000 claims 7
- 239000010406 cathode material Substances 0.000 claims 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 3
- 235000008001 rakum palm Nutrition 0.000 claims 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 2
- ABYZSYDGJGVCHS-ZETCQYMHSA-N (2s)-2-acetamido-n-(4-nitrophenyl)propanamide Chemical compound CC(=O)N[C@@H](C)C(=O)NC1=CC=C([N+]([O-])=O)C=C1 ABYZSYDGJGVCHS-ZETCQYMHSA-N 0.000 claims 1
- YDHOAQXHVQTASS-UHFFFAOYSA-N 3-amino-n-hydroxypropanamide Chemical compound NCCC(=O)NO YDHOAQXHVQTASS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 101710179738 6,7-dimethyl-8-ribityllumazine synthase 1 Proteins 0.000 claims 1
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 claims 1
- 101710186608 Lipoyl synthase 1 Proteins 0.000 claims 1
- 101710137584 Lipoyl synthase 1, chloroplastic Proteins 0.000 claims 1
- 101710090391 Lipoyl synthase 1, mitochondrial Proteins 0.000 claims 1
- 241001325209 Nama Species 0.000 claims 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 claims 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 1
- 239000003014 ion exchange membrane Substances 0.000 claims 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims 1
- 239000002574 poison Substances 0.000 claims 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 claims 1
- 238000001881 scanning electron acoustic microscopy Methods 0.000 claims 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 109
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 13
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 13
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 12
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 11
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 9
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 9
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 8
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 7
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 6
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 5
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 5
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- -1 silicon nitrides Chemical class 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M Sodium bicarbonate Chemical compound [Na+].OC([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 4
- DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N molybdenum nickel Chemical compound [Ni].[Mo] DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 3
- PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L Sodium Sulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=O PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 3
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 3
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 3
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 3
- 229910001487 potassium perchlorate Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Inorganic materials [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052938 sodium sulfate Inorganic materials 0.000 description 3
- 235000011152 sodium sulphate Nutrition 0.000 description 3
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 2
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- USOPFYZPGZGBEB-UHFFFAOYSA-N calcium lithium Chemical compound [Li].[Ca] USOPFYZPGZGBEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007809 chemical reaction catalyst Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- KKXBBXAHWYSVBG-UHFFFAOYSA-L dipotassium sulfate hydrochloride Chemical compound Cl.[K+].[K+].[O-]S([O-])(=O)=O KKXBBXAHWYSVBG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- AXZAYXJCENRGIM-UHFFFAOYSA-J dipotassium;tetrabromoplatinum(2-) Chemical compound [K+].[K+].[Br-].[Br-].[Br-].[Br-].[Pt+2] AXZAYXJCENRGIM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 2
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006213 oxygenation reaction Methods 0.000 description 2
- 229920005575 poly(amic acid) Polymers 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- 235000015497 potassium bicarbonate Nutrition 0.000 description 2
- 229910000028 potassium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011736 potassium bicarbonate Substances 0.000 description 2
- BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L potassium carbonate Chemical compound [K+].[K+].[O-]C([O-])=O BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- TYJJADVDDVDEDZ-UHFFFAOYSA-M potassium hydrogencarbonate Chemical compound [K+].OC([O-])=O TYJJADVDDVDEDZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 235000017557 sodium bicarbonate Nutrition 0.000 description 2
- 229910000030 sodium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000013112 stability test Methods 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004832 voltammetry Methods 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- QVCUKHQDEZNNOC-UHFFFAOYSA-N 1,2-diazabicyclo[2.2.2]octane Chemical compound C1CC2CCN1NC2 QVCUKHQDEZNNOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QNNJHBNTHVHALE-UHFFFAOYSA-N 2-fluoro-5-iodobenzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC(I)=CC=C1F QNNJHBNTHVHALE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LUMNWCHHXDUKFI-UHFFFAOYSA-N 5-bicyclo[2.2.1]hept-2-enylmethanol Chemical compound C1C2C(CO)CC1C=C2 LUMNWCHHXDUKFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BSFODEXXVBBYOC-UHFFFAOYSA-N 8-[4-(dimethylamino)butan-2-ylamino]quinolin-6-ol Chemical compound C1=CN=C2C(NC(CCN(C)C)C)=CC(O)=CC2=C1 BSFODEXXVBBYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000004998 Abdominal Pain Diseases 0.000 description 1
- 244000144619 Abrus precatorius Species 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- UQLLWWBDSUHNEB-CZUORRHYSA-N Cefaprin Chemical compound N([C@H]1[C@@H]2N(C1=O)C(=C(CS2)COC(=O)C)C(O)=O)C(=O)CSC1=CC=NC=C1 UQLLWWBDSUHNEB-CZUORRHYSA-N 0.000 description 1
- XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-M Chlorate Chemical class [O-]Cl(=O)=O XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000002881 Colic Diseases 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 240000003550 Eusideroxylon zwageri Species 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-M Formate Chemical compound [O-]C=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 101100380295 Mus musculus Asah1 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000007832 Na2SO4 Substances 0.000 description 1
- 229910003296 Ni-Mo Inorganic materials 0.000 description 1
- 108010067035 Pancrelipase Proteins 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005103 Si3Ny Inorganic materials 0.000 description 1
- VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M Sodium acetate Chemical compound [Na+].CC([O-])=O VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N ZrO2 Inorganic materials O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HJDJUULBFHNKAL-UHFFFAOYSA-L [Cl-].[K+].[Cl-].S(=O)(=O)(O)O.[K+] Chemical compound [Cl-].[K+].[Cl-].S(=O)(=O)(O)O.[K+] HJDJUULBFHNKAL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- GLCMKLYUAGYOPL-UHFFFAOYSA-M [O-2].[Mg+2].[F-].[Mg+2] Chemical compound [O-2].[Mg+2].[F-].[Mg+2] GLCMKLYUAGYOPL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- BKNFUOQTYQUEIX-UHFFFAOYSA-N [Si+2]=O.[O-2].[O-2].[Zr+4] Chemical compound [Si+2]=O.[O-2].[O-2].[Zr+4] BKNFUOQTYQUEIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- FJMNNXLGOUYVHO-UHFFFAOYSA-N aluminum zinc Chemical compound [Al].[Zn] FJMNNXLGOUYVHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005349 anion exchange Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- ZFXVRMSLJDYJCH-UHFFFAOYSA-N calcium magnesium Chemical compound [Mg].[Ca] ZFXVRMSLJDYJCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- RVYIIQVVKDJVBA-UHFFFAOYSA-N carbon monoxide;methane Chemical compound C.O=[C] RVYIIQVVKDJVBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 238000006555 catalytic reaction Methods 0.000 description 1
- 229940081090 cefa Drugs 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- QCCDYNYSHILRDG-UHFFFAOYSA-K cerium(3+);trifluoride Chemical compound [F-].[F-].[F-].[Ce+3] QCCDYNYSHILRDG-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000004081 cilia Anatomy 0.000 description 1
- 239000002322 conducting polymer Substances 0.000 description 1
- 229940092125 creon Drugs 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002484 cyclic voltammetry Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- NHSCRWJPZDNMBU-UHFFFAOYSA-L dipotassium carbonic acid carbonate Chemical compound [K+].[K+].OC([O-])=O.OC([O-])=O NHSCRWJPZDNMBU-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZPWVASYFFYYZEW-UHFFFAOYSA-L dipotassium hydrogen phosphate Chemical compound [K+].[K+].OP([O-])([O-])=O ZPWVASYFFYYZEW-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000396 dipotassium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019797 dipotassium phosphate Nutrition 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004924 electrostatic deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- ISNICOKBNZOJQG-UHFFFAOYSA-O guanidinium ion Chemical compound C[NH+]=C(N(C)C)N(C)C ISNICOKBNZOJQG-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ULFQGKXWKFZMLH-UHFFFAOYSA-N iridium tantalum Chemical compound [Ta].[Ir] ULFQGKXWKFZMLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OBTSLRFPKIKXSZ-UHFFFAOYSA-N lithium potassium Chemical compound [Li].[K] OBTSLRFPKIKXSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000000 metal hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004692 metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000006262 metallic foam Substances 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000010755 mineral Nutrition 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N molybdenum disulfide Chemical compound S=[Mo]=S CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 1
- 230000001338 necrotic effect Effects 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002826 nitrites Chemical class 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000003463 organelle Anatomy 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 235000021317 phosphate Nutrition 0.000 description 1
- 150000003013 phosphoric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000029553 photosynthesis Effects 0.000 description 1
- 238000010672 photosynthesis Methods 0.000 description 1
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N potassiosodium Chemical compound [Na].[K] BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000027 potassium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000015320 potassium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 1
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 1
- LWIHDJKSTIGBAC-UHFFFAOYSA-K potassium phosphate Substances [K+].[K+].[K+].[O-]P([O-])([O-])=O LWIHDJKSTIGBAC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 229910052939 potassium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L potassium sulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S([O-])(=O)=O OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000011253 protective coating Substances 0.000 description 1
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- CMIQNFUKBYANIP-UHFFFAOYSA-N ruthenium tantalum Chemical compound [Ru].[Ta] CMIQNFUKBYANIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000001848 seam cell Anatomy 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 1
- 239000001632 sodium acetate Substances 0.000 description 1
- 235000017281 sodium acetate Nutrition 0.000 description 1
- FTZNYGSHSMZEIA-UHFFFAOYSA-M sodium;hydrogen carbonate;sulfuric acid Chemical compound [Na+].OC([O-])=O.OS(O)(=O)=O FTZNYGSHSMZEIA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
- GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N trimethylamine Chemical compound CN(C)C GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25B—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
- C25B1/00—Electrolytic production of inorganic compounds or non-metals
- C25B1/50—Processes
- C25B1/55—Photoelectrolysis
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25B—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
- C25B11/00—Electrodes; Manufacture thereof not otherwise provided for
- C25B11/04—Electrodes; Manufacture thereof not otherwise provided for characterised by the material
- C25B11/051—Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25B—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
- C25B11/00—Electrodes; Manufacture thereof not otherwise provided for
- C25B11/04—Electrodes; Manufacture thereof not otherwise provided for characterised by the material
- C25B11/051—Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier
- C25B11/055—Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier characterised by the substrate or carrier material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25B—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
- C25B9/00—Cells or assemblies of cells; Constructional parts of cells; Assemblies of constructional parts, e.g. electrode-diaphragm assemblies; Process-related cell features
- C25B9/17—Cells comprising dimensionally-stable non-movable electrodes; Assemblies of constructional parts thereof
- C25B9/19—Cells comprising dimensionally-stable non-movable electrodes; Assemblies of constructional parts thereof with diaphragms
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25B—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
- C25B9/00—Cells or assemblies of cells; Constructional parts of cells; Assemblies of constructional parts, e.g. electrode-diaphragm assemblies; Process-related cell features
- C25B9/70—Assemblies comprising two or more cells
- C25B9/73—Assemblies comprising two or more cells of the filter-press type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/20—Light-sensitive devices
- H01G9/2022—Light-sensitive devices characterized by he counter electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/20—Light-sensitive devices
- H01G9/2027—Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode
- H01G9/2031—Light-sensitive devices comprising an oxide semiconductor electrode comprising titanium oxide, e.g. TiO2
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/02002—Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations
- H01L31/02005—Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02008—Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells or solar cell modules
- H01L31/0201—Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells or solar cell modules comprising specially adapted module bus-bar structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0216—Coatings
- H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/022441—Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/048—Encapsulation of modules
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
- H01L31/0682—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells back-junction, i.e. rearside emitter, solar cells, e.g. interdigitated base-emitter regions back-junction cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/186—Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
- H01L31/1868—Passivation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/542—Dye sensitized solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P20/00—Technologies relating to chemical industry
- Y02P20/10—Process efficiency
- Y02P20/133—Renewable energy sources, e.g. sunlight
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Hybrid Cells (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Electrodes For Compound Or Non-Metal Manufacture (AREA)
- Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
Abstract
يتعلق الاختراع الحالي بكشف إلكترود ضوئي photoelectrode لخلية كهروكيميائية ضوئية photoelectrochemical cell. يضم الإلكترود الضوئي خلية شمسية خلفية التماس back-contact solar cell تتضمن باعث emitter وملمسات مجمع collector تمت مباعدتها بفتحات أولى. تم تجميع ملمسات الباعث والمجمع على التوالي في قضيب توصيل باعث emitter busbar وقضيب توصيل مجمع collector busbar. يتضمن الإلكترود الضوئي أيضاً طبقة تخميل ملمس contact passivation layer لفصل ملمسات الباعث وملمسات المجمع عن الإلكتروليت electrolyte عند الاستخدام. تتضمن طبقة تخميل الملمس أيضاً فتحات ثانية تتوافق مع الفتحات الأولى. يتضمن الإلكترود الضوئي أيضاً طبقة راتينج resin layer تغطي الفتحات وجزءًا من طبقة تخميل الملمس بحيث إنه في الاستخدام تعترض نواقل الشحنة charge carriers القادمة من ملمسات الباعث فقط طبقة تخميل الملمس في طريقها إلى الإلكتروليت بينما يتم تجميع نواقل الشحنة القادمة من ملمسات المجمع في قضيب توصيل المجمع. تم أيضاً تجهيز طبقة حفازة كهربائية electrocatalyst layer تغطي على التوالي طبقة الراتينج و/أو طب
Description
إلكترودات ضوئية وخلايا كهروكيميائية ضوئية مضاءة بواجهة ركيزة -إلكترود Substrate-Electrode interface Illuminated Photoelectrodes and Photoelectrochemical cells الوصف الكامل
خلفية الاختراع
يتعلق الاختراع الحالي بإلكترودات ضوئية photoelectrodes لخلايا كهروكيميائية ضوئية filter-press كهروكيميائية ضوئية لمرشح كبس LIA لا سيما photoelectrochemical cells
يتعلق الكشف أيضاً بطرق لتصنيع تلك الإلكترودات الضوئية وبخلايا كهروكيميائية ضوئية
تتضمنها.
الخلايا الكهروكيميائية الضوئية لأكسدة oxidation واختزال reduction (أخسدة (redox التفاعلات
أمر معروف جيدًا. في الخلية الإلكروليتية الضوئة cell عترراه101061600م» على سبيل المثال
يمكن اختزال ثانى أكسيد carbon dioxide Osos (0) على الكاثود cathode بينما يأخذ نشوء
الأكسجين oxygen مكانه على الأنود anode الاختزال الكهروكيميائي Electrochemical reduction 0 لثاني أكسيد Osos أمر معروف جيدًا لإنتاج مركبات عضوية .organic compounds
Sb يمكن اختزال الماء إلى هيدروجين hydrogen وهي الحالة التي يتم فيها الحصول على
هيدروجين في الكاثود بينما ينشاً الأكسجين على الأنود. شق الماء تحت الإشضعاع هو مسار
معروف جيدًا لإنتاج هيدروجين كوقود chemical fuel (Alas نظيف.
تعرف إلكترودات ضوؤئية مبنية على ماصات absorbers مصووعة من أشباه موصلات semiconductors 5 ذوات فجوات نطاقية موجية band gaps في النطاق الأوسط للطيف الشمسي
solar spectrum لتحسين كفاءة امتصاص الفوتون photon absorption تم استخدام تلك
الإلكترودات الضوئية aL) الإنتاجية في عمليات كهروكيميائية ضوئية photoelectrochemical
processes للوصول إلى مستويات أعلى لشدة التيار current densities عن تلك التي يتم الحصول
عليها مع ماصات أكسيد معدني metal oxide والتي تكون Bale ذوات فجوات نطاقية موجية أعلى 0 (على سبيل المثال أشباه موصلات عربضة النطاق broadband semiconductors مثل ثانى أكسيد
التاتينيوم010:06 titanium (1102) وفواقد أكبر تحدثها sale) تجميع lef للنواقل المتولدة بالضوء
«silicon مثل سليكون r materials diffusion lengths وأطوال انتشار photogenerated carriers
مركبات 111-61 (آرسينيد جاليوم (GaAs) gallium arsenide أو فوسفيد جاليوم gallium phosphide
(GaP) من بين أشياء أخرى) أو شالكوجينايدات chalcogenides (سى of أس CIS أو كيسترايتات Kesterites من بين أشياء أخرى) في عمليات كهروكيميائية ضؤئية لزيادة مستويات شدة التيار. العلاقات المتبادلة لفجواتها النطاقية مع الطيف الشمسي؛ اختيارات التخميل passivation للحصول على سرعات صغيرة لإعادة تجميع سطح مع الزيادة الناتجة في عمر النواقل الأقلية و؛ في نفس الوقت؛ إمكانية التحكم في مستوى التدميم doping level تسمح بتحقيق مستويات ef لشدة التيار إلى حدٍ بعيد عن تلك التي يتحصل عليها مع ماصات أكسيد معدني ذوات فجوات نطاقية أعلى وزيادة في فلطية الدائرة المفتوحة copen circuit voltage قريبة من قيمها النظرية القصوىي. تم الحصول على أمثلة لمستويات لشدة التيار باستخدام ماصات مختلفة قد تكون على سبيل المثال إلكترودات ضوئية ثانى أكسيد التاتينيوم: 1. 2 مللي Caf mal وإلكترودات ضوئية على أساس 0 سليكون: 18 Caf mal A Bale ما يتم استخدام تلك الإلكترودات الضوئية مع سقوط الضوء على واجهة إلكتروليت-إلكترود (EE sell) Electrolyte-Electrode interface أي يأخذ تفاعل حفزي كهروضوئي photoelectrocatalytic reaction مكانه في الجانب المضاء illuminated side من الإلكترود الضوئي photoelectrode وبالتالي لا يمكن استخدامه Beis على سبيل المثال؛ كإلكترودات 5 ضوئية على WIA كهروكيميائية ضوئية (PEC) photoelectrochemical cells على سبيل المثال مع تكوين مرشح كبس لتطوير نظم حفزية كهروضوئية .photoelectrocatalytic systems في تلك النظم ؛ تحتاج الفوتونات photons لعبور محلول إلكتروليتي electrolyte solution مع الفاقد الناتج لجز منها بإمتصاصات في المحلول الإلكتروليتي. ومن ثم يتطلب الأمر إلكتروليت عالي النفاذية high transmittance electrolyte في حدود الطاقة للطيف الشمسي. علاوة على ذلك؛ Jie 0 استخدام طبقات الحافزات الكهريائية Jayers of electrocatalysts لتنشيط عمليات حفزية ضوئية photocatalytic processes عامل مقيد limiting factor آخر لامتصاص الفوتون حيث إنه عامل مقيد للنفاذية الفعالة للنظام. إضافة lla يمثل ترسب طبقات الحفازات الكهربائية على الواجهة حيث تتم إضاءتها Sele مقيدًا لتحسين كلا من المعالجات التخميلية passivation treatments لزيادة عمر النواقل الأقلية فضلاً عن تحسين تصميم النظام (من وجهة نظر بصرية) على سبيل 5 المثال لتجهيز طبقة ضد الانعكاس .antireflective layer
تستخدم نظم معروفة أخرى سليكون رقاقة/ركيزة wafer/substrate مع سقوط الضوء على واجهة ركيزة-إلكترود Substrate-Electrode (مضاءة ب (SE مع lh تحت إضاءة ركيزة-إلكترود تكون واحدة الإلكترود-إلكروليت على الجانب المقابل نسبة إلى الضوء الساقط ويسبب سماكة الماص absorber (الذي Bale ما يكون أكبر من طول انتشار الناقل (carrier diffusion length تفقد معظم الإلكترونات electrons بإعادة تجميع قريباً من سطح الركيزة. ومن ثم يتقيد التيار الضوئي photocurrent الذي تولده على سبيل المثال ركيزة سليكون (Si) silicon مضاة بركيزة-إلكترود. غرض الكشف الحالي هو تجهيز إلكترودات ضوئية من أجل خلايات كهروكيميائية ضوئية؛ على سبيل المثال بتكوين مرشح كبس» تكون مؤهلة للعمل تحت إضاءة ركيزة-إلكترود وتتغلب جزئياً على الأقل على عيوب الفن السابق ما يزيد من شد التيار المتولد.
0 تتعلق dads براءة الاختراع الأوروبية رقم: 257320911 بجهاز إنتاج غاز متكامل الخلايا الشمسية axa solar-cell-integrated gas production device توليد غاز أول وغاز ثاني من خلال استخدام القوة الدافعة الكهريائية electromotive force لخلية eda eS ويمكنه إمداد الطاقة لدائرة خارجية باستخدام الخلية الشمسية نفسها. يشتمل جهاز إنتاج الغاز المتكامل بالخلايا الشمسية على: جزه تحويل كهروضوئي photoelectric conversion part له سطح استقبال للضوء وسطحه الخلفي؛
5 إلكترود انحلال كهربي electrolysis electrode أول يتم توفيره على السطح الخلفي لجزءٍ التحويل الكهروضوئي بحيث (Say غمره في محلول إلكتروليتي solution عثار1601:01©؛ إلكترود انحلال كهربي ثانٍ يتم توفيره على السطح الخلفي لجزء التحويل الكهروضوئي بحيث يمكن غمره في المحلول الإلكتروليتي؛ ejay تبديل changeover part تتعلق وثيقة براءة الاختراع الدولية رقم: 201314032511 بطرق إنتاج فعالة من حيث التكلفة
0 للألواح الشمسية solar panels ذات الوصلة الخلفية ذات التلامس الخلفي والقائمة على السيليكون ذات الكفاءة العالية والألواح الشمسية منها التي تحتوي على العديد من مناطق الباعث والقاعدية المستطيلة rectangular emitter and base regions المتناوية على الجانب الخلفي من كل خلية؛ كل متها به Jags إصبع كهربائي معدني مستطيل rectangular metallic electric finger conductor أعلاه ويعمل بالتوازي مع منطقة الباعث والقاعدية Alla) طبقة عازلة أولى بين
5 الرقاقة وموصلات cabal) وطبقة عازلة ثانية بين موصلات الأصابع والتوصيلات البينية الخلوية .cell interconnections
الوصف العام للاختراع في وجه Jl تم تجهيز إلكترود ضوئي من أجل خلية كهروكيميائية ضوتية. يمتد الإلكترود الضوئي من سطح طرفي أمامي front end surface إلى سطح طرفي خلفي back end surface مقابل؛ حيث يتم تعريض السطح الطرفي الأمامي في الاستخدام لإشعاع بضوء ساقط ويلامس السطح الطرفي الخلفي إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية. يضم الإلكترود الضوئي خلية شمسية خلفية التماس back-contact solar cell تمتد من سطح أمامي لخلية شمسية تمثل في الاستخدام السطح الطرفي الأمامي للإلكترود الضوئي المراد تعريضه للإشعاع pgm ساقط على سطح الخلية الشمسية الخلفي المقابل المتجه للسطح الطرفي الخلفي؛ حيث يضم سطح الخلية الشمسية الخلفي ملمسات باعث emitter ومجمع «00116000. تتم مباعدة ملمسات الباعث والمجمع 0 بنفتحات أولى وسطح الخلية الشمسية الخلفي aig تجميع ملمسات الباعث والمجمع على التوالي في cual توصيل باعد emitter busbar وقضيب توصيل مجمع busbar :00116010. يضم الإلكترود الضوئي أيضاً طبقة تخميل contact passivation layer (mele تغطي سطح الخلية الشمسية الخلفي لفصل ملمسات الباعث والمجمع عن الإلكتروليت في الاستخدام. تضم طبقة تخميل الملمس أيضاً فتحات ثانية تتوافق مع الفتحات الأولى للسطح الخلفي للخلية الشمسية. يتضمن الإلكترود 5 الضوئي أيضاً طبقة راتينج resin layer تغطي الفتحات وجزءِ من طبقة تخميل الملمس بحيث إنه في الاستخدام تعترض نواقل الشحنة القادمة من الباعث فقط طبقة تخميل الملمس في طريقها إلى الإلكتروليت بينما يتم تجميع نواقل charge carriers dial) القادمة من ملمسات المجمع في قضيب توصيل المجمع. يضم الإلكترود الضوئي أيضاً طبقة حفازة كهريائية electrocatalyst layer تغطي على التوالي طبقة الراتينج» طبقة تخميل الملمس» أو كليهماء حيث تمثل الطبقة الحفازة 0 الكهربائية السطح الطرفي الخلفي الذي يلامس الإلكتوليت في الاستخدام. وفقاً لهذا الوجه؛ يتم إذاً تجهيز إلكترود ضوئي مضاء بركيزة-إلكترود مناسب لخلية كهروكيميائية ضوئية. من أجل ذلك؛ يبدا الكشف من خلية شمسية خلفية التماس معروفة تم عزلها (حمايتها من الماء) بأسلوب خاص كي تكون مؤهلة للعمل في اتصال مع إلكتروليت. يبداً هذا العزل الخاص بطلاء بطبقة تخميل كي تحمي ملمسات الخلية الشمسية من التآكل في حال التماس مع 5 الإلكتروليت وتجهيز طبقة راتينج تتوافق مع ملمسات المجمع. بتلك الطريقة؛ تتدفق نواقل الشحنات من ملمسات المجمع؛ أي لا يمكن للملمسات المغطاة بالراتينج أن تعترض طبقة التخميل لكي
تلامس إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية؛ ولكن يتم تجميعها في قضيب توصيل المجمع. بعبارة أخرى ؛ تتوافق مع المناطق المغطاة بالراتينج مناطق المجمع collector zones حيث تتوافق مع المناطق غير المغطاة بالراتينج مناطق الباعث -emitter zones حسبما هو مستخدم هنا يجب أن يفهم المصطلح "قضيب التوصيل" بأنه منطقة؛ على سبيل المثال شريط أو قضيب معدني؛ يمكن تجميع ملمسات كهربائية electrical contacts فيها أو توحيد تركيزها لنقلها أكثر إلى إلكترود مضاد counterelectrode على سبيل المثال. في بعض الأمثلة؛ يمكن أن تتضمن طبقة تخميل الملمس تاتينيوم +(Ti) titanium في أمثلة أخرىء يمكن أن تتضمن طبقة تخميل الملمس معدناً يختار من كروم ¢(Cr) chromium ألومنيوم «(Al) aluminium زنك (Zn) zine سبائكها alloys وتركيبات منها. يتضمن العزل الخاص أيضاً تجهيز طبقة حافز كهريائي لتيسير/تثبيت تفاعل نواقل الشحنة من مناطق الباعث lull) غير مغطاة بطبقة الراتينج) للإلكترود الضوئي مع المتفاعلات reactants في الإلكتروليت عندا يرتطم gg all الساقط على السطح المقابل (إسطح طرفي أمامي) للإلكترود الضوئي. بفعل ذلكن يمكن استخدام خلية شمسية تلامس خلفي أو خلية مضاءة illuminated cell بواجهة ركيزة-إلكترود داخل خلية كهروكيميائية ضوئية مع إلكتروليت لتنفيذ تفاعلات أخسدة 5 كهروكيميائية .electrochemical redox reactions خلال الكشف الحالي يجب أن تفهم خلية شمسية خلفية التماس كخلية شمسية يتم فيها تجهيز ملمسات الباعث والمجمع في نفس clad) (جانب خلفي) مقابل للجانب الذي يتم glad) الضوء عليه (جانب أمامي). وذلك يعني إنه داخل خلية كهروكيميائية ضؤئية تكون واجهة الإلكترود- الإلكتروليت على الجانب المقابل نسبة إلى الضوءٍ الساقط. يمكن أن تتضمن أمثلة لخلايا شمسية 0 خلفية التماس معروفة خلايا خلفية التماس مشبكة .(IBC) interdigitated back contact cells حقيقة إن الملمسات على السطح الخلفي (المقابل لذلك الذي يتعرض للإشعاع بالضوء) تضمن أن يكون مجمل السطح ١ لأمامي للإلكترود الضوئي سطحاً ماصاً للفوتون photon absorption surface فعالاً. بتلك الطريقة؛ لم تعد ثمة حاجة لأن تعبر الفوتونات القادمة من الضوءٍ الساقط محلول إلكتوليت lig يتم تفادي فقد eh منها بإمتصاصات في محلول الإلكتروليت. وهذا يؤثر أيضاً 5 على نيع الإلكتروليت الذي يمكن استخدامه حيث لم تعد ثمة dala لإلكتروليت عالي النفاذية في حدود طاقة الطيف الشمسي. بذلك يكون مُجدي التكلفة.
ثمة dag آخر لاستخدام إضاءة ركيزة-إلكترود وهو إنه يتم توفير درجة أكبر من الحرية؛ على الأقل من حيث بنية ومادة المسطح الطرفي الأمامي؛ على الأقل عند مقارنتها ببنية ومادة الإلكترودات الضوئية لإضاءة إلكتروليت-إلكترود. وذلك بسبب إنه عندما يتم استخدام ركيزة-إلكترود أو إضاءة خلفية؛ لا يحتاج السطح الطرفي الأمامي OY يمس الإلكتروليت وبذلك يقل تآكل السطح الطرفي الأمامي ومن ثم يمتد عمر الإلكترود الضوئي. يعزز استخدام إضاءة ركيزة-إلكترود أيضاً الزيادة في المنطقة الفعالة للإلكترود حيث يمكن لمجمل السطح الطرفي الخلفي للإلكترود الضوئي أن يلامس الإلكتروليت. إضافة لذلك؛ يتم تجهيز جميع الملمسات (البواعث emitters والمجمعات (collectors في السطح الخلفي وذلك يتم تبسيط تجميعهم ودتم منع فواقد الظل. 0 في بعض التجسيدات؛ يمكن أن تتضمن الخلية الشمسية خلفية التماس ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate ذات سطح ركيزة أمامي يحدد سطح الخلية الشمسية ا لأمامي؛ وسطح ركيزة خلفي مقابل يواجه سطح الخلية الشمسية الخلفي. في تلك التجسيدات؛ (Sa اختيار الركيزة شبه الموصلة من النوع-« والنوع-م. يمكن أن تتضمن الخلية الشمسية خلفية التماس أيضاً مناطق doped regions desde من نوع nt ومن نوع -*0( 5 واحدة أو أكثر. يمكن تجهيز المناطق المدممة من نوع -*« ومن نوع -*م تبادلياً على سطح الركيزة الخلفي؛ حيث يعتمد توزيع المناطق المدممة من نوع nF ومن نوع -*م على نوع الركيزة شبه الموصلة. يمكن أن تتضمن الخلية الشمسية خلفية التماس أيضاً مجمعاً معدنياً metal collector يغطي المناطق المدممة من نوع nt ومن نوع -*م لتحديد ملمسات الباعث والمجمع بحيث إنه في الاستخدام يجمع المجمع المعدني مناطق الباعث في قضيب توصيل الباعث ومناطق 0 المجمع في قضيب توصيل المجمع. في تلك الحالات؛ يمكن تجهيز الفتحات الأولى لسطح الخلية الشمسية الخلفي في المجمع المعدني بالتوافق مع وصلات junctions بين مناطق مدممة من نوع -07 ومن نوع -*0 كي تفصل ملمسات الباعث عن ملمسات المجمع. في تلك الحالات؛ يمثثل المجمع المعدني سطح الخلية الشمسية الخلفي. حسبما هو مستعمل هناء يفهم شبه الموصل من نوع-م بأنه يحوي ثقوياً حرة (Le حيث يفهم شبه 5 الموصل من نوع-: بأنه يحوي إلكترونات a غالباً. علاوةً على ذلك؛ يشير *« إلى شبه موصل
من نوع-07 ذي تركيز تدميم doping concentration عالي وبشير شبه الموصل من نوع-*م ذي تركيز تدميم عال. تجهيز المناطق المدممة من نوع -*« ومن نوع pt على سطح الركيزة الخلفي يسمح على سبيل المثال بتوزيع متبادل للثقوب والإلكترونات ويذلك بحسن مستويات شدة التيار وفلطيات الدائرة المفتوحة circuit voltages 00©0. وتجهيز مجمع معدني يغطي المناطق المدممة يسمح بتجميع ملمسات الباعث وملمسات المجمع بشكل مستقل في كل قضيب توصيل وبذلك يضمن سطحاً طرفياً خلفياً خالياً من ملمسات كهربائية. وهذا يحسن من تخميل السطح الطرفي الخلفي؛ أي يحسن سرعة إعادة تجميع سطح وبذلك يمتد عمر نواقل الشحنة المنتقلة إلى المناطق المدممة. في بعض التجسيدات؛ يمكن أن تتضمن الخلية الشمسية أيضاً طبقة تخميل أولى مجهزة بين 0 المجمع المعدني والمناطق المدممة. يمكن تجهيز طبقة التخميل الأولى بفتحات إضافية توافق كل منطقة مدممة بحيث إنه في الاستخدام تسمح الفتحات الإضافية بنقل نواقل شحنة من المناطق المدممة إلى المجمع المعدني. تجهيز طبقة التخميل الأولى يتجنب؛ أو يقلل على الأقل؛ من حدوث إعادات تجميع على سطح المناطق المدممة. وهذا يحسن من كفاءة سحب الفوتون من الضوء الساقط. في بعض الأمثلة؛ يمكن أن تحوي طبقة التخميل الأولى ثاني أكسيد سليكون silicon (SiO) dioxide 5 أكسيد ألومنيوم aluminium oxide (:0دله) أو تركيبات منهما. Sy يمكن توقع أكسي تيتريدات oxynitrides أو نيتريدات nitrides سليكون» على daw المثال نيتريد السيليكون .(Si3Ny) silicon nitride في بعض التجسيدات؛ يمكن أن يتضمن الإلكترود الضوئي أيضاً طبقة ضد الانعكاس antireflective layer تغطي أجزاء واحدة أو أكثر لسطح الخلية الشمسية ا لأمامي الذي يتم تعريضه في الاستخدام للإشعاع بالضوءٍ الساقط. في بعض تلك الحالات؛ يمكن تغطية كامل سطح الخلية الشمسية الأمامي بالطبقة المضادة للانعكاس. في بعض تلك التجسيدات»؛ يمكن أن تحوي الطبقة المضادة للانعكاس أكسيد هافينيوم - hafnium oxide (د1170)؛ أول أكسيد السليكون ¢(Si0) silicon monoxide ثاني أكسيد الزركونيوم zirconium dioxide (د2:0) ؛ أكسيد التانتالوم ¢(Taz0s) tantalum oxide فلوريد سيريوم cerium ((CeFa) fluoride 5 أكسيد المغنيسيوم (MgO) magnesium oxide فلوريد المغنيسيوم
(MgF2) magnesium fluoride ؛ ثاني أكسيد التاتينيوم ٠ في بعض تلك التجسيدات»؛ يمكن أن تحوي
الطبقة المضادة للانعكاس سطحاً مخشناً يمكن صنعه بتقنيات بناء نانوي على سبيل المثال.
في بعض التجسيدات؛ يمكن أن يتضمن الإلكترود الضوئي طبقة تخميل ثانية مجهزة بين الطبقة
lin] الكهربائية وعلى التوالي طبقة الراتينج أو طبقة تخميل الملمس. في بعض الأمثلة؛ يمكن أن تحوي طبقة التخميل الثانية ثاني أكسيد تاتينيوم. في مزيد أمثلة؛ يمكن توقع أكسيدات معدنية
metal oxides أخرى Jie على سبيل المثال أكسيد ا لألومنيوم وأكسيد السليكون. تعزز طبقة
التخميل الثانية طبقة تخميل الملمس الموجودة بالفعل المجهزة لتحسين الثبات ضد تأكل الإلكترود
الضوئي. By بدائل إضافية؛ (Sa توقع راتينجات resing أو بوليمرات موصلة للإلكترون (أو
الثقوب).
0 في بعض التجسيدات؛ يمكن أن يكون لطبقة التخميل الثانية سماكة تتراوح من 1 و 250 نانومتر بناءً على الخواص العازلة للكهريائي للأكسيد المعدني؛ على سبيل المثال ثاني أكسيد تاتينيوم؛ ثاني أكسيد سليكون؛ أكسيد ألومنيوم. عند استخدام أكسيد ألومنيوم أو ثاني أكسيد سليكون» في ظروف؛ بسبب تأثير نفقي؛ يمكن توقع سماكة حول 5-1 نانومتر. يمكن ترسيب طبقة التخميل الثانية باستخدام أي من تقنيات الترسيب المعروفة في الفن مثل على
15 سيبيل المثال ترسيب طبقة ذرية (ALD) atomic layer deposition ترسيب بخار كيميائي ¢(CVD) chemical vapor deposition ترسيب نبض ليزر «(PLD) pulsed laser deposition رش؛ عمليات محلول-هلام processes [501-86» طلاء ربشة؛ طباعة شاشة؛ أو إيروجرافي. في بعض التجسيدات؛ يمكن أن تحوي طبقة التخميل الثانية أيضاً عناصر تدميم doping elements مثل على سبيل المثال ألومنيوم» نيوبيوم (Nb) niobium أو فانديوم vanadium (17).
0 في بعض التجسيدات» يمكن صنع طبقة الراتينج من بوليمر ذي مقاومة كيميائية وحرارية Ale في بعض الحالات؛ يمكن توقع صيغة حمض بولي أميك .polyamic acid على Ju المثال (Durimide® متوفر تجارياً من Electronic Materials سلقازه1. في بعض تلك ABN يمكن أن يكون لطبقة الراتينج مقاومة حرارية تساوي أو أعلى من 200“9مئوية ومقاومة نوعية حجمية أعلى من 10" أوم.سم.
5 في بعض التجسيدات؛ يمكن اختيار الحفاز الكهريائي من معدن؛ أكسيد معدني أو هيدروكسيد معدني emetal hydroxide نيتريد معدني metal nitride فوسفيد معدني metal phosphide أو
بوليمر موصل conductive polymer يمكن اختيار الحفاز الكهريائي كوظيفة لتفاعل يراد إجراؤه
داخل الخلية الكهروكيميائية الضوئية وهو اختيار واضح لأولئك المهرة في الفن.
في بعض التجسيدات» يمكن أن تغطي طبقة الراتينج جزءًا من طبقة تخميل الملمس التي تتوافق مع
ملمسات المجمع بحيث إنه في الاستخدام تعترض الإلكترونات القادمة من ملمسات الباعث فقط طبقة تخميل الملمس في طريقها إلى مس إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية بينما يتم تجميع
نواقل الشحنة الموجبة positive charge carriers (الثقوب) القادمة من ملمسات المجمع في قضيب
توصيل المجمع. في تلك الحالات؛ يكون الإلكترود Ag all كاثودًا. من ثم يمكن نقل ثقوب
ملمسات المجمع المتجمعة في قضيب توصيل المجمع في الاستخدام إلى إلكترود مضاد (أنود)
يشكل جزءًا من الخلية الكهروكيميائية الضوئية.
0 في مزيد تجسيدات؛ يمكن أن تغطي طبقة الراتينج جزءًا من طبقة تخميل الملمس التي تتوافق مع ملمسات المجمع بحيث إنه في الاستخدام تعترض نواقل الشحنة الموجبة (الثقوب) القادمة من ملمسات الباعث فقط طبقة تخميل الملمس في طريقها إلى مس إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية Lay يتم تجميع الإلكترونات القادمة من ملمسات المجمع في قضيب توصيل المجمع. في تلك الحالات؛ يكون الإلكترود الضوئي أنود. يمكن نقل إلكترونات ملمسات المجمع المتجمعة في
5 قضيب توصيل المجمع في الاستخدام إلى إلكترود مضاد (كاثود) يشكل جزءًا من الخلية الكهروكيميائية الضوئية. في وجه إضافي؛ يمكن تجهيز خلية كهروكيميائية ضوئية. تضم الخلية الكهروكيميائية الضوئية إلكترود ضوئي أول كما تم وصفه من قبل فعلياً. يتم تجهيز الإلكترود الضوئي الأول بحيث إنه في الاستخدام يشعع ضوءٍ ساقط سطحه الطرفي الأمامي ويلامس سطحه الطرفي الخلفي إلكتروليت.
0 داخل الخلية الكهروكيميائية dy all يمكن أن يتألف مجمل العملية من جزءِين رئيسيين: امتصاص ضوء بواسطة الخلية الشمسية ما يؤدي إلى توليد ناقل شحنة charge carrier (ملمسات باعث ومجمع)؛ واستغلال نواقل الضوء المثار excited photo carriers هذه لإدارة تفاعلات حفزية catalytic reactions عند مس الإلكتروليت. لقد اكتشف المبتكرون إنه باستخدام إلكترودات ضوثئية كما تم وصفه من قبل Lad يتحقق تحسن لكفاءة أمثلة الخلية الكهروكيميائية الضوئية.
5 في ang إضافي أيضاً؛ تم تجهيز طريقة لتصنيع إلكترود ضوئي كما تم وصفه فعلياً من قبل. تتضمن الطريقة؛ تجهيز خلية شمسية خلفية التماس؛ تجهيز طبقة تخميل ملمس تغطي سطح
الخلية الشمسية الخلفي؛ وقد تم تزويد طبقة تخميل الملمس بفتحات ثانية تتوافق مع الفتحات الأولى. تتضمن الطريقة أيضاً تجهيز طبقة راتينج لسد الفتحات؛ حيث تغطي طبقة الراتينج أيضاً Tein من طبقة تخميل الملمس التي تتوافق مع ملمسات المجمع؛ وتجهيز طبقة حفاز كهريائي تغطي على التوالي طبقة الراتينج وطبقة تخميل الملمس. شرح مختصر للرسومات سيتم وصف أمثلة غير حصرية للكشف الحالي فيما يلي؛ استنادًا إلى الأشكال الملحقة؛ وفيها: الشكل 1أ يظهر مشهدًا قطاعياً عرضياً لإلكترود ضوئي وفقا لتجسيد؛ الشكل 1ب يظهر مشهدًا مغصصاً للشكل 1أ؛ الشكلان 2 و 2ب يظهران على التوالي مشهذًا قطاعياً عرضياً لكاتود ضوئي photocathode وأنود 0 ضوئي photoanode وفقاً لتجسيد؛ الشكل 2ج يظهر مشهدًا علوياً لنسق من تشابك ملمسات باعث ومجمع؛ الشكل 3 يظهر مشضهدًا علوياً للكاثود الضوئي الذي في شكل 2 وقد تم تجهيزه في خلية كهروكميائية ضوئية؛ الشكل 4 يظهر التغير في شدة تيار الكاثود الضوئي (jeathode) photocathode current density 5 كدالة لجهد إلكترود ضوئي منفرد في إلكترود ضوئي وفقاً لمثال 1؛ الشكل 15 يظهر التغير في شدة تيار أنود ضوئي (janode) photoanode current density كدالة لجهد إلكترود ضوئي منفرد في إلكترود ضوئي وفقاً لمثال 2؛ الشكل 5ب يظهر شدة تيار الأنود (anode) anode current density كدالة للزمن عندما يتم تنفيذ قيمة مطلقة لفلطية وفقاً لمثال 2؛ الشكل 6 يظهر التغير في شدة تيار الإلكترود الضوئي (jeathode) photoelectrode current density AS لجهد إلكترود ضوئي منفرد في إلكترود ضوئي وفقاً لمثال 3؛ الشكل 17 يظهر التغير في شدة تيار كاثود ضوئي كدالة لجهد إلكترود ضوئي منفرد؛ وفقاً للمثالين 4 و 4ب (خط أسوط مصمت للإلكترود الضوئي مع بلاتين (Py) platinum - مثال 4 وخط شرط رمادي للإلكترود الضوثئي مع نيكل (Ni-Mo) Molybdenum a siaulsali—nickel - مثال 5 +4ب)؛
الشكل 7ب يظهر شدة تيار الكاثود الضوئي كدالة للزمن عندما يتم تنفيذ قيمة مطلقة لفطلية وفقاً لمثال 1 بالنسبية للإلكترود الضوئي مع بلاتين؛ و الشكل 7ج يظهر شدة تيار الكاثود الضوئي كدالة للزمن عند تنفيذ dad مطلبة لفلطية وفقاً لمثال لب بالنسبة للإلكترود الضوئي مع نيكل -الموليبدنوم. الوصف التفصيلي: خلال الأشكال التالية سيتم استخدام نفس الأرقام المرجعية لمطابقة أجزاء . يظهر الشكلان 11 و 1ب مشهدين قطاعين عرضيين لإلكترود ضوئي وفقاً لتجسيد. يمكن أن يمتد الإلكترود الضوئي من سطح طرفي أمامي 10 إلى سطح طرفي خلفي مقابل 20. يتم تعريض السطح الطرفي الأمامي 10 للإشعاع بضواء ساقط L ويلامس السطح الطرفي الخلفي 0 20 في الاستخدام إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية. كما يظهر في شكلي 1أ و cal يضم الإلكترود الضوئي خلية شمسية خلفية التماس 100 يمكن أن تمتد من سطح خلية شمسية أمامي 110 إلى سطح خلية شمسية خلفي مقابل 120. يمكن أن يحدد سطح الخلية الشمسية الأمامي 110 السطح الطرفي الأمامي للإلكترود الضوئي 10 الذي يتم تشعيعه في الاستخدام بضوءٍ ساقط ,]آ. 5 في هذا التجسيد؛ يمكن أن يتضمن سطح الخلية الشمسية الخلفي 120 ملمسات باعث 2 وملمسات مجمع ©. يمكن مباعدة الملمسات BE و © بفتحات أولى 101 لسطح الخلية الشمسية الخلفي 120. يمكن تشبيك ملمسات الباعث BE والمجمع ©؛ أي تجهيزها في صفوف متبادلة. انظر شكل 2ج. يمكن تجهيز ملمسات الباعث BE والمجمع © بنسق مشبك يحدد "أصابع” (Sang تجميعها في أطراف cilia ملمسات الباعث 1 في قضيب توصيل باعث 111 أو منطقة حشية pad area 0 وبتم تجميع ملمسات المجمع © في قضيب توصيل مجمع 121 أو منطقة حشية. في تجسيدات edly يمكن توقع طرق أخرى لتجهيز بديل Ciel) cil wall والمجمع طالما أمكن تحديد/تمييز مناطق ملمسات الباعث عن مناطق ملمسات المجمع ويمكن تجميع/تركيز ملمسات المجمع من أجل انتقال إضافي (في الاستخدام) إلى على سبيل المثال إلكترود مضاد. يمكن أن يتضمن الإلكترود الضوئي إضافة لذلك طبقة تخميل ملمس 130 تغطي سطح الخلية 5 الشمسية الخلفي 120. تفصل طبقة تخميل الملمس ملمسات الباعث BE والمجمع © لسطح الخلية الشمسية الخلفي 120 عن إلكتروليت عندما يتم استخدام الإلكترود الضوئي في خلية كهروكيميائية
ضوئية. وهذا يقلل من (SB الملمسات المجهزة في سطح الخلية الشمسية الخلفي. في تلك الحالات؛ يمكن أن تحوي طبقة تخميل الملمس 130 تاتينيوم. Sly يمكن أن تحوي طبقة تخميل الملمس
ag ألومنيوم؛ زنك أو سبائكها. يمكن أن تتضمن طبقة تخميل الملمس 130 إضافةٌ لذلك فتحات ثانية 131 تتوافق مع الفتحات
5 الأولى 101 لسطح الخلية الشمسية الخلفي 120.
يمكن تجهيز طبقة راتينج 140 أيضاً لسد الفتحات 101 و 131. في تجسيد الشكلين 511 (al يمكن أن تتضمن طبقة الراتينج جزءًا 141 يغطي داخلية الفتحات الأولى 101 والثانية 131 وجزءًا آخر 142 يغطي مناطق مجاورة لبزبار mouthpiece الفتحات الثانية 131 أو بالقرب منه. في تلك الحالات؛ يمكن of تتضمن طبقة الراتينج إضافة لذلك جزءًا 143 يغطي جزءًا من طبقة تخميل
0 الملمس الذي يتوافق مع ملمسات المجمع ©. بتلك الطريقة؛ في الاستخدام؛ تعترض نواقل الشحنة القادمة من ملمسات الباعث E فقط طبقة تخميل الملمس 130 في طريقها إلى الإلكتروليت بينما يتم تجميع النواقل الشاحنة من ملمسات المجمع © في قضيب توصيل المجمع (انظر شكل 2ج). في البدائل» يمكن أن يكون ead من طبقة الراتينج التي تسد الفتحات توزيعات أخرى؛ على سبيل المثال قابس plug أو طبقة مستقيمة layer 14ع18ه0»؛ طالما كانت تسد الفتحات.
5 في جميع الحالات؛ يمكن أن تتضمن طبقة الراتينج صيغة حمض بولي أميك؛ متوفر تجارياً من Fujifilm Electronic Materials باسم .Durimide® إضافة لذلك في هذا التجسيد؛ يمكن أن تغطي طبقة حفاز كهريائي 150 طبقة الراتينج 140( طبقة تخميل الملمس 130؛ أو كلتيهما على التوالي. وبذلك تشكل طبقة الحفاز الكهريائي السطح السطح الطرفي الخلفي للإلكترود الضوئي 20 التي تلامس في الاستخدام الإلكتروليت.
0 يظهر الشكلان 2 و 2ب على التوالي مشهدين قطاعيين عرضيين لكاثود ضوئي وأنود ضوئي وفقاً لتجسيد آخر. يختلف تجسيد الشكلين 2 و 2ب عن ذلك الذي في شكلي HT 1ب في إنه يمكن تجهيز طبقة تخميل 160 بين طبقة الحفاز الكهريائي 150 وطبقة الراتينئج 140 أو طبقة تخميل الملمس 130 على التوالي. في تلك التجسيدات؛ يمكن أن تحوي طبقة التخميل 160 ثانء أكسيد تاتينيوم. في تجسيدات بديلة؛ يمكن أن تحوي طبقة التخميل أكسيد معدني آخر مثل على سبيل
5 المثال أكسيد ألومنيوم» ثاني أكسيد سليكون أو داي كبريتيد مولييدتوم molybdenum disulphide
(-8105). في بدائل إضافية أيضاً يمكن توقع راتينجات أو بوليمرات موصةة للإلكترون Sf) ثقوب). يختلف تجسيد الشكلين 2 و 2ب أيضاً عن ذلك الذي في شكلي 1أ و 1ب في إنه تم إظهار خلية شمسية خلفية التماس تضم ركيزة أو رقيقة شبه موصلة. يمكن أن تكون الركيزة شبه الموصلة ركيزة شبه موصلة لسليكون أحادي التبلور monocrystalline أو متعدد التبلور .(c-Si) polycrystalline في شكل 2 تم إظهار ركيزة شبه موصلة لسليكون من نوع-م 102 وفي شكل 2ب تم إظهار ركيزة شبه موصلة لسليكون من ngs 103. في تجسيدات بديلة؛ يمكن توقع ركائز substrates أو رقائق شبه موصلة أخرى مؤهلة لامتصاص ضوءٍ ساقط وتحدث نواقل شحنة حرة. على سبيل المثال سليكون لا بلوري camorphous silicon تلوريد كادميوم ¢(CdTe) cadmium telluride 0 مركبات 111-7 مثل آرسينيد جاليوم أو فوسفيد جاليوم أو كالكوجينات Jie CIS أو كستربتات أو gla سيلينيد نحاس - آنديوم-جاليوم (CIGS) copper-indium- gallium-diselenide من بين أشياء أخرى . في كل الحالات؛ يمكن أن تمتد الركيزة أو الرقيقة شبه الموصلة من سطح ركيزة أمامي 1022؛ 2 مواجه لسطح الخلية الشمسية الأمامي (انظر شكلي 1أ و 1ب)»؛ إلى سطح ركيزة خلفي 5 مقابل 1021( 1031 مواجه لسطح الخلية الشمية الخلفي. يمكن تجهيز سطح الركيزة الخلفي 1021< 1031 بمناطق مدممة من نوع-*« 1 ومناطق مدممة من نوع-*م 2 مجهزة تبادلياً على سبيل المثال مشبكة كي تشكل صفوفاً من ملمسات (بالتوافق مع مناطق مدممة). في تلك الحالات؛ يمكن تغطية المناطق المدممة من نوع-*«0 1 ومن نوع-*0 2 بمجمع معدني 170 يمكن تجهيزه بفتحات 171 متوافقة مع وصلات بين المناطق المدممة من نوع-*0 1 ومن نوع-*م 2. يمكن بذلك 0 أن يكون للمجمع المعدني هندسية تطابق تلك التي للمناطق المدممة. في هذا التجسيد؛ يمكن صنع المجمع المعدني؛ على سبيل المثال؛ من ألومنيوم. Ss يمكن توقع معادن أخرى؛ بوليمرات موصلة conductive polymers أو أكسيدات معدنية موصلة مثل أيه زد أوه AZO أو آى تى أوه ITO إضافة لذلك في هذا التجسيد؛ كما يظهر في شكلي 512 2ب؛ يمكن تجهيز طبقة تخميل 180 5 بين المنطقتين المدممتين 1؛ 2 والمجمع المعدني 170. يمكن تزويد طبقة التخميل 180 بفتحات 1 متوافقة مع المنطقتين المدممتين 1 2 بحيث إنه في الاستخدام؛ تسمح الفتحات 181 بانتقال
نواقل شحنة من المنطقتين المدممتين 1 2 إلى المجمع المعدني 170. في تلك الحالة يمكن صنع
طبقة التخميل من؛ على سبيل المثال؛ ثاني أكسيد سليكون أو أكسيد ألومنيوم. في تجسيد الشكل 2« يمكن أن تغطي طبقة الراتينج 140 جزءًا من طبقة تخميل الملمس 130 المتوافقة مع المناطق المدممة من النوع- *م 2. في تلك الحالات؛ يمكن أن تعترض نواقل الشحنة القادمة من المناطق المدممة من النوع-*« 1 المجمع المعدني 170 وطبقة تخميل الملمس 130 في طريقها إلى مس إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية. أيضاً في تلك الحالات؛ يمكن التقاط نواقل الشحنة القادمة من المناطق المدممة من النوع*م 2 بواسطة المجمع المعدني 170 وتجميعها في قضيب توصيل المجمع (انظر شكل 2ج) كي يمكن تكوينها لتقلها إلى إلكترود مضاد يمكن تجهيزه داخل الخلية الكهروكيميائية الضوئية. وهذا يعني إنه يمكن عزل الوصلات pip" (نوع شبه
0 موصل)إنوع منطقة مدممة) عن الإلكتروليت ويمكن أن تكون الوصلات *0/م في اتصال كهربائي مع الإلكتروليت من أجل نقل clin al المناظرة من ملمسات باعثها إلى الحفاز الكهربائي. الإلكترود الضوئي هو إذاً كاثود. في هذا التجسيد؛ يمكن صنع طبقة الحفاز الكهربائي 150 من حفاز يتم اختياره من حفازات 5 تفاعل نشوءٍ هيدروجين (HER) hydrogen evolution reaction مؤهلة لاختزال الماء
5 إلى هيدروجين؛ أو حفازات اختزال ثانى أكسيد الكريون مؤهلة لاختزال ثانى أكسيد الكريون إلى منتجات Jie أول أكسيد الكريون «(CO) carbon monoxide ميثان «(CH4) methane حمض 2- فلورو-5- أيودوبنزويك (CoH) ethylene (ulin ¢(FICOOH) 2-Fluoro-5-iodobenzoic acid في حالات بديلة؛ يمكن توقع حفازات أخرى » على سبيل JU حفازات اختزال reduction catalysts نيتراتات nitrates ونيتريتات nitrites في محاليل ماء.
0 في تجسيد الشكل 2ب؛ يمكن أن ais طبقة الراتينج 140 جزءًا من طبقة تخميل الملمس 130 التي تكون في توافق مع المناطق المدممة من النوع-*« 1. في تلك الحالات؛ يمكن أن تعترض نواقل الشحنة القادمة من المناطق المدممة من النوع-*م 2 فقط المجمع المعدني 170 وطبقة تخميل الملمس 130 في طريقها إلى مس إلكتروليت الخلية الكهروكيميائية الضوئية. إضافة لذلك في تلك الحالات؛ يمكن التقاط نواقل شحنة قادمة من المناطق المدممة من النوع-*« 1 بواسطة المجمع
المعدني 170 وتجميعها في قضيب توصيل المجمع كي يتم تكوينها Lei إلى إلكترود مضاد مجهز أيضاً داخل الخلية الكهروكيميائية الضوئية. هذا يعني إنه يمكن Jie وصلات *0/0 (نوع
شبه موصل/نوع منطقة مدممة) عن الإلكتروليت ويمكن أن تكون الوصلات 0/0 في اتصال كهربائي مع الإلكتروليت لنقل الشحنات المناظرة من ملمسات الباعث تلك إلى الحفاز الكهريائي. الإلكترود الضوئي هو إِذَا أنود. في هذا التجسيد؛ يمكن صنع طبقة الحفاز الكهريائي 150 من حفاز يتم اختياره من حفازات تفاعل شوءٍ أكسجين (OER) oxygen evolution reaction . حفازات نشوءٍ الأكسجين مؤهلة لأكسدة الماء إلى أكسجين. يمكن أن تشضمل أمثلة تلك الحفازات نيكل» سبيكة حديد -نيكل Iron-nickel alloy ¢(Ni-Fe) موليبدينوم»؛ cus إيريديوم ¢(Ir) iridium تانتالوم (Ta) tantalum روثيتيوم ruthenium (Ru) وسبائكهاء هيدروكسيدات chydroxides أكسيدات. في حالات بديلة؛ يمكن توقع حفازات أخرى؛ على سبيل المثال حفازات لأكسدة كهريائية electro-oxidation لملوثات في محاليل ماء. 0 في جميع الحالات؛ قد تعتمد طبقة الحفاز الكهربائي على الإلكترود الضوئتيء لو كان أنودها الضوئي أو كاثودها الضوني؛ وفي التفاعل المراد إجراؤه في الخلية الكهروكيميائية» أي الجزيء المراد اختزاله أو أكسدته. عموماً؛ لو كان الإلكترود الضوئي أنود ضوئي؛ يكون مطلوباً منتشئات أكسجين جيدة مثل حفازات تفاعل نشوء أكسجين مؤهلة لأكسدة على سبيل المثال ماء إلى أكسجين. لو كان الإلكترود الضوتي كاثود ضوئي؛ يكون مطلوباً حفازات كهربائية لاختزال الماء إلى 5 هيدروجين (حفازات تفاعل نشوء هيدروجين). بديلاً؛ من المرغوب فيه حفازات كهربائية مؤهلة لاختزال ثانى أكسيد الكريون إلى منتجات Jie قصدير (Sn) tin عندما يتم اختزال ثانى أكسيد الكربون إلى فورمات formate في حالات إضافية؛ يمكن اختيار الحفاز الكهريائي من معدن؛ أكسيد معدني أو هيدروكسيد معدني cmetal hydroxide نيتريد معدني cmetal nitride فوسفيد معدني metal phosphide أو بوليمر موصل polymer ©000000117. في العموم؛ الهدف هو تجهيز حفاز كهربائي مناسب لأكسدة أو اختزال تفاعل. يمكن ترسيب الحفاز الكهريائي بطرق متعددة؛ By lia على سطح cas SY) على طلاء واقي (مثل ثانى أكسيد التاتينيوم) أو على ركيزة أكثر مسامية وموصلة»؛ كشبكة أو رغوي معدني ؛ لزيادة المساحة السطحية النشطة Slag cactive surface area يحسن النقل الإلكتروني على سطح التماس مع الإلكتروليت. 5 تختلف تجسيدات الشكلين 2 و 2ب أيضاً عن تلك التي في شكل 1آ و 1ب في إنه يمكن نسج سطح الركيزة الأمامي ¢1022 1032. في تلك الحالات؛ يمكن أن يكون المنسوج في شكل هرم
معكوس. يمكن توقع أشكال بديلة أخرى. وجه تجهيز شكل منسوج هو إنه يقلل الانعكاس بزيادة فرص الضوءٍ المنعكس المرتد للخلف إلى السطح؛ بدلأمن الخروج إلى الهواء المحيط. هذا يعني أن يتم بذلك زيادة امتصاص الفوتون الفعال. في تلك الحالات؛ يزيد المسار المائل inclined path الذي يحدثه شكل الهرم المعكوس من امتصاص الضوء الفعال.
وتختلف تجسيدات الشكلين 2 و 2ب أيضاً عن تلك التي في شكل 1آ و 1ب في إنه يمكن تجهيز طبقة مضادة للانعكاس 190 تغطي سطح الركيزة الأمامي ¢1022 1032. في تلك التجسيدات؛ يمكن أن تحوي الطبقة المضادة للانعكاس أكسيد ألومنيوم. بديلاً؛ء يمكن استخدام مواد أخرى مضادة للانعكاس مثل أكسيد-هافنيوم؛ أول أكسيد السليكون؛ ثاني أكسيد الزركونيوم» أكسيد التانتالوم؛ فلوريد سيريوم؛ أكسيد المغنيسيوم؛ فلوريد المغنيسيوم؛ أو ثاني أكسيد التاتينيوم. يحسن تجهيز طبقة
0 مضادة للانعكاس من امتصاص الفوتون على الأقل بخفض انعكاس الضوء الساقط. إضافة لذلك في تلك التجسيدات؛ يمكن تجهيز الطبقة المضادة للانعكاس تغطي كامل سطح الركيزة الأمامي. في مزيد حالات؛ يمكن تغطية سطح الركيزة الأمامي جزثئياً فقط بالطبقة المضادة للانعكاس. يمكن أيضاً تجهيز طبقة مضادة للانعكاس كما تم وصفه من قبل فعلياً في ركائز ذوات سطح أمامي مسطح flat front surface يمكن استخدام جميع الإلكترودات الضوئية كما تم وصفه فعلياً من قبل في خلية كهروكيميائية ضوئية. يظهر الشكل 2ج مشهدًا فوقياً لملمسات الباعث والمجمع المتشابكة لأي من الشكلين 2 أو 2ب. في هذا الشكل يمكن تحديد التجهيز المتشابك للمناطق المدممة بشكل واضح كصفوف أو أصابع 0 011 12 (تناظر ملمسات الباعث والمجمع) وقد تم تجهيزها تبادلياً وتمتد على التوالي لأعلى إلى قضيب توصيل أو منطقة حشية 111 121؛ حيث يمكن تجميع التيار الكهريائي الفعال من أجل نقله إلى إلكترود مضاد. في هذا التجسيد؛ يتم تجهيز '"قضيب التوصيل"” أو مناطق الحشوات 111؛ 1 في أطراف متقابلة بطول طول طولي للمناطق المدممة للخلية الشمسية. يظهر الشكل 3 تجسيدًا لخلية كهروكيميائية ضوئية يمكن أن تضم مقصورة (صهريج على سبيل 5 المثال) 3 ممتلئة بإلكتروليت. في جدار المقصورة 3 يمكن تجهيز إلكترود ضوئي أول 5 كما هو
مبين فعلياً في شكل 2 (أي كاثود ضوئي). في حالات بديلة؛ يمكن أن يكون الإلكترود الضوئي الأول كما هو مبين فعلياً في أي من الأشكال 1أ؛ 1ب أو 2ب: إضافة SUN في تجسيد الشكل 3؛ يمكن تجهيز إلكترود ثان 4 داخل الحجيرة 3 Bela عن الإلكترود الضوئي الأول 5. في تلك الحالة؛ يمكن أن يكون الإلكترود الثاني 4 أنود. يمكن توصيل الإلكترود الضوئي الأول والإلكترود الثاني كهربائياً أحدهما بالآخر ومن ثم إنتاج تفاعل كيميائي متوقع؛ كدالة لنوع إلكترودات وإلكتروليت الخلية. يمكن إضافةً لذلك Sagas فاصل تبادل-أيون -100 exchange separator 6 داخل الإلكتروليت متباعد عن الإلكترود الضوئي الأول 5 والإلكترود الثاني 4. Alig يقسم تجهيز فاصل تبادل الأيون الحجيرة إلى حجيرتين فرعيتين اثنتين. في كل حجيرة فرعية مختلفة أو هي نفسهاء بناءً على الظروف؛ يمكن استخدام إلكتروليت. على سبيل 0 المثال؛ يمكن توقع كاثوليت catholyte وآنوليت -anolyte عموماً؛ يمكن أن يكون فاصل تبادل الأيون غشاءً مقاوم كيميائياً لأنوليتات anolytes وكاثوليتات catholytes وبذلك يعتمد على التفاعل المراد إجراؤه داخل الخلية الكهروكيميائتية الضوئية. في بعض الحالات؛ يمكن استخدام أغشية تبادل أيون jon exchange membranes كاتيون 0080000. في حالات أخرى ¢ يمكن استخدام أغشية تبادل أنيون .anion exchange membranes 5 أمثلة أغشضية تبادل الأيون كاتيون يمكن أن sda عمودًا فقرياً لبولي تترا فلور إيثيلين (PTFE) polytetrafluorethylene ذا سلاسل جانبي فوق مفلورة perfluorinated side chains بأطوال مختلفة ملحقة بالعمود الفقري خلال روابط أثير ether linkages ومطرفة بحمض سلفونيك sulfonic acid (50311-) بالبنية التالية؛ 8 | +“ بلق اصح y 0 20 | . و ما 8 ميقم 1 CF, حيث؛ © هو عدد صحيح 3-0 (يفضل =m 20 3( « هو عدد صحيح أعلى من 2 (يفضل 2 أو 3)؛ كل من dey gx صحيح من 100-1 (يفضل عدد صحيح من 80-3(« M 5 هو SH معدن قلوي alkali metal أو معدن أرضي قاعدي alkaline earth metal مثل الصوديوم
(Na) sodium البوتاسيوم ¢(K) potassium الليقيوم ¢(Li) lithium الكالسيوم «(Ca) calcium ماغنيسيوم (Mg) Magnesium على التوالي؛ يمكن استخدام abd لأغضية تبادل الأنيون تتكون من عمود فقري لبوليمر ذي أمينات amines مربوطة محولة إلى مركب أمونيوم رباعي كمجموعات وظيفية functional groups لتيسير حركة أيونات-01 حرة؛ يمكن استخدامها في الكشضف الحالي تشمل؛ أمونيوم ترزي ميثيل trimethyl ammonium (1118)» إيميد أزوليوم -ميقيل emethyl-imidazolium بنتا-ميثيل -جانيدينيوم «penta-methyl-guanidinium وداي آزا sb سيكلول[2»2+2]أوكتان diazabicyclo[2,2.2]octane ومشتقاتها ¢tderivatives يمكن توقع فواصل أخرى مثل أغشية ترشيح نانوي nanofiltering membranes أو أغشية موصلة لأيون ion conductive membranes مبني على سيراميك مبنية على أكسيدات معدنية. يظهر تفصيل مكبر للشكل 3 المشهد القطاعي العرضي للإلكترود الضوئي الأول. يختلف هذا المشهد القطاعي العرضي عن ذلك الذي في شكل 2 في إنه يمكن إزالة طبقة التخميل (مرجع 0 للشكل 2). حسبما يظهر أكثر في التفصيل المكبر للشكل 3؛ يمكن تجهيز الكاثود الضوئي بطبقته المضادة 5 للانعكاس 190 مواجهة لخارج الصهريج 3. ويمكن إضافة لذلك تجهيز الكاثود الضوئي بطبقته الحفازة الكهربائية 150 المواجهة لداخلية الحجيرة 3 لمس محلول إلكتروليت يمكن تجهيزه داخل الحجيرة 3. يظهر التفصيل المكبر للشكل 3 أيضاً فاصل تبادل الأيون 6 وملسمات 41 الإلكترود الثاني 4. يمكن لكابل توصيل connecting cable 7 أن يصل ملمسات 41 الإلكترود الثاني 4 مع قضيب 0 التوصيل المناظر (مجمع) للإلكترود االضوئي الأول (كاثود ضوئي). في كل الحالات؛ لإدخال إلكترود ضوئي كما تم وصفه من قبل فعلياً في خلية كهروكيميائية ضوئية تضم إلكتروليت وإنتاج ملمس كهربائي في قضيب التوصيل المناظر؛ يمكن تجهيز الإلكترود الضوئي داخل ماسك يسمح بملامسة كهربائية لقضيب توصيل المجمع ويمكن أن يحوي دثارات gaskets لمنع عطل تماس بتلامس كهربائي مع الإلكتروليت. 5 في ily مزيدة؛ يمكن of يكون الإلكترود الثاني أيضاً إلكترود ضوئي كما تم وصفه فعلياً من قبل؛ على سيل المثال يختار من أمثلة الشكلين 2 أو 2ب. في تلك الحالات؛ يمكن أن يكون نوع
الركيزة شبه الموصلة للإلكترود الضوئي الأول مختلفاً عن نوع شبه الموصل للإلكترود الضوئي الثاني. وهذا يعني إنه؛ لو ضم الإلكترود الضوئي الأول ركيزة شبه موصلة من ngs (أنود ضوئي)؛ يضم الإلكترود الضوئي الثاني ركيزة شبه موصلة من نوع-م (كاثود ضوئي) والعكس بالعكس.
في بعض تجسيدات ويناة على التفاعل المتوقع إجراؤه داخل الخلية الكهروكيميائية الضوئية؛ يمكن أن يحوي الإلكتروليت ملحاً بالصيغة MX وفيها؛ يمكن اختيار 14 من مغنيسيوم؛ كالسيوم؛ ليثيوم» بوتاسيوم وصوديوم؛ بيكريوناتات cbicarbonates كبريتات csulfates هيدروكسيدات وهاليدات halides في بعض تلك الحالات؛ يمكن اختيار الإلكتروليت من بيكريونات الصوديوم «(NaHCOs) sodium bicarbonate أسيتات الصوديوم «(NaCO2CH3) sodium acetate
بيكربونات البوتاسيوم ((KHCO3) potassium bicarbonate كريونات البوتاسيوم potassium ((K2CO3) carbonate كبريتات الصوديوم ¢(Na2SO4) sodium sulfate كبريتات البوتاسيوم ((K2SO4) potassium sulfate كلوريد البوتاسيوم (KCI) potassium chloride و بيركلورات البوتاسيوم -(KClO4) potassium perchlorate في مزيد تجسيدات؛ يمكن للإلكتروليت الحامل supporting electrolyte أن يحوي ملحاً بالصيغة 5 11.7.6 وفيه يمكن اختيار 14 من casi بوتاسيوم» صوديوم؛ مغنيسيوم؛ كالسيوم»؛ وسترونتيوم ¢strontium يمكن أن تكون 7 إما أيون هيدروكسيد hydroxide ion أو أيون مضاد قادم من أحماض معدنية mineral acids تختار من هاليدات؛ كبريتات sulphates نترات cnitrates كلوراتات chlorates وفوسفوتات phosphates في بعض تلك الحالات؛ يمكن اختيار الإلكتروليت من هيدروكسيد الصوديوم sodium hydroxide (012011» هيدروكسيد البوتاسيوم potassium (KOH) hydroxide 0 كبريتات البوتاسيوم» كلوريد البوتاسيوم» حمض الهيدروكلوريك hydrochloric «(HCI) acid حمض الفوسفوريك «(H3PO4) phosphoric acid بيكريونات الصوديوم» فوسفات ثنائي البوتاسيوم Dipotassium phosphate (161100)؛ كبريتات الصوديوم. في تجسيدات إضافية؛ يمكن استخدام طبقات تخميل passivation layers أخرى أو طبقات حفازة كهربائية مختلفة لتحسين تطبيق الإلكترودات الضوئية كما تم وصفه فعلياً من قبل من أجل 5 تفاعلات مختلفة للحصول على منتجات مختلفة في على سبيل المثال الإنتاج الضوئي للماء أو
ثانى أكسيد الكريون مع زيادة الإنتاجية والكفاءة سواء بالعمل كأنود ضوئي أو ككاثود ضوئي بناءً على تكوين الملمس. في بعض التجسيدات؛ يمكن أن يكون الضوءٍ الساقط ضوءٍ شمس طبيعي أو أي نوع من مصدر إشعاع يتضمن نطاق الامتصاص لعلى سبيل المثال سليكون. هذا يعني إلى حدٍ كبير أي مصدر radiation source glad} 5 ذا طول موجي wavelength في النطاق الأوسط للطيف الشمسي. clases يمكن استخدام ضوءٍ ساقط يتضمن طول موجي في المنطقة 1100-350 نانومتر. إجراء تجرببي لتصنيع إلكترودات ضوئية كما تم وصفه فعلياً من قبل» كانت نقطة البداية خلية شمسية خلفية التماس لتقنية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم تصنيع الخلايا الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة 0 بواسطة جامعة بوليتكتيك في كاليفورنيا -(UPC) Polytechnic University of Catalonia كان للخلايا الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة التي تم استخدامها مساحة فعالة من 9 سم (3 X 3 سم). بتلك الطريقة؛ من كل رقيقة سليكون بمعيار 4 بوصة حجماً؛ تم تصنيع أربع خلايا شمسية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم صنع الخلايا الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة بقطاع عرضي كما تم شرحه فعلياً فيما يتصل بالشكلين 2 و 2ب. هذا يعني إنها تضمتت مناطق مدممة من نوع« ونوع-م (مرجعا 1 و 2 للشكلين 2 و 2ب)؛ أي تجهيزها في صفوف أو أصابع (مرجعا 11 و 12 للشكل 2ج) بطول طول الخلية الشمسية. تمت تغطية المناطق المدممة بواسطة طبقة ألومنيوم ذات سماكة 5-3 ميكرون (مجمع معدني 170 في الشكلين 2 و 2ب). تم إجراء الأمثلة التالية على تلك الخلايا الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة: Jie 0 1- كاثود ضوئي لنشوءء هيدروجين ضمت الخلية الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة رقيقة من pgs مصنوعة من سليكون ويسمك 0 ميكرون. تم بسط طبقة تاتينيوم من 25 نانومتر على قمة المجمع المعدني للخلية الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم بسط طبقة التاتينيوم بعملية حزمة شعاع-إلكتروني -e-beam process
تم ترسيب طبقة Durimide® (زاتينج متوفر تجارياً من فوجي ald على سبيل المثال (Fujifilm بسمك 2 ميكرون لسد الفتحات ومناطق مدممة من نوع -*م كما تم شرحه Lad يتصل على سبيل المثال بشكل 2). تم بسط طبقة Durimide® بعملية طلاء دوامي spin coating process وبعد عملية الطلاء الدوامي» تم إجراء عملية ليثيوجرافية ضوئية photolithography process باستخدام قناع ظاهر
سالب negative revealed mask لاكتشضاف المناطق المتوافقة مع مناطق مدممة من نوع- *«وقضيب توصيل الباعث بحيث إنه في الاستخدام تصل نواقل الشحنة القادمة من مناطق من النوع-*# إلى الإلكتروليت ويسمح بتماس كهربائي من قضيب توصيل الباعث. تم إنشاء تداخل صغير من حوالي 50 ميكرون في منطقة قضيب توصيل المجمع لضمان العزل بين ملمسات
الباعث والمجمع. تم ترسيب طبقة ثانى أكسيد التاتينيوم بسمك حوالي 100 نانومتر بواسطة ترسيب طبقة ذرية في 709 مثوية و 3700 دورة. تم ترسيب طبقة بلاتينيوم بسمك حوالي 2 نانومتر على طبقة ثانى أكسيد التاتينيوم بواسطة تبخير حراري thermal evaporation وتلدينها خلال 1 ساعة في ظروف فراغية في “200مئوية.
5 تتم تعريض الإلكترود الضوئي للإشعاع باستخدام محاكي شمسي Solar Light solar simulator 5 مجهز بمصباح-76 3000 واط ومرشح 1.5 جيجا أيه أم AM لإحداث صهيرة من 100مللي واط سم 2 وكان الإلكترود الضوئي المضاء في تماس مع إلكتروليت يحوي 0.5جزيء جرامي حمض -(H2S04) sulfuric acid <li Sl)
يظهر الشكل 4 القياس الفلطي الدوري cyclic voltammetry للكاثود الضوئي حيث تم إظهار التغير في شدة تيار الإلكترود الضوئي كدالة لجهد إلكترود ضوئي مفرد. كان معدل المسح scan rate هو 20 ميجا فلط/ثانية. تم تقدير كفاءة الهيدروجين الفارادية ل 795 من قياسات حجمية. مثال 2- أنود ضوئي لنشوء أكسجين - نشوء هيدروجين أو حفاز اختزال reduction catalyst ثانى أكسيد الكريون في الإلكترود المضاد
5 تضمنت الخلية الشمسية لخلايا خلفية التماس مشبكة رقيقة من نوع-« مصنوعة من سليكون بسمك 0 ميكرون.
تم بسط طبقة تاتينيوم من 30 نانومتر على قمة المجمع المعدني للخلية الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم بسط طبقة التاتينيوم بعملية تبخير .evaporation process تم ترسيب طبقة Durimide® (راتينج متوفر تجارياً من فوجي فيلم على سبيل المثال) بسمك 5 ميكرون لسد الفتحات والمناطق المدممة من نوع-*« كما تم شرحه Lad يتصل على سبيل المثال بالشكل 2ب). تم بسط طبقة Durimide® بطلاء دوامي ويعد عملية الطلاء الدوامي» تم shal عملية لثيوجرافية ضوئية باستخدام قناع ظاهر سالب لاكتشاف المناطق المتوافقة مع مناطق مدممة من PEs وقضيب توصيل الباعث بحيث إنه في الاستخدام تصل نواقل الشحنة القادمة من مناطق من preg إلى الإلكتروليت ويسمح بتماس كهربائي من قضيب توصيل الباعث. تم إنشاء تداخل 0 صغير من حوالي 50 ميكرون في منطقة قضيب توصيل المجمع لضمان العزل بين ملمسات الباعث والمجمع. تم ترسيب طبقة ثانى أكسيد التاتينيوم بسمك حوالي 100 نانومتر بواسطة ترسيب طبقة ذرية في 50° مثوية و 3700 دورة. تم ترسيب طبقة نيكل بسمك حوالي 25 نانومتر على طبقة ثانى أكسيد التاتينيوم بواسطة تبخير 5 حراري. تم تعريض الإلكترود الضوئي للإشعاع باستخدام محاكي شمسي 166 Solar Light مجهز Xe—z bia 3000 واط ومرشح 1.5 جيجا AM لإحداث صهيرة من 100مللي واط سم *. وكان الإلكترود الضوئي المضاء في تماس مع إلكتروليت يحوي 1 جزيء جرامي هيدروكسيد البوتاسيوم. 0 يظهر الشكل 15 القياس الفلطي الدوري للأنود الضوئي حيث تم إظهار التغير في شدة تيار الإلكترود الضوئي كدالة لجهد إلكترود ضوئي مفرد. كان معدل المسح هو 20 ميجا فلط/ثانية. تم إظهار اختبار ثبات لمدة 1 ساعة في الشكل 5ب. يظهر الشكل بشدة تيار الأنود كدالة على الزمن. كانت الفلطية الواقعة 1.23 فلط مقابل إلكترود هيدروجين قابل للانعكاس reversible (RHE) hydrogen electrode يوجد فاقد أولي من حوالي 120-15 أثناء الخمس دقائق الأولى؛ بعد ذلك كان التيار الضوئي مستقرًا لمدة 1 ساعة. مثال 3- كاثود ضوئي لنشوء هيدروجين
تضمنت LAY الشمسية لخلايا خلفية التماس مشبكة رقيقة من نوع-م مصنوعة من سليكون بسمك 0 ميكرون. تم بسط طبقة تاتينيوم من 30 نانومتر على قمة المجمع المعدني للخلية الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم بسط طبقة التاتينيوم بعملية تبخير.
تم ترسيب طبقة Durimide® (زاتينج متوفر تجارياً من فوجي فيلم على سبيل المثال) بسمك 5 ميكرون لسد الفتحات والمناطق المدممة من prog gi كما تم شرحه Lad يتصل على سبيل المثال بالشكل 2). تم بسط طبقة Durimide® بعملية طلاء دوامي dag عملية الطلاء aio algal) إجراء عملية لثيوجرافية ضوئية باستخدام قناع ظاهر سالب لاكتشاف المناطق المتوافقة مع مناطق مدممة من
0 نوع-*: وقضيب توصيل الباعث بحيث إنه في الاستخدام تصل نواقل الشحنة القادمة من مناطق من النوع-*« إلى الإلكتروليت ويسمح بتماس كهربائي من قضيب توصيل الباعث. تم إنشاء تداخل صغير من حوالي 50 ميكرون في منطقة قضيب توصيل المجمع لضمان العزل بين ملمسات الباعث والمجمع. تم ترسيب طبقة بلاتينيوم بسمك حوالي 5 نانومتر على طبقة الراتينج بواسطة تبخير حراري وصب
5 بالتنقيط إضافي. تم تعريض الإلكترود الضوئي للإشعاع باستخدام محاكي شمسي 166 Solar Light مجهز بمصباح-760 3000 واط ومرشح 1.5 جيجا AM لإحداث صهيرة إشعاع من 100مللي واط سم" 2 وكان الإلكترود الضوئي المضاء في تماس مع إلكتروليت يحوي 0.5 جزيء جرامي حمض
0 الكبربتيك. يظهر الشكل 6 القياس الفلطي الدوري للكاثود الضوئي حيث تم إظهار التغير في شدة تيار الإلكترود الضوئي كدالة لجهد إلكترود ضوئي مفرد. كان معدل المسح هو 20 ميجا فلط/ثانية. مثال 4ا- كاثود ضوئي لنشوءٍ الهيدروجين (Hy) hydrogen تضمنت LAY الشمسية لخلايا خلفية التماس مشبكة رقيقة من نوع-م مصنوعة من سليكون بسمك
5 280 ميكرون.
تم بسط طبقة تاتينيوم من 25 نانومتر على قمة المجمع المعدني للخلية الشمسية خلايا خلفية التماس مشبكة. تم بسط طبقة التاتينيوم بعملية حزمة أشعة-إلكترونية. تم ترسيب طبقة Durimide® (راتينج متوفر تجارياً من فوجي فيلم على سبيل المثال) dou 5 ميكرون لسد الفتحات والمناطق المدممة من نوع-*م كما تم شرحه فيما يتصل على سبيل المثال بالشكل 2). تم بسط طبقة Durimide® بعملية طلاء دوامي dag عملية الطلاء aio algal) إجراء عملية لثيوجرافية ضوئية باستخدام قناع ظاهر سالب لاكتشاف المناطق المتوافقة مع مناطق مدممة من نوع-*« وقضيب توصيل الباعث بحيث إنه في الاستخدام تصل نواقل الشحنة القادمة من مناطق من النوع-* إلى الإلكتروليت ويسمح بتماس كهربائي من قضيب توصيل الباعث. تم إنشاء تداخل 0 صغير من حوالي 50 ميكرون في منطقة قضيب توصيل المجمع لضمان العزل بين ملمسات الباعث والمجمع. تم ترسيب طبقة موصلة واقية protective-conductive layer من راتينج إيبوكسي نيكل nickel epoxy resin (بسمك حوالي 500 ميكرون) في درجة حرارة الغرفة؛ وتم طلاء رغوي نيكل nickel 0 بسمك حوالي 6 ملليمتر بترسيب كهربائي electrodeposition ببلاتينيوم تم وضعه على قمة الراتينج. تم تقديد البوليمر الموصل عند ©150مثوية لمدة ساعة واحدة لضمان ريط جيد للرغوي المعدني metallic foam (أي رغوي النيكل المطلي بالبلاتينيوم). تم تعريض الإلكترود الضوئي للإشعاع باستخدام محاكي شمسي 168 Solar Light مجهز بمصباح-166 3000 واط ومرشح 1.5 جيجا AM لإحداث صهيرة إشعاع من 100مللي واط سم 2 وكان الإلكترود الضوئي المضاء في تماس مع إلكتروليت يحوي 0.5 جزيء جرامي حمض الكبريتيك. مثال 4ب- كاثود ضوئي esl الهيدروجين يختلف المثال 4ب عن Jal) 4 في إنه تم طلاء النيكل بموليبدينوم Ya من بلاتينيوم؛ والذي تم طلاؤه أيضاً بترسيب كهربائي. 5 تتم تعربض الإلكترود الضوئي للإشعاع باستخدام محاكي شمسي 166 Solar Light مجهز Xe—z bia 3000 واط ومرشح 1.5 جيجا AM لإحداث صهيرة من 100مللي واط سم *.
كان الإلكترود الضوئي المضاء بالنيكل-موليبدينوم في تماس مع إلكتروليت يحوي 1 جزيء جرامي هيدروكسيد البوتاسيوم. يظهر الشكل 7 القياس الحجمي الدوري للإلكترود الضوئي للمثالين 4 و 4ب (خط أسود مصمت للإلكترود الضوئي لمثال 4أ و خط متقطع رمادي للإلكترود الضوئي للمثال 4ب) حيث تم إظهار التغير في شدة تيار الإلكترود الضوئي كدالة لجهد إلكترود ضوئي مفرد. كان معدل المسح هو 20 ميجا فلط/ثانية. تم إظهار اختبارات ثبات لمدة ساعة واحدة في الشكلين 7ب و 7ج. يظهر الشكل 7ب و 7ج شدة تيار الكاثود كدالة للزمن للإلكترود الضوئي مع بلاتين (أي إلكترود ضوئي المثال 4( والإلكترود الضوئي مع النيكل-موليبدينوم (أي الخاص بالمثال 4ب)؛ على التوالي. كانت الفلطية المنفذة 0.3 0 فلط مقابل إلكترود هيدروجين قابل للانعكاس بالنسبة للإلكترود الضوئي مع بلاتين و 0 فلط مقابل إلكترود هيدروجين قابل للانعكاس بالنسبة للإلكترود الضوئي مع النيكل-موليبدينوم. رغم إنه قد تم عرض عدد فقط من الأمثلة في تلك الوثيقة؛ فمن المحتمل وجود بدائل؛ تعديلات؛ استخدامات و/أو نظائر أخرى لها. Bde على ذلكن تمت أيضاً تغطية جميع التركيبات المحتملة للأمثلة الموصوفة. ومن ثم؛ فإنه يجب عدم حصر نطاق الكشف الحالي بأمثلة خاصة؛ ولكن يجب 5 اعتباره فقط بقراءة عادلة لعناصر الحماية التالية. قائمة التتابع ١ (ملي أمبير لكل سم (ge VE" مقابل. (RHE TE الزمن (دقيقة)
Claims (1)
- عناصر الحماية1. إلكترود ضوئي photoelectrode لخلية كهروكيميائية ضوئية ¢photoelectrochemical cell يمتد الإلكترود الضوئي photoelectrode من سطح طرفي أمامي front end surface إلى سطح طرفي خلفي back end surface مقابل؛ حيث يتم تعريض السطح الطرفي | لأمامي front end surface في الاستخدام للإشعاع بضوء ساقط ويلامس السطح الطرفي الخلفي back end surface المقابل في الاستخدام إلكتروليت electrolyte الخلية الكهروكيميائية الضوئية ephotoelectrochemical cell حيث يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode - سطح خلية شمسية أمامي back-contact solar cell يشكل في الاستخدام السطح الطرفي الأمامي front end surface للإلكترود الضوئي photoelectrode المراد تشعيعه بالضوءٍ الساقط إلى - سطح خلية شمسية خلفي solar cell back surface مقابل يواجه السطح الطرفي الخلفي back Cus (Lilia end surface 0 يضم سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل مُلَمّسات باعث emitter ومُلَمّسات مجمع collector تمت مباعدة ملمسات الباعث emitter ومُلَمّسات المجمع collector بفتحات أولى لسطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل؛ وقد تم تجميع مُلَمّسات الباعث emitter وَمُلَجْسات المجمع collector على التوالي في قضيب توصيل emitter busbar Ce bs وقضيب توصيل مجمع collector busbar و حيث يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode أيضاً - طبقة تخميل ملمس contact passivation layer تغطي سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل لفصل مُلَمّسات الباعث emitter ومُلَمّسات المجمع collector عن الإلكتروليت electrolyte عند الاستخدام» Cua تضم طبقة تخميل الملمس contact passivation layer أيضاً فتحات ثانية متوافقة مع الفتحات الأولى لسطح Lal) الشمسية الخلفي solar cell back surface edt 0 - طبقة راتينج resin layer تغطي الفتحات الأولى والفتحات الثانية وجزءًا من طبقة تخميل الملمس contact passivation layer التي تكون في توافق مع CHICA المجمع collector contacts بحيث إنه في الاستخدام تعترض نواقل الشحنة charge carriers القادمة من ملمسات الباعث emitter فقط طبقة تخميل الملمس contact passivation layer في طريقها إلى الإلكتروليت electrolyte بينما يتمتجميع نواقل الشحنة charge carriers من ملمسات المجمع collector في قضيب توصيل المجمع «collector busbar و - طبقة حفاز كهريائي electrocatalyst layer تغطي على التوالي طبقة الراتينج cresin layer طبقة تخميل الملمس «contact passivation layer أو كلتيهما» حيث تشكل الطبقة الحفاز الكهربائي electrocatalyst layer 5 السطح الطرفي الخلفي back end surface المقابل الذي يلامس في الاستخدام الإلكتروليت .electrolyte2. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث تضم الخلية الشمسية خلفية التماس solar cell back surface (I 10 ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate بها 1( سطح ركيزة أمامي substrate front surface يحدد سطح الخلية الشمسية الأمامي solar cell «front surface و 2( سطح ركيزة خلفي substrate back surface مقابل يواجه سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل ؛» حيث يتم اختيار الركيزة شبه الموصلة semiconductor substrate من نوع-0 ومن pgs ب) مناطق مدممة doped regions نوع-*( n*¢ sig واحدة أو أكثر ؛ حيث يتم تجهيز المناطق المدممة doped regions من نوع- م ونوع*0 (ABE على سطح الركيزة الخلفي substrate back surface المقابل؛ حيث يعتمد توزيع المناطق المدممة doped regions من نوع-*م ونوع*« على نوع الركيزة شبه «semiconductor substrate dla gall و (z 0 مجمع معدني metal collector يغطي واحدة أو أكثر من المناطق المدممة doped regions من نوع-7م ونوع*«0 لكي يحدد على التوالي ملمسات الباعث emitter ومُلَمّسات المجمع collector بحيث إنه في الاستخدام يجمع المجمع المعدني metal collector ملمسات الباعث emitter قضيب توصيل emitter busbar Cell ويلامس المجمع collector في rund توصيل المجمع collector Cus busbar تم تجهيز الفتحات الأولى لسطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface 5 في المجمع المعدني metal collector بالتوافق مع وصلات junctions بين واحدة أو أكثر من مناطق مدممة regions 00060 من نوع*« ونوع-”م كي تفصل ملمسات الباعث emitter عن ملمساتالمجمع ccollector حيث يشكل المجمع المعدني metal collector سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل.3. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقاً لعنصر الحماية 2 حيث يكون نوع ركيزة شبه الموصل semiconductor 5 من نوع-0؛ يحدد ملمسات الباعث emitter المناطق المدممة doped regions من النوع-0«7 ويحدد ملمسات المجمع collector المناطق المدممة doped regions من النوع-*م . 4 الإلكترود الضوئي photoclectrode وفقاً لعنصر الحماية 2 حيث فيه يكون نوع ركيزة شبه الموصل semiconductor نوع-0؛ يحدد ملمسات الباعث emitter المناطق المدممة doped regions من النوع 7م ويحدد ملمسات المجمع collector المناطق المدممة doped regions من النوع 17 .5. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث يتم صنع طبقة الراتينج resin layer من بوليمر يكون ثابتاً Lilia وله مقاومة حرارية تساوي أو أعلى من 2009مئوية وله مقاومة نوعية حجمية أعلى من 10" أوم.سم.6. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقاً لعنصر الحماية 1 حيث يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode أيضاً طبقة تخميل passivation layer ثانية مجهزة بين طبقة الحفاز الكهربائي electrocatalyst layer وعلى sill طبقة الراتينج resin layer أو طبقة تخميل الملمس contact.passivation layer7. خلية كهروكيميائية ضوئية photoelectrochemical cell تضم إلكترود ضوئي photoelectrode أول يمتد من سطح طرفي أمامي front end surface إلى سطح طرفي خلفي back end surface (lia حيث يتم تعريض السطح الطرفي | لأمامي front end surface عند الاستخدام للإشعاع بضوء ساقط ويلامس السطح الطرفي الخلفي back end surface المقابل في الاستخدام إلكتروليت electrolyte 5 الخلية الكهروكيميائية الضوئية Gua cphotoelectrochemical cell يضمن الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول- خلية شمسية خلفية التماس back-contact solar cell تمتد من - سطح أمامي لخلية شمسية solar cell front surface تمثل في الاستخدام السطح الطرفي | لأمامي front end surface للإلكترود الضوئي photoclectrode المراد تعريضه للإشعاع بالضوء الساقط على -سطح خلية شمسية خلفي solar cell back surface مقابل متجه للسطح الطرفي الخلفي back end surface المقابل؛ حيث يضم سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل ملمسات باعث emitter وملمسات مجمع :0116010؛ حيث تتم مباعدة ملمسات الباعث emitter وملمسات المجمع collector بفتحات أولى وسطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل؛ ويتم تجميع ملمسات 0 الباعث emitter وملمسات المجمع collector على التوالي في قضيب توصيل باعث emitter busbar وقضيب توصيل مجمع collector busbar حيث يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode أيضاً - طبقة تخميل ملمس contact passivation layer تغطي سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل لفصل ملمسات الباعث emitter وملمسات المجمع collector عن الإلكتروليت electrolyte 15 في الاستخدام» حيث تضم طبقة تخميل الملمس Lead contact passivation layer فتحات ثانية تتوافق مع الفتحات الأولى للسطح الخلفي للخلية الشمسية solar cell back surface المقابل؛ - طبقة راتينج resin layer تغطي الفتحات الأولى والفتحات الثانية png من طبقة تخميل الملمس contact passivation layer التي تتوافق مع ملمسات المجمع ccollector بحيث إنه في الاستخدام تعترض نواقل الشحنة charge carriers القادمة من ملمسات الباعث emitter فقط طبقة تخميل الملمس passivation layer 001861 في طريقها إلى الإلكتروليت electrolyte بينما يتم تجميع نواقل الشحنة charge carriers القادمة من ملمسات المجمع collector في قضيب توصيل المجمع «collector busbar و - طبقة حفازة electrocatalyst layer 450 gS تغطي على التوالي طبقة الراتينج cresin layer طبقة 5 تخميل الملمس «contact passivation layer أو كليهما» حيث تمثل الطبقة الحفازة الكهريائيةelectrocatalyst layer السطح الطرفي الخلفي back end surface الذي يلامس الإلكتروليت electrolyte في الاستخدام؛ وحيث يتم تجهيز الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول بحيث إنه في الاستخدام يشعع ضوءٍ ساقط سطحه الطرفي | لأمامي front end surface وبلامس سطحه الطرفي الخلفي back end surface المقابل الإلكتروليت .electrolyte6. الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell وفقاً لعنصر الحماية 7 حيث تضم الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell أيضاً: إلكترود electrode ثان تم تجهيز متباعدًا عن الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول» و 0 فاصل تبادل-أيون fon-exchange separator موضوع بين الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول والإلكترود electrode الثاني؛ حيث يتم توصيل الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول والإلكترود electrode الثاني كهربائياً ببعضهما البعض. 5 9. الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell وفقا لعنصر الحماية 8؛ Cus يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate من نوع- op حيث يتم تحديد ملمسات الباعث emitter بواسطة مناطق doped regions dase من نوع n+ ويتم تحديد ملمسات المجمع collector بواسطة المناطق المدممة doped regions من نوع p+ 20 10. الخلية الكهروكيميائية الضوئية Wg photoelectrochemical cell لعنصر الحماية 7 تتضمن أيضاً: 1 حجيرة كاتودية cathodic compartment تضم إطار حامل كاثود cathode support frame يضم sale كاثودية cathodic material تعمل ككاثود ¢cathode إطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون carbon dioxide (0©) مائع وغازي أول وإطار توزيع distribution frame ثانى 5 أكسيد الكريون carbon dioxide مائع وغازي ثان؛ دثار كاثودي cathodic gaskets واحد أو أكثرء تم وضع واحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بين الإطار الحامل للكاثود cathodesupport frame والمائع الأول وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون carbon dioxide (CO) الغازي والمائع الثاني وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون carbon dioxide «gall (CO) وكأطراف جانبية لحجيرة الكاثود tcathodic compartment حيث تم تجهيز الإطار الحامل للكاثود support frame 801006 بين إطاري التوزيع distribution frames الأول والثاني؛ب) حجيرة أنودية anodic compartment تضم إطارًا حاملاً لأنود anode support frame يضم مادة أنودية anodic material تعمل كأنود 60006؛ إطار توزيع مائع fluid distribution frame مجهز بحيث يكون إطار توزيع المائع fluid distribution frame على gia من الحجيرة الأنودية anodic compartment أقرب إلى الغشاء ase إلى الإطار الحامل ¢anode support frame ago ودثار أنودي anodic gaskets واحد أو أكثر ؛ وقد تم وضع واحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodicgaskets 0 بين الإطار الحامل للأنود anode support frame وإطار توزيع المائع fluid distribution frame وكأطراف جانبية للحجيرة الأنودية tanodic compartment و ج غشاء تبادل-أيون ion-exchange membrane مجهزة بين الحجيرة الكاثودية cathodic compartment والحجيرة الأنودية tanodic compartment حيث فيه 5 1) المادة الكاثودية cathodic material هي إلكترود مسامي موصل conductive porous electrode مع مادة حفاز كهريائي electrocatalyst material لثاني أكسيد الكريون (CO2) carbon dioxide مثبت؛ 2) تم تجهيز المائع الأول وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون carbon dioxide (20) الغازي؛ المائع الثاني وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون carbon dioxide sl (Coy 0 » وواحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بحيث إنه في الاستخدام يسمح المائع الأول وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون (CO) carbon dioxide الغازي؛ المائع الثاني وإطار توزيع distribution frame ثاني أكسيد الكريون (CO) carbon dioxide الغازي ؛ وواحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بإدخال كاثوليت catholyte وثاني أكسيد الكريون carbon dioxide (0©) غازي بشكل منفصل إلى الحجيرة الكاثودية cathodic compartment 5 _من خلال Mle إدخال inlet ports مختلفة وبسمح المائع الأول وإطار توزيع =U distribution frame أكسيد الكربون (CO2) carbon dioxide الغازي؛ المائع الثاني وإطار توزيعdistribution frame ثاني أكسيد الكريبون carbon dioxide (د0) dl ؛ وواحد أو AST من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بخروج الكاثوليت ccatholyte المنتجات السائلة والغازية و/أو ثانى أكسيد الكريون carbon dioxide (02©) غير متفاعل بشكل مشترك من خلال Mie خروج outlet port 55 3) تم تجهيز إطار توزيع المائع «fluid distribution frame الإطار الحامل للأتود anode support frame وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بطريقة بحيث إنه في الاستخدام يسمح إطار توزيع المائع «fluid distribution frame الإطار الحامل للأنود anode support frame وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بإدخال أنوليت anolyte الحجيرة الأنودية anodic compartment من خلال Mie إدخال cinlet port وبسمح إطار توزيع المائع fluid distribution frame 10 الإطار الحامل للأنود anode support frame وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بخروج الأنوليت anolyte ومنتجات الأكسدة oxidation products بشكل مشترك من خلال ie خروج ‘outlet port 4( المادة الأنودية material 00016ة» هي مادة أنودية حفازة كهربائياً photocatalytic anodic material ويتم وضعها في جانب مواجه لغشاء النافذة البصرية membrane of optical window للإطار الحامل للأنود tanode support frame وقد تم تجهيزها بحيث إنه في الاستخدام تكون مؤهلة للتماس مع الأنوليت anolyte الذي تم إدخاله في الحجيرة الأنودية anodic compartment من خلال منفذ الإدخال inlet port و» هي مؤهلة لتنشيطها عندما يصل إشعاع مستخدم لتشعيع الحجيرة الأنودية anodic compartment إلى النافذة البصرية optical window بجاتنبها المقابل من النافذة الضوئية الذي لا يواجه الغشاء ¢membrane و 5( للمادة الأنودية الحفازة الضوئية sala photocatalytic anodic material كاثودية لانتشار الغاز gas diffusion cathodic material نسبة مساحة سطحية surface area تقع من 1: 1 إلى 1: 0.02 حيث تكون المادة الأنودية anodic material إلكترود ضوئي photoelectrode من النوع «p+ ويتم تحديد ملمسات emitter Sell من خلال المناطق المدممة doped regions من نوع -+0 وبتم تحديد ملمسات المجمع collector من خلال المناطق المدممة doped regions من نوع هن وفقاً 5 لعنصر الحماية 4.1. الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell وفقا لعنصر الحماية 7« تتضمن أيضاً: 1 حجيرة كاثودية cathodic compartment تضم Sela Ua} لكاثود cathode support frame يضم sale كاثودية cathodic material تعمل ككاثود ¢cathode إطار توزيع مائع fluid distribution ¢frame 5 دثار كاتودي cathodic gaskets واحد أو أكثر ؛ وقد تم وضع واحد أو أكثر من الدثارات الكاتودية cathodic gaskets بين الإطار التحامل للكاقود cathode support frame وإطار توزيع المائع fluid distribution frame وكأطراف جانبية للحجيرة الكاثودية ¢cathodic compartment ب حجية أنودية anodic compartment تضم Ha} حاملاً لأنود anode support frame يضم مادة أنودية anodic material تعمل كأنود ¢anode إطار توزيع مائع fluid distribution frame مجهز 0 بحيث يكون إطار توزيع المائع fluid distribution frame على جزءٍ من الحجيرة الأنودية anodic compartment أقرب إلى الغشاء membrane منه إلى الإطار الحامل للأنود ¢anode support frame دثار أنودي anodic gaskets واحد أو أكثر » وقد تم وضع واحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بين الإطار الحامل للأنود anode support frame وإطار توزيع المائع fluid distribution frame وكأطراف جانبية للحجيرة الأنودية tanodic compartment و ج فاصل تبادل-أيون ion-exchange separator مجهز بين الحجيرة الكاثودية cathodic compartment والحجيرة الأنودية tanodic compartment حيث فيه 1) المادة الكاثودية cathodic material هي إلكترود electrode مع sale حفاز كهربائي csi Je lil electrocatalyst material هيدروجين (HER) hydrogen evolution reaction مثبت؛ 2) تم تجهيز إطار توزيع المائع fluid distribution frame وواحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بحيث إنه في الاستخدام يسمح إطار توزيع المائع fluid distribution frame وواحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بإدخال كاثوليت catholyte إلى الحجيرة الكاثودية cathodic compartment من خلال منافذ إدخال inlet port مختلفة many إطار توزيع المائع fluid distribution frame وواحد أو أكثر من الدثارات الكاثودية cathodic gaskets بخروج 5 الكاثوليت catholyte ومنتج الاختزال reduction product بشكل مشترك من خلال Mie خروج outlet ‘port3( تم تجهيز إطار توزيع المائع «fluid distribution frame الإطار الحامل للأتود anode support frame وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بطريقة بحيث إنه في الاستخدام يسمح إطار توزيع fluid distribution frame Bll وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بإدخال أنوليت anolyte في الحجيرة الأنودية anodic compartment من خلال منفذ إدخال inlet 5 00:6 ويسمح إطار توزيع المائع fluid distribution frame وواحد أو أكثر من الدثارات الأنودية anodic gaskets بخروج الأنوليت anolyte ومنتجات الأكسدة oxidation products بشكل مشترك من خلال منفذ toutlet port zg Al 4( المادة الأنودية canodic material هي إلكترود electrode يحوي حفازة كهربائياً electrocatalyst material لتفاعل نشوء أكسجين <(OER) oxygen evolution reaction و 5( للمادة الأنودية anodic material والمادة الكاثودية cathodic material نسبة مساحة سطحية surface area تقع من 1: 1 إلى 1: 0.02 حيث تكون المادة الكاثودية cathodic material إلكترود ضوئي شبه موصل semiconductor photoelectrode من النوع +0؛ يتم تحديد ملمسات emitter Sell من خلال المناطق المدممة doped regions من نوع -+0 hig تحديد ملمسات المجمع collector من خلال المناطق المدممة doped regions 5 من نوع -+(؛ أو تكون المادة الأنودية anodic material إلكترود ضوئي شبه موصل (semiconductor photoelectrode النوع ant يتم تحديد ملمسات الباعث 80108 من خلال المناطق المدممة doped regions من نوع -+8 ويتم تحديد ملمسات المجمع collector من خلال المناطق المدممة doped regions من نوع -+0 وقد تم وضع الإلكترود الضوئي photoelectrode في جانب مواجه لغشاء النافذة البصرية membrane of optical window و» هو مؤهل لتنشيطه 0 عندما يصل الإشعاع المستخدم للتشعيع إلى النافذة البصرية optical window بالجانب المقابل من النافذة الضوئية غير المواجه للغشاء .membrane2. طريقة لتصنيع الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقاً لعنصر الحماية 1 تشمل: - تجهيز الخلية الشمسية الخلفية التماس «back-contact solar cell- تجهيز طبقة تخميل الملمس contact passivation layer تغطي سطح الخلية الشمسية الخلفي solar cell back surface المقابل ¢ تم تزويد طبقة تخميل الملمس contact passivation layer بفتحات ثانية متوافقة من الفتحات الأولى» - تجهيز طبقة راتينج resin layer لسد الفتحات الأولى والفتحات Cua (dull تغطي طبقة الراتينج resin layer 5 أيضاً جزءًا من طبقة تخميل الملمس contact passivation layer التي تتوافق مع ملمسات المجمع scollector و - تجهيز طبقة حفاز كهريائي electrocatalyst layer تغطي على التوالي طبقة الراتينج resin layer وطبقة تخميل الملمس .contact passivation layer 0 13. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 12( حيث تتضمن الطريقة Load تجهيز طبقة تخميل passivation dak cpu layer الحفاز الكهريائي electrocatalyst layer وعلى التوالي طبقة تخميل الملمس contact «passivation layer طبقة الراتينج resin layer كلتيهما؛ حيث يتم تجهيز طبقة التخميل passivation layer بترسيب طبقة )4 atomic layer deposition بترسيب ليزر نابض pulsed deposition “تعدا بعمليات محلول-هلام processes 501-861؛ بطلاء «diay أو بطباعة شاشة.4. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 12 Cus تم تجهيز طبقة الراتينج resin layer بطلاء دوامي spin coating وتم استخدام لثيوجرافي ضوئي كي يفتح مناطق لا يراد أن تغطى بطبقة الراتينج resin layer15. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 12( حيث يتم تجهيز طبقة تخميل الملمس contact passivation layer بعمليات تبخير .evaporation processes6. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 12( حيث تم تجهيز طبقة الحفاز الكهريائي clectrocatalyst layer بعمليات تبخير evaporation processes أو ترسيب أغشية رقيقة .thin films7. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 16( Cus يتضمن ترسيب الأغشية الرقيقة thin films ترسيباً فوق ركيزة substrate يتم اختيارها من المجموعة التي تتألف من رغوي أو شبكة.8. الطريقة وفقا لعنصر الحماية 13( Cus تم تجهيز طبقة الراتينج resin layer بطلاء دوامي spin coating 5 وتم استخدام ليثيوجرافية ضوئية photolithography لاكتشاف المناطق التي لا تغطيها resin layer طبقة الرتينج9. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقا لعنصر الحماية 3 حيث يتم تصنيع طبقة الراتينج resin layer من بوليمر polymer مستقر كيميائياً له مقاومة حرارية تساوي أو أعلى من 200"مثوية 0 ومقاومة نوعية حجمية of من 10" أوم.سم.0. الإلكترود الضوئي photoelectrode وفقا لعنصر الحماية 4 Cus يتم تصنيع طبقة الراتينج resin layer من بوليمر polymer مستقر كيميائياً له مقاومة حرارية تساوي أو أعلى من 200"مثوية ومقاومة نوعية حجمية (el من 10" أوم.سم. 5 21. الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell وفقا لعنصر الحماية 8؛ Cua يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate من النوع on حيث يتم تحديد ملمسات الباعث emitter بواسطة مناطق مدممة doped regions من نوع p+ ويتم تحديد ملمسات المجمع collector بواسطة المناطق المدممة doped regions من نوع +0.2. الخلية الكهروكيميائية الضوئية photoelectrochemical cell وفقا لعنصر الحماية 8؛ Cua 0 يضم الإلكترود الضوئي photoelectrode الأول ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate من النوع op حيث يتم تحديد ملمسات الباعث emitter بواسطة مناطق مدممة doped regions من نوع +0 ويتم تحديد ملمسات المجمع collector بواسطة المناطق المدممة doped regions من نوع ¢p+ ويكون الإلكترود electrode الثاني إلكترود ضوئي photoelectrode يضم ركيزة شبه موصلة semiconductor substrate من النوع on حيث يتم تحديد ملمسات الباعث emitter بواسطة مناطق 5 مدممة doped regions من نوع p+ وبتم تحديد ملمسات المجمع collector بواسطة المناطق المدممة doped regions من نوع n+٠ 3 8 ٠ و اع > بن ١ : ER“1. 5 - & be LI of سس I | RE د Ce Ld we اح م I= سا | ¢ * Yoo 3 © ٠ ١ شكل EXP 3 ف لأ 1 1 F \ 4 \ XN سس “yy. : Pad oo] إٍْ ١ \y \ : الحم \ 4 \ Veo - | TE yey vo. Y4Y ١ شكل ب— 3 9 —Ya. ٠١ ؟ § , 3 ب > اه الهم هت وت كت م / VV AANA ١ yi ات “ LL ض ول بحا A ٠ EE —— h i ا ل = -٠١١١ SEAM لا ٠ م اح yyy ell) y | x ALE 9. , ل MAAAAAAA VaV © SN p Ng . \N ; جم 3 3 سيسات سا ١ VAL -- أ تك سيم ١ A oF ا ا جح بالل sn يح م ا =A | | || NB J VV د( مات ٍ pl | | | IN \ VY y الا الا gg {| ay VE بك أ : شكل آ"ب0 = \ A cy LLL] THE yy ض 5 \ \ { \ z Y شكل it ب — nn —— ASN x 1 : ‘ ] bog a I ™ 3 1 pod و10 : HT I 1 ; ) \ \ 1 بأ | 3 1 1 1 1 \ & ملت 3 : J ERE. ] Fa ¢ 3 1 6 ل 3 x I j 1 ' : : : : : 3 1 & b 5 ان I 1 ] لاا ا اا انا ! } * 0 ابي § و ب 5 \ ال ل esi 1 i 8 0 i HR 1 i fg NAMA 8 ] { 1 i > 8 1 1:1 8 i 0 i i ot 3 > 8 i 3 : 8 { Sa § EN i 1 1 اااي اا : { Bat I DE 1 8 i 14 eh H 3 ry \ = Y ا ة! لبت we Teh VEE 3 8 foe I I I ها 1 8 و 9 id ال EE تتلي ِْ 1 الا 0 8 0 | Fert i i : aw ا 3 nak ES 3 HR] [haa ES 3 i LS 1 NE REA 8 OAs : 1 85 § 0 Po Ty, i id EN 1 1030 ات { i had 3 3 N = 3 in oF 1 10 : { i oa 3 3 1 i 3 NEY oN i i ) it i Fe — VE otk ق 3 0 a السلا 3 { 80. ا 8 i iy Nu YT § : 8 7 مسي } 0 لا ؟ 4 ب 3 8 Hy 0 HE 8 ا ٍِ i ب Ee \ 1 ابسحت ل OF EY H HE p 0 3 0 HE } يك بخ ¥ fae 5٠ 42- 18 0 ات Yaa حا LrYa. ea تتح سحت تحت تحت جتحت scene anes: للحن تتححح ج ححا cosnes esac: scons لتحا ت tesa tessa: anes: mane RL PNT TLE IE SEP (UN SE I SE A I uy شكل ؛Xe. nin Ya Yo ٍ LR Ys 2 + ا اللا 000000000000: 00 8 مي م حي at lo شكلنا لد vy3. 3 0 ٍ ااا 2 - 0 ١ * و ¥ « a i بت Ta Won d 3 شكل هب nin .5. ١٠١ ٍْ كنYam.Ya. You 1 0 FREE TE TS SEE SEIS يه لابج ارح #.مء "ب" "JSG nin ] Yn Lo Yeo EYe. 0 ْ 0 ا ال a 0 i oy LY "ْ ٍ: . “ب 1 7 . nin L $ > = Hi & nah SEA 1 RAMAN A ~ ) h 5 و8 وج Fe م لأ * 4 I< tie . سر A gE Yeu § a لاما ادي arin Sy MIT ant AAAS ال ا 7 .1 ا 0 ب TR! 'd شكل لا 03 الاله الهيلة السعودية الملضية الفكرية ا Sued Authority for intallentual Property RE .¥ + \ ا 0 § 8 Ss o + < م SNE اج > عي كي الج TE I UN BE Ca a ةا ww جيثة > Ld Ed H Ed - 2 Ld وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها of سقوطها لمخالفتها ع لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف ع النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية. Ad صادرة عن + ب ب ٠. ب الهيئة السعودية للملكية الفكرية > > > فهذا ص ب 101١ .| لريا 1*١ v= ؛ المملكة | لعربية | لسعودية SAIP@SAIP.GOV.SA
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP15382658.1A EP3184670B1 (en) | 2015-12-23 | 2015-12-23 | Substrate-electrode (se) interface illuminated photoelectrodes and photoelectrochemical cells |
PCT/EP2016/082442 WO2017109108A1 (en) | 2015-12-23 | 2016-12-22 | Substrate-electrode (se) interface illuminated photoelectrodes and photoelectrochemical cells |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SA518391866B1 true SA518391866B1 (ar) | 2021-10-21 |
Family
ID=55068945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SA518391866A SA518391866B1 (ar) | 2015-12-23 | 2018-06-23 | إلكترودات ضوئية وخلايا كهروكيميائية ضوئية مضاءة بواجهة ركيزة-إلكترود |
Country Status (18)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10903018B2 (ar) |
EP (1) | EP3184670B1 (ar) |
JP (1) | JP6940237B2 (ar) |
KR (1) | KR20180100323A (ar) |
CN (1) | CN108541275B (ar) |
AU (1) | AU2016374872B2 (ar) |
CA (1) | CA3008968C (ar) |
CL (1) | CL2018001649A1 (ar) |
CO (1) | CO2018006864A2 (ar) |
DK (1) | DK3184670T3 (ar) |
ES (1) | ES2733443T3 (ar) |
IL (1) | IL260205B (ar) |
MX (1) | MX2018007469A (ar) |
MY (1) | MY188780A (ar) |
PE (1) | PE20181188A1 (ar) |
PT (1) | PT3184670T (ar) |
SA (1) | SA518391866B1 (ar) |
WO (1) | WO2017109108A1 (ar) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3752664A4 (en) * | 2018-02-14 | 2021-11-24 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | HIGH HOLD ELECTRODES AND ELECTROLYTES FOR DISSOCIATION OF ALKALINE AND NEUTRAL SALT WATER |
WO2019198053A1 (en) * | 2018-04-13 | 2019-10-17 | King Abdullah University Of Science And Technology | Photoelectrochemical (pec) cell |
US11316169B2 (en) * | 2018-06-12 | 2022-04-26 | West Virginia University | Methods for forming electrocatalyst structures and electrodes comprising same |
CN110783157B (zh) * | 2019-10-24 | 2021-11-05 | 北方夜视技术股份有限公司 | 一种应用于多碱光电阴极的复合光学薄膜及其制备方法 |
KR102376732B1 (ko) * | 2020-06-23 | 2022-03-18 | 한양대학교 에리카산학협력단 | 광양극 구조체, 그 제조 방법, 및 이를 포함하는 하이브리드 발전 소자 |
CN114318359B (zh) * | 2021-11-15 | 2024-05-14 | 无锡隆基氢能科技有限公司 | 光电极、光电解水装置和使用其的能量系统以及光电解水的方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2119362C3 (de) * | 1971-04-21 | 1980-03-20 | Maier, Josef, 7611 Steinach | Schalungsecke |
JP2009152222A (ja) * | 2006-10-27 | 2009-07-09 | Kyocera Corp | 太陽電池素子の製造方法 |
JP2010174324A (ja) * | 2009-01-29 | 2010-08-12 | Mitsuteru Kimura | 水素吸蔵装置及びその水素吸蔵電極を利用した電池 |
JP5427653B2 (ja) * | 2010-03-10 | 2014-02-26 | シャープ株式会社 | 気体製造装置および気体製造方法 |
JP5802374B2 (ja) * | 2010-05-19 | 2015-10-28 | シャープ株式会社 | 太陽電池一体型気体製造装置 |
US8766090B2 (en) * | 2012-03-19 | 2014-07-01 | Rec Solar Pte. Ltd. | Method for metallization or metallization and interconnection of back contact solar cells |
DE102012205258A1 (de) * | 2012-03-30 | 2013-10-02 | Evonik Industries Ag | Photoelektrochemische Zelle, System und Verfahren zur lichtgetriebenen Erzeugung von Wasserstoff und Sauerstoff mit einer photoelektrochemischen Zelle und Verfahren zur Herstellung der photoelektrochemischen Zelle |
US9947812B2 (en) * | 2014-03-28 | 2018-04-17 | Sunpower Corporation | Metallization of solar cells |
KR101759106B1 (ko) * | 2016-04-22 | 2017-07-18 | 충북대학교 산학협력단 | 태양 에너지를 변환하고 저장하기 위한 인공 나뭇잎 장치 |
-
2015
- 2015-12-23 PT PT15382658T patent/PT3184670T/pt unknown
- 2015-12-23 ES ES15382658T patent/ES2733443T3/es active Active
- 2015-12-23 EP EP15382658.1A patent/EP3184670B1/en active Active
- 2015-12-23 DK DK15382658.1T patent/DK3184670T3/da active
-
2016
- 2016-12-22 WO PCT/EP2016/082442 patent/WO2017109108A1/en active Application Filing
- 2016-12-22 CN CN201680074396.1A patent/CN108541275B/zh active Active
- 2016-12-22 CA CA3008968A patent/CA3008968C/en active Active
- 2016-12-22 JP JP2018532149A patent/JP6940237B2/ja active Active
- 2016-12-22 PE PE2018001166A patent/PE20181188A1/es unknown
- 2016-12-22 US US16/065,711 patent/US10903018B2/en active Active
- 2016-12-22 MY MYPI2018000965A patent/MY188780A/en unknown
- 2016-12-22 MX MX2018007469A patent/MX2018007469A/es unknown
- 2016-12-22 KR KR1020187018980A patent/KR20180100323A/ko active IP Right Grant
- 2016-12-22 CO CONC2018/0006864A patent/CO2018006864A2/es unknown
- 2016-12-22 AU AU2016374872A patent/AU2016374872B2/en active Active
-
2018
- 2018-06-18 CL CL2018001649A patent/CL2018001649A1/es unknown
- 2018-06-21 IL IL260205A patent/IL260205B/en unknown
- 2018-06-23 SA SA518391866A patent/SA518391866B1/ar unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PT3184670T (pt) | 2019-07-17 |
IL260205A (en) | 2018-07-31 |
IL260205B (en) | 2021-10-31 |
CA3008968A1 (en) | 2017-06-29 |
DK3184670T3 (da) | 2019-07-22 |
EP3184670A1 (en) | 2017-06-28 |
PE20181188A1 (es) | 2018-07-20 |
CA3008968C (en) | 2023-12-12 |
US10903018B2 (en) | 2021-01-26 |
CL2018001649A1 (es) | 2018-08-24 |
ES2733443T3 (es) | 2019-11-29 |
AU2016374872B2 (en) | 2021-10-28 |
AU2016374872A1 (en) | 2018-07-19 |
MY188780A (en) | 2021-12-30 |
WO2017109108A1 (en) | 2017-06-29 |
CO2018006864A2 (es) | 2018-09-20 |
US20190013156A1 (en) | 2019-01-10 |
JP6940237B2 (ja) | 2021-09-22 |
CN108541275A (zh) | 2018-09-14 |
EP3184670B1 (en) | 2019-04-17 |
MX2018007469A (es) | 2018-11-29 |
KR20180100323A (ko) | 2018-09-10 |
CN108541275B (zh) | 2021-01-12 |
JP2019507240A (ja) | 2019-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SA518391866B1 (ar) | إلكترودات ضوئية وخلايا كهروكيميائية ضوئية مضاءة بواجهة ركيزة-إلكترود | |
Kim et al. | Toward practical solar hydrogen production–an artificial photosynthetic leaf-to-farm challenge | |
Fan et al. | Silicon based photoelectrodes for photoelectrochemical water splitting | |
US9435043B2 (en) | Oxygen evolution reaction catalysis | |
EP2351873B1 (en) | Photoelectrochemical cell and energy system using the same | |
US8821700B2 (en) | Photoelectrochemical cell and energy system using same | |
EP2527495B1 (en) | Hydrogen generation device | |
US10280522B2 (en) | Artificial-photosynthesis array | |
US20220056601A1 (en) | Oxygen evolution reaction catalysis | |
JP2006508253A (ja) | 液状電解物を有した集積型光電気化学とそのシステム | |
WO2005008806A2 (en) | Photoelectrolysis of water using proton exchange membranes | |
JP2012001420A (ja) | 太陽電池一体型気体製造装置 | |
US20170191172A1 (en) | Artificial photosynthesis module | |
US10392714B2 (en) | Artificial-photosynthesis module | |
US20160281241A1 (en) | Water electrolysis system | |
JP2007528935A (ja) | 水素を直接発生し、収集するための光電池 | |
US9403154B2 (en) | Catalysts and methods of use | |
WO2013011843A1 (ja) | 電解槽、気体製造装置および気体製造方法 | |
US20060100100A1 (en) | Tetrahedrally-bonded oxide semiconductors for photoelectrochemical hydrogen production | |
KR102512652B1 (ko) | 수소 생성을 위한 전기화학 셀 및 이를 이용한 태양광 수소 생성 장치 | |
US11605746B2 (en) | Semiconductor suitable for use in photoanode | |
Moon et al. | Discover Materials | |
Zhou | Performance and Stability Optimization of Solar Fuel Devices |