SA118390415B1 - مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية - Google Patents

مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية Download PDF

Info

Publication number
SA118390415B1
SA118390415B1 SA118390415A SA118390415A SA118390415B1 SA 118390415 B1 SA118390415 B1 SA 118390415B1 SA 118390415 A SA118390415 A SA 118390415A SA 118390415 A SA118390415 A SA 118390415A SA 118390415 B1 SA118390415 B1 SA 118390415B1
Authority
SA
Saudi Arabia
Prior art keywords
light beam
line
light
light source
sample
Prior art date
Application number
SA118390415A
Other languages
English (en)
Inventor
فريديريك ارى
سيمون برينس
ينجهوا صن
وينى فينج
اندريو جاميس كارسون
ماركو كرومبوجيل
بيتر نيومان
ستانلى اس هونج
داكوتا واتسون
Original Assignee
.الومينا، إنك
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by .الومينا، إنك filed Critical .الومينا، إنك
Publication of SA118390415B1 publication Critical patent/SA118390415B1/ar

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/23Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
    • H01S3/2383Parallel arrangements
    • H01S3/2391Parallel arrangements emitting at different wavelengths
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12MAPPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
    • C12M1/00Apparatus for enzymology or microbiology
    • C12M1/34Measuring or testing with condition measuring or sensing means, e.g. colony counters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12QMEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEIC ACIDS OR MICROORGANISMS; COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR; PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS; CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL OR ENZYMOLOGICAL PROCESSES
    • C12Q1/00Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions
    • C12Q1/68Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions involving nucleic acids
    • C12Q1/6809Methods for determination or identification of nucleic acids involving differential detection
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12QMEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEIC ACIDS OR MICROORGANISMS; COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR; PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS; CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL OR ENZYMOLOGICAL PROCESSES
    • C12Q1/00Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions
    • C12Q1/68Measuring or testing processes involving enzymes, nucleic acids or microorganisms; Compositions therefor; Processes of preparing such compositions involving nucleic acids
    • C12Q1/6869Methods for sequencing
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V13/00Producing particular characteristics or distribution of the light emitted by means of a combination of elements specified in two or more of main groups F21V1/00 - F21V11/00
    • F21V13/02Combinations of only two kinds of elements
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V19/00Fastening of light sources or lamp holders
    • F21V19/02Fastening of light sources or lamp holders with provision for adjustment, e.g. for focusing
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V31/00Gas-tight or water-tight arrangements
    • F21V31/04Provision of filling media
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/0332Cuvette constructions with temperature control
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/39Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/33Immersion oils, or microscope systems or objectives for use with immersion fluids
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0927Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/39Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
    • G01N2021/392Measuring reradiation, e.g. fluorescence, backscatter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N2021/6417Spectrofluorimetric devices
    • G01N2021/6419Excitation at two or more wavelengths
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463Optics
    • G01N2021/6478Special lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Zoology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Proteomics, Peptides & Aminoacids (AREA)
  • Biotechnology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Genetics & Genomics (AREA)
  • Microbiology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Particle Accelerators (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

يتعلق الاختراع الحالي بأنظمة تصوير Imaging systems تتضمن عدسة شيئية objective lens (142) ووحدة توليد خط line generation module (LGM). قد تركز العدسة الشيئية (142) شعاع ضوئي light beam أول منبعث من وحدة توليد الخط وشعاع ضوئي ثاني منبعث من وحدة توليد الخط عند نقطة اتصال focal point خارجية لعينة من أجل ضبط عرض الخط. يمكن زيادة عرض الخط لخفض كثافة الطاقة الإجمالية لشعاع ضوئي على سطح العينة بحيث تكون كثافة الطاقة power density للشعاع الضوئي على سطح العينة أقل من الحد الأقصى لتشبع ضوئي photosaturation لصبغة على العينة. شكل1أ

Description

مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية ‎LASER LINE ILLUMINATOR FOR HIGH THROUGHPUT SEQUENCING‏ الوصف الكامل
خلفية الاختراع
تستند عناصر حماية هذا الطلب إلى البراءة المؤقتة من الولايات المتحدة رقم 468¢883/62 الذي
تم إيداعه في 8 مارس 2017 بعنوان 'مضيء خط ليزر ‎Laser Line Illuminator‏ لإجراء تسلسل
عالي ‎Cali)‏ والذي تم تضمينه هنا بالرجوع في مجمله. يستفيد الطلب الحالي أيضا من رقم
طلب براءة الاختراع الهولندية ن2018855 الذي تم إيداعه في 5 مايو 2017 تحت عنوان
'مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل ‎Me‏ الإنتاجية".
تميل أدوات التحليل البصري البيولوجية ‎«Biological optical analysis instruments‏ مثل أجهزة
إجراء التسلسل الجيني ‎«genetic sequencers‏ أن تشمل مكونات متعددة قابلة للتكوين» لكل منها
درجات متعددة من الحرية. قد أدى زيادة تعقيد الأدوات البيولوجية للتحليل البصري تلك إلى زيادة 0 التصنيع وحسابات التشغيل. عموماء؛ هذه الأنواع من الأدوات تستفيد من المحاذاة الدقيقة للعديد من
المكونات البصرية الداخلية ‎«internal optical components‏ في بعض أجهزة إجراء التسلسل
الجيني؛ على سبيل المثال؛ يتم محاذاة المكونات الداخلية عموما ضمن التحمل الدقيق. تنطوي
العديد من تقنيات تصنيع هذه الأدوات على تثبيت جميع المكونات على لوحة الدقة ‎precision‏
‎eplate‏ من ثم تكوين ومحاذاة كل مكون. قد تتغير محاذاة المكونات أثناء الشحن أو الاستخدام. 5 على سبيل ‎(JU‏ تغييرات درجة الحرارة قد تغير من المحاذاة. إعادة محاذاة كل مكون يتطلب
‏الوقت والمهارة. في بعض الأمثلة؛ قد يكون هناك أكثر من 30 درجة كاملة من ‎all‏ المتاحة في
‏جميع المكونات وبتفاعلوا مع بعضهم البعض. عدد كبير من درجات الحرية تعقد المحاذاة والتكوين
‏وتضيف الوقت والنفقات لتشغيل النظام. يمكن تبسيط عملية التصنيع وتلفيق لأجهزة إجراء التسلسل
‏الضوئية ‎Optical sequencers‏ عن طريق خفض درجات الحرية المتاحة عبر جميع مكونات النظام 0 من خلال بنية نموذجية.
‏يمكن لأجهزة إجراء التسلسل الضوئية استخدام إضاءة خط الليزر ‎Taser line‏ للكشف وإجراء تسلسل
‏للعينة البيولوجية ‎biological sample‏ على سبيل المثال؛ إضاءة خط الليزر عالي الانتاجية قد
‏تمكن من المسح ‎scanning‏ باستخدام مستشعر ‎sensor‏ تكامل تأخير زمني | ‎time delay‏
‎(TDI) integration‏ للكشف عن انبعاثات فلورية ‎fluorescence emissions‏ من عينة خلية التدفق ‎sample floweell‏ يمكن استخدام الانبعاثات المكتشفة لتحديد وإجراء تسلسل المكونات الجينية ‎genetic components‏ للعينة البيولوجية. مع ذلك؛ في سرعات المسح العالي و/أو قوى إنتاج اللبزر ‎laser output powers‏ قد تتأثر وظائف التشبع الضوئي ‎photo-saturation‏ للفلوروفورات ‎fluorophores 5‏ و/أو تببيض الصورة للفلوروفورات» و/أو الأضرار الناجمة عن الصورة للعينة. يمكن أيضا أن يسبب الليزر عالي الطاقة ‎High power lasers‏ ضرراً للعدسة الشيئية ‎cobjective lens‏
‎La‏ في ذلك لاصقة الترابط ‎cbonding adhesive‏ والطلاء والزجاج. تتعلق البراءة الأمريكية 20140204389 1 بجهاز تصوير شعاعي طبقي ‎optical tomograph‏ وطريقة تصوير شعاعي طبقي ‎optical tomographic method‏ وبصفة خاصة تتعلق بتقنية 0 تصوير شعاعي طبقي ‎Allg optical tomographic technique‏ تستعرض توزيع اتجاه التصوير الشعاعي الضوئي ‎optical tomographic direction‏ لعنصر قيد الاختبار. التصوير الشعاعي الطبقي الضوئي المتسق ‎(OCT) Optical coherence tomography‏ الذي يُشكل صور توضح شكل محيطي وشكل داخلي لجسم تم قياسه باستخدام أشعة ضوء من ليزر وأخرى تجذب الانتباه. حيث لا يكون للتصوير الشعاعي الطبقي الضوئي المتسق أي خطورة على جسم الإنسان بخلاف التصوير الشعاعي ‎(CT) coherence tomography‏ بأشعة ك,؛ من المتوقع بصورة خاصة تطور التطبيق والاستخدام بالمجال الطبي والبيولوجي. على سبيل المثال؛ بمجال طب العيون» تم
‏الوصول إلى الوسيلة التي تُشكل صور لقاع العين» القرنية وأخرى. تتعلق البراءة الأمريكية 20160000535 1 بجهاز لتحديد طوبوغرافية سطح ذو هيكل ثلاثي الأبعاد. قد يتضمن الجهاز مسبار ‎probe‏ ووحدة إضاءة ‎illumination unit‏ مهيأة لإخراج مجموعة 0 من أشعة الضوء ‎Light beams‏ بالعديد من التجسيدات؛ يتضمن الجهاز تجمعية تركيز بؤري ‎light focusing assembly egal‏ قد تستقبل تجمعية التركيز البؤري للضوء وتركز كل مجموعة من أشعة الضوء على نقطة بؤرية خارجية ‎external focal point‏ محددة. قد يتم تهيئة تجمعية التركيز البؤري للضوء لتقوم بتراكب المجموعة من أشعة الضوء بداخل تجمعية تغيير التركيز البؤري ‎focus changing assembly‏ يتم تحريك النقاط البؤرية الخارجية بطول اتجاه بث أشعة 5 الضوء. قد يتضمن الجهاز مكشاف به مصفوفة من عناصر استشعار ‎sensing elements‏ مهيأة لقياس خصائص كل من المجموعة من أشعة الضوء المرتدة من البقع الضوثئية ‎illuminated spots‏
ومُعالج ‎processor‏ مقترن بالمكشاف ومهياً لتوليد بيانات دالة على طوبوغرافية الهيكل اعتماداً على
الخصائص التي تم قياسها.
الوصف العام للاختراع
تصف التطبيقات المختلفة للتكنولوجيات التي تم الكشف عنها هناء أنظمة التصوير ‎imaging‏
‎systems 5‏ بما في ذلك العدسة الشيئية ووحدة توليد الخط ‎cline generation module‏ بحيث يتم
‏تكوين نظام التصوير ‎imaging system‏ لضبط عرض الخطوط المنبعثة من وحدة توليد الخط على
‏سطح العينة البيولوجية.
‏في أحد الأمثلة؛ يتضمن نظام التصوير: وحدة توليد الخط والعدسة الشيئية. تشمل وحدة توليد الخط
‏مصدر الضوء الأول المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي ‎wavelength 0‏ الأول ؛ مصدر الضوء الثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي الثاني في الطول الموجي
‏الثاني؛ وواحد أو أكثر من خطوط تشكيل البصريات ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي
‏المنبعث من مصدر الضوء الأول في الخط والشعاع الضوئي المنبعثين من مصدر الضوء الثاني
‏في الخط. في هذا المثال؛ يتم تكوين الهدف لتركيز الشعاع الضوئي الأول والشعاع الضوئي الثاني
‏في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات ‎.sampling structure‏ الشعاع الضوئي الأول والشعاع الضوئي الثاني في النقطة البؤرية الخارجية لعينة لهيكل أخذ العينات.
‏في مثال واحد؛ يتضمن هيكل أخذ العينات: ركيزة ‎substrate‏ لوحة غلاف ‎cover plate‏ وممر
‏سائل ‎liquid passage‏ بين لوحة الغلاف والركيزة. في هذا ‎(JU‏ يتضمن الممر السائل سطح
‏داخلي علوي وسطح داخلي سفلي؛ وتقع العينة على السطح الداخلي العلوي أو في السطح الداخلي
‏السفلي للممر السائل. قد تكون النقطة البؤرية أسفل السطح الداخلي السفلي للممر السائل لزيادة 0 عرض خط الشعاع الضوئي الأول وعرض خط الشعاع الضوئي الثاني على السطح الداخلي
‏العلوي لهيكل أخذ العينات. بدلا من ذلك؛ يمكن أن تكون النقطة البؤرية فوق السطح الداخلي
‏السفلي للممر السائل لزيادة عرض الشعاع الضوئي الأول وعرض خط الشعاع الضوئي الثاني
‏على السطح الداخلي العلوي لهيكل أخذ العينات.
‏في بعض التطبيقات؛ يتم مزج هيكل أخذ العينات بشكل منفصل مع نظام التصوير. في تطبيق معين؛ يكون هيكل أخذ العينات هو خلية التدفق.
‏في تطبيقات معينة؛ تكون النقطة البؤرية بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر تحت
السطح الداخلي السفلي لهيكل أخذ العينات. بدلا من ذلك؛ تكون النقطة البؤرية بين حوالي 50
ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر فوق السطح الداخلي السفلي لهيكل أخذ العينات.
في إحدى التطبيقات يتضمن نظام التصوير مستشعر تكامل تأخير زمني للكشف عن انبعاثات
فلورية من العينة. في تطبيقات معينة؛ يكون لمستشعرات ‎sensors‏ تكامل التأخير الزمني حجم بكسل بين حوالي 5 ميكرومتر وحوالي 15 ميكرومتر؛ وعرض المستشعر بين حوالي 0.4 مم
وحوالي 0.8 مم؛ وطول المستشعر بين حوالي 16 مم وحوالي 48 مم.
في أحد التطبيقات» عرض خط الشعاع الضوئي الأول وعرض خط الشعاع الضوئي الثاني بين
حوالي 10 ميكرومتر وحوالي 30 ميكرومتر. في تطبيق آخرء طول خط الشعاع الضوئي الأول
وطول خط الشعاع الضوئي الثاني بين حوالي 1 مم وحوالي 1.5 مم.
0 في أحد التطبيقات؛ يتضمن واحد أو ‎SST‏ من بصريات اتساع الخط ‎line widening optics‏ في الاتساع عدسة التباين ‎defocus lens‏ أو المنشور ‎prism‏ أو الناشر ©©010005. في تطبيق معين»؛ واحد أو أكثر من بصريات اتساع الخط تشمل عدسة بوال ‎Powell lens‏ التي تم وضعها بعد عدسة التباين في المسار البصري ‎optical path‏ من مصادر الضوء إلى العدسة الشيئية. في بعض التطبيقات؛ يزداد عرض خط الشعاع الضوئي الأول لخفض كثافة الطاقة ‎power‏
‎density 5‏ الإجمالية للشعاع الضوئي الأول على سطح العينة بحيث تكون كثافة طاقة الشعاع الضوئي الأول على سطح العينة تحت الحد الأقصى للتشبع الضوئي ‎photosaturation‏ للصبغة الأولى على العينة؛ ويتم زيادة عرض خط الشعاع الضوئي الثاني لخفض ككثافة الطاقة الإجمالية للشعاع الضوئي الثاني على سطح العينة بحيث تكون كثافة الطاقة من الشعاع الضوئي الثاني على سطح العينة أقل من الحد الأقصى للتشبع الضوئي للصبغة الثانية على ‎Aad)‏
‏0 في بعض التطبيقات؛ يتضمن نظام التصوير المرحلة 7 لتوضيح الهدف لضبط عرض خط الشعاع الضوئي الأول وضبط عرض خط الشعاع الضوئي الثاني. في مزيد من التطبيقات؛ يشتمل نظام التصوير على المعالج ‎processor‏ ووسط لقراءة كمبيوتر غير عابر ‎non-transitory computer‏ ‎readable medium‏ مع تعليمات كمبيوتر قابلة للتنفيذ متضمنة فيه؛ تم تكوين تعليمات الكمبيوتر القابلة للتنفيذ لتسبب النظام إلى: تحديد نوعية إشارة من مستشعر تكامل تأخير زمني؛ وتوضيح
‏5 الهدف في محور 7 لضبط نقطة بؤرية وتحسين نوعية الإشارة من مستشعر تكامل تأخير زمني. في مثال آخرء يتضمن نظام إجراء تسلسل الحمض النووي على: وحدة توليد خط وعدسة شيئية.
في هذا ‎(Jha)‏ قد تشمل وحدة توليد الخط على: عدد وافر من مصادر الضوء؛ كل مصدر ضوء ينبعث منه شعاع ضوئي؛ واحد أو أكثر من خطوط تشكيل البصريات لتشكيل كل شعاع ضوئي؛ والعدسة الشيئية أو واحد أو أكثر من خطوط تشكيل البصريات لزيادة عرض كل خط على السطح الأول أو الثاني من خلية التدفق.
في تطبيق على هذا ‎(Jal)‏ تكون العدسة الشيئية لتركيز كل شعاع ضوئي على النقطة البؤرية الخارجية للسطح الداخلي من خلية التدفق؛ وذلك لزيادة عرض كل خط في السطح الأول أو السطح الثاني من خلية التدفق. قد تكون النقطة البؤرية بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر تحت السطح الداخلي السفلي من خلية التدفق أو بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر فوق السطح الداخلي العلوي من خلية التدفق.
0 في بعض التطبيقات؛ تم تصميم العدسة الشيئية لنظام التصوير لتكون متقارية بشكل بسيط للتركيز على ضوءٍ الليزر المصقفول ‎collimated laser light‏ لمسافة تتراوح بين حوالي 50 وحوالي 150 ميكرومتر تحت سطح التصوير ‎.imaged surface‏ في بعض التطبيقات؛ توفر وحدة توليد الخط إضاءة خط موحد ‎uniform line‏ بنسبة العرض إلى الارتفاع المطلوية باستخدام عدسة بوال أو بصربات أخرى لتشكيل الشعاع. يمكن تكوين النظام
5 لضبط النقطة البؤرية المحدودة الانعكاسية ‎diffractive limited focal point‏ بصريا على السطح الشيئي (على سبيل ‎(JU‏ أسطح خلية التدفق ‎(floweell surfaces‏ من خلال ضبط النقطة البؤرية فوق أو أسفل أسطح خلية التدفق؛ يمكن زيادة عرض سقوط الشعاع على أسطح خلية التدفق؛ ويمكن خفض طاقة كثافة الليزر ‎laser power intensity‏ في العينة وخلية التدفق. يمكن السيطرة على كثافة الطاقة أدناه أو بالقرب من التصوير الضوئي للكشف عن العينة الوراثية
‎genetic sample 0‏ (على سبيل المثال» الحمض النووي» الحمض النووي الريبوزي متعم ‎cribonucleic‏ ‏أو الكشف عن عينة أخرى)؛ في حين تستمر بتحمل تكامل مستشعر تكامل تأخير زمني على الضوضاء والسرعة. في بعض التطبيقات؛ تجميع مكونات وحدات النظام التحليل البصري ‎modular optical analytic system‏ في التجمعات الفرعية التركيبية ‎«modular sub-assemblies‏ ومن ثم تثبيت التجمعات الفرعية التركيبية على لوحة الدقة أو بنية مستقرة أخرى قد تقلل نسبياً من
‏5 الحربة وتبسيط نظام الصيانة عموما. على سبيل المثال» في إحدى التطبيقات؛ يمكن أن يشتمل نظام التحليل البصري المعياري على
مجموعات من المكونات المجمعة في أريع تجمعات فرعية تركيبية. قد تشمل التجمع الفرعي التركيبي الأول عدد وافر من الليزر وبصريات الليزر ‎laser optics‏ المقابلة المجمعة معا في وحدة توليد الخط. يمكن أن يشتمل التجميع الفرعي التركيبي الثاني على العدسات؛ والضبط؛» وتصفية البصريات المجمعة في وحدة الاتنبعاثات البصرية ‎.(EOM) emission optics module‏ قد يشمل التجميع الفرعي التركيبي الثالث مستشعرات الكاميرا ‎camera sensors‏ الميكانيكا الضوئية ‎optomechanics‏ المقابلة المجمعة في وحدة الكاميرا ‎(CAM) camera module‏ يمكن أن يشمل التجميع الفرعي التركيبي الرابع مستشعرات تتبع التركيز ‎focus tracking sensors‏ والبصريات المجمعة في وحدة تتبع التركيز ‎.(FTM) focus tracking module‏ في بعض التطبيقات؛ قد تتجمع مكونات النظام في تجميعات فرعية تركيبية مختلفة. يمكن تجميع المكونات في عدد أقل أو أكبر 0 من التجميعات الفرعية تبعا للتطبيقات المحددة وخيارات التصميم. قد تكون كل وحدة تجميع فرعية مركبة مسبقا من خلال دمج المكونات الفردية على لوحة التركيب ‎mounting plate‏ أو المغلف ومحاذاة وتهيئة المكونات داخل وحدات التجميع الفرعي على ‎dng‏ التحديد للتحملات المحددة سلفا. قد تكون كل وحدات التجميع الفرعية مصنعة لتقليل درجات الحرية؛ بحيث يمكن نقل المكونات الرئيسية فقط في اتجاه واحد أو ‎SST‏ أو التدوير؛ للتمكين من محاذاة الدقة. 5 في بعض التطبيقات؛ وحدة توليد الخط يمكن تكوينها مسبقا على مقعد تجميع ‎assembly bench‏ وحدة توليد الخط المصمم بواجهة وبصريات دقيقة. يمكن أن يشمل المقعد التجميعي لوحدة توليد خط العدسة الشيئية التجميعية ‎cassembly objective lens‏ أداة تعريف الشعاع ‎«beam profiler‏ أهداف المحاذاة»؛ المخفف ‎cattenuator‏ لوحة الدقة ومراحل الترجمة. قد تتجمع مجال رؤية العدسة الشيئية؛ والبعد البؤري ‎focal length‏ ومسافة العمل التي تكون أكبر من وحدة الانبعاثات البصرية 0 على نظام البصريات التركيبي ‎optics system‏ <07ل000٠؛‏ لتمكين المحاذاة الأولية لوحدات الليزر ‎laser modules‏ والبصريات الداخلية لوحدة توليد الخط. قد تكون أداة تعريف الشعاع هي مستشعر تصوير ‎imaging sensor‏ ثنائي الأبعاد للكشف عن شدة الشعاع والإبلاغ عنه في مختلف المواقع المستهدفة ‎locations‏ :18:86. يمكن أن تشمل محاذاة الشعاع تحسين موقع الشعاع؛ وكثافته؛ وتوجيه اتجاهه في هذه المواقع المستهدفة من خلال التلاعب بمختلف البصريات الداخلية و/ أو 5 المرايا داخل وحدة توليد الخط. قد يكون التلاعب في مختلف المكونات البصرية الداخلية وتقييم الليزر باستخدام أداة تعريف الشعاع؛ عملية تلقائية أو عملية ‎ogy‏
قد يتضمن النظام أيضا لوحة تركيب دقيقة ‎precision mounting plate‏ قد تكون لوحة التركيب الدقيقة مصنعة مع أسطح المحاذاة ‎alignment surfaces‏ مثل تركيب دبابيس؛ الأخاديد ‎cgrooves‏ ‏الفتحات؛ الحلقات؛ العلامات؛ المغناطيس»؛ معلومات الأسطح؛ كرات الأدوات؛ أو غيرها من الأسطح المصممة لقبول وتركيب كل الوحدات المجمعة سابقة التجهيز واختبارها في الموقع المطلوب. قد تشتمل لوحة التركيب الدقيقة على بنية مسطحة ‎oflat structures‏ أو بنية غير مسطحة ‎cnon-flat structures‏ أو بنية صلبة؛ أو بنية مجوفة ‎chollow structures‏ أو بنية ‎Lilies‏ ‏أو متشابكة؛ أو أنواع أخرى من بنيات التركيب الصلبة ‎mounting structures‏ لعل كما هو معروف في الفن. في بعض الأمثلة؛ تتضمن أو تقترن لوحة التركيب الدقيقة في تكوينها بحركة تجميع للحفاظ على سطح تركيب مستوٍ ‎level mounting surface‏ وتخفيف الاهتزاز. قد تشمل
0 المرحلة تجميع المحركات ‎actuators‏ للتحكم في سطح تحكم ‎control surface‏ واحد أو ‎ST‏ من الأهداف البصرية لتوفير تقييم لمحاذاة التجميعات الفرعية التركيبية ‎Jie)‏ وحدة الانبعاثات البصرية ووحدة الكاميرا)» على سبيل المثال»؛ لإعادة تركيب واحد أو أكثر من المكونات البصربة أو المستشعرات ضمن التحمل المحدد سلفا. يمكن لهذه الأجهزة تحريك خطوط الإضاءة ‎illumination‏ ‎lines‏ بدقة في مجال الرؤية من نظام التصوير الضوئي؛ في الحركات المتدرجة أو المستمرة.
5 قد يتضمن تجميع نظام التحليل الضوئي التركيبي تركيب كل وحدات التجميع الفرحي على لوحة التركيب الدقيقة وإجراء محاذاة نهائية باستخدام واحد أو أكثر من تعديلات التحكم. في بعض الأمثلة. يمكن تخفيض نظام التحليل الضوئي مع أكثر من 30 درجة من الحرية عبر كل من مكوناته إلى نظام وحدات التحليل الضوئي مع أقل من 10 درجة من الحرية عبر كل من مكوناته؛ حيث يتم تجميع المكونات في مرحلة ما قبل تكوين الوحدات الفرعية. يمكن اختيار هذه الدرجات
0 المتبقية من الحرية لتحسين التحمل بين عناصر المحاذاة دون تنفيذ عمليات محاذاة ‎alignment‏ ‎processes‏ نشطة أو متكررة. في بعض التطبيقات؛ يمكن تشغيل واحد أو أكثر من تعديلات التحكم داخل واحد أو ‎HIST‏ من وحدات التجميعات الفرعية باستخدام واحد أو أكثر من المحركات المقابلة التي تم تركيبها في التجميعات الفرعية. يمكن تكوين المستشعرات و/أو كاشفات ‎detectors‏ داخل واحد أو أكثر من التجميعات الفرعية
5 التركيبية (مثل وحدة الكاميرا أو وحدة تتبع التركيز) لنقل البيانات إلى جهاز كمبيوتر» يتضمن هذا الكمبيوتر تعليمات مخزنة ‎ALE‏ للقراءة. قد يتم تكوين البرنامج لمراقبة أداء النظام ‎(JB‏ على
سبيل ‎JU‏ من خلال كشف وتحليل تركيز الأشعة؛ والشدة؛ والشكل. في بعض الأمثلة؛ قد
يتضمن النظام هدفاً بصرياً ‎Liga‏ لعرض أنماط محددة للمحاذاة وأداء كل تجميع فرعي تركيبي. قد
تشير البرنامج بعد ذلك عبر واجهة مستخدمة بيانية عند تشغيل التجميع الفرعي التركيبي المعين
دون المستوى الأمثل والتوصية بتعديل حلقة مفتوحة أو تنفيذ مسار عمل حلقة مغلقة لتصحيح
المشكلة. على سبيل المثال؛ قد يتم تكوين البرنامج لنقل الإشارات إلى المحركات لإعادة وضع
مكونات المحددة ضمن التحمل المحدد سلفاً؛ أو قد يوصي ببساطة بتبادل التجميع الفرعي التركيبي
الأقل أداء. قد يتم تشغيل البرنامج محلياً أو عن بعد عبر واجهة الشبكة؛ مما يتيح تشخيص وضبط
النظام عن بعد ‎system‏ 16010160.
ستظهر مميزات وجوانب أخرى من التكنولوجيا الموضحة بالوصف التفصيلي التالي؛ التي تم 0 رصدها بالاقتران مع الرسومات المصاحبة؛ والتي توضح؛ على سبيل المثال؛ السمات وفقا لأمثلة
التكنولوجيا الموضحة. وليس المقصود من الملخص أن يحد من نطاق أي اختراعات موصوفة هناء
والتي تحددها عناصر الحماية وما يعادلها.
من المفيد أن تكون جميع مجموعات المفاهيم السابقة الذكر (شريطة أن تكون هذه المفاهيم غير
متناسقة) جزءا من الموضوع الابتكاري الموضح هنا. على ‎day‏ الخصوص؛ فإن جميع مجموعات 5 المواضيع المطالب بحمايتها التي تظهر في نهاية هذا الكشف تعتبر جزءاً من الموضوع الابتكاري
الموضح هنا.
شرح مختصر للرسومات
يتم وصف التكنولوجيا المبينة هناء وفقا لواحد أو ‎HAST‏ من التطبيقات؛ بالتفصيل مع الإشارة إلى
الأشكال التالية. يتم توفير هذه الأشكال لتسهيل فهم القارئ للتكنولوجيا وتوضيحها؛ وليس المقصود ‎Lesa 0‏ أن تكون شاملة أو تقيد من الكشف عن الأشكال المحددة. الواقع أن الرسومات الواردة في
الأشكال تقدم لأغراض التوضيح فقطء وتصور مجرد تطبيقات نموذجية أو أمثلة للتكنولوجيا
الموضحة. وعلاوة على ذلك؛ تجدر الإشارة إلى أنه من أجل التوضيح وسهولة التصويرء لم يتم
استخلاص العناصر الواردة في الأشكال.
الشكل 1أ يوضح مخطط كتلي عام لمثال نظام مسح للصور ‎image scanning system‏ مع 5 الأنظمة والأساليب التي تم توضيحها هنا والتي يمكن تنفيذها.
الشكل ‎ol‏ هو مخطط لمظهر عرضي يوضح مثالا لنظام تحليل بصري نموذجي وفقا للتطبيقات
الموضحة.
الشكل 1ج هو مخطط لمظهر عرضي يوضح مثال للوحة تركيب دقيقة وفقا للتطبيقات الموضحة.
الشكل 1د يوضح مخططا كتلي من نظام تحليل بصري تركيبي مع التطبيقات الموضحة.
الشكل 1ه يوضح مثال مظهر منظوري لنظام تحليل ضوئي تركيبي؛ بما يتفق مع عمليات
التطبيق الموضحة هنا.
الشكل ‎gl‏ يوضح مخططا جماعيا لنظام محاذاة ‎alignment system‏ وحدة توليد الخط؛ بما يتماشى
مع التطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 51 يوضح مظهر منظوري لنظام محاذاة وحدة توليد ‎Lay chal)‏ يتفق مع التطبيقات
الموضحة هنا. 0 الشكل 1ح مظهر علوي سفلي لنظام تحليل ضوئي تركيبي بما يتماشى مع التطبيقات الموضحة
هنا.
الشكل ‎Lal‏ يوضح مظهر جانبي لنظام تحليل ضوئي تركيبي بما يتماشى مع التطبيقات الموضحة
هنا.
الشكل 1 يوضح مخططا مغلقا لوحدة توليد الخط؛ء وعدسة الشيئية؛ وخلية تدفق؛ ‎Lay‏ يتماشى مع 5 التطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 1ك يوضح مخططا مغلقا لنظام وحدة توليد الخط ووحدة انبعاثات البصرية يتم استخدامها
لعدم تركيز نمط خط الليزر على خلية تدفق لتجنب تشبع الصورة وتبييض الصور؛ بما يتماشى مع
التطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 2 يوضح مظهر لمخطط عرضي ‎ils‏ لوحدة الانبعاث البصرية وفقا للتطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 2ب هو مخطط علوي سفلي لوحدة انبعاثات بصرية وفقا للتطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 13 هو مظهر مخطط خلفي يوضح وحدة تتبع تركيز وفقا للتطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 3ب هو مظهر لمخطط جانبي يوضح وحدة تتبع تركيز وفقا للتطبيقات الموضحة هنا.
الشكل 3ج هو مخطط مظهر علوي سفلي يوضح وحدة تتبع تركيز وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. 5 الشكل 1 هو مخطط مظهر جانبي يوضح مثالا نموذجيا لنظام التحليل البصري وفقا للتطبيقات
الموضحة هنا.
الشكل 4ب هو مخطط كتلي يوضح تشكيل نموذجي لتجميع فرعي لعدسة أنبوبية ‎tube lens‏ لوحدة انبعاثات بصربة؛ وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. الشكل 4ج هو مخطط كتلي يوضح مثالا ‎AT‏ لتكوين تجميع فرعي لعدسة الأنبوبية لوحدة انبعاثات بصربة؛ وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. الشكل 5 هو مخطط مظهر جانبي يوضح وحدة تتبع التركيز و وحدة الانبعاثات البصرية مع التطبيقات الموضحة هنا. الشكل 5ب هو مخطط مظهر علوي سفلي يوضح مثالا لوحدة تتبع التركيز ووحدة ‎lla)‏ بصرية وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. الشكل 6. هو مخطط مظهر جانبي يوضح وحدة توليد الخط ووحدة انبعاثات بصرية وفقا 0 للتطبيقات الموضحة هنا. الشكل 7. هو مخطط مظهر علوي سفلي يوضح وحدة توليد الخط ووحدة انبعاثات بصرية وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. الشكل 8. هو مخطط يوضح مثالا على عملية تركيب وتكوين نظام تحليل بصري تركيبي وفقا للتطبيقات الموضحة هنا. 5 الشكل 9. هو مثال لمحرك الكومبيوتر ‎computing engine‏ الذي يمكن استخدامه كسمات تطبيق مختلفة لتنفيذ التكنولوجيا الموضحة. ينبغي أن نفهم أن التكنولوجيا الموضحة هنا يمكن أن تطبق بالتعديل والتحويل؛ وأن تقتصر التكنولوجيا الموضحة على عناصر الحماية ومكافئات منها. 0 الوصف التفصيلي: كما هو مستخدم هناء يقصد بمصطلح " المستوى ‎xy‏ منطقة ثنائية الأبعاد تحددها محاور الخط المستقيم ‎y gx‏ (وفقا لنظام الإحداثيات الديكارتي ‎(Cartesian coordinate system‏ عندما تستخدم في إشارة إلى كاشف ‎detector‏ والهدف الملاحظ من قبل الكاشف؛ يمكن تحديد المنطقة كذلك باعتبارها متعامدة مع اتجاه المراقبة بين الكاشف والهدف الذين يتم الكشف عنهم. عند استخدامه 5 للإشارة إلى خط الماسح الضوئي ‎cline scanner‏ يشير مصطلح "تجاه 7" إلى اتجاه المسح. كما هو مستخدم هناء يقصد بمصطلح "اتجاه 2" أو " محور > " تحديد اتجاه أو محور متعامد مع
منطقة الهدف المراقبة بواسطة كاشف. على سبيل المثال» يمكن تحديد اتجاه تركيز النظام البصري على طول المحور 2. بعض التطبيقات الموضحة هنا توفر النظام البصري التركيبي؛ مثل الذي يمكن استخدامه لتحليل العينات البيولوجية ‎.biological samples‏ تتيح التطبيقات الأخرى الموضحة هنا طرقا لتجميع وتركيب الأنظمة البصرية ‎modular optical systemsdanS All‏ لتحليل العينات البيولوجية. قد يكون أحد هذه الأنظمة البصرية؛ أو قد يكون جزءا من أجهزة إجراء التسلسل الجيني. يمكن استخدام أجهزة ‎sha)‏ تسلسل الحمض النووي؛ الحمض النووي الرببوزي؛ أو العينات البيولوجية أخرى. تعمل بعض أدوات إجراء التسلسل الجيني من خلال التركيز على مصادر الضوء المتماسكة أو غير المتماسكة التي تعمل في أطوال موجية ‎wavelengths‏ مختلفة من خلال البصريات الداخلية وعلى 0 العينة. تتألق القاعدة الزوجية الموجودة في العينة ثم يتم عودة الضوء خلال بصريات ‎Heal‏ إجراء التسلسل وعلى جهاز الاستشعار البصري ‎coptical sensor‏ والذي يمكنه بعد ذلك الكشف عن أنواع القاعدة الزوجية الحالية. تعتمد هذه الأنواع من الأجهزة على المحاذاة الدقيقة وضبط البصريات الداخلية ‎lly‏ تكون حساسة للاتحراف أو عدم محاذاة المكونات الناجمة عن التأثيرات الحرارية على سبيل المثال؛ ‎hall)‏ الناتجة عن مصادر ‎squall‏ والالكترونيات)؛ وكذلك الأثار الميكانيكية مثل الاهتزازات أو الاتصال العرضي من المستخدمين. تتناول عمليات الكشف الحالية هذه ‎(SLAY‏ وتكاليف التركيب والصيانة المرتبطة بهاء من خلال منهج معياري. قد تكون مجموعة من الوظائف البصرية ذات الصلة تم إعدادها مسبقاء وتم اختبارهاء ومحاذاتها كوحدات تجميعات فرعية. يمكن معالجة كل تجميع فرعي تركيبي بعد ذلك كوحدة قابلة للاستبدال الحقلي ‎field‏ ‎(FRU) replaceable unit‏ يمكن تركيبها ومحاذاتها مع التجميعات الفرعية التركيبية ‎GAY)‏ في 0 النظام عن طريق تركيب التجميع الفرعي على لوحة محاذاة دقيقة ‎precision alignment plate‏ بعض التطبيقات الموضحة توفر نظاما يتضمن عدد وافر من التجميعات الفرعية التركيبية و لوحة التركيب الدقيقة أو تتضمن كل تجميع فرعي تركيبي عدد وافر من المكونات البصرية المحاذية للمغلف. يمكن أن يشمل المغلف عدد وافر من بنيات التركيب الدقيقة ‎precision mounting‏ ‎estructures‏ ويمكن أن يقترن كل تجميع فرعي تركيبي بشكل ميكانيكي بلوحة التركيب الدقيقة؛ 5 بحيث تريط كل بنية التركيب الدقيقة من التجميع الفرعي التركيبي المباشر مع بنية التركيب الدقيقة المقابلة الموجودة على لوحة التركيب الدقيقة أو التجميع الفرعي التركيبي المجاور. في بعض
الأمثلة؛ تشتمل وحدة توليد الخط على مصدر الضوء الأول الذي يعمل عند الطول الموجي الأول؛ ومصدر الضوء الثاني الذي يعمل في الطول الموجي الثاني» وتشكل عدسة تشكيل الشعاع ‎beam‏ ‎shaping lens‏ على زاوية محددة سابقا لكل مصدر ضوئي. على سبيل المثال؛ قد يكون الطول الموجي الأول هو طول موجي أخضرء وقد يكون الطول الموجي الثاني هو طول ‎age‏ أحمر. قد تكون عدسة تشكيل الشعاع هي عدسة بوال. في بعض التطبيقات؛ قد تشتمل وحدة البصريات الضوئية على عدسة شيئية مقترنة بصريا بوحدة توليد الضوء؛ وعدسة أنبوبية مقترنة بصريا بالعدسة الشيئية. تركز العدسة الشيئية على خلية التدفق الموضوعة على مسافة محددة سابقا من خلية التدفق. قد يتضح الهدف على طول المحور الطولي ‎dlongitudinal axis‏ وقد تشمل العدسة الأنبوبية مكون عدسة ‎lens component‏ الذي يكون أيضا 0 على طول المحور الطولي داخل عدسة ‎duel)‏ لضمان التصوير الدقيق. على سبيل المثال؛ قد يتحرك مكون العدسة للتعويض عن الانحراف الكروي ‎spherical aberration‏ الناجم عن التعبير عن الهدف لصورة سطح واحد أو أكثر من خلية التدفق. في بعض ‎AY)‏ يمكن أن تشتمل خلية التدفق على لوحة غطاء شفافة ‎«translucent cover plate‏ وركيزة؛ ووسائل محصورة بين بعضها ‎«and‏ وقد توجد عينة بيولوجية على السطح الداخلي للوحة 5 الغطاء الشفافة أو السطح الداخلي للركيزة. على سبيل المثال؛ قد تشمل العينة البيولوجية الحمض الرربوزي النووي المنزوع الأكسجين ‎٠‏ الحمض النووي الريبوزي ‎»٠‏ أو مادة جينية ‎genomic material‏ أخرى قد يتم إجراء تسلسل لها. قد تشتمل وحدة تتبع التركيز على مصدر ضوء تتبع التركيز البؤري ‎focus tracking light‏ ومستشعر تتبع التركيز ‎tracking sensor‏ 0005)؛ بحيث يمكن لمصدر الضوء أن يولد شعاع ضوئيء ‎Jing‏ الشعاع الضوئي من خلال تعدد المكونات البصرية بحيث تنتهي أشعة الضوء عند تتبع التركيز البؤري لجهاز الاستشعار. يمكن أن يقترن مستشعر تتبع التركيز على نحو تعاوني بمعالج ووسط لقراءة كمبيوتر غير عابر مع تعليمات يمكن قراءتها آليا. قد تؤدي الإرشادات التي يمكن قراءتها آلياء عند تنفيذهاء إلى تلقي المعالج إشارة ناتجة من مستشعر تتبع التركيز البؤري وتحليل الإشارة الناتجة لتحديد مجموعة من خصائص الأشعة الضوئية. في بعض ‎ALY)‏ تؤدي 5 الإرشادات التي يمكن قراءتها آلياء عند تنفيذهاء إلى زيادة توليد المعالج لإشارة التقييم التي تشير إلى ضرورة ‎sale)‏ تشكيل واحد أو أكثر من المكونات البصرية لتحسين مجموعة خصائص الأشعة
الضوئية. قد تكون واحد أو أكثر من وحدات التجميع الفرعية هي وحدات قابلة للاستبدال في الحقل. يمكن أن تشتمل بنيات التركيب الدقيقة على فتحة أو مسند أو علامة ‎Cosi‏ أو دبوس أو تجويف راحة ‎recessed cavity‏ أو بنيات تركيب ميكانيكية ‎mechanical mounting structures‏ أخرى كما هو معروف في الفن أو أي مزيج منها.
في بعض الأمثلة؛ تتضمن وحدة الكاميرا عدد وافر من المستشعرات البصرية ‎coptical sensors‏ وتحتوي وحدة توليد الضوء على عدد ‎ily‏ من مصادر ‎cop‏ حيث يمكن أن يكون كل مستشعر بصري ‎optical sensor‏ موجه لاستقبال وكشف الشعاع الضوئي من مصدر الضوء المقابل. قبل وصف مختلف تطبيقات الأنظمة والأساليب التي تم الكشف عنها هناء من المفيد وصف بيئة نموذجية يمكن بها تنفيذ الأنظمة والأساليب. من الأمثلة على ذلك بيئة النظام البصري؛ مثل تلك
0 الموضحة في الشكل 1أ. قد يشتمل النظام البصري النموذجي على جهاز للحصول على صورة للمنطقة أو إنتاجها. المثال الموضح في الشكل 1 يظهر مثال تكوين التصوير لتنفيذ تصميم الإضاءة الخلفية. كما يتضح من مثال الشكل 1أ؛ فإن عينات المواد تقع على بنية العينة أو الحاوية 110 (على سبيل المثال؛ خليه التدفق كما هو مبين هنا) ؛ والتي توضع في مرحلة العينة 170 تحت العدسة
5 الشيئية 142. المصدر الضوئي 160 والبصريات المرتبطة مباشره بشعاع الضوء؛ مثل ضوء الليزر» إلى موقع العينة المختارة على حاوية ‎Lisl)‏ 110. يتم فلورة العينات وجمع الضوء الناتج بواسطة العدسة الشيئية 142 ويتم توجيهها إلى كاشف صور 140 ‎photo detector‏ للكشف عن الفلورة. يتم نقل مرحلة العينة 70 ‎Sample stage]‏ بالنسبة إلى العدسة الشيئية 142 لوضع موقع العينة المقابل على حاوية العينة 110 في مركز التنسيق من العدسة الشيئية 142. يمكن تحقيق
0 حركة مرحلة العينة 170 بالنسبة إلى العدسة الشيئية 142 عن طريق نقل مرحلة العينة نفسهاء العدسة الشيئية؛ والمرحلة البصرية بأكملهاء أو أي مزيج من ما سبق. قد تشمل التطبيقات الأخرى أيضا نقل نظام التصوير بأكمله عبر عينة ثابتة. وحدة تسليم السوائل ‎Fluid delivery module‏ أو الجهاز 100 توجه تدفق المواد الكاشفة ‎reagents‏ ‏(على سبيل ‎«JUN‏ نيوكليوتيدات فلورية ‎nucleotides‏ 00018650601» المواد المنظمة للحموضة
‎buffers 25‏ الإنزيمات ‎cenzymes‏ المواد الكاشفة للانقسام ‎«cleavage reagents‏ إلخ) إلى (ومن خلال) حاوية العينة 110 وصمام النفايات 120 ‎waste valve‏ في تطبيقات معينة؛ 110 يمكن
أن تنفذ باعتبارها خلية التدفق التي تشمل مجموعات من تسلسلات الحمض النووي في عدد وافر من مواقع العينة على حاوية العينة 110. يمكن أن تكون العينات التي سيتم إجراء تسلسل لها معلقة على ركيزة من خلية التدفق؛ جنباً إلى جنب مع مكونات اختيارية أخرى. يشمل النظام أيضا مشغل محطة الحرارة 30 ‎temperature station actuator]‏ والسخان/ المبرد 135 الذي يمكن أن ينظم بشكل اختياري درجة حرارة الظروف من السوائل داخل ‎gla‏ العينة 0. يمكن تضمين نظام الكاميرا 140 لرصد وتتبع تسلسل حاوية العينة 110. يمكن تنفيذ نظام الكاميرا 140( على سبيل المثال» ككاميرا جهاز موصول بشاحن ‎charge-coupled device‏ (6©0)؛ والتي يمكن أن تتفاعل مع مرشحات ‎filters‏ مختلفة داخل التجميع الفرعي المبادل ‎filter switching assembly 145 zd yal)‏ العدسة الشيئية 142؛ وتركيز الليزر/ تجميع ليزر 0 التركيز ‎focusing laser assembly‏ 150. نظام الكاميرا 140 لا يقتصر على كاميرا جهاز موصول بشاحن وغيرها من الكاميرات وتكنولوجيات كاشف الصور التي يمكن استخدامها. يمكن تضمين مصدر الضوء 160 (على سبيل المثال؛ ليزر الاثارة ‎excitation laser‏ داخل التجمع الذي يتألف اختياريا من الليزر المتعدد) أو غيره من المصادر الضوئية لتسليط الضوء على تفاعلات التسلسل الفلورية ‎fluorescent sequencing reactions‏ داخل العينات عن طريق الإضاءة 5 من خلال واجهة الألياف البصرية ‎fiber optic interface‏ (التي يمكن أن تشمل اختياريا واحد أو أكثر من عدسات ‎sale]‏ التصوير ‎re-imaging lenses‏ وتركيبات الألياف البصرية ‎fiber optic‏ ‎mounting‏ الخ). يكون المصباح منخفض الواط 165 ‎Low watt lamp‏ وليزر التركيز ‎focusing laser 150‏ ومزدوج اللون العكسي ‎reverse dichroic‏ موجودين أيضا في المثال المبين. في بعض تطبيقات ليزر التركيز 150 قد يتم الإيقاف أثناء التصوير. في تطبيقات أخرى؛ يمكن 0 لتكوين التركيز البديل أن يشمل كاميرا تركيز ثائية (غير موضحة)؛ والتي يمكن أن تكون الكاشف الرياعي ‎quadrant detector‏ وهو كاشف الموقع الحساس ‎«(PSD) Position Sensitive Detector‏ أو الكاشف المماثل لقياس موقع الشعاع المتناثرة ‎scattered beam‏ المنعكس من السطح المتزامن مع جمع البيانات. على الرغم من أنه تم شرحه على أنه جهاز الإضاءة الخلفية؛ قد تشمل الأمثلة الأخرى ضوءٍ من اليزر أو غير من المصادر الضوئية التي يتم توجيهها من خلال العدسة الشيئية 142 في العينات على حاوية العينة 110. يمكن تحميل حاوية العينة 110 في نهاية المطاف في مرحلة العينة 170
لتوفير حركة ومحاذاة حاوية العينة 110 بالنسبة إلى العدسة الشيئية 142. يمكن أن يكون لمرحلة العينة مشغل واحد أو أكثر للسماح لها بالانتقال في أي من الأبعاد الثلاثة. على سبيل ‎JU)‏ من حيث نظام الإحداثيات الكارتيزية؛ يمكن توفير المشغلات للسماح للمرحلة بالتحرك في الاتجاهات و 7 و 2 بالنسبة إلى العدسة الشيئية. هذا يمكن أن يسمح لواحد أو أكثر من مواقع العينة على حاوية العينة 110 أن توضع في المحاذاة البصرية ‎optical alignment‏ مع العدسة الشيئية 142. يتم عرض مكون تركيز (المحور 6000000801175 ‎focus (z-axis)‏ (2 في هذا المثال ليتم تضمينه للتحكم في موضع المكونات البصرية بالنسبة لحاوية العينة 110 في اتجاه التركيز (يشار إليه عادة بالمحور > أو اتجاه ). يمكن أن يشمل عنصر التركيز ‎Focus component175‏ واحد أو أكثر من المشغلات الفعلية المقترنة بالمرحلة الضوئية أو مرحلة العينة؛ أو كليهماء لنقل عينة الحاوية 0 110 في مرحلة العينة 170 بالنسبة إلى المكونات البصرية (مثلا؛ العدسة الشيئية 142) لتوفير التركيز المناسب لعملية التصوير. على سبيل المثال؛ قد يكون المشغل مقترنا فعلى بالمرحلة الخاصة به؛ مثلا بواسطة المرفق الميكانيكي أو المغناطيسي أو الموائع أو غير ذلك من الملحقات أو الاتصال بشكل مباشر أو غير مباشر بالمرحلة أو معها. يمكن تكوين واحد أو أكثر من المشغلات لتحريك المرحلة في الاتجاه 2 مع الحفاظ على مرحلة العينة في نفس المستوى (على سبيل المثال؛ الحفاظ على المستوي أو الموقع الأفقي؛ العمودي على المحور البصري ‎optical‏ ‎(axis‏ يمكن أيضا تكوين واحد أو أكثر من المشغلات لإمالة المرحلة. يمكن القيام ‎cell‏ على سبيل ‎(JB)‏ بحيث يمكن تسوية حاوية العينة 110 بشكل ديناميكي لحساب أي ميل في الأسطح الخاصة بها. يشير تركيز النظام عموما إلى المحاذاة بين السطح البؤري ‎focal plane‏ للعدسة الشيئية والعينة 0 التي سيتم تحديدها في موقع العينة المختار. مع ذلك؛ يمكن أن يشير التركيز أيضا إلى التعديلات على النظام للحصول على السمة المطلوية لتمثيل العينة مثل؛ على سبيل المثال؛ المستوى المطلوب من الحدة أو التباين للحصول على صورة من عينة الاختبار. نظرا لأن العمق القابل للاستخدام في مجال المستوي البؤري للعدسة الشيئية قد يكون صغير (في بعض الأحيان بالترتيب الذي يبلغ 1 ميكرومتر أو أقل)» عنصر التركيز 175 يتبع عن كثب السطح الذي يتم تصويره. لأن حاوية العينة ليست مسطحة ‎Lela‏ كما تم تثبيتها في الأداة؛ قد يتم إعداد مكون التركيز 175 لمتابعة هذا التشكيل الجانبي أثناء التنقل في اتجاه المسح (يشار اليه هنا بالمحور ().
يمكن توجيه الضوءٍ المنبعث من عينة الاختبار في موقع العينة التي يتم تصويرها إلى واحد أو أكثر من الكاشفات 140. يمكن أن تشمل الكاشفات؛ على سبيل المثال كاميرا جهاز موصولة بشاحن. يمكن إدراج الفتحة ووضعها للسماح فقط الضوء المنبعث من منطقة التركيز ‎focus area‏ أن يمر إلى الكاشف. ويمكن إدراج الفتحة لتحسين جوده الصورة عن طريق تصفية مكونات الضوء التي تنبع من المناطق التي تقع خارج مجال التركيز. يمكن تضمين مرشحات الانبعاثئات ‎Emission filters‏ تجميع تبديل المرشضح 145 ‎Allg filter switching assembly‏ يمكن اختيارها لتسجيل موجه الاتبعاثات ‎emission wavelength‏ المحددة وقطع أي ضوءٍ الليزر ضال ‎stray‏ ‎.laser light‏ في تطبيقات مختلفة؛ يمكن أن تتضمن عينة الحاوية 110 واحد أو أكثر من الركائز ‎substrates‏ ‏0 التي يتم توفير العينات عليها. على سبيل المثال» في حالة وجود نظام لتحليل عدد كبير من تسلسلات الأحماض النووية المختلفة؛ يمكن أن تتضمن عينة الحاوية 110 واحد أو أكثر من الفرعيات التي تكون الأحماض النووية التي سيتم إجراء تسلسل لها مرتبطة أو مرفقة أو متصلة. في التطبيقات المختلفة؛ يمكن أن تشمل الركيزة أي ركيزة أو مصفوفة خاملة يمكن ريط الأحماض النووية بهاء مثل الأسطح الزجاجية ‎«glass surfaces‏ والأسطح البلاستيكية ‎«plastic surfaces‏ 5 والمطاط. والديكستران ‎dextran‏ وأسطح البوليستيرين ‎«polystyrene‏ وأسطح البولي بروبيلين ‎polypropylene‏ وهلام البولي أكربلاميد ‎«polyacrylamide gels‏ والأسطح ‎da lll‏ ورقائق السيليكون ‎wafers‏ 8111600. في بعض التطبيقات» تكون الركيزة التحتية داخل قنة أو منطقة أخرى في مجموعة من المواقع التي تتشكل في مصفوفة أو مجموعة عبر عينة الحاوية 110. على الرغم من عدم التوضيح؛ يمكن توفير جهاز تحكم ‎controller‏ للسيطرة على تشغيل نظام 0 المسح. يمكن تطبيق جهاز التحكم للسيطرة على جوانب عمليه النظام مثل؛ على سبيل المثال» التركيز» وحركه المرحلة؛ وعمليات التصوير. في تطبيقات مختلفة؛ يمكن تطبيق جهاز التحكم باستخدام الاجهزة؛ الخوارزميات ‎algorithms‏ (على سبيل المثال؛ التعليمات التنفيذية للجهاز) ؛ أو مزيج من ما سبق. على سبيل المثال؛ في بعض التطبيقات يمكن أن يتضمن جهاز التحكم وحدات ‎dallas‏ مركزية ‎(central processing units (CPUs‏ أو معالج واحد أو أكثر مع الذاكرة المقترنة. كمثال آخرء يمكن لجهاز التحكم أن يضم أجهزه أو دوائر أخرى للتحكم في العملية؛ ‎Jie‏ معالج الحاسوب والحاسوب غير العارض الذي يمكن قراءته بواسطة التعليمات المقروءة آليا. على سبيل
المتال» يمكن أن تتضمن هذه الدوائر واحد أو أكثر من الإجراءات التالية: مصفوفة البوابة القابلة للبرمجة ‎o(field programmable gate array (FPGA‏ وتطبيق الدائرة المتكاملة المحددة ‎¢(application specific integrated circuit (ASIC‏ والجهاز المنطقي القابل للبرمجة ‎(programmable logic device (PLD‏ ¢ ومعقد جهاز برمجه المنطق ‎complex programmable‏ ‎«(logic device (CPLD 5‏ ومصفوفة منطق القابلة للبرمجة ‎«(programmable logic array (PLA‏ منطق صفيفة قابلة للبرمجة ‎(programmable array logic (PAL‏ أو غيرها من أجهزة المعالجة ‎processing devices‏ المماثلة أو الدوائر. كمثال آخر؛ يمكن لوحده التحكم أن تتألف من مجموعة من هذه الدوائر مع واحد أو أكثر من المعالجات ‎processors‏ ‏على الرغم من أنه يمكن وصف الأنظمة والأساليب هنا من وقت لأخر في سياق نظام هذا ‎(Jal‏ ‏0 فهذا مثال واحد فقط يمكن تطبيق هذه الأنظمة والأساليب عليه. بعد قراءة هذا الوصف؛ سوف يفهم شخص متمرس في الفن كيف يمكن تنفيذ الأنظمة والأساليب الموصوفة هنا مع هذه الماسحات ‎scanners‏ وغيرهاء والمجاهر ‎microscopes‏ وأنظمة التصوير الأخرى. توفر تطبيقات التكنولوجيا المفصح عنها هنا أنظمة وأساليب التحليل البصري التركيبي. الشكل 1ب هو عرض مخطط منظوري يوضح مثال على نظام التحليل البصري التركيبي 180. قد يتضمن النظام 180 العديد من التجميعات الفرعية التركيبية. على سبيل ‎(JU‏ في بعض التطبيقات؛ يشتمل النظام 180 على أريع وحدات تجميع فرعي تركيبي: الوحدة التركيبية لإنشاء الخط 182؛ ووحدة تتبع التركيز 184» ووحدة تركيبية للكاميرا 186؛ ووحدة تركيبية للانبعاثات الضوئية 188. كما هو مستخدم في هذه الوثيقة في سياق الوحدة التركيبية لإنشاء الخط» وحدة تتبع التركيز» وحدة تركيبية للإنبعاثتات الضوئية؛ أو وحدة تركيبية للكاميرا» تشير الوحدة إلى وحدة الأجهزة ‎hardware‏ ‎Ae) unit 0‏ سبيل المثال؛ التجميع الفرعي التركيبي). في بعض التطبيقات؛ قد تتضمن وحدة توليد الخط 182 واحد أو أكثر من مصادر الضوء. في بعض التطبيقات؛ قد تحتوي مصادر الضوءٍ واحد أو أكثر على مصادر الضوء المتناسقة؛ ‎Jie‏ ‏الصمامات الثنائية لليزر ‎laser diodes‏ في بعض الأمثلة؛ قد تتضمن ‎sang‏ توليد الخط 182 مصدر ضوئي أول تم تكوينه لينبعث منه ضوءٍ في أطوال ‎Linge‏ حمراء»؛ ومصدر ضوئي ثاني تم 5 تكوبنه لينبعث ‎die‏ ضوء في أطوال موجية خضراء. يمكن وحدة توليد الخط 182 أن تشمل أيضا المكونات البصرية؛ مثل الأسطح المركزة ‎focusing surfaces‏ والعدسات؛ والأسطح العاكسة
‎«reflective surfaces‏ أو المرايا. قد يتم وضع المكونات البصرية داخل ‎sang‏ توليد الخط 182 لتوجيه وتركيز الضوءٍ المنبعث من مصدر الضوء واحد أو أكثر إلى التجميع الفرعي التركيبي المجاور. قد يتم أيضا تكوين واحد أو أكثر من المكونات البصرية لوحدة توليد الخط 182 لتشكيل الضوءٍ المنبعث من مصدر ضوء واحد أو أكثر إلى التركيبات المطلوبة. على سبيل المثال» في بعض التطبيقات؛ قد تشكل المكونات البصرية الضوءٍ في أنماط الخط (على سبيل ‎«JU‏ عن طريق استخدام واحد أو أكثر من العدسات بوال؛ أو غيرها من عدسات تشكيل الشعماع ‎beam‏ ‎shaping lenses‏ المكونات الثنائية أو مكونات النثر ‎٠ (scattering components‏ واحدة أو ‎SET‏ ‏من المكونات البصرية قد تكون موجودة في واحد أو أكثر من التجميعات الفرحية التركيبية الأخرى. واحدة أو أكثر من التجميعات الفرعية التركيبية قد تتضمن أيضا واحد أو أكثر من المكونات 0 الفرعية القابلة للاستبدال في الحقل. على سبيل ‎(Jl)‏ قد تتضمن الوحدة التركيبية 182 واحد أو أكثر من وحدات الليزر ‎Taser modules‏ التي يمكن إزالتها بشكل فردي من وحدة توليد الخط 182 واستبدالها. في بعض الأمثلة؛ قد يكون التجميع الفرعي التركيبي المجاور (بالاقتران مع وحدة توليد الخط ‎5a (182‏ وحدة توليد الخط 188. يمكن إخراج الضوءٍ من مصدر واحد أو أكثر من المصادر 5 الضوئية وحدة توليد الخط 182 خارج وحدة توليد الخط 182 وإلى وحدة الانبعاثات البصرية 188 من خلال واجهة الصد ‎interface baffle‏ الملحقة بوحدة توليد الخط 182 و/أو وحدة الانبعاثات البصرية 188. على سبيل المثال؛ قد تكون واجهة الصد هي الفتحة التي تتشكل لتمكن ‎spall‏ من المرور من خلال مركزهاء في حين أن يتم تعتيم التدخل من مصادر الضوء الخارجي. قد تشمل وحدة توليد الخط 182 أيضا ‎cian‏ وعدسة أنبوبية؛ ومكونات بصرية أخرى مكونة للتشكيل؛ 0 ومباشرة؛ و/أو تركيز ضوءٍ فلوري ‎SU fluorescent light‏ من قبل واحد أو أكثر من المصادر الضوئية وحدة توليد الخط 182. الضوء الذي يمر عبر وحدة الاتبعاثات البصرية 188 قد يكون موجها إلى واحدة من التجمعات ‎Lue il‏ التركيبية الأخرى المجاورة» على سبيل المثال» وحدة الكاميرا 186« من خلال منفذ الواجهة ‎interface port‏ قد تشمل وحدة الكاميرا 186 واحد أو أكثر من مستشعرات الضوء ‎light sensors‏ 5 في بعض التطبيقات؛ قد يتم تكوين مستشعر الضوءٍ الأول للكشف عن الضوءٍ من مصدر ‎spall‏ ‏الأول لوحدة توليد الخط 182 (على سبيل المثال؛ في الطول الموجي الأحمر)؛ ويمكن تكوين
مستشعر الضوءٍ الثاني للكشف عن ضوءٍ من مصدر الضوء الثاني لوحدة الكاميرا 186 ‎lic)‏ ‏الطول الموجي الأخضر). يمكن وضع الأمثلة؛ مستشعر الضوء من وحدة الكاميرا 186 داخل المغلف في تكوين مثل للكشف عن ضوء اثنين من عوارض الضوء الساقط ‎incident light beams‏ بحيث أشعة الضوء الساقط قد تكون متباعدة من قبل مسافة محددة مسبقا ‎le)‏ سبيل المثال ؛ بين 1 مم و 10 مم) على أساس اثنين من المستشعرات. في بعض الأمثلة؛ قد يكون مستشعر الضوء الأول ومستشعر الضوءٍ الثاني متباعدين بمعزل عن بعضهما البعض بما بين 3 مم و 8 مم. قد يكون للمستشعرات الضوئية سطح كاشف ‎detection surface‏ بحجم كاف يسمح بانجراف الشعاع ‎cbeam drift‏ على سبيل ‎(JU‏ بسبب التأثيرات الحرارية أو الزحف الميكاتيكي ‎mechanical‏ ‏م©©. يمكن إبلاغ البيانات الناتجة من مستشعرات الضوء من وحدة الكاميرا 186 إلى معالج 0 الكومبيوتر. قد يقوم معالج الكومبيوتر بعد ذلك بتنفيذ تعليمات برنامج الكومبيوتر لتحليل البيانات والتقرير أو عرض خصائص الشعاع (على سبيل ‎JU)‏ التركيز» الشكل؛ الكثافة؛ الطاقة؛ السطوع؛ الموضع) إلى واجهة مستخدم رسومية6171) ‎Ss «(graphical user interface‏ التحكم تلقائيا في المشغلات وإخراج الليزر لتحسين شعاع الليزر. يمكن تحسين شكل الشعاع والموقع من خلال البصريات الداخلية للنظام 180 (على سبيل ‎JU‏ إمالة المراياء وعدسات التعبير
‎«articulating lenses 5‏ الخ). قد تقترن وحدة تتبع التركيز 184 أيضا إلى وحدة الانبعاثات البصرية 188 من خلال منفذ واجهة. قد تتضمن وحدة تتبع التركيز 184 أدوات للكشف عن وتحليل المحاذاة والتركيز لجميع المكونات البصرية في النظام 180. على سبيل المثال؛ قد يتضمن وحدة تتبع التركيز 184 مصدرا ‎Wigan‏ ‎Sle)‏ ليزر)؛ وبصريات»؛ ومستشعرا ضوئي؛ ‎Jie‏ الكاميرا الرقمية ‎digital camera‏ الرقاقة سي أم أوه سي ‎.OMOS‏ قد يتم تكوين الليزر لإرسال مصدر الضوءِ وقد يتم تكوين البصريات لتوجيه الضوء من خلال المكونات البصرية في النظام 180 ويمكن تكوين مستشعر الضوءٍ للكشف عن ‎spall‏ الذي يتم نقله من خلال المكونات البصرية في النظام 180 وبيانات الإخراج إلى معالج كمبيوتر. قد يقوم معالج الكمبيوتر بعد ذلك بتنفيذ تعليمات برامج الكمبيوتر لتحليل البيانات والتقرير أو عرض خصائص شعاع الليزر (على سبيل المثال؛ التركيز؛ الكثافة؛ الطاقة؛ السطوع؛ الموضع) 5 إلى واجهة المستخدم الرسومي؛ و/أو التحكم التلقائي للمشغلات وإخراج الليزر لتحسين شعاع الليزر. في بعض ‎AEN‏ قد تشمل وحدة تتبع التركيز 184 نظام تبريد ‎«cooling system‏ مثل
نظام التبريد الجوي أو السائل كما هو معروف في الفن.
في بعض التطبيقات؛ قد تشمل وحدة توليد الخط 182 التي تعمل في الطاقة العالية لاستيعاب
أيضا سرعات المسح الأسرع (على سبيل المثال؛ الليزر في وحدة توليد الخط 182 يمكن أن يعمل
في خمس مرات أكبر لمخرجات الطاقة ‎(power output‏ بالمثل؛ فإن المصدر الضوئي لوحدة الليزر ‎module‏ 1288 قد يعمل بقوة إنتاجية أعلى و/أو قد يشمل أيضا مستشعر ضوئي عالي
الاستبانة لتحقيق دقة تركيز مقياس نانومتر لاستيعاب سرعات المسح الأسرع. يمكن تعزيز نظام
التبريد 184 لاستيعاب الناتج الحراري الإضافي من الليزر الأعلى طاقة باستخدام تقنيات التبريد
المعروفة في الفن.
في أحد الأمثلة؛ كل التجميع الفرعي التركيبي قد يقترن ميكانيكيا مع واحد أو أكثر من التجميعات
0 الفرعية الأخرى» و/أو إلى لوحة التركيب الدقيقة190. في بعض التطبيقات؛ لوحة التركيب الدقيقة190 قد نقترن ميكانيكيا مع مرحلة التجميع 192. قد تشمل مرحلة التجميع 192 مخمدات الحركة ‎emotion dampers‏ والمشغلات لتفعيل واحد أو أكثر من المكونات داخل واحد أو أكثر من التجميعات الفرعية التركيبية؛ وأنظمة ‎canal)‏ و/أو غيرها من الإلكترونيات أو المكونات الميكانيكية ‎mechanical components‏ كما هو معروف في الفن.
5 قد تكون التجميعات الفرعية التركيبية مسبقة الصنع أو المكونة؛ لمحاذاة داخليا. في بعض التطبيقات؛ قد تكون وحدة التحكم مقترنة بشكل إلكتروني بمرحلة التجميع 192 والمقترنة بشكل متصل مع واجهة المستخدم لتمكين المحاذاة التلقائية أو اليدوية البعيدة لواحدة أو أكثر بعد أن يتم اقترانها بلوحة التركيب الدقيقة 190. كل تجميع فرعي تركيبي قد يكون وحدة حقل قابل للاستبدال» بحيث يمكن إزالته من لوحة التركيب الدقيقة 190 واستبداله بتجميع فرعي آخر مكافئ وظيفيا دون
0 الإخلال بمحاذاة أو تكوين آخر للتجميعات الفرعية التركيبية في النظام. كل وحدة تم محاذاتها سابقا والمؤهلة مسبقا قبل الاندماج في النظام 180. على سبيل المثال؛ تجميع وتكوين ‎sang‏ توليد الخط 182 قد تشمل الاقتران الميكانيكي مع واحد أو أكثر من لليزر أو الصمامات الليزرية ‎laser diodes‏ في المغلف؛ وتركيب إلكترونيات التحكم ‎control electronics‏ لتشغيل الليزر أو الصمامات الثنائية لليزر. يمكن بعد ذلك تحميل وحدة توليد الخط 182 بأكملها
5 على سرير اختبار وتشغيلها لمحاذاة صمامات الليزر داخل الحاوية» فضلا عن أي بصربات أو مكونات أخرى. قد يتضمن مغلف وحدة توليد الخط البنية التركيبية الخارجية مثل الدبابيس التركيب
‎mounting pins‏ أو البيانات أو الشقوق أو علامات ‎cogil)‏ أو الفتحات أو الارتفاعات المتطاولة أو النتوءات ‎protrusions‏ أو البادئات الأخرى المكونة لمحاذاة الجهاز الخاص بوحدة توليد الخط 2 إلى سرير الاختبار وكذلك النظام 180. ‎ayaa‏ أن يتم تكوين واختبار وحدة توليد الخط 2. فإنه قد يتم تثبيتها في النظام 180( أو يتم حزمها أو تخزينها أو شحنها كوحدة حقل قابل للاستبدال.
التجمعات الفرعية الأخرى؛ مثل وحدة تتبع التركيز 184( وحدة الكاميرا 186( أو وحدة الانبعاثات البصرية 188؛ قد يكون تم تجميعها؛ وتكوينها؛ واختبارها بالمثل قبل التثبيت على النظام 180. قد يتم تجميع كل وحدة فرعية تركيبية باستخدام أساليب اقتران ميكانيكية للحد من تنقل المكونات الداخلية داخل التجميع الفرعي كما هو مطلوب. على سبيل المثال؛ قد تكون المكونات مؤمنة في 0 مكان مع المشابك ‎fasteners‏ أو اللحامات لإيقاف التتقل بمجرد أن يتم محاذاة المكون مع المكونات الأخرى أو الحاوية الخاصة بالتجميع الفرعي التركيبي. قد تقترن بعض المكونات؛ حسب الرغبة؛ بالمفاصل المفصلية ‎articulating joints‏ أو يتم السماح لها بالتنقل داخل الحاوية بحيث يمكن تعديل اتجاهها النسبي بعد تركيبها على لوحة التركيب الدقيقة 190. على سبيل المثال؛ قد يتم التحكم في كل المواضع النسبية للتجميع الفرعي التركيبي باستخدام التحمل الميكانيكي ‎mechanical tolerances 5‏ المحدد مسبقا ‎Die)‏ عن طريق محاذاة المسند لتلقي الشقوق في التجميع الفرعي التركيبي المجاور أو في لوحة التركيب الدقيقة 190) مثل تمكين المحاذاة البصرية العامة للنظام 180 مع عدد محدود من الدرجات القابلة لتعديل الحرية (على سبيل المثال» أقل من 10
درجات الحرية العامة في بعض التطبيقات). الشكل 1ج هو منظور تخطيطي يشرح مثال للوحة التركيب الدقيقة 190. قد يتم تصنيع لوحة 0 التركيب الدقيقة 190 من الوزن الخفيف»؛ الجامد؛ والمواد الحرارية المتسامحة ‎heat tolerant‏ ‎materials‏ في بعض التطبيقات؛ لوحة التركيب الدقيقة190 قد تكون مصنعة من المعدن (على سبيل المثال» ألومنيوم ‎(aluminum‏ أو السيراميك؛ أو غيرهم من المواد الجامدة كما هو معروف في الفن. لوحة التركيب الدقيقة190 قد تشمل بنيات المحاذاة الدقيقة ‎precision alignment‏ ‎Al) structures‏ تم تكوينها للاقتران الميكانيكي المقابل البنيات المحاذاة الدقيقة المدرجة على 5 التسييج أو العلب من واحد أو ‎SST‏ من التجميعات الفرعية التركيبية. على سبيل المثال؛ قد تتضمن بنيات المحاذاة الدقيقة دبابيس التركيب؛ والبيانات؛ وعلامات التبويب؛ والفتحات؛ والشقوق؛
والنتوءات؛ والمغناطيس؛ والتلال؛ والمسافات البادئة؛ و/أو بنيات التركيب الدقيقة الأخرى المصممة لمحاذاة السطح الأول ‎(Jie)‏ على لوحة التركيب الدقيقة 190) مع السطح الثاني (على سبيل المثال» السطح الخارجي للمغلف أو المسكن للتجميع الفرعي التركيبي. بالإشارة إلى الشكل 1ج؛ مثال للوحة التركيب الدقيقة190 قد تشمل تعددية بنيات التركيب الدقيقة لوحدة توليد الخط 194 المكونة لقبول وللاقتران الميكانيكي مع بنيات التركيب الدقيقة المقابلة التي تقع على السطح الخارجي لوحدة توليد الخط 182. بالمثل» فإن لوحة التركيب الدقيقة190 قد تشمل تعددية بنيات التركيب الدقيقة على وحدة الانبعاثات البصرية 196 التي تم تكوينها لقبول وللاقتران الميكانيكي مع بنيات التركيب الدقيقة التي تقع على السطح الخارجي من وحدة الانبعاثات البصرية 188. من خلال تحديد موقع وحدة توليد الخط 182 ووحدة الانبعاثات البصرية 188 على لوحة التركيب 0 الدقيقة190 باستخدام بنيات التركيب الدقيقة؛ وحدة توليد الخط 182 وحدة الانبعاثات البصرية 8 سيتم محاذاتها مع بعضها البعض. تقع بنيات التركيب الدقيقة على مغلفات من التجميعات ‎due jill‏ التركيبية الأخرى (على سبيل المثال» وحدة تتبع التركيز 184 ووحدة الكاميرا 186) قد يتم الاقتران الميكانيكي مع بنيات التركيب الدقيقة الخاصة الموجودة على وحدة توليد الخط 182 أو وحدة الانبعاثات البصرية 188( أو على ‎dag‏ التركيب الدقيقة 190. 5 الشكل 1د يوضح مخطط كتلي نموذجي لوحدات نظام التحليل البصري. في بعض التطبيقات؛ قد تتضمن وحدات نظام التحليل البصري وحدة توليد الخط 1182 مع اثنين من مصادر الضوء؛ 0 و 1660( التي تم استبعادها هنا. قد تكون مصادر الضوء 1650 و 1660 عبارة عن صمامات ثنائية الليزر أو ثنائيات الصمامات الصلبة التي يتم ضخها بالليزر ‎diode pumped‏ ‎solid state lasers‏ أو مصادر ضوء أخرى كما هو معروف في الفن؛ والتي تنتج أشعة ليزر ذات 0 أطوال موجية مختلفة (على سبيل المثال؛ الضوءٍ الأحمر أو الأخضر). يمكن توجيه الأشعة الضوئية الناتجة من مصادر الليزر 1650 و 1660 من خلال عدسة أو عدسات لتشكيل الأشعة 4. وفي بعض التطبيقات؛ يمكن استخدام عدسة تشكيل ضوء واحدة لتشكيل الاشعة الضوئية الناتجة من كلا مصادر الضوء. في تطبيقات أخرى؛ يمكن استعمال عدسة تشكيل الأشعة المنفصلة لكل شعاع ضوئي. في بعض الأمثلة؛ عدسة تشكيل الشعاع هي عدسة بوال؛ بحيث يتم 5 تشكيل شعاع ضوئي في أنماط الخط. قد تشمل وحدة توليد الخط 1182 أيضا المرايا 1002 و 1004. ويمكن أن ينعكس شعاع الضوءٍ
الناتج عن مصدر الضوءٍ 1650 على المرآة 1002 بحيث يتم توجيهها من خلال فتحة أو مرآة شبه عاكسة للمرآة 1004 وإلى وحدة الانبعاثات البصرية 1188 من خلال منفذ واجهة مفرد. بالمثل؛ قد ينعكس شعاع ضوئي ناتج عن مصدر الضوء 1660 عن ‎shall‏ 1003 ومرآة 1004 ليتم توجيهها إلى وحدة الانبعاثات البصرية 1188 من خلال منفذ وسيط. في بعض الأمثلة؛ يمكن دمج مجموعة إضافية من المرايا التوضيحية المجاورة للمرآة 1004 لتوفير أسطح ضبط ‎tuning‏ ‏5 إضافية؛ على سبيل ‎(JA‏ كما هو موضح في الشكل 1ح. يمكن الجمع بين الأشعة الضوئية باستخدام المرآة المزدوجة اللون 1004. يمكن توجيه كل الأشعة الضوئية من خلال بصريات تشكيل الخط ‎Jie‏ عدسة بوال. يمكن تكوين كل من المرايا 1002 و 4 لتوضيح استخدام عناصر التحكم اليدوية أو الآلية لمحاذاة الأشعة الضوئية من مصادر 0 الضوء 1650 و 1660. قد تمر الأشعة الضوتئية من خلال غلق العنصر 1006. وقد تشمل وحدة الانبعاثات البصرية 1188 الهدف 1404 و المرحلة 2-1024 الذي يحرك الهدف 1404 طوليا أقرب إلى أو أبعد من الهدف 1192. على سبيل ‎JU‏ قد يشمل الهدف 1192 طبقة سائلة 550 ‎liquid layer]‏ ولوحة التغطية الشفافة 1504( ‎(Sag‏ أن تقع العينة البيولوجية على السطح الداخلي للوحة التغطية الشفافة وكذلك السطح الداخلي للمادة المتفاعلة تقع تحت طبقة 5 السائل. يمكن أن تحرك المرحلة 2 عندئذ الهدف من أجل تركيز الأشعة الضوئية على السطح الداخلي لخلية التدفق (على سبيل المثال؛ التركيز على العينة البيولوجية). قد تكون العينة البيولوجية هي الحمض النووي؛ الحمض النووي الرببوزي» بروتينات»؛ أو مواد بيولوجية ‎biological‏ ‎materials‏ أخرى تستجيب للتسلسل البصري كما هو معروف في الفن. في بعض التطبيقات؛ قد يتم تكوين الهدف لتركيز الأشعة الضوئية في نقطة بؤرية خارج خلية التدفق؛ مثل زيادة عرض الخط من الأشعة الضوئية على أسطح خلية التدفق. قد تشمل وحدة الانبعاثات البصرية 1188 أيضا مرآة عاكسة 1020 للضوء المباشر من خلال الهدف 1404( مع السماح للضوء المعكوس من الهدف 1192 بالمرور. في بعض عمليات التطبيق؛ قد تشمل وحدة الانبعاشات البصرية 1188 عدسة أنبوبية 1406 وعدسة تصحيحية ‎corrective lens 0‏ يمكن تصويب العدسة التصحيحية 1450 طوليا إما بالقرب من إلى أو 5 بعيدا عن الهدف 1404 باستخدام المرحلة-1022 2 لضمان التصوير الدقيق؛ على سبيل المثال لتصحيح الانحراف الكروي الناجم عن ‎elias‏ الهدف 1404؛ و / أو من التصوير من خلال مادة
متفاعلة أكثر سمكا. قد يمر الضوء المنقول من خلال عدسة تصحيحية 1450 والعدسة الأنبوبية 6 من خلال عنصر الترشيح 1012 ‎As filter element‏ وحدة الكاميرا 1186. قد تشمل وحدة الكاميرا 1186 واحد أو أكثر من المستشعرات البصرية 1050 للكشف عن الضوء المنبعث من العينة البيولوجية بالاستجابة لسقوط الأشعة الضوئية.
في بعض الأمثلة؛ قد تشمل وحدة الانبعاثات البصرية 1188 أيضا مرآة شبه عاكسة 1018 لتعكس شعاع ضوئي تتبع التركيز المنبعث من وحدة تتبع التركيز 1184 على الهدف 1192؛ ثم تعكس الضوءٍ المنعكس من الهدف 1192 مرة أخرى إلى وحدة تتبع التركيز 1184. قد تشمل وحدة تتبع التركيز 1184 مستشعر بصري تتبع التركيز للكشف عن خصائص شعاع ضوئي لتتبع التركيز التي تعود وتولد إشارة ردود الفعل ‎feedback signal‏ لتقييم تركيز الهدف 1404 على
0 الهدف 1192. تم تكوين وحدة توليد الخط 1182 لتوليد إضاءة خط موحد من خلال عدسة شيئية. على سبيل ‎(JU)‏ قد تكون العدسة الشيئية موجودة على ‎sang‏ الانبعاثات البصرية 1188( أو على نظام المحاذاة ‎sass) alignment system‏ توليد الخط المستخدمة لمحاذاة المكونات الداخلية لوحدة توليد الخط عندما يتم تجميعها أو الحفاظ عليها كوحدة توليد الخط (على سبيل المثال؛ فصلها ماديا من
5 وحدت النظام التحليلي البصري). قد تستخدم وحدة توليد الخط واحد أو أكثر من العدسات بوال لنشر و/أو تشكيل شعاع الليزر من مصادر ضوء الليزر واحد أو بالقرب من موقع واحد. يمكن استخدام البصريات الأخرى لتشكيل الأشعة للسيطرة على اتساقها وزيادة التحمل مثل النشاط التوسعي للشعاع؛ والمخفف؛ وعدسات التتابع ‎relay lenses‏ الواحدة؛ والعدسات الاسطوانية ‎cylindrical lenses‏ والمرايا التي تعمل باليد؛ والعناصر الاتنعكاسية ‎«diffractive elements‏
0 ومكونات التشتت ‎scattering components‏ قد تتقاطع أشعة الليزر عند النقطة البؤرية الخلفية ‎back focal point‏ للعدسة الشيئية لتوفير قدر أفضل من التحمل على أسطح التدفق (على سبيل المثال» كما هو مبين في الشكل [ى). قد تقع العدسة بوال بالقرب من العدسة شيئية؛ أو بالقرب من عدسة التتابع ‎relay lens‏ زاوية انتشار ‎fan angle‏ شعاع الليزر الذي يدخل بصريات التصوير يمكن تعديلها لتتناسب مع منظور المجال لتصوير البصريات.
5 يمكن تعديل اتجاه وحجم و/أو استقطاب شعاع الليزر باستخدام العدسات والمرايا و/أو المستقطبات ‎polarizers‏ يمكن استخدام العدسات البصرية (على سبيل ‎(JU‏ أسطوانية؛ كروية؛ أو غير
كروية) لضبط تركيز الإضاءة بشكل فعال على الأسطح المزدوجة ‎dual surfaces‏ لهدف خلية التدفق. وحدات الضوء على 1182 قد تكون قابلة للاستبدال بشكل فردي لخدمة المجال. قد تشمل ‎sang‏ توليد الخط 1182 وحدات متعددة؛ وقد تم تصميم كل وحدة لأطوال موجية معينة/مختلفة والاستقطاب. يمكن استخدام وحدات شعاع ضوئية متعددة لزيادة طاقة الليزر وخيارات الطول الموجي. يمكن الجمع بين اثنين أو أكثر من أطوال الليزر مع ثنائي اللون والمستقطب. لتجنب تبييض الصور على المنطقة المجاورة أو تشبع الصورة من الاضاءة؛ يمكن تعديل ملامح خط الإضاءة ‎illumination line‏ لتكون ضمن التحمل السابق بنسبة التحمل داخل/منطقة التصوير الخارجي. من خلال توسيع أنماط خط الليزر في خلية التدفق و/أو المستشعرات؛ قد يتم استخدام سرعات المسح العالي وقوى الليزر (على سبيل المثال؛ يمكن زيادة الطاقة والإنتاجية أكثر من 0 أربعة أضعاف دون أن تعاني من تشبع الصورة أو تبييض ‎gall‏ أو إتلاف وحدات الليزر). في بعض الأمثلة؛ وكثافة قوة الليزر من أكثر من 20 كيلو واط/سم2 في خلية التدفق قد تفرط في تشبع الاضاءة في خلية التدفق. عندما يحدث هذاء فإن إشارة الانبعاث ‎emission signal‏ المكتشفة في المستشعرات لن تزداد خطيا مع زيادة قوة الإثارة من وحدات الليزر. يمكن أن تشمل طرق خطوط الإضاءة الموسعة باستخدام البصريات: إضافة عدسة تباين ‎defocus‏ ‎dens 5‏ نظم المنشار الزجاجي ‎prism array‏ أو الناشر بعد أو قبل عدسة بوال. في بعض التطبيقات؛ قد تشمل هذه الأساليب أيضا الحد من حجم إضاءة شعاع الليزر و/أو الحد من العدسة الشيئية لتصميم الدمج اللانهائي. يوضح الشكل 1ك مخطط كتلي لنظام وحدة توليد الخط ووحدة الانبعاتات البصرية الذي يتم استخدامهم لتوسيع نمط خط الليزر على خلية التدفق لتجنب تشبع الصورة وتبييض الصور. يمكن ‎sab)‏ خط العرض الساقط لشعاع الليزر على خلية التدفق للحد من 0 سيطرة كثافة الإثارة وتجنب تشبع الصورة. يمكن زبادة عرض الخط؛ على سبيل المثال» من خلال دمج العدسة أو المنشار الزجاجي أو المصفوفة أو الناشر؛ إما أمام أو خلف عدسة بوال. في بعض التطبيقات؛ يمكن زيادة عرض الخط عن طريق إزالة تركيز العدسة الشيئية؛ كما هو موضح في الشكل 1ك (على سبيل المثال» تحريك العدسة الشيئية في المحور 7) لتركيز نمط الخط ‎shy‏ ‏أسطح خلية التدفق. في بعض الأمثلة؛ قد يؤدي تباين نمط الخط إلى مسافة تتراوح بين حوالي 50 5 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر من سطح بعيد عن خلية التدفق إلى إحداث عرض خط أكبر من 10 ميكرومتر؛ ويقلل بشكل فعال من آثار التشبع الضوئي وتبييض ‎pall‏
عند استخدام مستشعر تكامل تأخير زمني؛ يمكن موازنة المظهر الجانبي لشدة ‎papal)‏ من خط إلى أشعة مع إمكانية تحمل الإشارة إلى الضوضاء لمستشعر تكامل تأخير زمني. على سبيل المتال» عند عرض خطوط واسعة ‎daa‏ قد تكون نسبة الإشارة إلى الضوضاء متنخفضة جدا بحيث تكون فعالة.
يوضح الشكل 1و مخطط كتلي لنظام محاذاة ‎sang‏ توليد الخط. الشكل 31 يوضح منظر لنظام محاذاة وحدة توليد الخط. كما هو موضح؛ في بعض التطبيقات»؛ وحدة الليزر الخضراء قد تولد شعاع الليزر الأول الذي يعكس قبالة اثنين من ‎Lhe‏ بي زد تي ‎PZT‏ وبالمثل؛ فإن وحدة الليزر الحمراء قد تولد شعاع الليزر الثاني الذي يعكس أيضا قبالة اثنين من مرايا ‎PZT‏ ويتم الجمع مع شعاع الليزر الأول. قد تمر كل أشعة الليزر من خلال عدسة بوال لإنتاج نمط الخط؛ء ومن ثم من
0 خلال مصراع ‎shutter‏ البصريات وحدة الانبعاشات البصرية؛ والعدسة الشيئية. في بعض التطبيقات؛ قد يتم إزالة تركيز شعاع الليزر باستخدام عدسة التباين قبل تمرير الهدف من أجل زيادة عرض خط من أشعة الليزر. بدلا من ذلك؛ قد يتم إزالة تركيز شعاع الليزر عن ‎Gob‏ ‏توضيح الهدف في المحور 7. من خلال تركيز شعاع الليزر في نقطة بؤرية وراء أسطح من خلية التدفق؛ قد يتم توسيع خطوط الليزر لتفريق الطاقة في العينة وتجنب تشبع الصورة؛ وتبييض 5 الصورء وأضرار الليزر بسرعة المسح عالية وقوى الليزر العالية. في بعض التطبيقات؛ يمكن زيادة أنماط الخط في العرض من أقل من 5 ميكرومتر إلى أكثر من 13 ميكرومتر. قد يتضمن نظام محاذاة وحدة توليد الخط أسطح تحكم لضبط أو معالجة المواقع النسبية للمرايا 2 و 1004؛ وكذلك العدسات؛ أو الليزر؛ أو المكونات الأخرى أو البصريات في وحدة توليد الخط. على سبيل المثال؛ ‎(Sa‏ إجراء تعديلات باستخدام المعالجة اليدوية لمقابض التحكم ‎control‏ ‎knobs 0‏ أو البراغي ‎screws‏ أو المكونات الأخرى. في تطبيقات أخرى؛ واحد أو أكثر من العناصر البصرية يمكن تعديلها أو معالجتها تلقائيا. يمكن أن تشمل ‎Brea)‏ التحكم ‎١‏ لأالي ‎Automatic‏ ‎control devices‏ مرحلة الترجمة الآلية؛ وجهاز التشغيل ‎cactuation device‏ واحد أو أكثقر من مراحل بيزوء و / أو واحد أو أكثر من التبديل التلقائي ومرايا وعدسات التقلب. يمكن استخدام واجهة البرنامج للتحكم في جميع الأجهزة؛ ونظام الاختبار» والمعايرة؛ وإجراء الاختبار. يتضمن 5 نظام المحاذاة ملف تعريف الشعاع (على سبيل المثال؛ مستشعر التصوير ثنائي الأبعاد)» وعدسة التصوير (استبدال العدسة الشيئية بوحدة الانبعاثات البصرية)؛ والمخفف» و/أو أهداف المحاذاة.
يمكن استخدام ‎deals‏ البرنامج لإصدار تقارير لمراقبة الجودة وتقييم المنتجات. على سبيل المثال؛ يمكن أن تتضمن التقارير البيانات التي تم إنشاؤها بواسطة ملف تعريف الشعاع في ما يتعلق بكثافة الشعاع والملف التعريفي المتعلق بتكوين محاذاة للمكونات البصرية من وحدة توليد الخط. في بعض التطبيقات» طريقة محاذاة وحدة توليد الخط باستخدام نظام محاذاة وحدة توليد الخط قد تشمل تحديد مواقع التوافق ‎alignment positions‏ المعقولة والتحمل لبصريات التصويرء والمستشعرات؛ والميكانيكا بالنسبة لنظام محاذاة وحدة توليد الخط. يكون نظام محاذاة وحدة توليد الخط خارج النظام التحليلي البصري المرن. على هذا ‎gall‏ يمكن تجميع المكونات الداخلية لوحدة توليد الخط ومحاذاتها قبل التثبيت في نظام التحليلي البصري المرن. قد يتم أيضا محاذاة المكونات الداخلية لوحدة توليد الخط أثناء نشاط الصيانة.
0 في بعض التطبيقات؛ يمكن تحقيق التوافق بين المكونات البصرية وحدة توليد الخط باستخدام أجهزة التشغيل للتتبع التلقائي والضبط أثناء إجراء التسلسل أو بين دورات التسلسل/التشغيل. على سبيل المثال» يمكن أن تكون أجهزة التشغيل مرحلة بيزوء أو مشغل ميكانيكي ‎«motorized actuator‏ أو أجهزة مماثلة معروفة في الفن. يمكن أن تعوض أجهزة التشغيل أيضا عن الانجراف الناجم عن تغيرات درجة الحرارة؛ وكذلك اضمحلال المكونات البصرية بما في ذلك أشعة الليزر؛ والعدسات؛
5 والتركيبات ‎mounts‏ ‏يمكن لكل مكون بصري أن يقترن ميكانيكيا مع حاوية أو إطار بصري ‎optical frame‏ باستخدام واجهة ميكانيكية ‎mechanical interface‏ مزودة بوصلات اتصال دقيقة ‎precision contact pads‏ أو دبابيس وتد ‎dowel pins‏ أو سدادات أو أسطح تركيب ميكانيكية ‎mechanical mounting‏
‎surfaces‏ دقيقة أخرى كما هو معروف في الفن.
‏0 الأشكال 2 و 2ب هي مخططات توضح بنيات التركيب الدقيقة على وحدة الانبعاثات البصرية 8. في العديد من التطبيقات؛ قد تشتمل وحدة الانبعاثات البصرية 188 على وحدة ‎GUY)‏ ‏البصرية المغلفة 210. يمكن لوحدة الانبعاثات البصرية 188 أن تقترن ميكانيكيا وبصريا مع وحدة توليد الخط 182؛ ووحدة تتبع التركيز 184 ووحدة الكاميرا 186 ‎Ao)‏ سبيل المثال؛ تغليف وحدة الانبعاثات البصرية 188 قد يشتمل على فتحة واحدة أو أكثر مقابلة ومحاذية لفتحة تقع على
‏5 مغلف كل من التجميعات الفرعية التركيبية الأخرى لتمكين الضوء»؛ الناتج عن مصدر (مصادر) الضوء في وحدة توليد الخط 182 و / أو وحدة تتبع التركيز 184 للانتقال عبر الفتحة والبصريات
الداخلية لوحدة الانبعاشات البصرية 188. كما هو موضح في الشكل 2ب؛ قد تشمل وحدة الانبعاثات البصرية المغلفة 210 بنيات التركيب الدقيقة وحدة تتبع التركيز 212 التي تم ‎Less‏ ‏للمحاذاة والاقتران الميكانيكي (على سبيل المثال؛ اتصال فيزيائي) مع بنيات التركيب الدقيقة المقابلة التي تقع على السطح الخارجي لمغلف وحدة تتبع التركيز 184. بالمثل» قد تشمل ‎Sang‏ ‏5 الانبعاثات البصرية المغلفة ل 210 بنيات التركيب الدقيقة وحدة الكاميرا 222 التي تم تكوينها للمحاذاة والاقتران الميكانيكي مع بنيات التركيب الدقيقة المقابلة التي تقع على السطح الخارجي لمغلف 220 من وحدة الكاميرا 186. توضح الأشكال 3( 3ب؛ و 3ج مخططات بنيات التركيب الدقيقة على وحدة تتبع التركيز 184. بالإشارة إلى الشكل 3أ؛ وحدة تتبع التركيز 184 قد تشمل مصدر الضوء والمستشعرات البصرية 0 الموضوعة داخل وحدة تتبع التركيز المغلفة 300. وحدة تتبع التركيز المغلفة 300 قد تشمل منافذ الواجهة ‎interface ports‏ للواجهات الإلكترونية 302 ‎«electronic interfaces‏ 5304 306 للسيطرة على مصدر الضوءٍ والمستشعرات البصرية. قد تشمل وحدة تتبع التركيز المغلفة 300 ‎Lad‏ بنيات التركيب الدقيقة 312 (على سبيل ‎(JU)‏ أقدام التركيب الدقيقة التي تم تكوينها للاقتران الميكانيكي مع التجاويف أو المواقع المحددة سلفاً على لوحة التركيب الدقيقة 190). قد تشمل وحدة تتبع التركيز المغلفة 300 كذلك بنيات التركيب الدقيقة 314 التي تم تكوينها للمحاذاة الاقتران الميكانيكي مع بنيات التركيب الدقيقة المقابلة 212 التي تقع على السطح الخارجي لوحدة الانبعاثات البصرية المغلف 210 قبل التجميع؛ يتم تكوين؛ ومحاذاة؛ واختبار كل وحدة تجميع فرعية؛ ومن ثم يتم تركيب كل واحدة منها إلى ‎dag)‏ التركيب الدقيقة190 للمساعدة في محاذاة النظام؛ قد يقلل من كمية المحاذاة ما بعد 0 اتثبيت المطلوبة لتلبية التحمل المطلوب. في مثال واحد؛ يمكن إجراء محاذاة ما بعد التركيب بين وحدة الانبعاثات البصرية 188 وكل من وحدات التجميع الفرعية الأخرى عن طريق ربط منافذ الوحدة التركيبية ‎module ports‏ المقابلة (مثل منفذ وحدة الاتبعاثات البصرية/وحدة تتبع التركيزء ومنفذ وحدة الانبعاثات البصرية/وحدة الكاميرا؛ ومنفذ بعثة وحدة الانبعائات البصرية/وحدة توليد الخط)؛ ومحاذاة التجميعات الفرعية لبعضها البعض بواسطة التعبير عن الموقع يدويا أو تلقائيا (في 5 المحور ‎X‏ أو ‎Y‏ أو 2) أو الزاوية (في الاتجاه ‎X‏ أو ‎oY‏ وتناوب كل وحدة تجميع فرعية. بعض درجات الحرية قد تكون محدودة من قبل بنيات محاذاة الدقة التي تم حددت الموقع مسبقا وتوجيه
تجميع الوحدات فيما يتعلق بلوحة التركيب الدقيقة190 والتجميعات الفرعية المرنة المجاورة. يمكن بعد ذلك ضبط ومحاذاة البصريات الداخلية للنظام 180 من خلال توضيح المكونات الداخلية للتجميعات الفرعية المرنة (على سبيل المثال» عن طريق إمالة أو تحريك في المرايا والعدسات ‎X‏ ‏أو 7 أو 2).
الشكل 14 هو مخطط مظهر جانبي يوضح مثالا نموذجيا لنظام تحليلي بصري. كما هو موضح في الشكل 4أ؛ وحدة توليد الخط 182 و وحدة الانبعاثات البصرية 188 يمكن محاذاتها واقترانها ميكانيكيا مع لوحة التركيب الدقيقة190؛ بالإضافة إإلى بعضها البعض. قد تشمل بعثة وحدة الانبعاثات البصرية 188 الهدف 404 التي تمت محاذاتهاء عبر ‎shall‏ 408 مع عدسة أنبوبية 406 والتي بدورها تقترن بصريا مع وحدة توليد الخط 182 بحيث حزم الضوء التي تم إنشاؤها
0 بواسطة إرسال ‎sang‏ توليد الخط 182 من خلال واجهة الصد بين ‎sang‏ توليد الخط 182 ووحدة الانبعاثات البصرية 188( التي تمر من خلال الهدف 404؛ وتسقط على الهدف البصري. قد يمر إشعاع الضوء المستجيب من الهدف مرة أخرى من خلال الهدف 404 وفي العدسة الأنبوبية 406. قد تشمل العدسة الأنبوبية 406 عنصر عدسة 450 تم تكوينه للتعبير على طول محور 7 لتصحيح التحف منحرفة الكروية التي تم إدخالها بواسطة تصوير 404 الهدف من خلال السمك 5 المتنوع من ركيزة خلية التدفق ‎floweell substrate‏ أو غطاء الزجاج ‎cover glass‏ على سبيل المثال؛ الأشكال 4ب و4ج هي مخططات كتلية توضح تشكيلات مختلفة من العدسة الأنبوبية 6. كما هو مبين؛ فإن عنصر العدسة 450 يمكن أن يكون قريب أو بعيد عن الهدف 404 لضبط شكل الحزم والمسار. في بعض التطبيقات؛ يمكن أن تقترن وحدة الانبعاثات البصرية 188 ميكانيكيا بالمرحلة 2 على سبيل المثال؛ التي يتم التحكم بها بواسطة المحركات في مرحلة المحاذاة 192. في بعض الأمثلة؛ يمكن التعبير عن المرحلة 7 بواسطة ملف دقيق ‎precision coil‏ وتشغليها عن طريق آلية التركيز ‎focusing mechanism‏ التي قد تعدل وتحرك الهدف 404 للحفاظ على التركيز في خلية التدفق. على سبيل ‎JU‏ يمكن أن تكون الإشارة للتحكم لضبط التركيز ناتجة عن وحدة تتبع التركيز 4. يمكن للمحور 2 هذا أن يحاذي بصربات وحدة الانبعاثات ‎cdo yal‏ على سبيل المثال» من 5 خلال توضيح الهدف 404( العدسة الأنبوبية 406؛ و/أو عنصر العدسة 450. الأشكال 15 و 5ب هي مخططات توضح وحدة تتبع التركيز 184. قد تتداخل وحدة تتبع التركيز
4 مع وحدة الانبعاثات البصرية 188 من خلال منفذ واجهة وحدة تتبع التركيز/وحدة الانبعاثات البصرية. كما هو موضح في الشكل 5أ؛ الشعاع الضوئي الذي ينشاً في وحدة تتبع التركيز 184 وتمر من خلال بصريات وحدة الانبعاثات البصرية 188 قد تنعكس قبالة خلية التدفق 504. كما هو موضح هناء وحدة تتبع التركيز 184 قد يتم تكوينها لتغذية معالج الكمبيوتر من أجل السيطرة على المحاذاة وتحديد مواقع المكونات البصرية في جميع أنحاء النظام 180. على سبيل المثال؛ قد تستخدم وحدة تتبع التركيز 184 آلية التركيز باستخدام اثنين أو أكثر من الأشعة الضوئي المتوازية ‎parallel light beams‏ تمر عبر الهدف 404 وتنعكس قبالة خلية التدفق 504. حركة خلية التدفق بعيدا عن موقع التركيز الأمثل قد تتسبب في تغيير زاوية الأشعة المنعكسة ‎reflected‏ ‎beams‏ حيث أنها تخرج الهدف 404. يمكن قياس هذه الزاوية بمستشعر بصري يقع في وحدة تتبع
0 التركيز 184. في بعض الأمثلة؛ يمكن أن تكون مسافة مسار الضوءٍ بين سطح جهاز الاستشعار البصري والهدف 404 هي بين مسافة 300 مم و 700 مم. قد ‎fai‏ وحدة تتبع التركيز 184 حلقة التقييم باستعمال إشارة الناتج ‎output signal‏ من جهاز الاستشعار البصري للحفاظ على الفصل الجانبي المحدد مسبقا بين الأنماط أشعة البقعة لحزمتين متوازيتين أو أكثر من خلال ضبط موقع الهدف 404 باستخدام المرحلة 2 في وحدة الانبعاثتات البصرية.
5 بعض تطبيقات نظام 180 توفر طريقة تعويض لتصوير السطح أعلى وأسفل خلية التدفق 504. في بعض الأمثلة؛ خلية التدفق 504 قد تشمل غطاء زجاجي تم وضعه في طبقات على طبقة من السائل والركيزة. على سبيل المثال؛ قد يكون زجاج الغطاء بين حوالي 100 ميكرو متر وحوالي 0 ميكرو متر في السمك؛ وقد تكون الطبقة السائلة بين حوالي 50 ميكرو متر وحوالي 150 ميكرو متر في السمك؛ وقد تتراوح الركيزة بين 0.5 و 1.5 مم في السمك تقريبا. في أحد الأمثلة؛
0 يمكن إدخال عينة في السمك ‎Aol‏ وأسفل القناة السائلة ‎liquid channel‏ (على سبيل المثال» في الجزء العلوي من الركيزة؛ وأسفل غطاء الزجاج). لتحليل العينة؛ يمكن تعديل النقطة البؤرية لأشعة الضوء الساقطة في أعماق مختلفة من خلية التدفق 504 عن طريق تحريك المرحلة ‎z‏ (على سبيل المثال» للتركيز على ‎yall‏ العلوي من الركيزة أو أسفل غطاء الزجاج. حركة الهدف 404 لتغيير نقاط التنسيق لشعاع البؤّرة داخل خلية التدفق 504 قد تعرض تحف أو عيوب التصوير مثل
5 الاتحراف الكروي. لتصحيح هذه التحف أو العيوب؛ فإن عنصر العدسة 450 داخل العدسة الأنبوبية 406 يمكن تقله بالقرب أو بعيدا عن الهدف 404.
قد يتم تكوين وحدة تتبع التركيز 184 في بعض الأمثلة كوحدة قابلة للاستبدال الحقلي واحد مع عدم وجود مكونات داخلية قابلة للاستبدال. لزيادة طول العمر وموثوقية المكونات الداخلية وحدة
تتبع التركيز» مثل الليزرء قد يتم تخفيض انتاج الليزر (على سبيل المثال؛ أقل من 5 ميلي واط). توضح الأشكال 6 و7 هي مخططات وحدة توليد الخط 182 ووحدة الانبعاثات البصرية 188. كما هو مبين»؛ يمكن وحدة توليد الخط 182 التفاعل مع وحدة الانبعاثات البصرية 188 من خلال واجهة وحدة توليد الخط/وحدة الانبعاثات البصرية الصد 602. وحدة توليد الخط 182 هو مصدر الفوتون ‎photon source‏ للنظام 180. واحد أو أكثر من مصادر الضوءٍ ‎(Ae)‏ سبيل المثال؛ مصادر ‎egal‏ 650 و 660) يمكن وضعها داخل مغلف من وحدة توليد الخط 182. قد يتم توجيه الضوء المتولد من مصادر الضوءء 650 و 660 من خلال شعاع تشكيل العدسة 604 ‎Als‏
0 المسار البصري للوحدة الانبعاتات البصرية 188 من خلال وحدة توليد الخط/وحدة الانبعاثات البصرية الصد 602. على سبيل المثال» مصدر ‎spall‏ 650 قد يكون الليزر الأخضر ومصدر الضوءء 660 قد يكون ليزر أحمر. قد تعمل أجهزة الليزر بأحمال عالية (على سبيل المثال؛ أكثر من 3 واط). يمكن تنفيذ واحد أو أكثر من أشعة تشكيل الشعاع 604 لتشكيل الأشعة الضوئية المولدة من مصادر الضوءٍ إلى الأشكال المطلوية (على سبيل المثال» خط).
5 قد تثير الفوتونات ‎Photons‏ الناتجة عن مصادر الضوء 650 و 660 ‎Ae)‏ سبيل المثال؛ فوتونات الطول الموجي ‎PRY wavelength photons‏ وفوتونات الطول الموجي | لأحمر) الفلوروفورات في الحمض ‎(gal)‏ النووي المنزوع الأكسجين الموجود على خلية التدفق 504 للتمكين من تحليل أزواج القاعدة الموجودة داخل الحمض الريبوزي النووي المنزوع الأكسجين. يستخدم إجراء التسلسل عالي السرعة المسح ذو السرعة العالية لتقديم جرعة فوتونية ‎photon dose‏ كافية لفوروفورات
0 الحمض الرببوزي النووي المنزوع الأكسجين؛ لتحفيز انبعاثات كافية من الفوتونات التفاعلية ‎reactive photons‏ من عينة الحمض الريبوزي النووي المنزوع الأكسجين ليتم الكشف عنها من قبل أجهزة استشعار الضوء في وحدة الكاميرا 186. عدسة تشكيل الشعاع 604 قد تكون عدسة بوال التي تنتشر ضوءٍ جاوس المنبعث من الليزر 650 و 660 في ملف موحد (في الاتجاه الطولي)؛ الذي يشبه خط. في بعض التطبيقات على سبيل
5 المثال؛ يمكن استعمال شعاع واحد يشكل عدسة 604 لأشعة ضوئية متعددة ‎Ae)‏ سبيل ‎(Jd)‏ ‏الشعاع الضوئي الأحمر والأخضر) الذي قد يقع على الجزء الأمامي من عدسة تشكيل الشعاع
4 في زوايا مختلفة محددة سلفا (على سبيل المثال؛ زائد أو ناقص جزءِ من درجة) لتوليد خط منفصل من ضوء الليزر لكل شعاع الليزر واقع. يمكن فصل خطوط ‎egal‏ عن طريق مسافة محددة مسبقا للتمكين من الكشف الواضح عن الإشارات المنفصلة؛ المقابلة لكل شعاع ضوئي؛ من قبل المستشعرات البصرية متعددة في وحدة الكاميرا 186. على سبيل ‎(JU‏ قد يكون الشعاع الضوئي الأخضر في نهاية المطاف هو الذي يقع على أول المستشعرات البصرية في وحدة الكاميرا 186 والشعاع الضوئي الثاني قد يكون في نهاية المطاف هو الذي يقع على جهاز
الاستشعار البصري الثاني في وحدة الكاميرا 186. في بعض الأمثلة؛ قد تكون أشعة الضوء الأحمر والأخضر متزامنة/متداخلة لأنها تدخل عدسات تشكيل الشعاع 604 ومن ثم بدء الانتشار خارج أشكال الخط منها حيث أنها تصل الهدف 404. 0 موقع عدسة تشكيل الشعاع يمكن السيطرة عليها مع تحمل منخفض بالقرب أو على مقرية من مصادر الضوء 650 و 660 للتحكم في تباعد الأشعة وتحسين تشكيل الشعاع الضوئي؛ أي من خلال توفير شكل شعاع كافية (على سبيل المثال؛ طول الخط المسقط من قبل الشعاع الضوئي) في حين لا يزال تمكين شكل الشعاع الكامل للتمرير من خلال الهدف 404 دون أي ضوء. في بعض الأمثلة؛ المسافة بين عدسة تشكيل الشعاع 604 والهدف 404 هي أقل من حوالي 150
‎Abe 5‏ متر. في بعض التطبيقات؛ قد يشتمل النظام 180 كذلك على تجميع فرعي تركيبي له جيب لاستقبال الهدف البصري. قد يشمل الجسم الألمنيوم الذي يحتوي على صبغة ذات انعكاسية لا تزيد عن 0. قد يشمل الجسم منطقة خاملة ‎inset region‏ تقع على السطح العلوي وتحيط بالجيب. قد يتألف أيضا التجميع ‎=A‏ المرن من طبقة أرضية تشابكية شفافة ‎transparent grating layer‏ مثبتة في المنطقة الضمنية ‎(Sarg‏ وضعها فوق الهدف البصري وفصلها بعيدا عن الهدف البصري بفجوة هامشية ‎fringe gap‏ قد يتضمن الجسم جيبا لاستقبال الهدف البصري. قد يتضمن الجسم ‎yy‏ الانتشار ‎diffusion well‏ الذي يقع تحت الهدف البصري. بئر الانتشار قد يتلقى ضوء الإثارة ‎excitation light‏ الذي يمر من خلال الهدف البصري ‎٠.‏ يمكن أن يشتمل بئر الانتشار على قاع البئر الذي يحتوي على الصبغة المعتمدة على المظهر الذي بشكل عاكس لا يزيد عن حوالي
‏5 6.0 يمكن أن تشمل ‎(saa)‏ التجميعات الفرعية التركيبية للنظام 180 أيضا كاشضف بصري ‎optical‏
‎detection device‏ الهدف 404 قد يبث ‎con‏ الإثارة نحو الهدف البصري وبتلقى انبعاثات فلورية من الهدف البصري. قد يتم تكوين المشغل لوضع الهدف 404 إلى منطقة ذات أهمية قريبة من الهدف البصري. قد ينفذ المعالج بعد ذلك تعليمات البرنامج للكشف عن انبعاثات فلورية من الهدف البصري في اتصال مع واحد على الأقل من المحاذاة البصرية ومعايرة الجهاز.
في بعض الأمثلة؛ الهدف 404 قد يوجه ضوء الإثارة على الهدف البصري. قد يستمد المعالج معلومات مرجعية من انبعاثات فلورية. قد يستخدم المعالج المعلومات المرجعية في اتصال مع أقل واحد من المحاذاة البصرية ومعايرة الجهاز. يمكن أن يكون الهدف البصري مثبتا بشكل دائم في موقع المعايرة بالقرب من الهدف 404. قد يكون موقع المعايرة ‎calibration location‏ منفصلا عن خلية التدفق 504. قد يمثل الجسم الصلب ركيزة تحتوي على مادة مضيفة صلبة ‎solid host‏
‎material 0‏ مع مادة الفلورسنت ‎fluorescing material‏ المضمنة في المادة المضيفة. قد يمثل الجسم الصلب على الأقل واحد من الايبوكسي ‎epoxy‏ أو البوليمر الذي يرفق النقاط الكمومية ‎quantum‏ ‏5 التي تبعث التفلور في واحد أو أكثر من نطاق الانبعاثتات ‎emission bands‏ المحددة سلفا محل الاهتمام عند المشع بواسطة ضوء الإثارة. الشكل 8 هو مخطط يوضح مثال لعملية تركيب وتكوين نظام التحليل البصري التركيبي 800. قد
‏5 تشمل العملية 800 وضع عدد وافر من مصادر الضوءٍ وعدسة تشكيل الشعاع ضمن التجميع الفرعي الأول في الخطوة 805. على سبيل ‎(JU)‏ عدد من مصادر الضوء قد تشمل مصدر الضوء 650 ومصدر الضوءٍ 660. قد يكون التجميع الفرعي الأول وحدة توليد الخط التي قد يشمل مغلف وحدة توليد الخط الذي إليه يتم تركيب ومحاذاة مصادر الضوء. قد تكون عدسة تشكيل الشعاع هي عدسة بوال؛ التي شنت أيضا داخل مغلف وحدة توليد الخط ويتم تكوينه
‏20 لتشكيل أشعة الضوء التي تنتجها مصادر الضوء 650 و 660 في أنماط خط منفصل. قد تشمل العملية 800 أيضا وضع العدسة الأنبوبي والهدف ضمن التجميع الفرعي الثاني في الخطوة 815. على سبيل المثال؛ قد يكون التجميع الفرعي الثاني هو ‎sang‏ الانبعاثات البصرية؛ وقد يتضمن مغلف وحدة الانبعاثات البصرية الذي إليه يتم تركيب العدسة الشيئية والأنبوبية عليها ومحاذاتها.
‏5 يمكن أن تشمل العملية 800 أيضا وضع عدد كبير من المستشعرات البصرية ضمن التجميع الفرعي الثالث في الخطوة 825. على سبيل المثال؛ قد يكون التجميع الفرعي الثالث وحدة الكاميراء
ويمكن أن يتضمن مغلف وحدة الكاميرا الذي إليه يتم محاذاة المستشعرات البصرية وتركيبها. قد يكون هناك مستشعر بصري مقابل لكل مصدر ضوء من الخطوة 805. قد تشمل العملية 800 أيضا تحديد مصدر ضوءٍ تتبع التركيز وجهاز الاستشعار البصري ضمن التجميع الفرعي الرابع في الخطوة 835. على سبيل ‎(JU)‏ قد يكون التجميع الفرعي الرابع عبارة عن وحدة تتبع التركيز وقد يتضمن مغلف وحدة تتبع التركيز الذي إليه يتم تركيب مصدر ضوء التركيز البؤري وجهاز الاستشعار البصري. في بعض التطبيقات»؛ قد تشمل العملية 800 كذلك اختبار كل تجميع فرعي على حدة في الخطوة 5. على سبيل المثال؛ قد يتضمن الاختبار ضبط و / أو محاذاة المكونات الداخلية لكل تجميع فرعي إلى مغلف التجميع الفرعي بدقة. يمكن بعد ذلك أن يقترن كل تجميع فرعي ميكانيكيا بلوحة 0 التركيب الدقيقة في الخطوة 855. على سبيل ‎(JU‏ قد تكون لوحة التركيب الدقيقة هي لوحة التركيب الدقيقة190. يمكن بعد ذلك محاذاة النظام بأكمله وتعديله عن طريق تشغيل مصدر ضوءٍ تتبع التركيز في التجميع الفرعي الرابع والتقاط إشارة الإخراج من مستشعر بصري لتتبع التركيز من التجميع الفرعي الرابع للعثور على التركيز الأمثل للهدف البصري. قد يتم إدخال إشارة الإخراج من الهدف في معالج كمبيوتر الذي تم تكوينه لتحليل خصائص الحزم الضوئية الناتجة عن مصدر 5 ضوء تتبع التركيز» ومن ثم تقديم تقييم للمشغلات على واحد أو أكثر من التجميعات الفرعية؛ أو إلى واجهة المستخدم التخطيطية لتمكين ضبط المكونات البصرية لتحسين شكل الشعاع؛ والطاقة؛ والتركيز . كما ذكر أعلاه؛ في مختلف التطبيقات يمكن استخدام المحرك لوضع مرحلة العينة بالنسبة للمرحلة البصرية عن طريق إعادة وضع إما مرحلة العينة أو المرحلة البصرية (أو أجزاء منها)؛ أو كليهما لتحقيق إعداد التركيز المطلوب. في بعض التطبيقات؛ يمكن استخدام محركات كهرضغطية ‎piezoelectric actuators‏ لتحريك المرحلة المطلوية ‎٠‏ في تطبيقات أخرى ‎٠‏ يمكن استخدام مشغل لفائف الصوت ‎voice coil actuator‏ لتحربك المرحلة المطلوية. في بعض التطبيقات؛ فإن استخدام مشغل لفائف الصوت يمكن أن يوفر خفض في كمون التركيز ‎focusing latency‏ بالمقارنة مع نظرائه الكهرضغطية ‎piezoelectric counterparts‏ بالنسبة للتطبيقات التي تستخدم مشغل لفائف 5 الصوت؛ يمكن اختيار حجم الملف كحد أدنى لحجم الملف المطلوب لتوفير الحركة المطلوية بحيث يمكن أيضا الحد من الحث ‎inductance‏ في الملف. الحد من حجم ‎ald)‏ ويالتالي الحد من
الحث؛ ويوفر أوقات أسرع للتفاعل ويتطلب جهد أقل لدفع المحرك. كما هو موضح أعلاه؛ وبيغض النظر عن المشغل المستخدم؛ يمكن استخدام معلومات التركيز من نقاط أخرى غير موقع العينة الحالي لتحديد المنحدر أو حجم التغيير في إعداد التركيز لعمليات المسح. يمكن استخدام هذه المعلومات لتحديد ما إذا كانت لتغذية إشارة محرك الأقراص ‎drive‏ ‎signal 5‏ إلى المشغل في وقت سابق وكيفية ضبط معلمات إشارة محرك الأقراص. بالإضافة إلى ذلك؛ في بعض التطبيقات؛ يمكن معايرة النظام مسبقا للسماح بتحديد الحدود القصوى لمحرك الأقراص للمشغل. على سبيل المثال؛ يمكن تكوين النظام لتوفير إشارات محرك التشغيل ‎actuator‏ ‎drive signals‏ على مستويات مختلفة من مخرجات التحكم ‎control output‏ لتحديد أعلى قدر من مخرجات التحكم (على سبيل المثال؛ الحد الأقصى لكمية محرك الأقراص الحالي) الذي يمكن 0 للمحرك من التحمل دون أن يكون غير مستقر. هذا يمكن أن يسمح للنظام بتحديد الحد الأقصى من كمية مخرجات التحكم ليتم تطبيقها على المحرك. كما هو مستخدم هناء فإن مصطلح المحرك قد يصف ‎Bang‏ معينة من الوظائف التي يمكن القيام بها وفقا لتطبيق واحد أو أكثر من التكنولوجيا التي تم الكشف عنها هنا. كما هو مستخدم هناء قد يتم تطبيق المحرك باستخدام أي شكل من أشكال الأجهزة؛ والبرمجيات» أو مزيج منها. على سبيل المثال؛ قد يتم تطبيق واحد أو أكثر من المعالجات أو وحدات التحكم ‎controllers‏ أو دوائر تطبيق نوعية متكاملة ‎«(application specific integrated circuits (ASICs‏ مصفوفات منطقية قابلة للبرمجة ‎logic array (PLAs‏ عاطقس«م:عم:م)؛ منطقيات صفيفة قابلة للبرمجة ‎programmable‏ ‎(array logic (PALs‏ ¢ أجهزة منطقية معقد قابل للبرمجة ‎complex programmable logic device‏ 15©))؛ مصفوفات بوابة حقل قابلة للبرمجة ‎(field programmable gate array (FPGAs‏ » أو 0 مكونات منطقية ‎logical components‏ أو برامج روتينية ‎software routines‏ أو آليات أخرى لتكوين المحرك ‎٠‏ في التطبيق»؛ قد يتم تطبيق مختلف المحركات الموصوفة هنا كالمحركات المنفصلة أو الوظائف والميزات التي تم وصفها يمكن أن تكون مشتركة في جزءِ أو في مجموع بين محرك واحد أو أكثر . بعبارة أخرى؛ كما هو واضح لأحد المهرة العاديين في الفن بعد قراءة هذا الوصف؛ يمكن تنفيذ مختلف الميزات والوظائف الموصوفة هنا في أي تطبيق معين ويمكن تنفيذها 5 في واحد أو أكثر من المحركات المنفصلة أو المشتركة في مجموعات مختلفة وبالتبادل. على الرغم من أن العديد من الميزات أو عناصر الأداء الوظيفي يمكن وصفها بشكل فردي أو تكون موجودة
في عناصر الحماية على أنها محركات منفصلة؛ فإن أحد المهرة العاديين في الفن سوف يفهم أن هذه الميزات والوظائف يمكن أن تكون مشتركة بين واحد أو أكثر من البرامج المشتركة وعناصر الأجهزة؛ وهذا الوصف لا يتطلب أو يشير ضمنا إلى أن مكونات الأجهزة أو البرامج المنفصلة تستخدم لتطبيق هذه الميزات أو الوظائف.
في الحالات التي فيها يتم تطبيق مكونات أو محركات التكنولوجيا كليا أو جزئيا باستخدام البرمجيات؛ في أحد التطبيقات؛ يمكن تطبيق عناصر البرامج هذه للعمل بمحرك حاسوبي أو معالجة قادر على أداء الوظيفة الموصوفة ‎Lad‏ يتعلق بها. ‎JU‏ على ذلك هو محرك الكمبيوتر الظاهر في الشكل 9. مختلف التطبيقات تم وصفها من حيث هذا ‎JU‏ من محرك الكمبيوتر 0. بعد قراءة هذا الوصف؛ سوف يصبح من الواضح للشخص الماهر في الفن ذات الصلة
0 كيفية تنفيذ التكنولوجيا باستخدام محركات الكمبيوتر الأخرى أو الأبنية. بالإشارة الآن إلى الشكل 9 قد يمثل محرك الكمبيوتر 900؛ على سبيل ‎(JE‏ قدرات الكمبيوتر أو المعالجة الموجودة داخل أجهزة الكمبيوتر المكتبية والمحمولة وأجهزة الكمبيوتر المحمولة؛ ‎(PDAS)‏ والهواتف الذكية؛ والهواتف الخلوية؛ وأجهزة الكمبيوتر الشخصية؛ وما إلى ذلك)؛ أو الحواسيب الفائقة؛ أو محطات العمل ‎cworkstations‏ أو الخوادم ‎sservers‏ أو أي نوع ‎AT‏ من 5 أجهزة الكمبيوتر ذات الأغراض الخاصة أو الأغراض العامة التي قد تكون مرغوبة أو مناسبة لتطبيق أو بيئة معينة. قد يمثل محرك الكمبيوتر 900 أيضا إمكانيات حاسوبية مضمنة داخل جهاز معين أو غير متاحة له. على سبيل ‎(J‏ يمكن العثور على محرك كمبيوتر في ‎Seal‏ ‏إلكترونية أخرى»؛ مثل الكاميرات الرقمية وأنظمة الملاحة ‎navigation systems‏ والهواتف الخلوية وأجهزة الحوسبة المحمولة وأجهزة المودم ‎modems‏ والموجهات ‎routers‏ و دبليو أيه بي أس ‎WAPs‏ ‏0 والمحطات الطرفية ‎terminals‏ وغيرها من الأجهزة الإلكترونية التي قد تتضمن شكلا من أشكال المعالجة الممكنة. قد يتضمن محرك الكمبيوتر 900؛ على سبيل ‎(JU‏ واحد أو أكثر من المعالجات أو وحدات التحكم أو محركات التحكم ‎control engines‏ أو غيرها من أجهزة المعالجة مثل المعالج 904. ويمكن تنفيذ المعالج 4 باستخدام محرك معالجة ‎processing engine‏ للأغراض العامة أو 5 لأغراض خاصة ‎(ie‏ معالج دقيق :0110:00:068880؛ وحدة تحكم؛ أو منطق تحكم آخر. في ‎Jal)‏ التوضيحي؛ يتم توصيل المعالج 904 بالحافلة 902؛ على الرغم من أن أي وسيلة اتصال
‎communication medium‏ يمكن استخدامها لتسهيل التفاعل مع المكونات الأخرى لمحرك الكمبيوتر 900 أو التواصل خارجيا. قد يتضمن محرك الكمبيوتر 900 محركا واحدا أو أكثر من محركات الذاكرة ‎(memory engines‏ التي يشار ‎Lad)‏ هنا على أنها الذاكرة الرئيسية 908. على سبيل ‎(JU)‏ يمكن استخدام ذاكرة الوصول العشوائي ‎(random access memory (RAM‏ المفضلة أو ذاكرة ديناميكية ‎dynamic‏ ‎(gyal memory‏ لتخزين المعلومات والإرشادات التي سيتم تنفيذها بواسطة المعالج 904. يمكن أيضا استخدام الذاكرة الرئيسية 908 لتخزين المتغيرات المؤقتة أو المعلومات الوسيطة الأخرى أثناء تنفيذ التعليمات التي يتعين تنفيذها بواسطة المعالج 904. يمكن أن يشتمل محرك الكمبيوتر 900 أيضا على ذاكرة للقراءة فقط ‎(‘read only memory ("ROM‏ أو أي جهاز تخزين ثابت ‎static‏ ‎HAT storage device 0‏ مقترن بالحافلة 902 لتخزين معلومات ثابتة وتعليمات للمعالج 904. قد يتضمن محرك الكمبيوتر 900 أيضا واحدا أو أكثر من أشكال مختلفة من آلية تخزين المعلومات 910 ‎Allg cinformation storage mechanism‏ قد ‎(dads‏ على سبيل ‎(Jul‏ محرك الوسائط 912 ‎media drive‏ واجهة وحدة التخزين 920 ‎storage unit interface‏ محرك الوسائط 2 قد يتضمن محرك أقراص أو آلية أخرى لدعم ثابت أو وسائط تخزين قابلة للإزالة 914. على ‎(Jl Jus 5‏ قد يتم توفير محرك أقراص ‎hard disk drive dul‏ أو محرك أقراص مرنة ‎floppy‏ ‎disk drive‏ أو محرك أقراص مغناطيسية ‎magnetic tape drive‏ أو محرك أقراص ضوئية ‎optical‏ ‎disk drive‏ أو قرص مضغوط ‎(compact disk (CD‏ أو أقرارص دي في دي ‎DVD (R‏ أو آر دبليو ‎(RW‏ أو محرك أقراص وسائط آخر قابل للإزالة أو ثابت. بناء على ذلك؛ قد تشمل وسائط التخزين 914 ‎«storage media‏ على سبيل ‎(JU)‏ قرصا صلبا أو قرصا مرنا أو شريطا 0 مغناطيسيا ‎magnetic tape‏ خرطوشة أو قرصا ضوئيا أو قرص مضغوط أو 0170 أو أي وسيلة ثابتة أو قابلة للإزالة أخرى يتم قراءتها بوسط مكتوب أو يتم الوصول إليها بواسطة محرك أقراص الوسائط 912. كما توضح هذه الأمثلة؛ يمكن أن تشمل وسائط التخزين 914 وسيطا للتخزين يمكن استخدامه في الحاسوب؛ قد تم تخزين برامج حاسوبية أو البيانات فيه. في عمليات التطبيق البديلة؛ يمكن أن تتضمن آلية تخزين المعلومات 910 أدوات أخرى ‎Liles‏ ‏5 تسمح بتركيب برامج حاسوبية أو تعليمات أو بيانات أخرى في محرك الكمبيوتر 900. يمكن أن تشمل هذه الأدوات» على سبيل المثال» وحدة تخزين ثابتة أو قابلة للإزالة 922 ووصلة 920.
يمكن أن تشمل أمثلة وحدات التخزين 922 ‎storage units‏ هذه والواجهات 920 واجهة خرطوشة البرنامج ‎program cartridge‏ والخرطوشة؛ أو ذاكرة ‎AL‏ للإزالة ‎Ae)‏ سبيل المثال؛ ذاكرة فلاشض ‎flash memory‏ أو محرك ذاكرة ‎memory engine‏ قابل للإزالة) وفتحة الذاكرة وفتحة بي سي ‎al‏ ‏سي آي أيه ‎PCMCIA‏ ويطاقة تخزين أخرى ثابتة أو ‎ALE‏ للإزالة وحدات 922 والواجهات 920 التي تسمح البرامج والبيانات لنقلها من وحدة التخزين 922 لمحرك الكمبيوتر 900. قد يتضمن محرك الكمبيوتر 900 أيضا واجهة اتصالات 924 ‎.communications interface‏ يمكن استخدام واجهة اتصالات 924 للسماح ‎Ja‏ البيانات والبيانات بين الكمبيوتر المحرك 900 والأجهزة الخارجية. قد تتضمن الأمثلة واجهة اتصالات 924 مودم أو مودم لين ‎softmodem‏ ‏وواجهة شبكة ‎network interface‏ (مثل ‎cui fil‏ أو بطاقة واجهة الشبكة ‎cnetwork interface card‏
0 أو ‎WiMedia, IEEE 802.XX‏ أو واجهة أخرى) ومنفذ اتصالات ‎communications port‏ (على سبيل المثال منفذ يو أس بي ‎USB‏ ومنفذ آي آر ‎IR‏ ¢ منفذ آر أس 232 85232 واجهة بلوتوث؛ أو منفذ آخر)ء أو غيرها من واجهة الاتصالات. يمكن أن تنقل البرامج والبيانات المنقولة عبر السطح البيني الاتصالات 924 على إشارات يمكن أن تكون إلكترونية أو كهرمغنطيسية (تتضمن إشارات بصرية) أو إشارات أخرى يمكن تبادلها بواجهة اتصالات معينة 924. يمكن توفير هذه
5 الإشارات لواجهة الاتصالات 924 عن طريق القناة 928. قد تحمل هذه القناة 928 إشارات ‎Sass‏ ‏تنفيذها باستخدام وسط اتصال سلكي أو لاسلكي. قد تتضمن بعض الأمثلة على قناة خط هاتف أو وصلة خلوية ‎cellular link‏ أو وصلة آر أف ‎RF‏ أو وصلة بصرية ‎optical link‏ أو واجهة شبكة أو شبكة منطقة محلية أو ‎daly‏ وقنوات اتصال ‎communications channels‏ سلكية أو لاسلكية أخرى .
0 في هذه الوثيقة؛ يتم استخدام المصطلح 'وسط ‎malin‏ الكمبيوتر" و "وسط الكمبيوتر القابل للإستعمال" للإشارة عموما إلى وسائط مثل الذاكرة 908 وحدة التخزين 922 الوسائط 914؛ والقناة 928. هذه الأشكال المختلفة الأخرى من قد تكون وسائط برنامج الكمبيوتر أو وسائط الكمبيوتر القابلة للاستخدام في حمل تسلسل واحد أو أكثر من تعليمات أو أكثر إلى جهاز معالجة ‎processing device‏ للتنفيذ. هذه التعليمات التي تجسد على الوسط يشار إليها عموما باسم 'رمز
5 برنامج الحاسوب" أو 'منتج برنامج حاسوبي" ‎(Sa)‏ تجميعه في شكل برامج حاسوبية أو مجموعات أخرى). عند تنفيذ هذه الإرشادات؛ قد يمكن محرك الكمبيوتر 900 من أداء ميزات أو وظائف تقنية
تم الكشف عنها كما تمت مناقشته هنا. على الرغم من وصف مختلف تطبيقات التكنولوجيا المبينة أعلاه؛ فإنه ينبغي أن يكون مفهوما أنها قد قدمت على سبيل المثال ‎dad‏ وليس على سبيل الحصر. بالمثل؛ فإن المخططات المختلفة قد تصور مثالا لتكوين معماري أو غيره من التكنولوجيا المفصح عنهاء والتي تتم للمساعدة في فهم الميزات والوظائف التي يمكن تضمينها في التكنولوجيا المفصح عنها. لا تقتصر التكنولوجيا التي تم الكشف عنها على أمثلة الأبنية أو التكوينات؛ ولكن يمكن تنفيذ الميزات المطلوبة باستخدام مجموعة متنوعة من الأبنية والتكوينات البديلة. في الواقع سوف يكون واضحا لأحد المهرة في الفن كيف يتم تطبيق الوظيفة البديلة؛ منطقية أو التقسيم المادي والتكوبنات يمكن تنفيذها لتنفيذ الميزات المرجوة من التكنولوجيا التي تم الكشف عنها هنا. أيضاء العديد من مختلف أسماء المحرك المكونة 0 بخلاف تلك الموصوفة هنا يمكن تطبيقها على أقسام مختلفة. بالإضافة إلى ذلك؛ وفيما يتعلق بالرسوم البيانية للتدفقات والأوصاف التشغيلية وعناصر حماية الطريقة؛ فإن الترتيب الذي ترد فيه الخطوات الواردة في هذه الوثيقة لا يجيز تنفيذ مختلف التطبيقات لأداء الوظيفة المكررة بالترتيب نفسه ما لم ينص السياق على خلاف ذلك. ينبغي أن يكون من المفيد أن تكون جميع مجموعات المفاهيم السالفة الذكر (شريطة أن تكون هذه 5 المفاهيم غير متناسقة) جزءا من الموضوع الابتكاري المكشوف هنا. على وجه الخصوص؛ فإن جميع مجموعات المواضيع المطالب بحمايتها والتي تظهر في نهاية هذا الكشف تعتبر جزءا من الموضوع الابتكاري المكشوف هنا. على سبيل المثال» على الرغم من أن التكنولوجيا المفصح عنها تم وصفها أعلاه في الأمثلة التطبيقات المختلفة؛ ينبغي أن يكون مفهوما أن مختلف السمات والجوانب والوظائف الموصوفة في واحد أو أكثر من التطبيقات الفردية لا تقتصر على قابليتها 0 لللتطبيق في تطبيق محدد الذي تم وصفهم معه؛ لكن بدلا من ذلك يمكن تطبيقه؛ بمفرده أو في توليفات مختلفة؛ على واحد أو أكثر من التطبيقات الأخرى للتكنولوجيا التي تم الكشف عنهاء سواء تم وصف مثل هذه التطبيقات أم لا وعما إذا كانت هذه الخصائص معروضة كجزءِ من وصف التطبيق. بالتالي؛ لا ينبغي أن يقتصر اتساع ونطاق التكنولوجيا المكشوف عنها هنا بأي من الأمثلة المذكورة أعلاه على عمليات التنفيذ. 5 ينبغي تفسير المصطلحات والعبارات المستخدمة في هذا المستند؛ والاختلافات بينهاء ما لم ينص صراحة على خلاف ذلك؛ على أنها مفتوحة المدى بدلا من الحد منها. كأمثلة على ما سبق: ينبغي
أن يقرأ مصطلح "بما في ذلك" على أنه يعني ‎Lf‏ في ذلك؛ دون حصر” أو ما شابه ذلك؛ يستخدم مصطلح ‎"Jl‏ لتقديم أمثلة عن هذا البند في المناقشة؛ وليس قائمة شاملة أو مقيدة منها؛ ينبغي أن يقرأ المصطلحان " د" أو ‎ean"‏ أنهما 'واحد على الأقل" أو 'واحد أو أكثر" أو ما شابه ذلك؛ ولا ينبغي تفسير صفات مثل "التقليدية" و " المألوفة" و "العادية" و "المعيارية" و "المعروفة" وشروط المعنى المماثل بأنها تحد من البند الموصوف لفترة زمنية معينة أو إلى بند متاح اعتبارا من ولكن بدلا من ذلك ينبغي قراءتها لتشمل التقنيات التقليدية أو المألوفة أو العادية أو القياسية التي قد تكون متاحة أو معروفة الآن أو في أي وقت في المستقبل. بالمثل» حيث تشير هذه الوثيقة إلى التكنولوجيات التي يمكن أن تكون واضحة أو معروفة لأحد المهرة العاديين في ‎«all‏ وتشمل
هذه التكنولوجيات تلك الظاهرة أو المعروفة للحرف المهرة الآن أو في أي وقت في المستقبل.
0 تستخدم المصطلحات "بشكل جوهري"” و "حول" المستخدمة في هذا الكشف؛ بما في ذلك عناصر الحماية؛ لوصف وحساب التقلبات الصغيرة؛ وذلك بسبب الاختلافات في المعالجة. على سبيل ‎(Jal‏ يمكن أن تشير إلى أقل من أو تساوي + 75 ‎Jie‏ أقل من أو تساوي + 72 مثل أقل من أو تساوي + 71 مثل أقل من أو تساوي + 70.5؛ مثل أقل من أو يساوي + 70.2 ‎Jie‏ أقل من أو يساوي + 70.1 مثل أقل من أو يساوي + 70.05.
5 إلى الحد الذي يمكن تطبيقه؛ يتم استخدام المصطلحات ألا" و 'ثانيا" و ‎"EE‏ وما إلى ذلك في هذه الوثيقة فقط لإظهار الأشياء ذات الصلة الموصوفة بهذه المصطلحات ككيانات منفصلة؛ وليس المقصود منها أن تشير إلى الإحساس بالترتيب الزمني؛ ما لم يكن ينص صراحة على خلاف ذلك. يشير المصطلح 'مقترن" إلى التوصيل المباشر أو غير المباشر أو الربط أو الارتباط أو الاتصال أو الوصل؛ وقد يشير إلى أشكال مختلفة من الاقتران مثل الوصلات المادية أو البصرية أو
0 الكهربائية أو السوائل أو الميكانيكية أو الكيميائية أو المغناطيسية أو الكهرومغناطيسية أو التواصلية أو اقتران آخرء أو مزيج مما سبق. في حالة تحديد شكل واحد من الاقتران؛ لا يعني ذلك استبعاد أشكال أخرى من الاقتران. على سبيل المثال؛ قد يشير عنصر واحد مرتبط فعليا بمكون آخر إلى ارتباط فعلى بين المكونين أو الاتصال به (بشكل مباشر أو غير مباشر)؛ ولكنه لا يستبعد أشكالا أخرى من اقتران بين المكونات مثل؛ على سبيل ‎(JU)‏ وصلة اتصالات ‎Ae)‏ سبيل ‎RE «Jud‏
5 أو وصلة بصرية) أيضا اقتران التووصل بين العنصرين. ‎cially‏ فإن المصطلحات المختلفة نفسها لا يقصد منها أن تكون متبادلة. على سبيل المثال» اقتران فلويديك ‎(fluidic coupling‏ الاقتران
المغناطيسي أو الاقتران الميكانيكي» من بين أمور أخرى؛ قد يكون شكل من أشكال الاقتران
المادية.
لا يجوز قراءة كلمات وعبارات واسعة مثل 'واحد أو ‎RT‏ "على الأقل”؛ "على سبيل المثال لا
الحصر” أو عبارات أخرى مماثلة في بعض الحالات على أنها تعني أن الحالة الضيقة المقصودة أو مطلوية في الحالات التي قد تكون العبارات الواسعة غير موجودة. استخدام مصطلح "المحرك"
لا يعني أن المكونات أو وظيفة وصفها أو عناصر الحماية كجزءِ من المحرك تم تكوينها كلها في
شعاع مشتركة. في الواقع؛ يمكن الجمع بين أي أو كل المكونات المختلفة للمحرك؛ سواء منطق
التحكم أو المكونات الأخرى؛ في شعاع واحدة أو الحفاظ على حدة ويمكن زيادة توزيعها في
مجموعات أو ‎dail‏ متعددة أو عبر مواقع متعددة.
0 بالإضافة إلى ذلك؛ يتم وصف مختلف التطبيقات المنصوص عليها هنا من حيث الرسوم البيانية كتلة نموذجية؛ الرسوم البيانية والرسوم التوضيحية الأخرى. كما سيصبح واضحا للمهرة العاديين في الفن بعد قراءة هذه الوثيقة؛ والتطبيقات المصورة وبدائلها المختلفة يمكن تنفيذها دون التقييد بالأمثلة المصورة. على سبيل المثال؛ لا ينبغي تفسير مخططات الكتلة والوصف المصاحب لها على أنها فرض بنية أو تكوين معين.
قائمة التتابع: وحدة تتبع التركيز اب" وحدة الانبعاتات البصرية جٍِ عدسة شيئية
منظر علوي "و" أل جى ‎LGM al‏ ‎"yg‏ المستقطب 'ز الليزر الأخضر ‎td‏ الليزر الأحمر
لط" عدسة تباين اختيارية 'ي قفل
الى" عدسة بوال ‎"J‏ مرآة ‎PZT‏ ‏ُو شعاع التعريف ‎io‏ عدسة التصوير اس" المخفف ‎'e!‏ شعاع الجمع بن مراحل ترجمة العناصر البصرية المتحركة/المتصاعدة وأهداف المحاذاة "ص" أهداف المحاذاة ‎0G‏ أثار التقييم/المراقبة على شعاع التعريف ‎"J 0‏ منظر علوي لش" الليزر ات" أيه بى ‎AP‏ ‎"ey‏ دى ‎DM af‏ ‎a‏ أمامي 5 لذ" منظر من الجهة اليسرى ‎Ld‏ خلية التدفق 1 الهدف 'ب "1‏ ليزر الإثارة ‎lg‏ مظهر جانبي مستوى الهدف د" للتصوير "و [" ‎PL‏ عدسات بوال و1 ‎:M‏ مرأة 'ز 1" 5: قفل "ح1" .| ‎:DM‏ مرآة مزدوجة اللون 5 اط" ©م: المخفف أو المستقطب ‎lg‏ ©5: خلية ‎gall‏
‎"Tel‏ مستوى التقاطع ‎1d‏ منظر جانبي 14" أوه أل ‎OL‏ ‏1" أف سى ‎FC‏ ‏5 س1" اتجاه 2< ‎"Is"‏ تكبير الاتجاه ‎X‏ ‏'اف1" - تكبير الاتجاه 7 ‎"loa‏ اتجاه 7< 'ق1" 4: ازدواج اللون ‎ec\em‏ ‏0 (ر1" 1: العدسات الشيئية ‎TE‏ وحدة الانبعاثات البصرية: انبعاث ات 1" وحدة البصربات ‎PL "Td‏ 805 التخلص من قطبية مصادر الضوءٍ وعدسة تظليل الشعاع ضمن التجمع الفرعي الأول 815 التخلص من عدسة الأنبوبية والهدف ضمن التجمع الفرعي الثاني 825 التجمع الفرعي المستشعرات البصرية ضمن التجمع الفرعي الثالث 835 التخلص من مصدر الضوءٍ تتبع التركيز والمستشعرات البصرية ضمن التجمع الفرعي الرابع 0 845 اختبار ومحاذاة كل تجمع فرعي 855 الازدواج الميكانيكي لكل تجمع فرعي مع لوحة دقة التجميع 865 ضبط المواقع ومحاذاة المكونات الضوئية القابلة للتعديل الداخلية ضمن كل تجمع فرعي 902 حافلة 5 904 معالج 908 الذاكرة الأساسية
910 آلية التخزين 912 محرك الوسائط 914 وسائط التخزين 920 واجهة وحدة التخزين 922 وحدة التخزين 924 واجهة اتصالات 928 قناة

Claims (1)

  1. عناصر الحماية
    1- نظام تصوير ‎cimaging system‏ يتضمن:
    عدسة شيئية ‎‘objective lens‏ و
    وحدة توليد خط ‎cline generation device‏ تشتمل على:
    مصدر ضوءٍ ‎light source‏ أول منبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي
    ‎wavelength 5‏ الأول؛
    ‏مصدر ضوءٍ ‎light source‏ ثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في الطول
    ‏الموجي ‎wavelength‏ الثاني؛ و
    ‏واحد أو أكثر من خطوط تشكيل البصريات ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي ‎light‏
    ‎light beam ‏الأول في الخط والشعاع الضوئي‎ light source ‏المنبعث من مصدر الضوء‎ beam ‏الثاني في الخط؛‎ light source ‏المنبعثين من مصدر الضوء‎ 0
    ‏حيث تقوم العدسة الشيئية ‎objective lens‏ بتركيز الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول والشعاع
    ‏الضوئي ‎light beam‏ الثاني في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات
    ‎¢sampling structure‏ و
    ‏حيث يتم زيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول إلى كثافة قدرة إجمالية أقل للشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول على سطح هيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ بحيث تكون كثافة
    ‏القدرة للشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول على سطح هيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ أقل
    ‏من الحد الأدنى للتشبع الضوئي ‎photosaturation‏ للصبغة الأولى للعينة.
    ‏2- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث يشتمل هيكل أخذ العينات ‎sampling structure 0‏ على لوحة غلاف ‎ccover plate‏ ركيزة ‎csubstrate‏ وممر سائل ‎liquid‏
    ‎liquid ‏حيث يتضمن الممر السائل‎ csubstrate ‏والركيزة‎ cover plate ‏بين لوحة الغلاف‎ passage
    ‎passage‏ سطح داخلي علوي وسطح داخلي سفلي؛ وتقع ‎dual)‏ على السطح الداخلي العلوي أو في
    ‏السطح الداخلي السفلي للممر السائل ‎liquid passage‏
    3- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 2« يشتمل أيضاً على: مستشعر تكامل fluorescence ‏للكشف عن انبعاثات فلورية‎ (TDI) time delay integration sensor ‏تأخير زمني‎ 8 من العينة؛ حيث يكون لمستشعر تكامل تأخير زمني ‎time delay integration sensor‏ حجم بكسل بين حوالي 5 ميكرومتر وحوالي 15 ميكرومتر؛ وعرض المستشعر ‎sensor‏ بين حوالي
    0.4 مم وحوالي 0.8 ‎cae‏ وطول المستشعر :80080 بين حوالي 16 مم وحوالي 48 مم. 4- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 3؛ يشتمل ‎Load‏ على: المرحلة ‎z‏ لتوضيح الهدف لضبط عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وضبط عرض خط الشعاع
    . ‏الثاني‎ light beam ‏الضوئي‎ ‎10 5- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 4؛ يشتمل أيضاً على: المعالج ‎¢processor‏ و وسط لقراءة كمبيوتر غير عابر ‎non-transitory computer readable medium‏ مع تعليمات كمبيوتر ‎ALG‏ للتنفيذ متضمنة فيه؛ تم تكوين تعليمات الكمبيوتر القابلة للتنفيذ لتسبب النظام إلى: 5 تحديد جودة إشارة من مستشعر تكامل تأخير زمني ‎‘time delay integration sensor‏ توضيح الهدف في المحور 7 لضبط النقطة البؤرية ‎focal point‏ وتحسين جودة الإشارة من مستشعر تكامل تأخير زمني 5605017 ‎-time delay integration‏ 6- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 2 حيث أن عرض خط الشعاع 0 الضوئي ‎light beam‏ الأول وعرض خط الشعاع الضوئي ‎Tight beam‏ الثاني بين حوالي 10 ميكرومتر وحوالي 30 ميكرومتر. 7- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 2 يشتمل كذلك على واحدة أو ‎FET‏ من بصريات اتساع الخط ‎line widening optics‏ لزيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ 5 الأول وعرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني.
    — 8 4 — 8- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 7( حيث تشتمل الواحدة أو أكثر من بصريات اتساع الخط ‎line widening optics‏ على عدسة تباين ‎defocus lens‏ منشور ‎eprism‏ أو ناشر ‎diffuser‏ ‏5 9- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 1؛ يشتمل كذلك على : مستشعر بصري ‎optical sensor‏ حيث ركز العدسة الشيئية ‎objective lens‏ النقطة البؤرية ‎focal point‏ للمستشعر البصري ‎optical sensor‏ بهيكل أخذ العينات ‎.sampling structure‏ 0- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث يكون نظام التصوير ‎imaging system 0‏ نظام تسلسل ‎sequencing system‏ حمض نووى ريبوزى منقوص الأكسجين ‎٠ (DNA) Deoxyribonucleic acid‏ حيث يكون هيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ عبارة عن خلية تدفق ‎flow cell‏ 1- نظام ‎imaging system gail‏ وفقاً لعنصر الحماية 10 حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal‏ ‎point 15‏ أعلى السطح الداخلي العلوي لخلية التدفق ‎flow cell‏ أو أدنى السطح الداخلي السفلي لخلية التدفق ‎flow cell‏ 2- نظام التصوين ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 11؛ حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal‏ ‎point‏ بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر تحت السطح الداخلي السفلي لخلية 0 التدفق ‎flow cell‏ أو بين 50 ميكرومتر و 150 ميكرومتر أعلى السطح الداخلي العلوي لخلية التدفق ‎flow cell‏ 3- نظام تصوير ‎imaging system‏ يتضمن: عدسة شيئية ‎‘objective lens‏ و وحدة توليد خط ‎cline generation device‏ تشتمل ‎tle‏
    مصدر ضوءٍ ‎light source‏ أول منبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي ‎wavelength‏ الأول؛ مصدر ضوءٍ ‎light source‏ ثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في الطول الموجي ‎wavelength‏ الثاني؛ و
    واحدة أو أكثر من بصريات تشكيل الخط ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ المنبعث من مصدر الضوء ‎light source‏ الأول في الخط والشعاع الضوئي ‎light beam‏ المنبعثين من مصدر الضوء ‎light source‏ الثاني في الخط؛ حيث تقوم العدسة الشيئية ‎objective lens‏ بتركيز الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول والشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات
    ‎structure 0‏ عمنادرسه؟؛ يشتمل هيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ على لوحة غلاف ‎cover‏ ‎«plate‏ ركيزة ‎csubstrate‏ وممر سائل بين لوحة الغلاف ‎cover plate‏ والركيزة ‎substrate‏ حيث يتضمن الممر السائل ‎liquid passage‏ سطح داخلي علوي وسطح داخلي سفلي؛ وتقع العينة على السطح الداخلي العلوي أو في السطح الداخلي السفلي للممر السائل ‎¢liquid passage‏ و حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal point‏ أدنى السطح الداخلي السفلي لممر التدفق ‎liquid passage‏
    ‏5 لزيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وعرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني عند السطح الداخلي العلوي لهيكل أخذ العينات ‎.sampling structure‏
    ‏4- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 13( حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal‏ ‎point‏ بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر أدنى السطح الداخلي السفلي لهيكل أخذ
    ‏0 العينات ‎.sampling structure‏ 5- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 14؛ حيث يكون طول خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وطول خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني بين حوالي 1 مم وحوالي 1.5 مم.
    ‏25 ‏6- نظام تصوير ‎imaging system‏ يتضمن:
    عدسة شيئية ‎‘objective lens‏ و وحدة توليد خط ‎cline generation device‏ تشتمل على: مصدر ضوءٍ ‎light source‏ أول منبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي ‎wavelength‏ الأول؛
    مصدر ضوءٍ ‎light source‏ ثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في الطول الموجي ‎wavelength‏ الثاني؛ و واحدة أو أكثر من بصريات تشكيل الخط ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ المنبعث من مصدر الضوء ‎light source‏ الأول في الخط والشعاع الضوئي ‎light beam‏ المنبعثين من مصدر الضوء ‎light source‏ الثاني في الخط؛
    0 حيث تقوم العدسة الشيئية ‎objective lens‏ بتركيز الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول والشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ يشتمل هيكل أخذ العينات ‎sampling structure‏ على لوحة غلاف ‎cover‏ ‎¢plate‏ ركيزة ‎csubstrate‏ وممر سائل ‎aliquid passage‏ لوحة الغلاف ‎cover plate‏ والركيزة ‎Cus substrate‏ يتضمن الممر السائل ‎liquid passage‏ سطح داخلي علوي وسطح داخلي سفلي؛
    5 وتقع العينة على السطح الداخلي العلوي أو في السطح الداخلي السفلي للممر السائل ‎liquid‏ ‎‘passage‏ و حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal point‏ أعلى السطح الداخلي العلوي لممر السائل ‎liquid passage‏ وذلك لزيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وعرض خط الشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ الثاني عند السطح الداخلي العلوي لهيكل أخذ العينات ‎.sampling structure‏
    7- نظام التصويرن ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 16( حيث تكون النقطة البؤرية ‎focal‏ ‎point‏ بين حوالي 50 ميكرومتر وحوالي 150 ميكرومتر أعلى السطح الداخلي العلوي لهيكل أخذ العينات ‎.sampling structure‏
    86- نظام التصوير ‎imaging system‏ وفقاً لعنصر الحماية 17؛ حيث يكون طول خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وطول خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني بين حوالي 1 مم وحوالي 1.5 مم. 19- نظام تصوير ‎imaging system‏ يتضمن: عدسة شيئية ‎‘objective lens‏ و وحدة توليد خط ‎cline generation device‏ تشتمل على: مصدر ضوءٍ ‎light source‏ أول منبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي ‎wavelength‏ الأول؛ 0 مصدر ضوءٍ ‎light source‏ ثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في الطول الموجي ‎wavelength‏ الثاني؛ و واحدة أو أكثر من بصريات تشكيل الخط ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ المنبعث من مصدر الضوء ‎light source‏ الأول في الخط والشعاع الضوئي ‎light beam‏ المنبعثين من مصدر الضوءٍ ‎light source‏ الثاني في الخط؛ و 5 واحدة أو أكثر من بصريات اتساع الخط ‎line widening optics‏ لزيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول وعرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني؛ تشتمل الواحدة أو أكثر من بصريات اتساع الخط ‎line widening optics‏ على عدسة بوال ‎Powell lens‏ التي تم وضعها بعد عدسة التباين ‎defocus lens‏ في المسار البصري ‎optical path‏ من مصدر الضوء ‎light source‏ الأول ومصدر الضوءٍ ‎light source‏ الثاني إلى العدسة الشيئية ‎‘objective lens‏ و حيث تقوم العدسة الشيئية ‎objective lens‏ بتركيز الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول والشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات
    ‎.sampling structure‏ 0- نظام تصوير ‎imaging system‏ يتضمن: 5 عدسة شيئية ‎‘objective lens‏ و وحدة توليد خط ‎cline generation device‏ تشتمل على:
    مصدر ضوءٍ ‎light source‏ أول منبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول في الطول الموجي ‎wavelength‏ الأول؛ مصدر ضوءٍ ‎light source‏ ثاني المنبعث منه الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في الطول الموجي ‎wavelength‏ الثاني؛ و
    واحدة أو أكثر من بصريات تشكيل الخط ‎line forming optics‏ لتشكيل الشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ المنبعث من مصدر الضوء ‎light source‏ الأول في الخط والشعاع الضوئي ‎light beam‏ المنبعثين من مصدر الضوء ‎light source‏ الثاني في الخط؛ حيث تقوم العدسة الشيئية ‎objective lens‏ بتركيز الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول والشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني في نقطة بؤرية ‎focal point‏ خارجية لعينة لهيكل أخذ العينات
    ‎structure 0‏ عمناصصة؟؟؛ و حيث يتم زيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول إلى كثافة قدرة إجمالية أقل للشعاع الضوئي ‎light beam‏ الأول على سطح العينة بحيث تكون كثافة القدرة للشعاع الضوئي ‎light‏ ‎beam‏ الأول على سطح العينة أقل من الحد الأدنى للتشبع الضوئي ‎photosaturation‏ للصبغة الأولى على العينة؛ وبحيث يتم زيادة عرض خط الشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني إلى كثافة 5 قدرة إجمالية أقل للشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني على سطح العينة بحيث تكون كثافة القدرة للشعاع الضوئي ‎light beam‏ الثاني على سطح العينة أقل من الحد الأدنى للتشبع الضوئي ‎photosaturation‏ للصبغة الثانية على العينة.
    ‎٠ 5 3 —‏ ان =[ و ‎i‏ ‏د حدما - ‎i‏ د ]= ‎NI‏ ‏| مجر را ‎Le‏ ‎Pell‏ ‎fee]‏ حا | | إ ب شكل ‎iy‏
    — 5 4 — A TN xs SB Ji : ‏ال‎ EA ‏لتر ل ل‎ - 3 ANS za ‏مس قي يا م الس‎ ‏لكل ا(‎ ‏ب‎ Spline : 8 “ gy FARE / ‏لقص :7ل‎ SE. yo + ‏ل‎ = gl | ‏يس‎ ‏الخو‎ - oS, [ETI ‏خب‎ PTY ‏مستا اح‎ Topi] ELT ‏للدي‎ gw ARE eS ‏ا‎ IEE CY BIL ‏دن‎ ١ ‏ر_ مضب‎ ay LN EN ب١ ‏شكل‎
    — 5 5 — ‏مخ‎ ‏ال د‎ pe EN 1 4 £ ee = a NS og LEE | ‏ال " “م‎ AN NA 0 ‏و ل‎ “>> ‏لف يخ‎ ١ ST ‏بجت‎ ‎> ‏راص‎ <I> ‏حك‎ NN ds xX PE ‏ص‎ NN ANA = w= = a > ‏ل بف‎ pe = - : Bo i. %% Ee © ht NN rs = RN : > Sets 2 _ ‏الب ا لتر‎ ‏سما‎ > d \ Jed
    — 5 6 — ‏ا‎ ‎RENEE [ed ETSI ‏و‎ ٌ 1 fo, 1 i % ‏خم‎
    ‎YE. ‏تيا ليسا ل‎ ; LE ‏ب‎ ‎x 1 { + J Rb al Yk ‏ل ل 1 ا‎ ‏4ك اا اس الا‎ Command ER PRET a ‏ال‎ ‎1 1 Verh bed i ! ‏ا 1 وق‎ } 1 i 1 rn 1 ‏ا‎ ‎i ‎pe 3 3 1 Youd ” 0 ; 1 4 & 1 1 ‏إ‎ ‎trad / ERT EE Yaa ‏ل‎ | as ‏لت‎ 4 ‏تسم مس ال زر اا‎ ves,” | Pray] ‏شكل اد‎
    == J TT ~ J = a Sm ‏حبق‎ ‎“J “J “y «yp “ QS) - ra 2D ‏ص‎ ‎ه١ ‏شكل‎
    ‎٠ 5 8 —‏ لي ‎“a‏ سس" ‎i at‏ أي ‎oe] He" pee frm | kd‏ لا | شكل أو ‎“J‏ ‎re —‏ إل سم لين حدس تس لير حيسي اه سيل ‎ce‏ ‏3 حا _ هك رخا
    ‎J.‏ = شكل ‎JY‏
    — 5 9 — “® 8 3 i py " “ ١ 7 RE
    — . i = 1 ‏يي‎ | B&H ET feed 7 ١ 0 ١ ‏مالا با ل شْ‎ ‏لطا لا‎ | Tl ¢ # AD He fa 5 JE ow 0" ' 0“: - ‏الا معي‎ : : LA CO fee ١ 80 ol] = i lie BK » ‏ّم ب «* م“‎ ‏ما اا تت‎ ‏بن‎ A 3 1 ‏ل‎ + xy 3 = & § rl = hY } . ١ ‏شكل‎ hy ‏شكل‎ ‎4" 3 ‏كي‎ 'd
    — 0 6 — "شن" ‎I, ra‏ ِ 1 ٍّ 7 ‎SAYA i‏ بل "ل و ‎a‏ اس ‎mt med ee nT‏ ساسا سد "لي ‎"١‏ | ب شكل اي
    — 6 1 — RE oF A \ 3 ‏ا‎ 1 Vi 7 ‏و‎ ‏خا‎ ١ ‏يسا‎
    ‎> ... ‏ا‎ 1717/4 Yoo Ni [a] A =a 1 ‏نا ا ااا‎ 8 / Sy 20 ١ي‎ Ye / | Wy “ ١ ‏شن‎ J y | \ “Vol 124 0 a ‏ةق‎ ‎1 ‏اال فا‎ ng I WF ك١ ‏شكل‎ ,
    _ 6 2 _ — Ss 3 0 DUN i — | U J 1 A 8 ' afd 0 ml ‏الس‎ | ed , Ere .——3 po ‏ةا‎ —— = yyy © ‏مر اول‎ ‏ي لللسل‎ || I
    — 6 3 — — ‏سير‎ ‎ot 8 [i EE J ‏لي‎ 1 £3 i 3 a 5 ‏و‎ | 9 9 i TTT HE - ‏نبالا‎ ‎i A ‏شكل "ب‎ ‏يذ‎ Jedi, ®g ‏و‎ va IR LAR ‏ب 9 ا‎ ] k d Se I © Q ‏ماعن‎ © gy ‏شكل‎
    44 2 * YAMA VAY CP SN ‏لبقت يكنا‎ / Yn m 5 ‏با :لبا كل ِ ميم‎ ‏اطي‎ A I=) ‏اوقا‎ iH : Tam RERA ‏النسسشسا2©‎ ‎| = ‏ا‎ w— oo BT NEE Re ‏اس ا = لملللد لمم‎ : We BA ed | erate g gu nes ll Of | ee ee TE TH [I Ty ‏حم ككل‎ ms Ree ‏تح با‎ gal TT ‏اد‎ AN 1-7 ‏مان - امسا‎ ٍ RL ‏ذه ولاخ‎ \ '
    V4. ‏و‎ ten 4*5 fei it ‏شكل‎ ‎int Bet to. £4 fe mn /ng - - 0 nn ‏لل“‎ mw ‏ا‎ nn TCS TD 1 URANUS EL ‏انما‎ NE wif + I< > ‏ب‎ ‏نك‎ fed fe £07 £45 mane ١-١ n 100 111 £01 ‏ل الا لا - لثالذا للا مآ‎ 0 |S ‏لآل لما‎ Zé ‏شكل‎
    — 6 5 — rg] | ‏مز‎ ‎1G aC) SEE ' Na] = J Naa enn: a na Ea SE ‏ذا‎ i g 0 1 —_— 0 bt i ; We o IPH ‏تل‎ — 1H EN F181 Bgl | i i hi Hi 1H AW. NE 0 i ‏جب‎ ‎8 | * | 4 ‏حر‎ a PSD. SE J ssc NG HEE RPL rp ‏ال أ الل‎ r= 1 LE ny ‏رست‎ > Oe mn | ‏مسالا‎ ‎db ‏سس !سسا د‎ TEE ree > LIL (ii 1 “moe © od = ‏هه‎ ‎| TL fal 12 68 : ge {Bir ee ‏كه الوسر‎ ١ ‏ال[‎ ‎2 ‏ا ل‎ jo ‏شكل‎ , ‏و وو و‎ — ‏ال" :8 ' :8 ب‎ Bena Lal © ١ . ‏فلالا‎ alls =, ‏ام‎ ] ‏اليم‎ Lupe [fig — m= 1 1 I Inca ٠ = 1 BIEL ‏.ما ا‎ RHE ‏اللمعة‎ ‏لمعا ا مها ااال‎ [eal ded ILI) 01 = =| a ‏لا‎ | lh 85. ‏الما‎ ma Vo Sl | eo
    Br. 85h | Cs 42 li = A ll SEER BERET Nien En Toye Sana il] ix gl ZA Ld
    ٠ 6 6 ٠ ‏الفا بلصت ل ال ا‎ 80 Pr == ‏لطم‎ wa ‏يل العم رضنا ا‎ ett en AY ) al 9 \ 0 All INE i 1 ‏ب ذأ ا بايا لمطمااوم لجع‎ ‏ماس ا ل اال لمج م لا‎ bz i TEE wim Le TE i CTE | Td] ‏ييه ألا‎ Re TT EELS gy CTT ‏ل“مسسسسس اك #5 الوا تسكن سنس‎ x A Y $ % i ‏ب‎ al Fs ¥ £ 4+6 JL [8 CIEE ] Tl Lm ae MM = bis betta ‏وح‎ ql ‏حيتي‎ CARTE T= =o of ‏الاح‎ ‎PT Hl I | He 15 | [PEE] RLY ne INE ‏ا‎ | HY] 7 var] ‏عل‎ GET dR | ‏قا 8 ب‎ ‏حي ا‎ {as Tels BL ‏ا م‎ ‏ل اج اد ,أ‎ EL ‏ل ا سال‎ [| = BLS) Pi = Ik H ‏ب ساد د 1 ا‎ >) ‏تتا ا ا د ا هه‎ gee BO Ff ‏الحا‎ nd SERED Irbseontd ‏الاو و إن‎ HEU seu Fn] To 8 Sad] TIER 1 ; ‏وا 7 ا ا ل‎ ‏اا لسمسا‎ i " TE 1 ‏سل‎ ‏ا ب‎ ‏شكل لأ‎
    — rg Ais I 7# ~ TT | Alo A ‏شكل‎
    ٠ 6 8 ٠ "١ ‏نكاس‎ ¥ كث ال ‎I‏ ‏ديق اليه ض
    ‎a. |‏ 14 ب ‎a‏ | ض ‎He‏ الم 0 ] لكيه 2 ‎we [om‏ تسيا 2 .1 ض ‎| ‏اا اما‎ avd i AXA 0 ‏لصا سب - , ‏شكل ؟
    لاله الهيلة السعودية الملضية الفكرية ا ‎Sued Authority for intallentual Property‏ ‎RE‏ .¥ + \ ا 0 § 8 ‎Ss o‏ + < م ‎SNE‏ اج > عي كي الج ‎TE I UN BE Ca‏ ‎a‏ ةا ‎ww‏ جيثة > ‎Ld Ed H Ed - 2 Ld‏ وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها ‎of‏ سقوطها لمخالفتها ع لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف ع النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية. ‎Ad‏ ‏صادرة عن + ب ب ‎٠.‏ ب الهيئة السعودية للملكية الفكرية > > > فهذا ص ب ‎101١‏ .| لريا ‎1*١ v=‏ ؛ المملكة | لعربية | لسعودية ‎SAIP@SAIP.GOV.SA‏
SA118390415A 2017-03-08 2018-03-07 مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية SA118390415B1 (ar)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201762468883P 2017-03-08 2017-03-08
NL2018855A NL2018855B1 (en) 2017-05-05 2017-05-05 Laser line illuminator for high throughput sequencing

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SA118390415B1 true SA118390415B1 (ar) 2021-02-10

Family

ID=59974829

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SA118390415A SA118390415B1 (ar) 2017-03-08 2018-03-07 مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية

Country Status (14)

Country Link
US (1) US10774371B2 (ar)
EP (1) EP3373062A1 (ar)
JP (2) JP6782268B2 (ar)
KR (2) KR20180103014A (ar)
CN (2) CN208705562U (ar)
AU (1) AU2018201388B2 (ar)
CA (1) CA2996788C (ar)
IL (1) IL257830B2 (ar)
MY (1) MY196535A (ar)
NL (1) NL2018855B1 (ar)
NZ (1) NZ740257A (ar)
SA (1) SA118390415B1 (ar)
SG (1) SG10201801707XA (ar)
TW (1) TWI721250B (ar)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201704771D0 (en) * 2017-01-05 2017-05-10 Illumina Inc Modular optical analytic systems and methods
NL2018855B1 (en) * 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Laser line illuminator for high throughput sequencing
CN111308680B (zh) * 2018-12-11 2022-09-30 深圳华大生命科学研究院 线状照明装置和基因测序仪
CN109370900A (zh) * 2018-12-19 2019-02-22 深圳麦芽加速器科技有限公司 一种基因测序仪
US11499924B2 (en) * 2019-06-03 2022-11-15 KLA Corp. Determining one or more characteristics of light in an optical system
US20210187503A1 (en) * 2019-12-19 2021-06-24 Personal Genomics Taiwan, Inc. Apparatus and system for single-molecule nucleic acids detection
CN113155826A (zh) * 2020-01-07 2021-07-23 深圳华大智造科技有限公司 检测装置
EP4166642A4 (en) * 2020-06-10 2024-03-13 Bgi Shenzhen IMAGE COLLECTION DEVICE FOR BIOLOGICAL SAMPLES AND GENE SEQUENCER
US20230393073A1 (en) * 2020-11-04 2023-12-07 Mgi Tech Co., Ltd. Test system
AU2022387406A1 (en) * 2021-11-10 2024-05-02 Illumina, Inc. Apparatus and methods for controlling heating of an objective in a linescanning sequencing system to improve resolution
WO2024006234A1 (en) * 2022-06-30 2024-01-04 Illumina, Inc. Apparatus for reduction of signal variation in sequencing system
US11723556B1 (en) 2022-07-21 2023-08-15 University Of Houston System Instructional technologies for positioning a lower limb during muscular activity and detecting and tracking performance of a muscular activity
US20240109063A1 (en) * 2022-09-29 2024-04-04 Illumina, Inc. Dynamic optical system calibration

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5736410A (en) * 1992-09-14 1998-04-07 Sri International Up-converting reporters for biological and other assays using laser excitation techniques
US6361495B1 (en) * 2000-02-07 2002-03-26 Leica Microsystems Inc. Hand-held non-contact tonometer
DE10227119A1 (de) * 2002-06-15 2004-01-15 Carl Zeiss Jena Gmbh Optische Anordnung zur Gewinnung von Informationen von einer Probe oder einem Beobachtungsobjekt
US7441703B2 (en) * 2002-08-20 2008-10-28 Illumina, Inc. Optical reader for diffraction grating-based encoded optical identification elements
JP4762593B2 (ja) * 2005-04-05 2011-08-31 オリンパス株式会社 外部レーザ導入装置
US7791013B2 (en) * 2006-11-21 2010-09-07 Illumina, Inc. Biological microarray line scanning method and system
CN105349647B (zh) 2007-10-30 2020-08-28 完整基因有限公司 用于核酸高通量测序的方法
EP2257789B1 (en) 2008-02-26 2020-10-28 Battelle Memorial Institute Biological and chemical microscopic targeting
WO2009123767A1 (en) 2008-04-04 2009-10-08 Life Technologies Corporation Scanning system and method for imaging and sequencing
US10114213B2 (en) * 2008-04-04 2018-10-30 Cvi Laser, Llc Laser systems and optical devices for manipulating laser beams
EP2335111A4 (en) 2008-10-09 2013-12-25 Ge Healthcare Bio Sciences SYSTEM AND METHOD FOR ADJUSTING A BEAM DILATOR IN AN IMAGING SYSTEM
US20100157086A1 (en) * 2008-12-15 2010-06-24 Illumina, Inc Dynamic autofocus method and system for assay imager
EP2409133A1 (en) * 2009-03-20 2012-01-25 Bio-Rad Laboratories, Inc. Serial-line-scan-encoded multi-color fluorescence microscopy and imaging flow cytometry
DE202011003570U1 (de) * 2010-03-06 2012-01-30 Illumina, Inc. Systeme und Vorrichtungen zum Detektieren optischer Signale aus einer Probe
WO2013036927A1 (en) 2011-09-08 2013-03-14 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Emission and transmission optical spectrometer
CN109387494B (zh) * 2012-07-06 2023-01-24 Bt成像股份有限公司 检查半导体材料的方法与分析半导体材料的方法和系统
JP6053138B2 (ja) * 2013-01-24 2016-12-27 株式会社日立エルジーデータストレージ 光断層観察装置及び光断層観察方法
US9439568B2 (en) * 2014-07-03 2016-09-13 Align Technology, Inc. Apparatus and method for measuring surface topography optically
JP6583602B2 (ja) * 2014-09-19 2019-10-02 コニカミノルタ株式会社 細胞内の核酸の解析方法ならびにそのためのシステムおよびキット
US20160139032A1 (en) * 2014-11-19 2016-05-19 Kla-Tencor Corporation Inspection system and method using an off-axis unobscured objective lens
TW201629456A (zh) 2015-01-06 2016-08-16 鴻海精密工業股份有限公司 抗衝擊性能測試裝置
NL2018855B1 (en) * 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Laser line illuminator for high throughput sequencing
JP2018169502A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 オリンパス株式会社 顕微鏡装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20180258468A1 (en) 2018-09-13
MY196535A (en) 2023-04-19
JP6782268B2 (ja) 2020-11-11
CN208705562U (zh) 2019-04-05
IL257830A (en) 2018-04-30
NZ740257A (en) 2019-08-30
SG10201801707XA (en) 2018-10-30
CN108572439A (zh) 2018-09-25
EP3373062A1 (en) 2018-09-12
TW201843491A (zh) 2018-12-16
AU2018201388B2 (en) 2019-10-17
IL257830B2 (en) 2023-03-01
JP2020170165A (ja) 2020-10-15
AU2018201388A1 (en) 2018-09-27
TWI721250B (zh) 2021-03-11
CN108572439B (zh) 2021-07-09
BR102018004635A2 (pt) 2018-10-30
NL2018855B1 (en) 2018-11-14
KR20200003945A (ko) 2020-01-10
CA2996788C (en) 2021-06-15
KR20180103014A (ko) 2018-09-18
US10774371B2 (en) 2020-09-15
CA2996788A1 (en) 2018-09-08
IL257830B (en) 2022-11-01
KR102394330B1 (ko) 2022-05-03
JP2018151624A (ja) 2018-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SA118390415B1 (ar) مضيء خط ليزر لإجراء تسلسل عالي الإنتاجية
US11408828B2 (en) Modular optical analytic systems and methods
CN110068921B (zh) 紧凑型显微镜
EP2112543B1 (en) Three-dimensional image obtaining device and processing apparatus using the same
EP3293559A1 (en) Microscope
CN102782557A (zh) 扫描显微镜和用于光学扫描一个或多个样本的方法
CN208351127U (zh) 成像系统及用于成像系统的镜筒透镜
US10585275B2 (en) Microscope device, microscope system, and imaging method
JP2019514051A (ja) 垂直方向のカメラを含む時空間光変調結像システム、および物体を共焦点結像させるための方法
BR102018004635B1 (pt) Sistema de imageamento e sistema de sequenciamento de dna