RU97100573A - Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов и устройство для его осуществления (варианты) - Google Patents
Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов и устройство для его осуществления (варианты)Info
- Publication number
- RU97100573A RU97100573A RU97100573/28A RU97100573A RU97100573A RU 97100573 A RU97100573 A RU 97100573A RU 97100573/28 A RU97100573/28 A RU 97100573/28A RU 97100573 A RU97100573 A RU 97100573A RU 97100573 A RU97100573 A RU 97100573A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- analyzer
- monochromators
- crystal
- monochromator
- ray
- Prior art date
Links
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims 22
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 10
- 238000005162 X-ray Laue diffraction Methods 0.000 claims 8
- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 7
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 2
- 230000037250 Clearance Effects 0.000 claims 1
- 241000282941 Rangifer tarandus Species 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 230000035512 clearance Effects 0.000 claims 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000009114 investigational therapy Methods 0.000 claims 1
Claims (1)
1. Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, заключающийся в том, что в многокристальном рентгеновском спектрометре отражение от кристалла монохроматора, образующего блок монохроматора, выбирают асимметричным с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла; определяют кривую дифракционного отражения (КДО) кристалла анализатора, исследуемый объект размещают в рентгеновском пучке перед анализатором и регистрируют изображения объекта, сформированные брэгговским отражением от анализатора, отличающийся тем, что анализатор устанавливают в положение Лауэ (на просвет), для каждого набора параметров рентгенооптической схемы устанавливают зависимость коэффициента отражения анализатора в условиях освещения его нерасходящимся пучком и определяют расстояния Δθi между тремя самыми сильными соседними максимумами углового Пенделлезунга, блок монохроматоров формируют из одного или нескольких монокристаллов, коэффициент асимметрии первого монохроматора выбирают из условия b1 ≥ sin2θc/sin2(θ1-θc), где θc - критический угол полного внешнего отражения рентгеновского излучения от поверхности монохроматора, при наличии n последовательных монохроматоров задаются величинами b2,..., b k-1, bk+1, . .. bn и рассчитывают коэффициент асимметрии k-го монохроматора по формуле
где ω0 - полуширина упомянутой кривой отражения анализатора;
k = 2, 3,... n
монохроматоры и анализатор выполняют в виде плоскопараллельных пластин, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными и рассчитанными величинами bn (для монохроматоров) и условием Лауэ для анализатора, а кривизна кристаллов не превышает величины Δθi/2L, где L - размер освещенной области на поверхности кристалла в плоскости дифракции, выбирают толщину каждого монохроматора tk из условия
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
выбирают толщину анализатора t таким образом, чтобы она удовлетворяла одновременно условиям
где Λhkl - глубина экстинкции, отвечающая выбранному отражению в анализаторе;
C - фактор поляризации;
m - целое число,
юстируют упомянутые монохроматоры, устанавливая их в угловых положениях в пределах углов брэгговского отражения, размещают исследуемый объект на расстоянии от анализатора, для регистрации изображения объекта выбирают угловые положения анализатора в пределах его КДО, регистрацию изображения ведут либо в обоих пучках за анализатором - прошедшем и дифрагированном, либо в одном из них.
где ω0 - полуширина упомянутой кривой отражения анализатора;
k = 2, 3,... n
монохроматоры и анализатор выполняют в виде плоскопараллельных пластин, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными и рассчитанными величинами bn (для монохроматоров) и условием Лауэ для анализатора, а кривизна кристаллов не превышает величины Δθi/2L, где L - размер освещенной области на поверхности кристалла в плоскости дифракции, выбирают толщину каждого монохроматора tk из условия
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
выбирают толщину анализатора t таким образом, чтобы она удовлетворяла одновременно условиям
где Λhkl - глубина экстинкции, отвечающая выбранному отражению в анализаторе;
C - фактор поляризации;
m - целое число,
юстируют упомянутые монохроматоры, устанавливая их в угловых положениях в пределах углов брэгговского отражения, размещают исследуемый объект на расстоянии от анализатора, для регистрации изображения объекта выбирают угловые положения анализатора в пределах его КДО, регистрацию изображения ведут либо в обоих пучках за анализатором - прошедшем и дифрагированном, либо в одном из них.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в анализаторе выбирают асимметричное отражение с коэффициентом асимметрии b < 1.
3. Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, заключающийся в том, что в многокристальном рентгеновском спектрометре отражение от кристалла монохроматора, образующего блок монохроматора, выбирают асимметричным с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла, определяют кривую дифракционного отражения (КДО) кристалла анализатора, исследуемый объект размещают в рентгеновском пучке перед анализатором и регистрируют изображения объекта, сформированные брэгговским отражением от анализатора, отличающийся тем, что анализатор устанавливают в положение Брэгга (на отражение), по упомянутой КДО анализатора определяют угловые интервалы δθ положений анализатора, соответствующие склонам КДО, и угловую ширину столика Дарвина ωB, блок монохроматоров формируют из одного или нескольких монокристаллов, коэффициент асимметрии первого монохроматора выбирают из условия b1 ≥ sin2θc/sin2(θ1-θc), где θc - критический угол полного внешнего отражения рентгеновского излучения от поверхности монохроматора, при наличии n последовательных монохроматоров задаются величинами b2, ... , bk-1, bk+1, ... bn, и рассчитывают коэффициент асимметрии k-го монохроматора по формуле
монохроматоры и анализатор выполняют в виде плоскопараллельных пластин, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными величинами bn (для монохроматоров) и условием Брэгга для анализатора, а кривизна кристаллов не превышает величины, δθ/2L, где L - размер освещенной области на поверхности кристалла в плоскости дифракции, выбирают толщину каждого монохроматора tk из условия
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
выбирают толщину анализатора t таким образом, чтобы одновременно выполнялись условия
где θ - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей,
α - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью анализатора,
юстируют упомянутые монохроматоры, устанавливая их в угловые положения в пределах углов брэгговского отражения, размещают исследуемый объект на расстоянии от анализатора, для регистрации изображения объекта анализатор устанавливают в угловые положения в пределах углов брэгговского отражения.
монохроматоры и анализатор выполняют в виде плоскопараллельных пластин, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными величинами bn (для монохроматоров) и условием Брэгга для анализатора, а кривизна кристаллов не превышает величины, δθ/2L, где L - размер освещенной области на поверхности кристалла в плоскости дифракции, выбирают толщину каждого монохроматора tk из условия
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
выбирают толщину анализатора t таким образом, чтобы одновременно выполнялись условия
где θ - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей,
α - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью анализатора,
юстируют упомянутые монохроматоры, устанавливая их в угловые положения в пределах углов брэгговского отражения, размещают исследуемый объект на расстоянии от анализатора, для регистрации изображения объекта анализатор устанавливают в угловые положения в пределах углов брэгговского отражения.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что для регистрации изображения объекта анализатор устанавливают в угловые положения, отклоненные от точного брэгговского на угол Δθ при условии, что ωB/2 < |Δθ| < (ωB/2+δθ).
5. Способ по п.3, отличающийся тем, что в анализаторе выбирают асимметричное отражение с коэффициентом асимметрии b > 1.
5. Способ по п.3, отличающийся тем, что в анализаторе выбирают асимметричное отражение с коэффициентом асимметрии b > 1.
6. Способ по п.3, отличающийся тем, что в анализаторе выбирают асимметричное отражение с коэффициентом асимметрии b < 1.
7. Способ по пп.1 и 3, отличающийся тем, что в кристаллах монохроматорах и анализаторе выбирают отражающие плоскости с индексами низких порядков.
8. Способ по пп.1 и 3, отличающийся тем, что в n последовательно установленных кристаллах многокристального спектрометра используют брэгговские отражения от плоскостей типа hkl, (-h)(-k)(-l), ... , (τh)(τk)(τ1), где τ = (-1)j-1, j =1, 2, ... (n+1).
9. Способ по пп.1 и 3, отличающийся тем, что монохроматоры юстируют, устанавливая их в точном брэгговском положении.
10. Способ по пп.1 и 3, отличающийся тем, что монохроматоры юстируют, устанавливая один или более из монохроматоров на склоне соответствующей КДО.
11. Способ по пп. 1 - 10, отличающийся тем, что угловые положения монохроматоров и анализатора контролируют с помощью мониторных каналов, мониторные каналы образуют из детекторов, установленных за каждым из кристаллов по ходу луча, выработанный детекторами сигнал направляют в устройство сравнения текущего сигнала с реперным, дифференциальный сигнал, выработанный упомянутым устройством, направляют на исполнительные механизмы позиционирования кристаллов, содержащийся в рентгеновском спектрометре.
12. Способ по п.11, отличающийся тем, что в части пучка перед анализатором размещают тестовый объект, имеющий форму, поддающуюся аналитическому описанию, расчетным путем определяют распределение интенсивности в изображении тестового объекта в условиях падения на него пучка с заданной расходимостью, двумерным координатно-чувствительным детектором регистрируют распределение интенсивности в изображении тестового объекта в отсутствие исследуемого объекта, сравнивают расчетное и зарегистрированное распределения интенсивностей, юстировочными движениями устанавливают такое взаимное расположение всех элементов рентгенооптической схемы, при котором картины расчетного и зарегистрированного распределений совпадают, фиксируют в этом положении показания во всех мониторных каналах, которые рассматриваются как реперные, за исключением канала анализатора, устанавливают объект в рентгеновском пучке, вносят корректировку в показания мониторного канала анализатора в связи с ослаблением излучения в объекте и рассматривают эти показания как реперные, ведут съемку изображения объекта, во время которой осуществляют мониторинг за положением всех кристаллов.
13. Способ по пп. 1 и 3, отличающийся тем, что на месте анализатора в положении Лауэ размещают клиновидный монокристалл, за клиновидным кристаллом в любом из пучков - прошедшем или дифрагированном, располагают двумерный координатно-чувствительный детектор, угол наклона клина ψ выбирают из условия 
где величина lp удовлетворяет условию H/3 > lp ≫ ξ, где H - размер входного окна координатно-чувствительного детектора в плоскости дифракции, а ξ - пространственное разрешение упомянутого детектора, расчитывают распределение интенсивностей интерференционных полос за клиновидным кристаллом в том из пучков, прошедшем или дифрагированном, в котором расположен координатно-чувствительный детектор; двумерным координатно-чувствительным детектором регистрируют фактическое распределение интенсивностей интерференционных полос в выбранном пучке и сравнивают его с расчетным, юстировочными движениями монохроматоров добиваются такого их взаимного расположения, при котором зарегистрированное и расчетное распределения совпадают, фиксируют монохроматоры в этих положениях, определяя соответствующие реперные сигналы, клиновидный монокристалл заменяют анализатором согласно выбранной рентгенооптической схеме, юстируют анализатор, используя упомянутый координатно-чувствительный детектор, устанавливают объект и определяют реперный сигнал для мониторного канала анализатора, ведут съемку изображения объекта, во время которой осуществляют мониторинг за положением всех кристаллов.
14. Способ по п.13, отличающийся тем, что анализатор юстируют, определяя его КДО и сравнивая экспериментальное значение с расчетным.
15. Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, заключающийся в том, что в многокристальном рентгеновском спектрометре отражение от кристалла монохроматора, образующего блок монохроматора, выбирают асимметричным с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла, определяют кривую дифракционного отражения (КДО) кристалла анализатора, исследуемый объект размещают в рентгеновском пучке перед анализатором и регистрируют изображения объекта, сформированные брэгговским отражением от анализатора, отличающийся тем, что блок монохроматоров формируют из одного или нескольких монокристаллов, систему мониторинга выполняют двухканальной, причем в первом канале устанавливают двумерный координатно-чувствительный; анализатор приготавливают в виде плоскопараллелельной пластины с клиновидными участками на краях пластины углы клиньев ψ выбирают из условия ψ = Λhkl/lp, где величина lp удовлетворяет условию H/3 > lp ≫ ξ, где H - размер входного окна координатно-чувствительного детектора в плоскости дифракции, а ξ - пространственное разрешение упомянутого детектора, выбирают толщину плоскопараллельной части анализатора t из условия t ≤ 1/μ, анализатор устанавливают в положение Лауэ (на просвет), рассчитывают распределения интенсивностей интерференционных полос в пучках, прошедшем и дифрагированном на клиновидных участках анализатора в условиях освещения их рентгеновским пучком с заданной расходимостью, образуют первый мониторный канал, установив координатно-чувствительный детектор в части пучка, прошедшего или отраженного от клиновидного участка анализатора, образуют второй мониторный канал, разместив один из детекторов в части пучка, прошедшего или отраженного от плоскопараллельного участка анализатора, а остальные - в пучках, отраженных каждым из монохроматоров, регистрируют распределение интенсивности интерференционных полос в первом мониторном канале в отсутствие объекта, сравнивают расчетное распределение с зарегистрированным, юстировочными движениями устанавливают такое взаимное расположение всех элементов рентгенооптической схемы, при котором картины расчетного и зарегистрированного распределений совпадают в этом положении элементов рентгенооптической схемы определяют показания детекторов, установленных за монохроматорами, которые в дальнейшем рассматривают как реперные, устанавливают объект в рентгеновском пучке, определяют показания детектора, установленного за анализатором, и рассматривают эти показания как реперные, ведут регистрацию изображения объекта, во время которой по второму мониторному каналу контролируют угловые положения всех кристаллов, используя реперные показания детекторов.
16. Способ по п.15, отличающийся тем, что анализатор приготавливают с одним клиновидным участком таким образом, чтобы основание клина было перпендикулярным плоскости дифракции.
17. Способ по п.15, отличающийся тем, что анализатор приготавливают с одним клиновидным участком таким образом, чтобы основание клина было параллельным плоскости дифракции.
18. Способ по п.15, отличающийся тем, что анализатор приготавливают с двумя взаимно перпендикулярными клиновидными участками.
19. Способ по п. 15, отличающийся тем, что после юстировки размещают координатно-чувствительный детектор в пучке, прошедшем или отраженном от плоскопараллельного участка анализатора, не занятом вторым мониторным каналом, и ведут съемку этим детектором.
20. Способ по пп.1 - 19, отличающийся тем, что объект сканируют в пучке, сформированном блоком монохроматоров.
21. Способ по пп.1 - 20, отличающийся тем, что объект поворачивают в рентгеновском пучке вокруг одной или нескольких его осей.
22. Устройство рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, включающее многокристальный рентгеновский спектрометр, в котором блок монохроматора выполнен в виде монокристалла с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла, установленного в положение брэгговской дифракции по отношению к упомянутым плоскостям (hkl), монокристаллический анализатор, характеризующийся кривой дифракционного отражения (КДО) с известной полушириной ω0, установлен в положение брэгговской дифракции по отношению к падающему на него пучку, средства для размещения объекта установлены после блока монохроматоров и перед анализатором, система регистрации изображения объекта установлена после анализатора по ходу дифрагированного рентгеновского пучка, отличающееся тем, что блок монохроматоров выполнен из одного или нескольких монокристаллов, последовательно отражающих падающий на них рентгеновский пучок, анализатор установлен в положение Лауэ (на просвет), первый монохроматор выполнен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b1 ≥ sin2θc/sin2(θ1-θc), где θc - критический угол полного внешнего отражения рентгеновского излучения от поверхности монохроматора, при наличии n последующих монохроматоров с коэффициентами асимметрии отражающих плоскостей b2, ..., bk-1, bk+1,..., bn k-ый монохроматор выполнен с коэффициентом асимметрии 
где Δθi - угловое расстояние между тремя самыми сильными соседними максимумами на упомянутой КДО анализатора при условии освещения его плоским пучком, монохроматоры и анализатор выполнены в виде плоскопараллельных пластин из совершенных монокристаллов, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными и рассчитанными величинами bn (для монохроматоров) и условием Лауэ для анализатора, причем кривизна кристаллов не превышает величины
Δθi/2L,
где L - размер освещенной области на поверхности каждого из монокристаллов в плоскости дифракции, монохроматоры выполнены с толщиной tk удовлетворяющей условию
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
анализатор выполнен с толщиной t одновременно удовлетворяющей двум условиям
где Λhkl - глубина экстинкции, отвечающая выбранному отражению в анализаторе;
С - поляризационный множитель;
m - целое число,
средства для размещения исследуемого объекта установлены на расстоянии от анализатора, все кристаллы снабжены средствами для их юстировки в пределах углов брэгговского отражения, система регистрации изображения снабжена средствами для ее установки за анализатором либо в обоих пучках, прошедшем и дифрагированном, либо в одном из пучков.
где Δθi - угловое расстояние между тремя самыми сильными соседними максимумами на упомянутой КДО анализатора при условии освещения его плоским пучком, монохроматоры и анализатор выполнены в виде плоскопараллельных пластин из совершенных монокристаллов, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными и рассчитанными величинами bn (для монохроматоров) и условием Лауэ для анализатора, причем кривизна кристаллов не превышает величины
Δθi/2L,
где L - размер освещенной области на поверхности каждого из монокристаллов в плоскости дифракции, монохроматоры выполнены с толщиной tk удовлетворяющей условию
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
анализатор выполнен с толщиной t одновременно удовлетворяющей двум условиям
где Λhkl - глубина экстинкции, отвечающая выбранному отражению в анализаторе;
С - поляризационный множитель;
m - целое число,
средства для размещения исследуемого объекта установлены на расстоянии от анализатора, все кристаллы снабжены средствами для их юстировки в пределах углов брэгговского отражения, система регистрации изображения снабжена средствами для ее установки за анализатором либо в обоих пучках, прошедшем и дифрагированном, либо в одном из пучков.
23. Устройство для фазовой рентгенографии по п.22, отличающееся тем, что анализатор приготовлен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b < 1.
24. Устройство для фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, включающее многокристальный рентгеновский спектрометр, в котором блок монохроматора выполнен в виде монокристалла с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла, установленного в положение брэгговской дифракции по отношению к упомянутым плоскостям (hkl), монокристаллический анализатор, характеризующийся кривой дифракционного отражения (КДО) с известной полушириной ω0, установлен в положение брэгговской дифракции по отношению к падающему на него пучку, средства для размещения объекта установлены после блока монохроматоров и перед анализатором, система регистрации изображения объекта установлена после анализатора по ходу дифрагированного рентгеновского пучка, отличающееся тем, что блок монохроматоров выполнен из одного или нескольких монокристаллов, последовательно отражающих падающий на них рентгеновский пучок, анализатор установлен в положение по Брэггу (на отражение), первый монохроматор приготовлен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b1 ≥ sin2θc/sin2(θ1-θc), где θc - критический угол полного внешнего отражения рентгеновского излучения от поверхности монохроматора, при наличии n последовательных монохроматоров с коэффициентами асимметрии b2, . . ., bk-1, bk+1,..., bn, k-й монохроматор выполнен с коэффициентом асимметрии
где δθ - угловые интервалы положений анализатора, соответствующие склонам КДО анализатора;
ωB - ширина столика Дарвина упомянутой КДО,
монохроматоры и анализатор выполнены в виде плоскопараллельных пластин совершенных монокристаллов, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными величинами bn (для монохроматоров) и условием Брэгга для анализатора, причем кривизна кристаллов не превышает величины δθ/2L, где L - размер освещенной области на поверхности каждого из монокристаллов в плоскости дифракции, монохроматоры выполнены с толщиной tk, удовлетворяющей условию
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
анализатор выполнен с толщиной t, одновременно удовлетворяющей двум требованиям
где θ - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
α - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью анализатора,
держатель исследуемого объекта установлен на расстоянии от анализатора, все кристаллы установлены с возможностью их юстировки в пределах углов брэгговского отражения.
где δθ - угловые интервалы положений анализатора, соответствующие склонам КДО анализатора;
ωB - ширина столика Дарвина упомянутой КДО,
монохроматоры и анализатор выполнены в виде плоскопараллельных пластин совершенных монокристаллов, поверхности которых ориентированы относительно отражающих плоскостей в соответствии с выбранными величинами bn (для монохроматоров) и условием Брэгга для анализатора, причем кривизна кристаллов не превышает величины δθ/2L, где L - размер освещенной области на поверхности каждого из монокристаллов в плоскости дифракции, монохроматоры выполнены с толщиной tk, удовлетворяющей условию
где μ - линейный коэффициент ослабления рентгеновского излучения в кристалле;
θk - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
αk - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью монохроматора,
анализатор выполнен с толщиной t, одновременно удовлетворяющей двум требованиям
где θ - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей;
α - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью анализатора,
держатель исследуемого объекта установлен на расстоянии от анализатора, все кристаллы установлены с возможностью их юстировки в пределах углов брэгговского отражения.
25. Устройство для фазовой рентгенографии по п.24, отличающееся тем, что анализатор установлен с возможностью фиксации в угловых положениях, отклоненных от точного брэгговского на угол Δθ при условии, что ωB/2 < |Δθ| < (ωB/2+δθ).
26. Устройство для фазовой рентгенографии по п.24, отличающееся тем, что анализатор приготовлен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b > 1.
26. Устройство для фазовой рентгенографии по п.24, отличающееся тем, что анализатор приготовлен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b > 1.
27. Устройство для фазовой рентгенографии по п.24, отличающееся тем, что анализатор приготовлен с коэффициентом асимметрии отражающих плоскостей b < 1.
28. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 и 24, отличающееся тем, что кристаллы монохроматоры и анализатор приготовлены с отражающими плоскостями, имеющими индексами низких порядков.
29. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 и 24, отличающееся тем, что n последовательно установленных кристаллов многокристального спектрометра приготовлены с отражающими плоскостями типа hkl, (-h)(-k)(-l), ... , (τh)(τk)(τ1), где τ = (-1)j-1, j =1, 2, ... (n+1).
30. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 и 24, отличающееся тем, что монохроматоры установлены в точных брэгговских положениях.
31. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 и 24, отличающееся тем, что один из монохроматоров или более установлены на склонах соответствующих КДО.
32. Устройство для фазовой рентгенографии по пп. 22 - 31, отличающееся тем, что оно снабжено мониторными каналами для контроля угловых положений монохроматоров и анализатора, включающими детекторы излучения, устройства сравнения текущего сигнала с реперным, связанные с исполнительными устройствами позиционирования каждого кристалла, входящими в состав рентгеновского спектрометра.
33. Устройство для фазовой рентгенографии по п.32, отличающееся тем, что детекторы, входящие в мониторные каналы, выполнены в виде сцинтилляционных счетчиков и установлены за соответствующим кристаллом в части пучка, не использующейся для формирования изображения объекта.
34. Устройство для фазовой рентгенографии по п.32, отличающееся тем, что детекторы, входящие в мониторные каналы, выполнены в виде пропорциональных камер, имеющих рентгенопрозрачные и бесструктурные входное и выходное окна, и установлены за соответствующим кристаллом в части пучка, использующейся для формирования изображения объекта.
35. Устройство для фазовой рентгенографии по п.32, отличающееся тем, что в части пучка перед анализатором размещен тестовый объект, имеющий форму, поддающуюся аналитическому описанию, для которого расчетным путем определено распределение интенсивности в изображении в условиях падения на него пучка с заданной расходимостью, в пучке или его части пучка, содержащей изображение тестового объекта, установлен двумерный координатно-чувствительный детектор, регистрирующий распределение интенсивности в изображении тестового объекта в отсутствие исследуемого объекта, все элементы рентгенооптической схемы снабжены юстировочными средствами, обеспечивающими такое их взаимное расположение, при котором картины расчетного и зарегистрированного распределений совпадают, а также средствами фиксации этих положений, упомянутый координатно-чувствительный детектор соединен с устройством сравнения расчетного и зарегистрированного распределений интенсивности, которое, в свою очередь, соединено с исполнительными устройствами позиционирования каждого кристалла.
36. Устройство для фазовой рентгенографии по п.32, отличающееся тем, что на месте анализатора в положение Лауэ установлен клиновидный монокристалл, для которого известно распределение интенсивностей интерференционных полос в любом из пучков - прошедшем или дифрагированном, упомянутый монокристалл выполнен с углом клина ψ, определенным из условия ψ = Λhkl/lp, где величина lp удовлетворяет условию: H/3>lp>ξ, где H - размер входного окна координатно-чувствительного детектора в плоскости дифракции, а ξ - пространственное разрешение упомянутого детектора, за клиновидным монокристаллом в выбранном пучке - прошедшем или дифрагированном, расположен двумерный координатно-чувствительный детектор, регистрирующий фактическое распределение интенсивностей в интерференционных полосах за клиновидным монокристаллом, упомянутый координатно-чувствительный детектор соединен с устройством сравнения фактического распределения интенсивностей с расчетным, которое, в свою очередь, соединено с исполнительными устройствами позиционирования каждого из монохроматоров, устройства позиционирования монохроматоров снабжены средствами фиксации монокристаллов в угловых положениях, при которой расчетное и фактическое распределения интенсивностей совпадают, устройство дополнительно содержит средства для замены клиновидного монокристалла анализатором в соответствии с выбранной рентгенооптической схемой и его юстировки.
37. Устройство для фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов, включающее многокристальный рентгеновский спектрометр, в котором блок монохроматора выполнен в виде монокристалла с коэффициентом асимметрии b1 = sin(θ1-α1)/sin(θ1+α1) < 1, где θ1 - угол Брэгга выбранной системы отражающих плоскостей с индексами Миллера (hkl), а α1 - угол между системой отражающих плоскостей и поверхностью кристалла, установленного в положение брэгговской дифракции по отношению к упомянутым плоскостям (hkl), монокристаллический анализатор, характеризующийся кривой дифракционного отражения (КДО) с известной полушириной ω0, установлен в положение брэгговской дифракции по отношению к падающему на него пучку, средства для размещения объекта установлены после блока монохроматоров и перед анализатором, система регистрации изображения объекта установлена после анализатора по ходу дифрагированного рентгеновского пучка, отличающееся тем, что блок монохроматоров выполнен из одного или нескольких монокристаллов, последовательно отражающих падающий на них рентгеновский пучок, устройство содержит двухканальную систему мониторинга, анализатор выполнен в виде плоскопараллельной пластины с клиновидными участками на краях пластины и установлен в положение Лауэ (на просвет), клиновидные участки анализатора выполнены с углами клиньев ψ, выбираемых из условия ψ = Λhkl/lp, где величина lp удовлетворяет условию H/3 > lp ≫ ξ, где H - размер входного окна координатно-чувствительного детектора в плоскости дифракции, а ξ - пространственное разрешение упомянутого детектора, плоскопараллельный участок анализатора выполнен с толщиной t ≤ 1/μ, первый мониторный канал установлен в пучке, прошедшем или отраженном от клиновидного участка анализатора и снабжен двумерным координатно-чувствительным детектором, предназначенным для прецизионной юстировки всех кристаллов и выработки реперного сигнала для второго мониторного канала, упомянутый координатно-чувствительный детектор через устройство сравнения текущего распределения сигнала в картине полос интерференции с расчетным распределением связан с исполнительными устройствами позиционирования кристаллов, входящих в состав устройства, монохроматоры и анализатор снабжены средствами для их прецизионного позиционирования в пределах соответствующих КДО, второй мониторный канал выполнен в виде детекторов, установленных в пучках, отраженных от монохроматоров, и в пучке, прошедшем или отраженном от плоскопараллельного участка анализатора, каждый детектор связан с соответствующими устройствами сравнения текущего сигнала с реперным, определенным в результате первичной юстировки, произведенной с помощью первого мониторного канала, и с исполнительными позиционирования кристаллов, средства для размещения исследуемого объекта установлены на расстоянии от анализатора, система регистрации изображения снабжена средствами для ее установки за анализатором либо в обоих пучках, прошедшем и дифрагированном, либо в одном из пучков.
38. Устройство для фазовой рентгенографии по п.37, отличающееся тем, что анализатор содержит один
клиновидный участок с основанием, перпендикулярным плоскости дифракции.
39. Устройство для фазовой рентгенографии по п.37, отличающееся тем, что анализатор содержит один клиновидный участок с основанием, параллельным плоскости дифракции.
40. Устройство для фазовой рентгенографии по п.37, отличающееся тем, что анализатор содержит два взаимно перпендикулярных клиновидных участка.
41. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 - 40, отличающееся тем, что устройство дополнительно содержит средства сканирования объекта в пучке, сформированном блоком монохроматоров.
42. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22 - 41, отличающееся тем, что устройство содержит средства для поворотов объекта в пучке вокруг одной или нескольких его осей.
43. Устройство для фазовой рентгенографии по пп.22-42, отличающееся тем, что входное окно двумерного координатно-чувствительного детектора имеет рентгеночувствительную область прямоугольной формы, размеры которой совпадают с размерами поля зрения, формируемого монохроматорами и анализатором.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU97100573A RU2115943C1 (ru) | 1997-01-16 | 1997-01-16 | Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты) |
| PCT/RU1998/000007 WO1998032005A1 (fr) | 1997-01-16 | 1998-01-16 | Procede de radiographie a contraste de phase destine principalement aux objets medico-biologiques et dispositif prevu a cet effet |
| AU57845/98A AU5784598A (en) | 1997-01-16 | 1998-01-16 | Phase contrast radiographic method intended mainly for medico-biological bjects, and device for applying same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU97100573A RU2115943C1 (ru) | 1997-01-16 | 1997-01-16 | Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты) |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2115943C1 RU2115943C1 (ru) | 1998-07-20 |
| RU97100573A true RU97100573A (ru) | 1999-01-27 |
Family
ID=20189083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU97100573A RU2115943C1 (ru) | 1997-01-16 | 1997-01-16 | Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты) |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| AU (1) | AU5784598A (ru) |
| RU (1) | RU2115943C1 (ru) |
| WO (1) | WO1998032005A1 (ru) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| UA59495C2 (ru) | 2000-08-07 | 2003-09-15 | Мурадін Абубєкіровіч Кумахов | Рентгеновский измерительно-испытательный комплекс |
| JP4847568B2 (ja) * | 2008-10-24 | 2011-12-28 | キヤノン株式会社 | Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法 |
| WO2011070488A1 (en) * | 2009-12-10 | 2011-06-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Phase contrast imaging |
| CN103168228B (zh) * | 2010-10-19 | 2015-11-25 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 微分相位对比成像 |
| JP6228457B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2017-11-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 微分位相コントラスト画像形成 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1402871A1 (ru) * | 1986-11-13 | 1988-06-15 | Предприятие П/Я А-1758 | Способ получени теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучени |
| US5173928A (en) * | 1990-07-09 | 1992-12-22 | Hitachi, Ltd. | Tomograph using phase information of a signal beam having transmitted through a to-be-inspected object |
| JPH0769477B2 (ja) * | 1990-09-05 | 1995-07-31 | 理学電機工業株式会社 | Ｘ線分光装置 |
| RU2012872C1 (ru) * | 1991-05-14 | 1994-05-15 | Виктор Натанович Ингал | Способ получения изображения внутренней структуры объекта |
| US5802137A (en) * | 1993-08-16 | 1998-09-01 | Commonwealth Scientific And Industrial Research | X-ray optics, especially for phase contrast imaging |
-
1997
- 1997-01-16 RU RU97100573A patent/RU2115943C1/ru not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-01-16 WO PCT/RU1998/000007 patent/WO1998032005A1/ru active Application Filing
- 1998-01-16 AU AU57845/98A patent/AU5784598A/en not_active Abandoned
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2449262C2 (ru) | Рентгенодифракционная установка и способ рентгеновской дифракции | |
| US4187431A (en) | Method for the adjustment of a semiconductor disc relative to a radiation mask in X-ray photolithography | |
| RU97100573A (ru) | Способ фазовой рентгенографии преимущественно медико-биологических объектов и устройство для его осуществления (варианты) | |
| US5790628A (en) | X-ray spectroscope | |
| SU1402871A1 (ru) | Способ получени теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучени | |
| RU2115943C1 (ru) | Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты) | |
| Ishikawa et al. | Angle-resolved plane wave X-ray topography | |
| JP3741398B2 (ja) | Ｘ線測定方法及びｘ線測定装置 | |
| US3446961A (en) | X-ray interferometer using three spaced parallel crystals | |
| JP2921597B2 (ja) | 全反射スペクトル測定装置 | |
| SU1103126A1 (ru) | Способ определени структурных характеристик тонких приповерхностных слоев монокристаллов | |
| SU918827A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
| SU1035489A1 (ru) | Способ исследовани структурного совершенства монокристаллов | |
| SU920480A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
| SU1141321A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
| Alexander et al. | Determination of the inherent reflecting range of a single crystal in diffractometry | |
| JPH0457973B2 (ru) | ||
| RU2166184C2 (ru) | Рентгеновский рефлектометр | |
| SU542128A1 (ru) | Способ рентгенографического исследовани структуры кристаллов | |
| JPS6243160B2 (ru) | ||
| KR100204113B1 (ko) | 일괄정렬방식 평면결상형 극자외선 분광기와 그 정렬장치 | |
| JP2866471B2 (ja) | 単色ｘ線回折装置 | |
| JPH03289547A (ja) | 格子定数測定方法及び測定装置 | |
| SU468139A1 (ru) | Способ эталонного измерени параметров решетки монокристаллов | |
| SU894502A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр дл исследовани структурного совершенства монокристаллов |