RU2816553C1 - Test bench of electronic component base for reliability - Google Patents

Test bench of electronic component base for reliability Download PDF

Info

Publication number
RU2816553C1
RU2816553C1 RU2023118189A RU2023118189A RU2816553C1 RU 2816553 C1 RU2816553 C1 RU 2816553C1 RU 2023118189 A RU2023118189 A RU 2023118189A RU 2023118189 A RU2023118189 A RU 2023118189A RU 2816553 C1 RU2816553 C1 RU 2816553C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
individual
heat
sections
units
stand
Prior art date
Application number
RU2023118189A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Константин Русланович Еремченко
Антон Михайлович Панченко
Сергей Николаевич Любуцин
Владимир Владимирович Суляев
Михаил Анатольевич Мельников
Original Assignee
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (АО "НИИЭТ")
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (АО "НИИЭТ") filed Critical Акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (АО "НИИЭТ")
Application granted granted Critical
Publication of RU2816553C1 publication Critical patent/RU2816553C1/en

Links

Abstract

FIELD: test equipment.
SUBSTANCE: invention can be used in test laboratories for evaluating reliability of electronic component base products. Stand is made in the form of two posts. In the first post there are sections with power sources, temperature control units, handles for individual setting of electric mode. On the front panel of the second post there are sections of loading units, intended for installation of tested products into clamping contact devices, which press the tested products to individual heat-removing plates with thermistors located on them and connected to temperature control units. On the rear panel of the second post there are sections of thermostating units, one for each section of loading units. Setting and maintaining temperature on heat-removing plates is carried out by the stand thermal control system, arranged in thermostating unit and changing power supplied to heater. Each section of the second post is equipped with retractable shelves with tanks and headers for forced supply of liquid heat carrier to individual heat-removing plates by means of a centrifugal pump. Individual tap is provided to adjust the temperature of each heat-removing plate.
EFFECT: possibility of setting individual thermal and electrical conditions of tested articles.
1 cl, 1 dwg

Description

Стенд предназначен для испытаний изделий электронной компонентной базы (ЭКБ) на безотказность и долговечность по ГОСТ РВ 20.57.414, ГОСТ РВ 20.57.416.The stand is designed for testing electronic component base (ECB) products for reliability and durability in accordance with GOST RV 20.57.414, GOST RV 20.57.416.

Область техники, к которой относится изобретениеField of technology to which the invention relates

Изобретение относится к области испытательного оборудования и может быть использовано в испытательных лабораториях для подтверждения надежности или оценки вероятности появления отказов изделий ЭКБ.The invention relates to the field of testing equipment and can be used in testing laboratories to confirm the reliability or assess the likelihood of failures of electronic components products.

Уровень техникиState of the art

Известен стенд для испытаний изделий ЭКБ на безотказность и долговечность под совмещенной термической и электрической нагрузкой. Термическая нагрузка обеспечивается общей теплоотводящей плитой, на которую устанавливаются испытуемые изделия. Стенд обеспечивает проведение испытаний при температуре теплоотводящей плиты от 35 до 85°С. Электрическая нагрузка обеспечивается общими для всех испытуемых изделий стабилизированными источниками питания, источником напряжения смещения и генераторами сигнала возбуждения.There is a well-known stand for testing electronic components products for reliability and durability under combined thermal and electrical load. The thermal load is provided by a common heat sink plate on which the tested products are installed. The stand provides testing at a heat sink plate temperature from 35 to 85°C. The electrical load is provided by stabilized power supplies, a bias voltage source, and excitation signal generators common to all tested products.

Недостатком данного образца является невозможность задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.The disadvantage of this sample is the impossibility of setting the individual thermal and electrical conditions of the tested products.

Известна высокотемпературная динамическая система, производства HangZhou ZhongAn Electronics Co., Ltd. (Китай), состоящая из климатической камеры, которая не разделена на зоны и обеспечивает общую для изделий температуру испытания до 150°С. Электрическая нагрузка обеспечивается источниками питания напряжением до 30 В.A high-temperature dynamic system is known, manufactured by HangZhou ZhongAn Electronics Co., Ltd. (China), consisting of a climate chamber, which is not divided into zones and provides a common test temperature for products of up to 150°C. The electrical load is provided by power supplies with voltages up to 30 V.

Недостатком данного образца также является невозможность заданияиндивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.A disadvantage of this sample is also the impossibility of setting the individual thermal and electrical conditions of the tested products.

Известна машина для испытаний на надежность, производства STK TECHNOLOGY CO., LTD. (Япония), состоящая из климатической камеры, которая разделена на две зоны и обеспечивает индивидуальный температурный контроль для изделий. Электрическая нагрузка задается отдельно для каждой испытательной зоны.A well-known reliability testing machine manufactured by STK TECHNOLOGY CO., LTD. (Japan), consisting of a climate chamber, which is divided into two zones and provides individual temperature control for products. The electrical load is set separately for each test zone.

Недостатком данного образца является невозможность задания индивидуального электрического режима испытуемых изделий.The disadvantage of this sample is the impossibility of setting the individual electrical mode of the tested products.

Раскрытие сущности изобретенияDisclosure of the invention

Задачей данного изобретения является расширение диапазона тепловой и электрической нагрузки, импортозамещение, а также возможность задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.The objective of this invention is to expand the range of thermal and electrical loads, import substitution, as well as the ability to set individual thermal and electrical conditions of the tested products.

Данная задача решается путем применения теплоносителя с температурой кипения более 150°С, установкой источников питания с выходным напряжением 0-60 В, а также разработанными теплоотводящими пластинами с прижимными контактными устройствами для возможности задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.This problem is solved by using a coolant with a boiling point of more than 150°C, installing power supplies with an output voltage of 0-60 V, as well as developed heat-removing plates with pressing contact devices to set the individual thermal and electrical conditions of the tested products.

Краткое описание чертежейBrief description of drawings

Конструкция стенда показана на фиг. 1.The design of the stand is shown in Fig. 1.

Стенд выполнен в виде двух металлических стоек. В первой стойке размещены секции с источниками питания 1 (фиг. 1), блоки контроля температуры 2, а также ручки индивидуального задания электрического режима 3. На передней панели второй стойки располагаются секции блоков загрузки 4, на задней панели расположены секции блоков термостатирования по одной на каждую секцию блоков загрузки (на рисунке не показаны). Каждая секция второй стойки оснащена выдвижными полками с баками и коллекторами для подачи теплоносителя на теплоотводящие пластины.The stand is made in the form of two metal stands. The first rack contains sections with power supplies 1 (Fig. 1), temperature control units 2, as well as handles for individual setting of the electrical mode 3. On the front panel of the second rack there are sections of loading units 4, on the rear panel there are sections of thermostatting units, one per each section of loading blocks (not shown in the figure). Each section of the second rack is equipped with retractable shelves with tanks and manifolds for supplying coolant to the heat-removing plates.

Осуществление изобретенийImplementation of inventions

Блок загрузки предназначен для установки испытываемых изделийв прижимные контактные устройства для последующего проведения испытаний в требуемом тепловом и электрическом режимах.The loading block is designed for installation of test products into clamping contact devices for subsequent testing in the required thermal and electrical conditions.

Для обеспечения заданного теплового режима испытываемые изделия при помощи контактных устройств прижимаются к индивидуальным теплоотводящим пластинам. Задание и поддержание температуры на теплоотводящих пластинах блока загрузки осуществляется системой терморегулирования стенда, размещенной в блоке термостатирования.To ensure the specified thermal conditions, the tested products are pressed against individual heat-removing plates using contact devices. Setting and maintaining the temperature on the heat-removing plates of the loading block is carried out by the stand's thermal control system located in the thermostatting block.

В блоке термостатирования используется система жидкостной термостабилизации теплоотводящих пластин с принудительной подачей теплоносителя. Прокачка жидкости через теплоотводящие пластины осуществляется центробежным насосом из бака. Нагрев теплоносителя осуществляется трубчатым электронагревателем. Поддержание стабильной температуры теплоносителя и теплоотводящих пластин обеспечивает система терморегулирования, изменяющая мощность, подводимую к нагревателю. Для точной регулировки температуры каждой теплоотводящей пластины предусмотрен индивидуальный кран. Блок термостатирования обеспечивает проведение испытаний при температуре теплоотводящих пластин от 35°С до 125°С.The thermostating unit uses a system of liquid thermal stabilization of heat sink plates with forced supply of coolant. Liquid is pumped through the heat-removing plates by a centrifugal pump from the tank. The coolant is heated by a tubular electric heater. Maintaining a stable temperature of the coolant and heat sink plates is ensured by a thermal control system that changes the power supplied to the heater. An individual tap is provided to accurately regulate the temperature of each heat sink plate. The thermostating unit ensures testing at the temperature of the heat sink plates from 35°C to 125°C.

Электрический режим испытаний обеспечивается подключенными к блоку загрузки источниками питания. Для каждого изделия предусмотрена индивидуальная настройка электрического режима при помощи ручек управления, которые расположены на передней панели стенда.The electrical test mode is provided by power supplies connected to the loading unit. For each product, individual adjustment of the electrical mode is provided using control knobs, which are located on the front panel of the stand.

Блок контроля температуры считывает значения сопротивления терморезистора, расположенного на теплоотводящей пластине. Данные программно обрабатываются и выводятся на экран.The temperature control unit reads the resistance values of the thermistor located on the heat sink plate. The data is processed programmatically and displayed on the screen.

Claims (1)

Стенд для испытаний изделий электронной компонентной базы на безотказность и долговечность, состоящий из секций с источниками питания, блоков контроля температуры, блоков загрузки, включающих в себя прижимные контактные устройства и индивидуальные теплоотводящие пластины, блоков термостатирования, отличающийся тем, что стенд выполнен в виде двух металлических стоек, в первой стойке размещены секции с источниками питания, блоки контроля температуры, а также ручки индивидуального задания электрического режима, на передней панели второй стойки расположены секции блоков загрузки, подключенных к источникам питания и предназначенных для установки испытываемых изделий в прижимные контактные устройства, которые прижимают испытываемые изделия к индивидуальным теплоотводящим пластинам с расположенными на них терморезисторами, соединенными с блоками контроля температуры, на задней панели второй стойки расположены секции блоков термостатирования по одной на каждую секцию блоков загрузки, задание и поддержание температуры на теплоотводящих пластинах блока загрузки осуществляется системой терморегулирования стенда, размещенной в блоке термостатирования и изменяющей мощность, подводимую к нагревателю, каждая секция второй стойки оснащена выдвижными полками с баками и коллекторами для принудительной подачи жидкого теплоносителя на индивидуальные теплоотводящие пластины с помощью центробежного насоса, причем для регулировки температуры каждой теплоотводящей пластины предусмотрен индивидуальный кран.A stand for testing electronic component products for reliability and durability, consisting of sections with power supplies, temperature control units, loading units, including pressing contact devices and individual heat-removing plates, thermostatting units, characterized in that the stand is made in the form of two metal racks, in the first rack there are sections with power supplies, temperature control units, as well as handles for individual setting of the electrical mode; on the front panel of the second rack there are sections of loading units connected to power sources and intended for installing the tested products into clamping contact devices that press test products to individual heat-removing plates with thermistors located on them, connected to temperature control blocks; on the rear panel of the second rack there are sections of thermostatting blocks, one for each section of the loading blocks; setting and maintaining the temperature on the heat-removing plates of the loading block is carried out by the thermal control system of the stand, located in the thermostatting unit and changing the power supplied to the heater, each section of the second rack is equipped with retractable shelves with tanks and manifolds for forced supply of liquid coolant to individual heat-removing plates using a centrifugal pump, and an individual tap is provided to regulate the temperature of each heat-removing plate.
RU2023118189A 2023-07-10 Test bench of electronic component base for reliability RU2816553C1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2816553C1 true RU2816553C1 (en) 2024-04-01

Family

ID=

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242148A (en) * 2015-10-31 2016-01-13 武汉理工大学 Thermoelectric module characteristic testing device
RU2643239C1 (en) * 2017-01-20 2018-01-31 Общество с ограниченной ответственностью "Тау Индастриз" Method of testing electronic components
RU2756337C1 (en) * 2021-03-19 2021-09-29 Общество с ограниченной ответственностью «Остек-Электро» Device for temperature and vacuum exposure
RU2767302C1 (en) * 2020-11-25 2022-03-17 Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" Installation and thermostat for monitoring long-term stability of frequency of quartz resonators and generators

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242148A (en) * 2015-10-31 2016-01-13 武汉理工大学 Thermoelectric module characteristic testing device
RU2643239C1 (en) * 2017-01-20 2018-01-31 Общество с ограниченной ответственностью "Тау Индастриз" Method of testing electronic components
RU2767302C1 (en) * 2020-11-25 2022-03-17 Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" Installation and thermostat for monitoring long-term stability of frequency of quartz resonators and generators
RU2756337C1 (en) * 2021-03-19 2021-09-29 Общество с ограниченной ответственностью «Остек-Электро» Device for temperature and vacuum exposure

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
П. ПАРАМОН и др. Отечественные стенды "СИТ" для испытаний ЭКБ на надежность, ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технологии, Бизнес, N 8, 2022, https://niiet.ru/10-10-2022-1/. https://niiet.ru/product/стенды-испытаний-экб-на-надежность/?ysclid=lpwfe951di820494508, 2020. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5420521A (en) Burn-in module
KR101185536B1 (en) Method and Device for testing semiconductor wafers using a chuck device whose temperature can be regulated
US6498899B2 (en) Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electric devices
CN1971260A (en) Testing method of thermal resistance of heat-conducting material and testing clamp
RU2816553C1 (en) Test bench of electronic component base for reliability
JP2011252719A (en) Column oven
KR101804710B1 (en) Apparatus for evaluating a thermoelectric device
Buckingham et al. Thermogalvanic cells: A side-by-side comparison of measurement methods
CN104681380A (en) Electrostatic chuck and plasma processing chamber thereof
CN114544699B (en) Method for testing thermal resistance and thermal conductivity coefficient of material
CN110168356A (en) Pyroconductivity measurement device and pyroconductivity measuring method
CN207530303U (en) A kind of small-power chip ageing machine
CN206945819U (en) A kind of test device for chip frequency response characteristic
CN100585764C (en) Method and apparatus for testing electronic elements
RU2610052C1 (en) Test object thermal stabilisation apparatus
JP2021048246A (en) Inspection system and inspection method
CN116297652A (en) Test system and method for detecting collapse performance of iron-chromium-aluminum alloy
CN102539839A (en) Sample temperature changing device of atomic force microscope
KR20200144514A (en) A Chamber-less Hot Temperature Test Apparatus And A Test Board Thereof
CN219496580U (en) Test equipment and test system
KR102176051B1 (en) A Chamber-less Hot Temperature Test Apparatus
CN215005728U (en) Power device reliability test device
KR20140105897A (en) Probe card and apparatus for testing an object including the same
KR20200111070A (en) Life test method for thermoelectric module
JP2000310569A (en) Temperature-measuring device