RU2816553C1 - Test bench of electronic component base for reliability - Google Patents
Test bench of electronic component base for reliability Download PDFInfo
- Publication number
- RU2816553C1 RU2816553C1 RU2023118189A RU2023118189A RU2816553C1 RU 2816553 C1 RU2816553 C1 RU 2816553C1 RU 2023118189 A RU2023118189 A RU 2023118189A RU 2023118189 A RU2023118189 A RU 2023118189A RU 2816553 C1 RU2816553 C1 RU 2816553C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- individual
- heat
- sections
- units
- stand
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Abstract
Description
Стенд предназначен для испытаний изделий электронной компонентной базы (ЭКБ) на безотказность и долговечность по ГОСТ РВ 20.57.414, ГОСТ РВ 20.57.416.The stand is designed for testing electronic component base (ECB) products for reliability and durability in accordance with GOST RV 20.57.414, GOST RV 20.57.416.
Область техники, к которой относится изобретениеField of technology to which the invention relates
Изобретение относится к области испытательного оборудования и может быть использовано в испытательных лабораториях для подтверждения надежности или оценки вероятности появления отказов изделий ЭКБ.The invention relates to the field of testing equipment and can be used in testing laboratories to confirm the reliability or assess the likelihood of failures of electronic components products.
Уровень техникиState of the art
Известен стенд для испытаний изделий ЭКБ на безотказность и долговечность под совмещенной термической и электрической нагрузкой. Термическая нагрузка обеспечивается общей теплоотводящей плитой, на которую устанавливаются испытуемые изделия. Стенд обеспечивает проведение испытаний при температуре теплоотводящей плиты от 35 до 85°С. Электрическая нагрузка обеспечивается общими для всех испытуемых изделий стабилизированными источниками питания, источником напряжения смещения и генераторами сигнала возбуждения.There is a well-known stand for testing electronic components products for reliability and durability under combined thermal and electrical load. The thermal load is provided by a common heat sink plate on which the tested products are installed. The stand provides testing at a heat sink plate temperature from 35 to 85°C. The electrical load is provided by stabilized power supplies, a bias voltage source, and excitation signal generators common to all tested products.
Недостатком данного образца является невозможность задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.The disadvantage of this sample is the impossibility of setting the individual thermal and electrical conditions of the tested products.
Известна высокотемпературная динамическая система, производства HangZhou ZhongAn Electronics Co., Ltd. (Китай), состоящая из климатической камеры, которая не разделена на зоны и обеспечивает общую для изделий температуру испытания до 150°С. Электрическая нагрузка обеспечивается источниками питания напряжением до 30 В.A high-temperature dynamic system is known, manufactured by HangZhou ZhongAn Electronics Co., Ltd. (China), consisting of a climate chamber, which is not divided into zones and provides a common test temperature for products of up to 150°C. The electrical load is provided by power supplies with voltages up to 30 V.
Недостатком данного образца также является невозможность заданияиндивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.A disadvantage of this sample is also the impossibility of setting the individual thermal and electrical conditions of the tested products.
Известна машина для испытаний на надежность, производства STK TECHNOLOGY CO., LTD. (Япония), состоящая из климатической камеры, которая разделена на две зоны и обеспечивает индивидуальный температурный контроль для изделий. Электрическая нагрузка задается отдельно для каждой испытательной зоны.A well-known reliability testing machine manufactured by STK TECHNOLOGY CO., LTD. (Japan), consisting of a climate chamber, which is divided into two zones and provides individual temperature control for products. The electrical load is set separately for each test zone.
Недостатком данного образца является невозможность задания индивидуального электрического режима испытуемых изделий.The disadvantage of this sample is the impossibility of setting the individual electrical mode of the tested products.
Раскрытие сущности изобретенияDisclosure of the invention
Задачей данного изобретения является расширение диапазона тепловой и электрической нагрузки, импортозамещение, а также возможность задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.The objective of this invention is to expand the range of thermal and electrical loads, import substitution, as well as the ability to set individual thermal and electrical conditions of the tested products.
Данная задача решается путем применения теплоносителя с температурой кипения более 150°С, установкой источников питания с выходным напряжением 0-60 В, а также разработанными теплоотводящими пластинами с прижимными контактными устройствами для возможности задания индивидуального теплового и электрического режима испытуемых изделий.This problem is solved by using a coolant with a boiling point of more than 150°C, installing power supplies with an output voltage of 0-60 V, as well as developed heat-removing plates with pressing contact devices to set the individual thermal and electrical conditions of the tested products.
Краткое описание чертежейBrief description of drawings
Конструкция стенда показана на фиг. 1.The design of the stand is shown in Fig. 1.
Стенд выполнен в виде двух металлических стоек. В первой стойке размещены секции с источниками питания 1 (фиг. 1), блоки контроля температуры 2, а также ручки индивидуального задания электрического режима 3. На передней панели второй стойки располагаются секции блоков загрузки 4, на задней панели расположены секции блоков термостатирования по одной на каждую секцию блоков загрузки (на рисунке не показаны). Каждая секция второй стойки оснащена выдвижными полками с баками и коллекторами для подачи теплоносителя на теплоотводящие пластины.The stand is made in the form of two metal stands. The first rack contains sections with power supplies 1 (Fig. 1), temperature control units 2, as well as handles for individual setting of the electrical mode 3. On the front panel of the second rack there are sections of loading units 4, on the rear panel there are sections of thermostatting units, one per each section of loading blocks (not shown in the figure). Each section of the second rack is equipped with retractable shelves with tanks and manifolds for supplying coolant to the heat-removing plates.
Осуществление изобретенийImplementation of inventions
Блок загрузки предназначен для установки испытываемых изделийв прижимные контактные устройства для последующего проведения испытаний в требуемом тепловом и электрическом режимах.The loading block is designed for installation of test products into clamping contact devices for subsequent testing in the required thermal and electrical conditions.
Для обеспечения заданного теплового режима испытываемые изделия при помощи контактных устройств прижимаются к индивидуальным теплоотводящим пластинам. Задание и поддержание температуры на теплоотводящих пластинах блока загрузки осуществляется системой терморегулирования стенда, размещенной в блоке термостатирования.To ensure the specified thermal conditions, the tested products are pressed against individual heat-removing plates using contact devices. Setting and maintaining the temperature on the heat-removing plates of the loading block is carried out by the stand's thermal control system located in the thermostatting block.
В блоке термостатирования используется система жидкостной термостабилизации теплоотводящих пластин с принудительной подачей теплоносителя. Прокачка жидкости через теплоотводящие пластины осуществляется центробежным насосом из бака. Нагрев теплоносителя осуществляется трубчатым электронагревателем. Поддержание стабильной температуры теплоносителя и теплоотводящих пластин обеспечивает система терморегулирования, изменяющая мощность, подводимую к нагревателю. Для точной регулировки температуры каждой теплоотводящей пластины предусмотрен индивидуальный кран. Блок термостатирования обеспечивает проведение испытаний при температуре теплоотводящих пластин от 35°С до 125°С.The thermostating unit uses a system of liquid thermal stabilization of heat sink plates with forced supply of coolant. Liquid is pumped through the heat-removing plates by a centrifugal pump from the tank. The coolant is heated by a tubular electric heater. Maintaining a stable temperature of the coolant and heat sink plates is ensured by a thermal control system that changes the power supplied to the heater. An individual tap is provided to accurately regulate the temperature of each heat sink plate. The thermostating unit ensures testing at the temperature of the heat sink plates from 35°C to 125°C.
Электрический режим испытаний обеспечивается подключенными к блоку загрузки источниками питания. Для каждого изделия предусмотрена индивидуальная настройка электрического режима при помощи ручек управления, которые расположены на передней панели стенда.The electrical test mode is provided by power supplies connected to the loading unit. For each product, individual adjustment of the electrical mode is provided using control knobs, which are located on the front panel of the stand.
Блок контроля температуры считывает значения сопротивления терморезистора, расположенного на теплоотводящей пластине. Данные программно обрабатываются и выводятся на экран.The temperature control unit reads the resistance values of the thermistor located on the heat sink plate. The data is processed programmatically and displayed on the screen.
Claims (1)
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2816553C1 true RU2816553C1 (en) | 2024-04-01 |
Family
ID=
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105242148A (en) * | 2015-10-31 | 2016-01-13 | 武汉理工大学 | Thermoelectric module characteristic testing device |
RU2643239C1 (en) * | 2017-01-20 | 2018-01-31 | Общество с ограниченной ответственностью "Тау Индастриз" | Method of testing electronic components |
RU2756337C1 (en) * | 2021-03-19 | 2021-09-29 | Общество с ограниченной ответственностью «Остек-Электро» | Device for temperature and vacuum exposure |
RU2767302C1 (en) * | 2020-11-25 | 2022-03-17 | Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" | Installation and thermostat for monitoring long-term stability of frequency of quartz resonators and generators |
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105242148A (en) * | 2015-10-31 | 2016-01-13 | 武汉理工大学 | Thermoelectric module characteristic testing device |
RU2643239C1 (en) * | 2017-01-20 | 2018-01-31 | Общество с ограниченной ответственностью "Тау Индастриз" | Method of testing electronic components |
RU2767302C1 (en) * | 2020-11-25 | 2022-03-17 | Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" | Installation and thermostat for monitoring long-term stability of frequency of quartz resonators and generators |
RU2756337C1 (en) * | 2021-03-19 | 2021-09-29 | Общество с ограниченной ответственностью «Остек-Электро» | Device for temperature and vacuum exposure |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
П. ПАРАМОН и др. Отечественные стенды "СИТ" для испытаний ЭКБ на надежность, ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технологии, Бизнес, N 8, 2022, https://niiet.ru/10-10-2022-1/. https://niiet.ru/product/стенды-испытаний-экб-на-надежность/?ysclid=lpwfe951di820494508, 2020. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5420521A (en) | Burn-in module | |
KR101185536B1 (en) | Method and Device for testing semiconductor wafers using a chuck device whose temperature can be regulated | |
US6498899B2 (en) | Apparatus, method and system of liquid-based, wide range, fast response temperature control of electric devices | |
CN1971260A (en) | Testing method of thermal resistance of heat-conducting material and testing clamp | |
RU2816553C1 (en) | Test bench of electronic component base for reliability | |
JP2011252719A (en) | Column oven | |
KR101804710B1 (en) | Apparatus for evaluating a thermoelectric device | |
Buckingham et al. | Thermogalvanic cells: A side-by-side comparison of measurement methods | |
CN104681380A (en) | Electrostatic chuck and plasma processing chamber thereof | |
CN114544699B (en) | Method for testing thermal resistance and thermal conductivity coefficient of material | |
CN110168356A (en) | Pyroconductivity measurement device and pyroconductivity measuring method | |
CN207530303U (en) | A kind of small-power chip ageing machine | |
CN206945819U (en) | A kind of test device for chip frequency response characteristic | |
CN100585764C (en) | Method and apparatus for testing electronic elements | |
RU2610052C1 (en) | Test object thermal stabilisation apparatus | |
JP2021048246A (en) | Inspection system and inspection method | |
CN116297652A (en) | Test system and method for detecting collapse performance of iron-chromium-aluminum alloy | |
CN102539839A (en) | Sample temperature changing device of atomic force microscope | |
KR20200144514A (en) | A Chamber-less Hot Temperature Test Apparatus And A Test Board Thereof | |
CN219496580U (en) | Test equipment and test system | |
KR102176051B1 (en) | A Chamber-less Hot Temperature Test Apparatus | |
CN215005728U (en) | Power device reliability test device | |
KR20140105897A (en) | Probe card and apparatus for testing an object including the same | |
KR20200111070A (en) | Life test method for thermoelectric module | |
JP2000310569A (en) | Temperature-measuring device |