RU2747917C1 - Акустический микроскоп - Google Patents

Акустический микроскоп Download PDF

Info

Publication number
RU2747917C1
RU2747917C1 RU2020134501A RU2020134501A RU2747917C1 RU 2747917 C1 RU2747917 C1 RU 2747917C1 RU 2020134501 A RU2020134501 A RU 2020134501A RU 2020134501 A RU2020134501 A RU 2020134501A RU 2747917 C1 RU2747917 C1 RU 2747917C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
particle
acoustic
mesoscale
sound
meso
Prior art date
Application number
RU2020134501A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Владиленович Минин
Олег Владиленович Минин
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий» (СГУГиТ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий» (СГУГиТ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий» (СГУГиТ)
Priority to RU2020134501A priority Critical patent/RU2747917C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2747917C1 publication Critical patent/RU2747917C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Abstract

Использование: для исследования и анализа материалов с помощью ультразвуковых колебаний. Сущность изобретения заключается в том, что сканирующий акустический микроскоп содержит передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, а в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83, при этом непосредственно на теневой стороне мезоразмерной частицы размещается вторая мезоразмерная частица, имеющая общую оптическую ось с первой частицей и с характерным размером не более характерного размера первой мезоразмерной частицы, но не менее поперечного размера сформированной области фокусировки первой мезоразмерной частицей. Технический результат: улучшение разрешающей способности акустических систем построения изображения исследуемых объектов. 2 ил.

Description

Изобретение относится к устройствам для исследования и анализа материалов с помощью ультразвуковых колебаний, а именно к акустическим микроскопам.
Акустическая микроскопия – есть совокупность способов визуализации микроструктуры и формы малых объектов с помощью ультразвуковых и гиперзвуковых волн. Акустическая микроскопия основана на том, что ультразвуковые волны, прошедшие, отраженные или рассеянные отдельными участками объекта, имеют различные характеристики (амплитуду, фазу) в зависимости от локальных вязкоупругих свойств образца. Эти различия позволяют методами визуализации звуковых полей получать акустические изображения, восстанавливаемые компьютером на экране дисплея.
В сканирующей растровой акустической микроскопии сфокусированный в точку ультразвуковой пучок перемещается по объекту, изображение которого воссоздается по точкам в виде растра. Принимая ту или иную часть излучения, можно судить об акустических свойствах образца в области, размеры которой определяются размерами фокального пятна. Эти размеры согласно теории дифракции равны не менее длины волны ультразвуковых колебаний в данной среде.
Известен акустический микроскоп по патенту РФ №79219, содержащий излучатель ультразвука, акустическую линзу для фокусировки пучка, отраженного от объекта и акустического приемника.
Недостатком этого микроскопа является низкая разрешающая способность.
Диаметр пятна Эйри h определяется так называемым критерием Рэлея, который устанавливает предел концентрации (фокусировки) акустического поля с помощью линзовых систем [Борн М., Вольф Э. Основы оптики // - М.: Наука - 1970]:
h=2.44 λFD -1 ,
где λ – длина волны излучения, D – диаметр первичного зеркала или линзы, F – фокусное расстояние фокусирующего устройства.
Диаметр пятна Эйри h является важным параметром фокусирующей системы, который определяет ее собственную разрешающую способность в фокальной плоскости и определяет качество получаемого изображения. Он показывает минимальное расстояние между полем точечных источников в фокальной плоскости, которое способна зарегистрировать данная система. Максимальное разрешение идеальной линзовой системы не может превышать величины λ/2.
В зависимости от того, какая часть излучения после взаимодействия с объектом регистрируется, различают акустические микроскопы «на отражение», на «пропускание».
Известен сканирующий акустический микроскоп по патенту США № 4028933, содержащий передающий акустический элемент со сферической акустической линзой, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку (иммерсионную среду), установленную между передающими и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на экране видеоконтрольного устройства.
В микроскопе акустическая волна, возбуждаемая преобразователем, фокусируется акустической линзой. Исследуемый объект сканируется в фокальной плоскости линз. Акустический пучок, прошедший через объект, принимается акустической линзой приемного элемента, причем оптические оси и фокусы обеих линз совпадают.
Достоинством устройства является возможность получать изображение деталей объекта, сравнимых с длиной волны.
Недостатком данного устройства является низкое пространственное разрешение, ограниченное дифракционным пределом формирующей системы.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству и принятому за прототип является сканирующий акустический микроскоп по патенту РФ 172340, содержащий передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, а в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ – длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0,5 до 0,83.
Достоинством устройства является достижение поперечного разрешения превышающего дифракционный предел.
Недостатком данного устройства является низкое пространственное разрешение, ограниченное поперечной шириной формируемой фотонной струей и не превышающей примерно (0,25–0,33)λ и протяженностью не более 10λ.
Задачей предлагаемого изобретения является разработка устройства с повышенным качеством получаемого изображения исследуемого объекта за счет повышения разрешающей способности акустической формирующей системы.
Технический результат, который может быть получен при выполнении заявленного устройства – улучшение разрешающей способности акустических систем построения изображения исследуемых объектов.
Поставленная задача решается благодаря тому, что в акустическом микроскопе содержащим передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, а в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ – длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0,5 до 0,83, новым является то, что непосредственно на теневой стороне мезоразмерной частицы размещается вторая мезоразмерная частица, имеющая общую оптическую ось с первой частицей и с характерным размером не более характерного размера первой мезоразмерной частицы, но не менее поперечного размера сформированной области фокусировки первой мезоразмерной частицей.
Заявителем не выявлены какие-либо технические решения, идентичные заявленному, что позволяет сделать вывод о соответствии настоящего изобретения критерию «новизна».
Заявителем не выявлены источники информации, в которых содержались бы сведения о влиянии отличительных признаков изобретения на достигаемый технический результат. Указанные новые свойства объекта обусловливают, по мнению заявителя, соответствие изобретения критерию «изобретательский уровень».
Известны способы преодоления дифракционного предела, например, с помощью эффекта «фотонной наноструи» (например, см. A. Heifetz et al. Experimental confirmation of backscattering enhancement induced by a photonic jet // Appl. Phys. Lett., 89, 221118 (2006)). Поперечный размер фотонной наноструи составляет 1/3…1/4 длины волны излучения, что меньше дифракционного предела классической линзы.
При этом формировать локальные области концентрирования электромагнитной энергии вблизи поверхности мезоразмерных диэлектрических частиц возможно с помощью частиц различной формы, например, в форме сферы, куба, пирамиды, при облучении их электромагнитной волной с плоским волновым фронтом и т.д. [I.V. Minin and O.V. Minin. Diffractive optics and nanophotonics: Resolution below the diffraction limit, Springer, 2016 http://www.springer.com/us/book/9783319242514#aboutBook].
В результате проведенных исследований было обнаружено, что мезоразмерная частица, например, в форме куба или сферы, расположенная непосредственно на теневой стороне мезоразмерной частицы, выполненной, например, в форме куба или сферы и в области формирования «фотонной» струи, имеющая общую оптическую ось с первой частицей, с характерным размером не менее поперечного размера сформированной области фокусировки («фотонной» струи) и не более характерного размера первой мезоразмерной частицы, формирует на внешней границе второй мезоразмерной частицы с противоположной стороны от падающего излучения области с повышенной концентрацией энергии и с поперечными размерами порядка (0,16–0,20)λ и протяженностью не более примерно (1,2–3)λ.
Таким образом, вторая мезоразмерная частица освещается фотонной струей, сформированной первой мезоразмерной частицей, находящейся в области фокуса акустического фокусирующего устройства.
При выполнении второй мезоразмерной частицы с характерными размерами более поперечных размеров области фокусировки излучения первой мезоразмерной частицы, увеличиваются габариты устройства формирования изображения при сохранении качества концентрации акустического излучения частицей и улучшение пространственного разрешения не наступает. При характерных размерах мезоразмерной частицы менее поперечного размера сформированной области фокусировки первой мезоразмерной частицей локальная концентрация акустического поля вблизи поверхности частицы имеет поперечные размеры порядка ширины области фокусировки акустического поля, первой мезоразмерной частицей.
На фиг. 1 схематически изображен акустический микроскоп, работающий на прохождение.
На фиг.2 представлены результаты фокусировки излучения мезоразмерной сферической частицей сферической формы, размещенной в области фокусировки акустической линзы (прототип) и мезоразмерной сферической частицы на теневой стороне которой непрсредственно размещена вторая мезоразмерная частица, имеющая общую оптическую ось с первой частицей и с характерным размером не более характерного размера первой мезоразмерной частицы, но не менее поперечного размера сформированной области фокусировки первой мезоразмерной частицей. Диаметр первой мезоразмерной частицы равен 9,5λ, где λ длина волны акустического излучения, относительная скорость звука в материале частицы 0,8; Диаметр второй сферической мезоразмерной частицы 3,2λ. При этом относительная скорость звука в материале второй мезоразмерной частицы может быть меньше, чем относительная скорость звука в материале первой мезоразмерной частицы.
Обозначения: 1 – генератор 1, 2 – пьезоэлектрический преобразователь, 3 – звукопровод, 4 – акустическая линза, 5 – первая мезоразмерная частица, формируемую область повышенной концентрации акустической энергии и с высоким пространственным разрешением 6, 7 – вторая мезоразмерная частица, 8 – область фокусировки излучения, 9 – исследуемый объект, 10 – жидкостная ячейка (иммерсионная среда), 11 – приемный акустический элемент, 12 – устройство механического сканирования, 13 – видеоконтрольное устройство.
Устройство работает следующим образом.
Акустический микроскоп содержит в качестве передающего акустического элемента звукопровод из плавленого кварца с пьезоэлектрическим преобразователем из LiNBO3 2, сферическую акустическую линзу 4, первую мезоразмерную частицу из рексалита в форме сферы или куба 5, расположенную в области фокуса сферической акустической линзы 4. В результате дифракции и интерференции волн, первая мезоразмерная частица формирует узкую область фокусировки 6 в которой находится вторая мезоразмерная частица 7, примыкающая одной стороной к теневой стороне частицы 5 и находящаяся с ней на одной оптической оси. Вторая мезоразмерная частица 7 формирует область фокусировки излучения 8, в которой находится исследуемый объект 9.
Внешняя поверхность акустической линзы 4, мезоразмерные частицы 5 и 7, исследуемый объект 9 и приемный акустический элемент 11 находятся в жидкостной ячейке 10. Сигнал с генератора 1 возбуждает пьезопреобразователь 2 на необходимой частоте. В формируемой мезоразмерной частицей 7 области повышенной концентрации акустической энергии и с высоким пространственным разрешением 8 размещен исследуемый объект 9 который сканируется с помощью сканирующего устройства 12. Приемный элемент 11, выполнен, например, из пьезополупроводникового материала, например, СdS. Принятый сигнал, синхронизированный со сканирующим устройством 12, подается на видеоконтрольное устройство 13.
Сравнение прототипа и предлагаемого устройства производилось на частоте 1 МГц с жидкостной ячейкой из воды при 25°С (скорость звука 1490 м/с), в качестве материала частицы может использоваться рексолит (скорость звука 2311 м/с) относительная скорость звука 0,645, формы частиц сфера и куб с характерным размером 6λ и с характерным размером второй мезоразмерной частицы 2 λ. Было установлено, что по сравнению с прототипом, предложенное техническое решение обеспечивает более узкую поперечную область фокусировки в 1,6 раза, протяженность области фокусировки в 7,5 раз и увеличение максимальной интенсивности акустического поля в области фокусировки в 4,8 раз.

Claims (1)

  1. Сканирующий акустический микроскоп, содержащий передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, а в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83, отличающийся тем, что непосредственно на теневой стороне мезоразмерной частицы размещается вторая мезоразмерная частица, имеющая общую оптическую ось с первой частицей и с характерным размером не более характерного размера первой мезоразмерной частицы, но не менее поперечного размера сформированной области фокусировки первой мезоразмерной частицей.
RU2020134501A 2020-10-21 2020-10-21 Акустический микроскоп RU2747917C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020134501A RU2747917C1 (ru) 2020-10-21 2020-10-21 Акустический микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020134501A RU2747917C1 (ru) 2020-10-21 2020-10-21 Акустический микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2747917C1 true RU2747917C1 (ru) 2021-05-17

Family

ID=75919937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020134501A RU2747917C1 (ru) 2020-10-21 2020-10-21 Акустический микроскоп

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2747917C1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028933A (en) * 1974-02-15 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University Acoustic microscope
SU832449A1 (ru) * 1979-07-26 1981-05-23 Институт Радиотехники И Электроникиан Cccp Сканирующий акустический микроскоп
US4577504A (en) * 1983-04-22 1986-03-25 Hitachi, Ltd. Acoustic microscope
US4646573A (en) * 1985-04-26 1987-03-03 International Business Machines Corporation Scanning acoustic microscope
RU172340U1 (ru) * 2017-04-13 2017-07-04 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Сканирующий акустический микроскоп

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028933A (en) * 1974-02-15 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University Acoustic microscope
SU832449A1 (ru) * 1979-07-26 1981-05-23 Институт Радиотехники И Электроникиан Cccp Сканирующий акустический микроскоп
US4577504A (en) * 1983-04-22 1986-03-25 Hitachi, Ltd. Acoustic microscope
US4646573A (en) * 1985-04-26 1987-03-03 International Business Machines Corporation Scanning acoustic microscope
RU172340U1 (ru) * 2017-04-13 2017-07-04 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Сканирующий акустический микроскоп

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4028933A (en) Acoustic microscope
US20140293737A1 (en) Acousto-optic image capture device
JP5367298B2 (ja) ビーム走査式画像生成装置
US20130301114A1 (en) Acousto-optic imaging device
Gérardin et al. Particlelike wave packets in complex scattering systems
JP7092163B2 (ja) テラヘルツ波ベッセルビームを用いた高分解能検査装置
RU2631006C1 (ru) Способ формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцевом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
JPS589063A (ja) 超音波顕微鏡
US20140126324A1 (en) Acousto-optic image capture device
CN108593088B (zh) 一种表征球形聚焦超声场的聚焦纹影系统
RU172340U1 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
CN116519601A (zh) 基于艾里光束联合稀疏采样的光声显微成像系统及方法
JPS6224741B2 (ru)
JPS5816672B2 (ja) オンパケツゾウホウ オヨビ オンパケツゾウソウチ
US20140121490A1 (en) Acousto-optic imaging device
US4321696A (en) Ultrasonic transducer using ultra high frequency
Zhang et al. Terahertz imaging in dielectric media with quasi-Bessel beams
RU2747917C1 (ru) Акустический микроскоп
RU2359265C1 (ru) Устройство ультразвуковой интроскопии
CN106768342B (zh) 基于偏振复用实现不等间隔多平面成像的装置及方法
Hamilton et al. Optical arrays for high frequency ultrasound imaging
RU2654387C1 (ru) Способ формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в акустическом диапазоне длин волн
RU2735916C1 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
RU2756411C2 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
Lopes et al. Focusing beyond the diffraction limit with acoustic jets