RU172340U1 - Сканирующий акустический микроскоп - Google Patents

Сканирующий акустический микроскоп Download PDF

Info

Publication number
RU172340U1
RU172340U1 RU2017112806U RU2017112806U RU172340U1 RU 172340 U1 RU172340 U1 RU 172340U1 RU 2017112806 U RU2017112806 U RU 2017112806U RU 2017112806 U RU2017112806 U RU 2017112806U RU 172340 U1 RU172340 U1 RU 172340U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
acoustic
sound
scanning
speed
particle
Prior art date
Application number
RU2017112806U
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Владиленович Минин
Олег Владиленович Минин
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ)
Priority to RU2017112806U priority Critical patent/RU172340U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU172340U1 publication Critical patent/RU172340U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/10Number of transducers
    • G01N2291/102Number of transducers one emitter, one receiver

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

Полезная модель относится метрологии, в частности к микроскопам.Сканирующий акустический микроскоп, содержит передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве. В области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83. Технический результат - повышение разрешающей способности. 1 ил.

Description

Полезная модель относится к устройствам для исследования и анализа материалов с помощью ультразвуковых колебаний, а именно к акустическим микроскопам.
Акустическая микроскопия - есть совокупность способов визуализации микроструктуры и формы малых объектов с помощью ультразвуковых и гиперзвуковых волн. Акустическая микроскопия основана на том, что ультразвуковые волны, прошедшие, отраженные или рассеянные отдельными участками объекта, имеют различные характеристики (амплитуду, фазу) в зависимости от локальных вязкоупругих свойств образца. Эти различия позволяют методами визуализации звуковых полей получать акустические изображения, восстанавливаемые компьютером на экране дисплея.
В сканирующей растровой акустической микроскопии сфокусированный в точку ультразвуковой пучок перемещается по объекту, изображение которого воссоздается по точкам в виде растра. Принимая ту или иную часть излучения, можно судить об акустических свойствах образца в области, размеры которой определяются размерами фокального пятна. Эти размеры согласно теории дифракции равны не менее длины волны ультразвуковых колебаний в данной среде.
Известен акустический микроскоп по патенту РФ №79219, содержащий излучатель ультразвука, акустическую линзу для фокусировки пучка, отраженного от объекта и акустического приемника.
Недостатком этого микроскопа является низкая разрешающая способность.
Диаметр пятна Эйри h определяется так называемым критерием Рэлея, который устанавливает предел концентрации (фокусировки) акустического поля с помощью линзовых систем [Борн М., Вольф Э. Основы оптики // - М.: Наука - 1970]:
h=2.44 λFD-1,
где λ - длина волны излучения, D - диаметр первичного зеркала или линзы, F - фокусное расстояние фокусирующего устройства.
Диаметр пятна Эйри h является важным параметром фокусирующей системы, который определяет ее собственную разрешающую способность в фокальной плоскости и определяет качество получаемого изображения. Он показывает минимальное расстояние между полем точечных источников в фокальной плоскости, которое способна зарегистрировать данная система. Максимальное разрешение идеальной линзовой системы не может превышать величины λ/2.
В зависимости от того, какая часть излучения после взаимодействия с объектом регистрируется, различают акустические микроскопы «на отражение», на «пропускание».
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству и принятому за прототип является сканирующий акустический микроскоп по патенту США № 4028933, содержащий передающий акустический элемент со сферической акустической линзой, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку (иммерсионную среду), установленную между передающими и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на экране видеоконтрольного устройства.
В микроскопе акустическая волна, возбуждаемая преобразователем, фокусируется акустической линзой. Исследуемый объект сканируется в фокальной плоскости линз. Акустический пучок, прошедший через объект, принимается акустической линзой приемного элемента, причем оптические оси и фокусы обеих линз совпадают.
Достоинством устройства является возможность получать изображение деталей объекта, сравнимых с длиной волны.
Недостатком данного устройства является низкое пространственное разрешение, ограниченное дифракционным пределом формирующей системы.
Задачей, решаемой предлагаемым устройством, является повышение качества получаемого изображения исследуемого объекта за счет повышения разрешающей способности акустической формирующей системы.
Технический результат, который может быть получен при выполнении заявленного устройства - улучшение разрешающей способности акустических систем построения изображения исследуемых объектов.
Поставленная задача решается благодаря тому, что в сканирующем акустическом мироскопе, содержащем передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, новым является то, что в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83.
В результате проведенных исследований было обнаружено, что мезоразмерная частица, например, в форме куба или сферы, с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83, формирует на ее внешней границе с противоположной стороны от падающего излучения области с повышенной концентрацией энергии и с поперечными размерами порядка λ/3-λ/4 и протяженностью не более 10 λ.
При выполнении мазоразмерной частицы с размерами более поперечных размеров области фокусировки излучения формирующей системы увеличиваются габариты устройства формирования изображения при сохранении качества концентрации акустического излучения частицей. При характерных размерах мезоразмерной частицы менее λ/2 локальная концентрация акустического поля вблизи поверхности частицы не возникает.
При относительной скорости звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде менее 0.5 поперечный размер локальной области концетрации поля становится порядка дифракционного предела и может быть обеспечен формирующей системой.
При относительной скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде более 0.83 локальная концентрация акустического поля возникает внутри частицы и не может быть использована для облучения исследуемого объекта.
На фиг. 1 схематически изображен сканирующий акустический микроскоп, работающий на прохождение.
Он содержит генератор 1, пьезоэлектрический преобразователь 2, звукопровод 3, акустическую линзу 4, мезоразмерную частицу 5, формируемую область повышенной концентрации акустической энергии и с высоким пространственным разрешением 6, исследуемый объект 7, жидкостную ячейку (иммерсионная среда) 8, приемный акустический элемент 9, устройство механического сканирования 10, видеоконтрольное устройство 11.
Устройство работает следующим образом.
Сканирующий акустический микроскоп содержит в качестве передающего акустического элемента звукопровод из плавленого кварца с пьезоэлектрическим преобразователем из LiNBO3 2, сферическую акустическую линзу 4, мезоразмерную частицу из рексалита в форме сферы или куба 5. Внешняя поверхность акустической линзы 4, мезоразмерная частица 4, исследуемый объект 7 и приемный акустический элемент 9 находятся в жидкостной ячейке 8. Сигнал с генератора 1 возбуждает пьезопреобразователь 2 на необходимой частоте. В фокальной плоскости акустической линзы 4 установлена мезоразмерная частица 5. Формируемая ею область повышенной концентрации акустической энергии и с высоким пространственным разрешением 6 сканируется исследуемый объект 7 с помощью сканирующего устройства 10. Приемный элемент 7, выполненный, например, из пьезополупроводникового материала, например, СdS. Принятый сигнал, синхронизированный со сканирующим устройством 10, подается на видеоконтрольное устройство 11.
Сравнение прототипа и предлагаемого устройства производилось на частоте 1 МГц с жидкостной ячейкой из воды при 25°С (скорость звука 1490 м/с), в материала частицы может использоваться рексолит (скорость звука 2311 м/с) относительная скорость звука 0.645, формы частиц сфера и куб с характерным размером 1.5 λ. Было установлено, что в предлагаемом устройстве достигнуто пространственное разрешение, превышающее пространственное разрешение по прототипу в 3-3.5 раза. Повышение пространственного разрешения в предлагаемом устройстве эквивалентно повышению частоты ультразвукового излучения в 3-3.5 раза в прототипе. Кроме того, повышение пространственного разрешения по предлагаемому способу приводит к одновременному повышению интенсивности акустического поля на объекте исследования без повышения интенсивности излучения источника акустического поля.

Claims (1)

  1. Сканирующий акустический микроскоп, содержащий передающий акустический элемент, включающий звукопровод, сферическую акустическую линзу, приемный акустический элемент, жидкостную ячейку, установленную между передающим и приемными элементами, а также системы сканирования исследуемого объекта и восстановления его изображения на видеоконтрольном устройстве, отличающийся тем, что в области фокусировки акустической линзы установлена мезоразмерная частица с характерным размером не более поперечного размера области фокусировки и не менее
    Figure 00000001
    /2, где
    Figure 00000002
    - длина волны используемого излучения в среде, со скоростью звука в материале частицы относительно скорости звука в окружающей среде, лежащего в диапазоне от 0.5 до 0.83.
RU2017112806U 2017-04-13 2017-04-13 Сканирующий акустический микроскоп RU172340U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017112806U RU172340U1 (ru) 2017-04-13 2017-04-13 Сканирующий акустический микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017112806U RU172340U1 (ru) 2017-04-13 2017-04-13 Сканирующий акустический микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU172340U1 true RU172340U1 (ru) 2017-07-04

Family

ID=59310370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017112806U RU172340U1 (ru) 2017-04-13 2017-04-13 Сканирующий акустический микроскоп

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU172340U1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2735916C1 (ru) * 2019-11-28 2020-11-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" Сканирующий акустический микроскоп
RU2747917C1 (ru) * 2020-10-21 2021-05-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий» (СГУГиТ) Акустический микроскоп
RU2756411C2 (ru) * 2020-03-04 2021-09-30 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" Сканирующий акустический микроскоп

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028933A (en) * 1974-02-15 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University Acoustic microscope
SU832449A1 (ru) * 1979-07-26 1981-05-23 Институт Радиотехники И Электроникиан Cccp Сканирующий акустический микроскоп
US4577504A (en) * 1983-04-22 1986-03-25 Hitachi, Ltd. Acoustic microscope
US4646573A (en) * 1985-04-26 1987-03-03 International Business Machines Corporation Scanning acoustic microscope

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028933A (en) * 1974-02-15 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University Acoustic microscope
SU832449A1 (ru) * 1979-07-26 1981-05-23 Институт Радиотехники И Электроникиан Cccp Сканирующий акустический микроскоп
US4577504A (en) * 1983-04-22 1986-03-25 Hitachi, Ltd. Acoustic microscope
US4646573A (en) * 1985-04-26 1987-03-03 International Business Machines Corporation Scanning acoustic microscope

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Derek C. Thomas, Kent L. Gee, and R. Steven Turley. A balloon lens: Acoustic scattering from a penetrable sphere // American Journal of Physics 77, 197 (2009). *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2735916C1 (ru) * 2019-11-28 2020-11-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" Сканирующий акустический микроскоп
RU2756411C2 (ru) * 2020-03-04 2021-09-30 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" Сканирующий акустический микроскоп
RU2747917C1 (ru) * 2020-10-21 2021-05-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий» (СГУГиТ) Акустический микроскоп

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4028933A (en) Acoustic microscope
US20140293737A1 (en) Acousto-optic image capture device
RU172340U1 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
JPS589063A (ja) 超音波顕微鏡
CN107913056B (zh) 一种实现任意超声场的方法
CN108593088B (zh) 一种表征球形聚焦超声场的聚焦纹影系统
JPS6224741B2 (ru)
CN111948297A (zh) 一种光声超声双模式高分辨显微成像系统及方法
JPS5816672B2 (ja) オンパケツゾウホウ オヨビ オンパケツゾウソウチ
WO2013183247A1 (ja) 音響光学撮像装置
Levin et al. Ultra resolution in acoustic imaging of bulk microstructure in solids
Fink Time reversal mirrors
RU2747917C1 (ru) Акустический микроскоп
RU175684U1 (ru) Акустический датчик
RU2359265C1 (ru) Устройство ультразвуковой интроскопии
SU832449A1 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
RU2654387C1 (ru) Способ формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в акустическом диапазоне длин волн
Lirette et al. Broadband wave packet dynamics of minimally diffractive ultrasonic fields from axicon and stepped fraxicon lenses
RU2756411C2 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
RU2735916C1 (ru) Сканирующий акустический микроскоп
WO2014174800A1 (ja) 音響光学撮像装置
Chandran et al. A Study on the Influence of Wave Scattering in Metamaterial-Based Super-Resolution Imaging of Defects in Materials
WO2023079601A1 (ja) 超音波検査装置、方法及びプログラム
Song et al. Bessel ultrasonic probe based on conical acoustic lens: simulation study
Meignen et al. Multi-element transducer dedicated to quantitative acoustic microscopy imaging