RU2743625C1 - Magnetic field transducer with functionally integrated structure - Google Patents
Magnetic field transducer with functionally integrated structure Download PDFInfo
- Publication number
- RU2743625C1 RU2743625C1 RU2020117645A RU2020117645A RU2743625C1 RU 2743625 C1 RU2743625 C1 RU 2743625C1 RU 2020117645 A RU2020117645 A RU 2020117645A RU 2020117645 A RU2020117645 A RU 2020117645A RU 2743625 C1 RU2743625 C1 RU 2743625C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- electrode
- collector
- dielectric
- base
- region
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 abstract description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/82—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of the magnetic field applied to the device
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10B—ELECTRONIC MEMORY DEVICES
- H10B61/00—Magnetic memory devices, e.g. magnetoresistive RAM [MRAM] devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one galvanomagnetic or Hall-effect element covered by groups H10N50/00 - H10N52/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при создании различного типа сенсоров, в частности магнитного поля.The invention relates to microelectronics and can be used to create various types of sensors, in particular a magnetic field.
Известны аналоги - полупроводниковые сенсоры магнитного поля, использующие отклонения магнитным полем траектории диффузионного движения неосновных носителей заряда (далее ПСМПД) [1. Козлов А.В., Королёв М.А., Тихонов Р.Д., Черемисов А.А., «Планарный биполярный магнитотранзистор», Патент РФ 2439748; 2. R.Popovic, H.P.Bakes / Sensitive magnetotransistor magnetic field sensor // Патент США 4,700,211; 3. L.W. Davies, M.S. Wells Magneto - transistors incorporated in an IC // Proceding IREE Australia, 1971, №6, p. 235-238; 4. Козлов А.В., Тихонов Р.Д. «Полупроводниковый магнитный преобразователь Патент РФ 2284612] в базе биполярных транзисторов.Known analogues- semiconductor magnetic field sensors that use the deviations of the magnetic field of the trajectory of the diffusion motion of minority charge carriers (hereinafter PSMPD) [1. Kozlov AV, Korolev MA, Tikhonov R.D., Cheremisov AA, "Planar bipolar magnetotransistor", RF Patent 2439748; 2.R. Popovic, H.P. Bakes / Sensitive magnetotransistor magnetic field sensor // US Patent 4,700,211; 3. L.W. Davies, M.S. Wells Magneto - transistors incorporated in an IC // Proceding IREE Australia, 1971, no. 6, p. 235-238; 4. Kozlov A.V., Tikhonov R.D. "Semiconductor magnetic converter RF Patent 2284612]in the base of bipolar transistors.
Основой известных конструкций ПСМПД [1. Козлов А.В., Королёв М.А., Тихонов Р.Д., Черемисов А.А., «Планарный биполярный магнитотранзистор», Патент РФ 2439748; 2. R.Popovic, H.P.Bakes / Sensitive magnetotransistor magnetic field sensor // Патент США 4,700,211; 3. L.W. Davies, M.S. Wells Magneto - transistors incorporated in an IC // Proceding IREE Australia, 1971, №6, p. 235-238; 4. Козлов А.В., Тихонов Р.Д. «Полупроводниковый магнитный преобразователь Патент РФ 2284612] является горизонтальный биполярный транзистор, расположенный на поверхности подложки, на областях эмиттера, коллектора и базы которого размещены соответствующие электроды, конструкция также содержит диэлектрик и нагрузочный резистор.The basis of the well-known structures of the PSMPD [1. Kozlov AV, Korolev MA, Tikhonov R.D., Cheremisov AA, "Planar bipolar magnetotransistor", RF Patent 2439748; 2. R. Popovic, H. P. Bakes / Sensitive magnetotransistor magnetic field sensor // US Patent 4,700,211; 3. L.W. Davies, M.S. Wells Magneto - transistors incorporated in an IC // Proceding IREE Australia, 1971, no. 6, p. 235-238; four. Kozlov A.V., Tikhonov R.D. "Semiconductor magnetic converter RF Patent 2284612] is a horizontal bipolar transistor located on the surface of the substrate, on areas emitter, collector and base whom the corresponding electrodes are placed, the structure also contains a dielectric and a load resistor.
Недостатками аналогов является необходимость преобразования выходного сигнала, аналогового в цифровой код, что существенно усложняет их конструкцию и технологию изготовления, увеличивает энергию потребления и уменьшает точность измерения магнитного поля.The disadvantages of analogs are the need to convert the output signal, analog into a digital code, which significantly complicates their design and manufacturing technology, increases the energy consumption and reduces the accuracy of measuring the magnetic field.
Этих недостатков частично лишена наиболее близкая, по технической сущности, конструкция, описанная в патенте [4. Козлов А.В., Тихонов Р.Д. «Полупроводниковый магнитный преобразователь Патент РФ 2284612], которая взята за прототип. Ее электрическая схема конструкция и топология показаны соответственно на фиг.1, фиг.2, фиг.3.These disadvantages are partially devoid of the closest, in technical essence, the design described in the patent [4. Kozlov A.V., Tikhonov R.D. "Semiconductor magnetic converter RF Patent 2284612], which is taken as a prototype. Its electrical circuit design and topology are shown respectively in figure 1, figure 2, figure 3.
Электрическая схема прототипа содержит n-р-n(р-n-р) биполярный транзистор, эмиттер которого подсоединен к общей шине питания, база к управляющей шине, коллектор к выходной шине и через нагрузочный резистор к шине питания.The electrical circuit of the prototype contains an n-p-n (p-n-p) bipolar transistor, the emitter of which is connected to a common power bus, a base to a control bus, a collector to an output bus and through a load resistor to a power bus.
Конструкция прототипа показанная на фиг.2 представляет собой конструкцию горизонтального биполярного транзистора, расположенного на поверхности подложки, который содержит диэлектрик, области коллектора и эмиттера n (p) типа проводимости и область базы р (n) типа проводимости, на поверхности которых размещены соответствующие электроды, т. е. на области эмиттере - электрод общей шины, на области базы электрод управляющей шины, на области коллектора - электрод выходной шины, электрод шины питания и нагрузочный резистор. На фиг.3 показана топология прототипа. The design of the prototype shown in Fig. 2 is the design of a horizontal bipolar transistor located on the surface of the substrate, which contains a dielectric, collector and emitter regions of n (p) type of conductivity and a base region of p (n) type of conductivity, on the surface of which the corresponding electrodes are placed, that is, on the emitter area - the common bus electrode, on the base area - the control bus electrode, on the collector area - the output bus electrode, the power bus electrode and the load resistor. Figure 3 shows the topology of the prototype.
Данное устройство также имеет недостатки, заключающиеся в аналоговом виде сигнала, в непрерывном по времени потреблении энергии, и ограниченной шумами точности измерения магнитного поля.This device also has the disadvantages of an analog signal, time-consuming power consumption, and noise-limited magnetic field measurement accuracy.
Техническим эффектом изобретения является повышение точности измерения и уменьшение энергии потребления.The technical effect of the invention is to improve the measurement accuracy and reduce energy consumption.
Данные эффекты достигаются тем, что:These effects are achieved by:
Электрическая схема предлагаемого ПСМПД (фиг.4) содержит двух коллекторный n-р-n (р-n-р) биполярный транзистор, эмиттер которого подсоединен к общей шине питания, база соединена со вторым выводом конденсатора и первым выводом дополнительного резистора, второй вывод которого, подсоединен к общей шине, первый вывод конденсатора соединен с управляющей шиной, первый коллектор транзистора подсоединен к выходной шине и через нагрузочный резистор к шине питания, дополнительный резистор, первый вывод которого подсоединен к общей шине, а второй к базе транзистора, а второй коллектор биполярного транзистора соединен с общей шиной питания.The electrical circuit of the proposed PSMPD (figure 4) contains a two-collector n-p-n (p-n-p) bipolar transistor, the emitter of which is connected to a common power bus, the base is connected to the second terminal of the capacitor and the first terminal of the additional resistor, the second terminal of which , connected to the common bus, the first terminal of the capacitor is connected to the control bus, the first collector of the transistor is connected to the output bus and through the load resistor to the power bus, an additional resistor, the first terminal of which is connected to the common bus, and the second to the base of the transistor, and the second collector of the bipolar the transistor is connected to a common power bus.
Конструкция ПСМПД (фиг.5), топология (фиг.6) содержит, диэлектрик расположенный на поверхности области базы, на поверхности которого расположен дополнительный электрод управляющей шины образующий с диэлектриком и областью базы функционально интегрированную структуру МОП конденсатора, при этом сопротивление подложки образует резистор базы, на поверхности подложки также расположена область дополнительного - второго коллектора n (р) типа проводимости, а на его поверхности расположен соответствующий электрод второго коллектора, подсоединенный к шине питания.The design of the PSMPD (Fig. 5), the topology (Fig. 6) contains a dielectric located on the surface of the base region, on the surface of which an additional electrode of the control bus is located forming a functionally integrated structure of the MOS capacitor with the dielectric and the base region, while the substrate resistance forms the base resistor , on the surface of the substrate there is also a region of an additional - second collector of n (p) type of conductivity, and on its surface there is a corresponding electrode of the second collector connected to the power bus.
Принцип действияOperating principle
Физический принцип действия прототипа и изобретения аналогичен и основан на отклонении траектории движения электронов магнитным полем (закон Лоренца).The physical principle of operation of the prototype and the invention is similar and is based on the deviation of the trajectory of motion of electrons by a magnetic field (Lorentz's law).
Данное обстоятельство, при наличии магнитного поля, приводит к увеличению расстояния проходящего электронами от области эмиттера до области коллектора, т.е. к увеличению эффективной толщиной базы транзистора, и соответственно к пропорциональному уменьшению тока коллектора горизонтального биполярного транзистора, поскольку его величина связана квадратичной зависимостью с эффективной толщиной базы транзистораThis circumstance, in the presence of a magnetic field, leads to an increase in the distance of electrons passing from the emitter region to the collector region, i.e. to an increase in the effective thickness of the base of the transistor, and, accordingly, to a proportional decrease in the collector current of a horizontal bipolar transistor, since its value is related by a quadratic dependence with the effective thickness of the base of the transistor
Ik = Iб×βI k = I b × β
где β = τ0∙D п / Wэфф 2 where β = τ 0 ∙ D p / W eff 2
где β - коэффициент усиления транзистора,where β is the gain of the transistor,
Ik - ток коллектора,I k - collector current,
Iб - ток базы;I b - base current;
τ0 - время жизни неосновных носителей заряда;τ 0 is the lifetime of minority charge carriers;
D п - коэффициент диффузии; D p - diffusion coefficient;
Wэфф - эффективная толщина базы.W eff - effective base thickness.
Принцип действия изобретения (см. фиг.7, фиг.8) состоит в подаче на вход сенсора (конденсатора - C) импульсного прямоугольного импульсного напряжения - сигнала, который дифференцируется - R d∙C цепочкой. В результате этого образуются «короткие» отрицательный и положительный импульсы. При этом положительный импульс (в случае n-р-n) биполярного транзистора) полностью открывает транзистор, до режима глубокого насыщения, в котором он находится в течение времени - τн, которое должно превышать время перезарядки входной емкости через дополнительное сопротивление R d∙C:The principle of operation of the invention (see Fig. 7, Fig. 8) consists in applying to the input of the sensor (capacitor - C) a pulsed rectangular pulse voltage - a signal that is differentiated - R d ∙ C by a chain. As a result, "short" negative and positive impulses are formed. In this case, a positive impulse (in the case of n - p - n) of a bipolar transistor) completely opens the transistor, to the deep saturation mode, in which it stays for a time - τ n , which should exceed the recharge time of the input capacitance through an additional resistance R d ∙ C :
τн = I б∙L n I б (τ0∙ D п / Wэфф 2)∙I k τ n = I b ∙ L n I b (τ 0 ∙ D p / W eff 2 ) ∙ I k
В этом случае мы имеем зависимость времени насыщения τн, которое легко и точно измеряется на осциллографе от эффективной толщины базы, соответственно величины магнитного поля – В, т.е. τн = F (В).In this case, we have a dependence of the saturation time τ n , which is easily and accurately measured on an oscilloscope on the effective base thickness, respectively, the magnetic field strength - B, i.e. τ n = F (B).
При этом важно, что чувствительность сенсора магнитного поля может быть значительно улучшена в случае организации его в виде последовательно соединенной цепочки пиксель, в которой вход каждой пиксели соединен с выходом предыдущей (фиг.7). В этом случае суммируются времена сигналов пиксель сенсора, при этом шум сенсора уменьшается пропорционально корню квадратному от количества пиксель цепочки.It is important here that the sensitivity of the magnetic field sensor can be significantly improved if it is organized in the form of a series-connected pixel chain, in which the input of each pixel is connected to the output of the previous one (Fig. 7). In this case, the times of the sensor pixel signals are summed, while the sensor noise decreases in proportion to the square root of the number of pixels in the chain.
При этом мощность потребления энергии сенсором практически не зависит от количества ее элементов - пиксель.In this case, the power consumption of energy by the sensor practically does not depend on the number of its elements - a pixel.
Второй дополнительный коллектор ПСМПД предназначен для сбора «побочного сигнала» - неосновных носителей, которые не участвуют в формировании выходного сигнала.The second additional PSMPD collector is designed to collect the "side signal" - minor carriers that do not participate in the formation of the output signal.
Электрическая схема изобретения представлена на фиг.4, состоит из двухколлекторного биполярного транзистора, база - 1 которого через дополнительное сопротивление - 2 соединена с управляющей шиной - 8 и через конденсатор - 4 с входной шиной - 5, его эмиттер - 6 подключен к общей шине - 3, первый коллектор - 11 подсоединен к выходной шине - 7 и через нагрузочный резистор - 9 к шине питания - 10, второй коллектор подсоединен к шине питания - 10.The electrical circuit of the invention is shown in figure 4, consists of a two-collector bipolar transistor, the base - 1 of which is connected through an additional resistance - 2 to the control bus - 8 and through a capacitor - 4 to the input bus - 5, its emitter - 6 is connected to the common bus - 3, the first collector - 11 is connected to the output bus - 7 and through the load resistor - 9 to the power bus - 10, the second collector is connected to the power bus - 10.
Конструкция представлена на фиг.5, а топология на фиг.6, которая содержит двухколлекторный горизонтальный биполярный транзистор n-р-n (р-n-р) типа, расположенный на поверхности слаболегированной подложки - 13 р (n) типа проводимости, содержащий, диэлектрик - 14, области n (р) типа проводимости, первого коллектора - 15 и второго дополнительного коллектора - 16, область эмиттера - 17 n+ (р + ) типа проводимости и область базы - 18 р (n) типа проводимости на области эмиттера - 19 размещен электрод общей шины - 20, на подконтактной области базы р+ типа - 18 размещен электрод общей шины - 20, на области первого коллектора - электрод выходной шины - 21 на области дополнительного второго коллектора - электрод шины питания - 22, на поверхности подложки также размещены нагрузочный резистор - 23, соединенный соответственно первым выводом с электродом первого коллектора, вторым с электродом шины питания - 24, при этом на поверхности области подложки - 1, расположен тонкий диэлектрик - 25, а на его поверхности расположен дополнительный электрод управляющей шины - 26, образующий с диэлектриком и областью базы функционально интегрированную структуру МОП конденсатора, при этом сопротивление подложки - 13 образует резистор базы.The design is shown in Fig. 5, and the topology in Fig. 6, which contains a two-collector horizontal bipolar transistor n-R-n (p-n-p) type, located on the surface of a lightly doped substrate - 13 p (n) type of conductivity, containing a dielectric - 14, regions of n (p) conductivity type, the first collector - 15 and the second additional collector - 16, emitter region - 17 n+ (R + ) type of conductivity and the base area - 18 p (n) type of conductivity on the emitter area - 19 there is an electrode of the common bus - 20, on the contact area of the base p+ type - 18 the electrode of the common bus is placed - 20, on the area of the first collector - the electrode of the output bus - 21 on the area of the additional second collector - the power bus electrode - 22, a load resistor - 23 is also placed on the surface of the substrate, connected respectively by the first terminal to the electrode of the first collector, the second to the power bus electrode - 24, while on the surface of the substrate area - 1, there is a thin dielectric - 25, and on its surface there is an additional electrode of the control bus - 26, which forms a functionally integrated structure of the MOS capacitor with the dielectric and the base area, while the substrate resistance - 13 forms the base resistor.
Технология изготовления представлена на фиг.9, фиг.10, фиг.11, фиг.12, фиг.13.Manufacturing technology shown in Fig. 9, Fig. 10, Fig. 11,Fig. 12, Fig. 13.
Пример практической реализации электрическая схема цепочки пиксель сенсора, экспериментально исследовалась макете, который был собран из кремниевых транзисторов КТ315, конденсаторов 0,1 мкФ и сопротивлений ОМТ с номиналами 1 кОм нагрузочный и 22 кОм дополнительный.An example of practical implementation is an electrical circuit of a pixel sensor chain, a prototype was experimentally investigated, which was assembled from KT315 silicon transistors, 0.1 μF capacitors and OMT resistances with 1 kΩ load and 22 kΩ additional.
Краткое описание чертежейBrief Description of Drawings
Фиг.1 Электрическая схема прототипа.Fig. 1 Electrical diagram of the prototype.
Фиг.2 Конструкция прототипа.Figure 2 Design of the prototype.
Фиг.3 Топология прототипа.Fig. 3 Prototype topology.
Фиг.4 Электрическая схема изобретения.Fig.4 Electrical diagram of the invention.
Фиг.5 Конструкция изобретения.Fig. 5 Construction of the invention.
Фиг.6 Топология изобретения.Fig. 6 Topology of the invention.
Фиг.7 Цепочка преобразователя магнитного поля.Fig. 7 Magnetic field transducer chain.
Фиг.8 Временные зависимости входного и выходного импульса от времени.Fig. 8 Time dependences of the input and output pulse from time.
Фиг.9 Формирование коллектора диффузией фосфора.Fig.9 Formation of the reservoir by phosphorus diffusion.
Фиг.10 Формирование контактов области - ионное легирование мышьяком.Fig. 10 Formation of area contacts - ion doping with arsenic.
Фиг.11 формирование МОП структуры - тонкое окисление.Fig. 11 MOS structure formation - fine oxidation.
Фиг.12 Формирование контактов.Fig. 12 Formation of contacts.
Фиг.13 Осаждение Al.Fig. 13 Deposition of Al.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2020117645A RU2743625C1 (en) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | Magnetic field transducer with functionally integrated structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2020117645A RU2743625C1 (en) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | Magnetic field transducer with functionally integrated structure |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2743625C1 true RU2743625C1 (en) | 2021-02-20 |
Family
ID=74666319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2020117645A RU2743625C1 (en) | 2020-05-28 | 2020-05-28 | Magnetic field transducer with functionally integrated structure |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2743625C1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2127007C1 (en) * | 1998-02-17 | 1999-02-27 | Научно-производственный комплекс "Технологический центр" Московского института электронной техники | Magnetic-field sensing bipolar transistor |
RU2173916C1 (en) * | 2000-10-11 | 2001-09-20 | Московский государственный институт стали и сплавов (технологический университет) | Bipolar transistor |
RU2284612C2 (en) * | 2004-11-10 | 2006-09-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный институт электронной техники (технический университет) | Semiconductor magnetic transducer |
UA77810C2 (en) * | 2004-12-13 | 2007-01-15 | Univ Vinnytsia Nat Tech | Microelectronic transducer for measuring magnetic induction |
RU2515377C1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-05-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (МИЭТ) | Orthogonal magnetotransistor converter |
-
2020
- 2020-05-28 RU RU2020117645A patent/RU2743625C1/en active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2127007C1 (en) * | 1998-02-17 | 1999-02-27 | Научно-производственный комплекс "Технологический центр" Московского института электронной техники | Magnetic-field sensing bipolar transistor |
RU2173916C1 (en) * | 2000-10-11 | 2001-09-20 | Московский государственный институт стали и сплавов (технологический университет) | Bipolar transistor |
RU2284612C2 (en) * | 2004-11-10 | 2006-09-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный институт электронной техники (технический университет) | Semiconductor magnetic transducer |
UA77810C2 (en) * | 2004-12-13 | 2007-01-15 | Univ Vinnytsia Nat Tech | Microelectronic transducer for measuring magnetic induction |
RU2515377C1 (en) * | 2012-12-11 | 2014-05-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (МИЭТ) | Orthogonal magnetotransistor converter |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR940001298B1 (en) | Hall element | |
JP3321481B2 (en) | Position detector and position converter-encoder | |
US6897081B2 (en) | Method for fabricating a monolithic chip including pH, temperature and photo-intensity multi-sensors and a readout circuit | |
US11610880B2 (en) | Power MOS device having an integrated current sensor and manufacturing process thereof | |
US5446307A (en) | Microelectronic 3D bipolar magnetotransistor magnetometer | |
JPS6326501A (en) | Position sensor-assembly and manufacture thereof | |
US4745274A (en) | Semiconductor light detecting integrated circuit | |
RU2743625C1 (en) | Magnetic field transducer with functionally integrated structure | |
JPS5947467B2 (en) | Semiconductor element for temperature sensor | |
CN115172406A (en) | Vertical Hall device array and preparation method thereof | |
EP0162165A2 (en) | A Hall effect device and method for fabricating such a device | |
Blanchard et al. | Cylindrical Hall device | |
EP0305978B1 (en) | Magnetoelectric element and magnetoelectric apparatus | |
RU2550756C1 (en) | Three-collector bipolar magnetotransistor with orthogonal flows of charge carriers | |
JPH0531307B2 (en) | ||
CN112349715A (en) | Power semiconductor device with temperature and voltage detection function and manufacturing method thereof | |
RU2437185C2 (en) | Integral magnetotransistor sensor with digital output | |
Nagy et al. | 3D magnetic-field sensor using only a pair of terminals | |
US6768139B2 (en) | Transistor configuration for a bandgap circuit | |
JPH0554628B2 (en) | ||
RU2239916C1 (en) | Magnetic field sensing semiconductor device | |
CN110914995B (en) | Semiconductor device with single electron counting capability including avalanche bipolar transistor | |
CN112542518B (en) | Semiconductor structure and capacitance detection method thereof | |
KR100705215B1 (en) | Image sensor with Test pattern and the method for Test | |
RU2825073C1 (en) | Avalanche transistor |