RU2742694C1 - Two-wave laser displacement meter - Google Patents
Two-wave laser displacement meter Download PDFInfo
- Publication number
- RU2742694C1 RU2742694C1 RU2020119854A RU2020119854A RU2742694C1 RU 2742694 C1 RU2742694 C1 RU 2742694C1 RU 2020119854 A RU2020119854 A RU 2020119854A RU 2020119854 A RU2020119854 A RU 2020119854A RU 2742694 C1 RU2742694 C1 RU 2742694C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- beam splitter
- receiving device
- laser
- polarizing beam
- displacement meter
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02056—Passive reduction of errors
- G01B9/02058—Passive reduction of errors by particular optical compensation or alignment elements, e.g. dispersion compensation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к лазерной интерферометрии и может быть использовано для измерения с высокой точностью линейных перемещений объектов при неизвестном профиле температуры.The invention relates to measuring technology, namely to laser interferometry and can be used to measure with high accuracy linear displacements of objects with an unknown temperature profile.
Наиболее близким к предлагаемому устройству является лазерный измеритель перемещений, состоящий из оптически связанных и расположенных последовательно блока формирования лазерного одночастотного излучения, неполяризационного светоделителя, двух уголковых отражателей опорного и измерительного плечей, приемного устройства и электронно-вычислительного блока (Транспортируемый лазерный интерферометр. В.М. Епихин, Е.А. Лавров, М.М. Мазур, Ю.А. Судденок, В.Н. Шорин. - Альманах современной метрологии, Менделеево, 2015, №4, с. 54-66). Данный вариант интерферометра принят за прототип.The closest to the proposed device is a laser displacement meter, consisting of an optically coupled and sequentially located unit for the formation of laser single-frequency radiation, a non-polarizing beam splitter, two corner reflectors of the reference and measuring arms, a receiving device and an electronic computing unit (Transportable laser interferometer. V.M. Epikhin, EA Lavrov, MM Mazur, YA Suddenok, VN Shorin. - Almanac of modern metrology, Mendeleevo, 2015, No. 4, pp. 54-66). This version of the interferometer is taken as a prototype.
Недостаток такого лазерного измерителя перемещений заключается в том, что необходимо измерять метеопараметры вдоль всей трассы с высокой точностью.The disadvantage of such a laser displacement meter is that it is necessary to measure meteorological parameters along the entire route with high accuracy.
Целью изобретения является разработка лазерного измерителя перемещений для измерений при неизвестном профиле температуры на трассе измерения.The aim of the invention is to develop a laser displacement meter for measurements with an unknown temperature profile on the measurement path.
Технический результат состоит в упрощении проведения и условий измерений.The technical result consists in simplifying the conduct and conditions of measurements.
Указанный технический результат достигается тем, что в лазерном измерителе перемещений применяется двухволновый дисперсионный метод определения показателя преломления воздуха [1, 2]. The specified technical result is achieved by the fact that a two-wave dispersion method for determining the refractive index of air is used in the laser displacement meter [1, 2].
В известном лазерном измерителе перемещений, состоящем из оптически связанных и расположенных последовательно блока формирования лазерного излучения, неполяризационного светоделителя, двух уголковых отражателей опорного и измерительного плечей, приемного устройства, электронно-вычислительного блока, в устройстве используется источник излучения с двумя длинами волн, на уголковом отражателе опорного плеча дополнительно установлен пьезоактюатор с псевдослучайным возбуждением, а также перед приемным устройством установлен спектральный делитель пучков, причем приемное устройство выполнено в виде двух узлов, каждый из которых состоит из поляризационного светоделителя и двух фотоприемников.In the known laser displacement meter, consisting of an optically coupled and sequentially located unit for the formation of laser radiation, a non-polarizing beam splitter, two corner reflectors of the reference and measuring arms, a receiving device, an electronic computing unit, the device uses a radiation source with two wavelengths, on a corner reflector the supporting arm is additionally equipped with a piezo actuator with pseudo-random excitation, and a spectral beam splitter is installed in front of the receiving device, and the receiving device is made in the form of two units, each of which consists of a polarizing beam splitter and two photodetectors.
Схема предлагаемого лазерного измерителя перемещений изображена на фиг. 1.The scheme of the proposed laser displacement meter is shown in Fig. one.
Лазерный измеритель перемещений состоит блока формирования лазерного излучения (на чертеже не оцифрован) содержащего высокостабильный лазерный излучатель 1 на основе Nd:YVO4/KTP лазера, излучающий на двух длинах волн 532 нм и 1064 нм, у которого частота генерации на длине волны 532 нм стабилизирована йодной ячейкой [3]. Поляризация на длине волны 532 нм - линейная, вертикальная, а на длине волны 1064 нм - линейная, под углом 45°. Далее расположена призма 2, четвертьволновая фазовая пластина 3 (532 нм), расширитель пучка 4, поляризационный куб 5 (532 нм), неполяризационный светоделитель 6.The laser displacement meter consists of a laser radiation formation unit (not digitized in the drawing) containing a highly stable laser emitter 1 based on an Nd: YVO4 / KTP laser, emitting at two
С левой стороны от неполяризационного светоделителя расположен уголковый отражатель опорного плеча интерферометра (малый ретроотражатель) 7, в торце которого установлен пьезоактюатор 8 с псевдослучайным возбуждением. После неполяризационного светоделителя установлена фазовая пластина λ/4 (532 нм и 1064 нм) 9 и перископ 10. Уголковый отражатель измерительного плеча интерферометра (большой ретроотражатель) 11 размещается на измерительной трассе (передвижной каретке). С правой стороны от неполяризационного светоделителя расположен спектральный делитель пучков 12 и приемное устройство, включающее в себя поляризационные светоделители 13,14 и четыре фотодиода ФД1-ФД4. Сигналы, полученные от фотодиодов, обрабатываются электронно-вычислительным блоком (на чертеже не показан). Устройство работает следующим образом.On the left side of the non-polarizing beam splitter there is a corner reflector of the interferometer support arm (small retroreflector) 7, at the end of which a piezo actuator 8 with pseudo-random excitation is installed. After the non-polarizing beam splitter, a λ / 4 phase plate (532 nm and 1064 nm) 9 and a
Линейно поляризованное излучение лазера 1 проходит через призму 2, используемую для коррекции направления луча. При помощи четвертьволновой фазовой пластины (532 нм) преобразуется в излучение с круговой поляризацией (532 нм). Далее световой пучок при помощи расширителя пучка 4 увеличивается в диаметре для обеспечения необходимой величины дифракционной расходимости пучка. Проходит через поляризационный куб 5 (532 нм), повернутом под углом 45°. Неполяризационный светоделитель 6 разделяет пучок на два пучка, в каждом из которых присутствует компонента излучения с s- и р-поляризацией. Один пучок направляется в малый ретроотражатель 7, другой - в большой ретроотражатель 11. Для обеспечения возможности регистрации счета интерференционных полос для двух длин волн в измерительном плече интерферометра установлена фазовая пластина λ/4 (532 нм и 1064 нм) 9, обеспечивающая фазовый сдвиг π/2 между компонентами излучения с s- и р-поляризацией. Световой пучок, распространяющийся в измерительном плече интерферометра, после отражения от большого ретроотражателя через перископ 10 снова попадает в неполяризационный светоделитель 6, где происходит его интерференция с пучком света, распространяющимся в малом ретроотражателе. Далее при помощи спектрального делителя пучков 12 интерферировавшие пучки разделяются на два пучка - 1064 нм и 532 нм. При поляризационном разделении интерферировавших пучков светоделителями 13,14 четырьмя фотодиодами ФД1-ФД4 регистрируются четыре интерферограммы по две для каждой длины волны, сдвинутые по фазе на π/2. Реверсивный счет интерференционных полос с учетом этих сигналов позволяет учитывать истинное направление движения большого ретроотражателя, а также исключать возможные вибрации и шумы из счета интерференционных полос.Linearly polarized laser radiation 1 passes through a
В торце малого ретроотражателя находится устройство, создающее перемещения на величину деформации пьезоэлемента - пьезоактюатор. Пьезоактюатор используется в полосе частот от 10 до 150 Гц с амплитудой 2-3 длины волны лазерного излучения. Измерения перемещений считываются от 100 до 10000 раз, что позволяет при обработке результатов измерений при накоплении получить величины с дробными значениями от счета интерференционных полос. При псевдослучайном возбуждении это перемещение будет также псевдослучайным. Как следствие, СКО измерений перемещений уменьшается в отсчетов, что позволяет получить разрешение по измерению перемещений до 10-4 λ, а СКО измерений перемещений от 10-2 λ до 2⋅10-1 λ.At the end of the small retroreflector there is a device that creates displacements by the amount of deformation of the piezoelectric element - a piezoactuator. The piezo actuator is used in the frequency range from 10 to 150 Hz with an amplitude of 2-3 wavelengths of laser radiation. Displacement measurements are read from 100 to 10,000 times, which makes it possible to obtain values with fractional values from the counting of interference fringes when processing measurement results during accumulation. With pseudo-random excitation, this movement will also be pseudo-random. As a consequence, the standard deviation of the displacement measurements decreases by counts, which makes it possible to obtain a resolution for measuring displacements up to 10 -4 λ, and the standard deviation of measurements of displacements from 10 -2 λ to 2⋅10 -1 λ.
С помощью предложенного лазерного измерителя перемещений снижаются требования к условиям проведения измерений по сравнению с прототипом.With the help of the proposed laser displacement meter, the requirements for the measurement conditions are reduced in comparison with the prototype.
Этим достигается поставленный технический результат.This achieves the set technical result.
Список используемой литературыBibliography
1. М.Т. Прилепин. Труды ЦНИИГАиК, вып. 114, 1957, стр. 127.1. M.T. Prilepin. Proceedings of TsNIIGAiK, vol. 114, 1957, p. 127.
2. М.Т. Прилепин. Геодезия и аэрофотосъемка. Изв. ВУЗов, 1957, вып. 2.2. M.T. Prilepin. Geodesy and aerial photography. Izv. Universities, 1957, no. 2.
3. М.Н. Скворцов, М.В. Охапкин, А.Ю. Невский, С.Н. Багаев. «Оптический стандарт частоты на основе Nd:YAG - лазера, стабилизированного по резонансам насыщенного поглощения в молекулярном йоде с использованием второй гармоники излучения.» КЭ, т. 34, №12, 2004, с. 1101-1106.3. M.N. Skvortsov, M.V. Okhapkin, A. Yu. Nevsky, S.N. Bagaev. "Optical frequency standard based on Nd: YAG - laser stabilized by resonances of saturated absorption in molecular iodine using the second harmonic of radiation." KE, t. 34, No. 12, 2004, p. 1101-1106.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2020119854A RU2742694C1 (en) | 2020-06-08 | 2020-06-08 | Two-wave laser displacement meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2020119854A RU2742694C1 (en) | 2020-06-08 | 2020-06-08 | Two-wave laser displacement meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2742694C1 true RU2742694C1 (en) | 2021-02-09 |
Family
ID=74554753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2020119854A RU2742694C1 (en) | 2020-06-08 | 2020-06-08 | Two-wave laser displacement meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2742694C1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1017915A1 (en) * | 1981-05-19 | 1983-05-15 | Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы | Device for measuring displacement |
SU938660A1 (en) * | 1980-05-05 | 1985-03-15 | Московский Институт Инженеров Геодезии,Аэрофотосъемки И Картографии | Device for remote measuring of distances |
JP3037949B1 (en) * | 1999-06-14 | 2000-05-08 | 財団法人韓国科学技術研究院 | High precision ring laser interferometer and optical sensing device using external resonator type ring laser |
-
2020
- 2020-06-08 RU RU2020119854A patent/RU2742694C1/en active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU938660A1 (en) * | 1980-05-05 | 1985-03-15 | Московский Институт Инженеров Геодезии,Аэрофотосъемки И Картографии | Device for remote measuring of distances |
SU1017915A1 (en) * | 1981-05-19 | 1983-05-15 | Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы | Device for measuring displacement |
JP3037949B1 (en) * | 1999-06-14 | 2000-05-08 | 財団法人韓国科学技術研究院 | High precision ring laser interferometer and optical sensing device using external resonator type ring laser |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
V.M. Epikhin et al. "TRANSPORTABLE LASER INTERFEROMETER", Almanac of modern metrology, Mendeleevo, 2015, N4, pp. 54-66. * |
В.М. Епихин и др. "ТРАНСПОРТИРУЕМЫЙ ЛАЗЕРНЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР", Альманах современной метрологии, Менделеево, 2015, N4, стр. 54-66. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kimbrough et al. | Low-coherence vibration insensitive Fizeau interferometer | |
CN102364298A (en) | Displacement detecting device | |
CN106768280B (en) | Multi-wavelength lens-free Fourier transform digital holography-based vibration detection device | |
JPH05500712A (en) | optical measuring device | |
CN101324421A (en) | Synchronous phase-shift fiso interferometer | |
WO2022105533A1 (en) | Interferometer displacement measurement system and method | |
US20160223317A1 (en) | Displacement detection apparatus | |
CN102003935A (en) | Environment compensation method for measurement employing laser tracker | |
EP0244275A2 (en) | Angle measuring interferometer | |
CN102252764B (en) | Laser wavelength real-time measurement device | |
Czarske et al. | Birefringent Nd: YAG microchip laser used in heterodyne vibrometry | |
CN110319939A (en) | Polarize the short-coherence light source system and experimental method of phase shift combination PZT phase shift | |
RU2742694C1 (en) | Two-wave laser displacement meter | |
CN108627084B (en) | Laser instrument wavelength calibration system based on static michelson interferometer | |
CN111562002B (en) | High-flux high-resolution high-contrast polarization interference spectrum imaging device and method | |
JP2006064451A (en) | Interferometer | |
JP3410802B2 (en) | Interferometer device | |
CN110966939B (en) | Interferometric measuring device, measuring method and photoetching equipment | |
JP2555726Y2 (en) | Air refractive index measuring device | |
Lazar et al. | Interferometry with direct compensation of fluctuations of refractive index of air | |
JP4613310B2 (en) | Surface shape measuring device | |
JP2019132859A (en) | Displacement detector | |
JP3499044B2 (en) | Micro displacement measurement method and device | |
RU2329524C2 (en) | Laser seismometer | |
JP2592254B2 (en) | Measuring device for displacement and displacement speed |