RU2713008C1 - Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе - Google Patents

Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе Download PDF

Info

Publication number
RU2713008C1
RU2713008C1 RU2019132757A RU2019132757A RU2713008C1 RU 2713008 C1 RU2713008 C1 RU 2713008C1 RU 2019132757 A RU2019132757 A RU 2019132757A RU 2019132757 A RU2019132757 A RU 2019132757A RU 2713008 C1 RU2713008 C1 RU 2713008C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
plasma
temperature
nitriding
nitrogen
solid phase
Prior art date
Application number
RU2019132757A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2713008C9 (ru
Inventor
Андрей Викторович Буташин
Махач Хайрудинович Гаджиев
Владимир Михайлович Каневский
Арсен Эмирбегович Муслимов
Александр Семенович Тюфтяев
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью "АГНИ-К"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью "АГНИ-К" filed Critical Общество с ограниченной ответственностью "АГНИ-К"
Priority to RU2019132757A priority Critical patent/RU2713008C9/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2713008C1 publication Critical patent/RU2713008C1/ru
Publication of RU2713008C9 publication Critical patent/RU2713008C9/ru

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C4/00Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge
    • C23C4/04Coating by spraying the coating material in the molten state, e.g. by flame, plasma or electric discharge characterised by the coating material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C8/00Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals
    • C23C8/06Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals using gases
    • C23C8/36Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals using gases using ionised gases, e.g. ionitriding

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Solid-Phase Diffusion Into Metallic Material Surfaces (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области термо-химической обработки материалов. Способ плазменного азотирования оксида кремния в твердой фазе в контролируемой среде включает воздействие на упомянутый оксид кремния низкотемпературной азотной плазмой при атмосферном давлении в течение 7-10 секунд. Низкотемпературную азотную плазму генерируют плазмотроном постоянного тока со среднемассовой температурой плазменного потока 7÷10 кK. Обеспечивается значительное уменьшение, примерно на 3 порядка, времени азотирования оксида цинка в твердой фазе и получение высоких эксплуатационных характеристик оксидных соединений. 1 ил.
.

Description

Изобретение относится к области термо-химической обработки материалов, находящихся в твердой фазе в контролируемой среде, путем воздействия низкотемпературной плазмы азота атмосферного давления.
Оксид цинка ZnO благодаря значительной запрещенной зоне (3.3 eV при 300 K) и большой энергии связи экситонов (60 MeV) является весьма перспективным для создания самого широкого класса оптоэлектронных устройствах. Одним из основных направлений является ультрафиолетовая (УФ) электроника, в частности, изготовление фотодетекторных устройств на основе ZnO.
Известно несколько способов получения пленок ZnO допированных азотом: магнетронное распыление в атмосфере азота [Gorbatenko L.S., Novodvorsky О.A., Panchenko V.Ya., Khramova О.D., Cherebilo Ye.A., Lotin A.A., Wenzel C, Trumpaicka N., Bartha J.W. / Laser Physics. 2009. Vol. 19, №5. P. 1152-1158]; постростовая обработка пленок в азотной плазме [Wang D., Zhao D., Wang F., Yao B. // Physica Status Solidi (a). 2015.V. 212. Is.4. P.846.]. Отмечается сложность получения и низкие эксплуатационные характеристики образцов.
Известен способ ионно-плазменного азотирования деталей из инструментальных сталей [В.Н. Климов, И.И. Богачев, И.Ю. Сапронов, С.В. Алешин, А.В. Климов С.Н. Туренко, Е.А. Зайцева. Способ ионно-плазменного азотирования деталей из инструментальных сталей // Патент РФ №2599950], который проводят в вакуумной камере, где после нагрева заготовки до температуры не ниже 450°С осуществляют ионно-плазменное азотирование в плазме азота или смеси газов аргона и азота вакуумно-дугового разряда при подаче на заготовку напряжения смещения в диапазоне от -50 В до -900 В. Однако этот способ азотирования неприменим для оксидных соединений, которые обладают значительно меньшей удельной электропроводностью, чем металлы, и не могут использоваться как электроды для создания вакуумно-дугового разряда без их разрушения.
Наиболее близкое к заявляемому техническое решение по азотированию оксидного соединения ZnO представлено в [D. Wang, D. Zhao, F. Wang, В. Yao, D. Shen. Nitrogen-doped ZnO obtained by nitrogen plasma treatment // Phys. Status Solidi A. 2015. V. 212. No. 4. P. 846-850.]: пластины монокристалла ZnO помещали в камеру плазменного очистителя с особо чистым азотом (5N), находящимся под давлением 5 Па. Плазменная обработка проводилась под напряжением 720 В, с током 25 мА и мощностью разряда 18 Вт, соответственно. Методами спектроскопии комбинационного рассеяния и по вольт-амперным характеристикам установили, что частичное азотирование ZnO имело место при воздействии азотной плазмы на образец в течение 20÷40 ч.
В основу изобретения положена задача значительного уменьшения (примерно на 3 порядка) времени азотирования ZnO и получения высоких эксплуатационных характеристик оксидных соединений.
Поставленная задача решается тем, что при плазменном азотировании в контролируемой среде оксидных соединений, находящихся в твердой фазе (пленки, покрытия, кристаллы), путем воздействия на них низкотемпературной азотной плазмой процесс азотирования происходит при атмосферном давлении, а плазма генерируется плазмотроном постоянного тока со среднемассовой температурой плазменного потока 7÷10 кK.
Из всех типов генераторов низкотемпературной плазмы (ГНП) наибольшую рабочую температуру могут обеспечить ГНП постоянного тока, являющийся одним из наиболее простых источников низкотемпературной плазмы (Т<25000 К). Для ВЧ и СВЧ плазмотронов для достижения приемлемого теплового КПД плазменного потока, достаточного для азотирования, необходимо затратить значительно больше электроэнергии, чем для плазмотрона постоянного тока. Кроме того, значительно усложняется и конструкция источников питания для данного типа плазмотронов.
Использование в предлагаемом способе азотной плазмы атмосферного давления позволяет получить степень ионизации более 10-2, что на несколько порядков больше чем, например, при тлеющем разряде (10-6÷10-4), протекающего при низких давлениях, где концентрация атомарного и ионизированного атома азота очень мала (плазма в основном состоит из молекулярных ионов и молекулярных атомов в возбужденном состоянии). Известно, что степень термической ионизации является функцией температуры и давления, которую можно оценить по формуле Саха: степень ионизации прямо пропорциональна температуре в степени 5/2 и обратно пропорциональна давлению.
Использование процесса азотирования пленок ZnO существенно расширяет их функциональность. При близких значениях ионного радиуса (N+) и (O+) величина электроотрицательности у азота (3.0) меньше, чем у кислорода (3.5). По этой причине атомы азота внедряются в анионную подрешетку, например ZnO как примесь замещения, уменьшая концентрацию точечных вакансий VO и проявляя себя в ZnO, как акцепторная примесь. Следовательно, внедрение примеси азота приводит к увеличению сопротивления, а при достаточной концентрации может привести и к смене типа проводимости в ZnO.
Эффективность азотирования оксидных соединений зависит от бомбардировки поверхности атомарным и ионизированным атомом азотом. В диапазоне температур 7÷10 кК при атмосферном давлении концентрация атомарного азота достигает максимума ~1018 см-3, а концентрация однократно ионизованного атома азота составляет ~1016 см-3. Известно, что максимальное значение концентрации однократных ионов атома азота ~1017 см-3 достигается при 17 кК, при этом концентрация атомарного азота уменьшается на порядок. Однако такая высокая температура может привести к разрушению подложки.
Таким образом, сокращению времени релаксации фототока может способствовать формирование высокой концентрации центров захвата и рекомбинации носителей заряда в тонких пленках ZnO:N путем внедрения азота потоком плазмы среднемассовой температурой 7÷10 кK.
Ниже приведен пример для иллюстрации условий реализации предложенного способа.
В качестве источника низкотемпературной высокоэнтальпийной плазмы использовался плазмотрон с расширяющимся каналом выходного электрода, генерирующий на выходе слабо расходящуюся плазменную струю азота диаметром D=8÷10 мм с энтальпией до 50 кДж/г и среднемассовой температурой 7÷10 кК, при полной электрической мощности дугового разряда 20÷50 кВт и расходе плазмообразующего газа 1÷3 г/с. Время взаимодействия плазмы с образцом составляло 7÷10 сек.
Оценка параметров плазмы в зоне взаимодействия с образцом производилась по данным анализа спектров, полученных трехканальным оптоволоконным спектрометром AvaSpec 3648 со спектральным разрешением 0.2÷0.5 нм в диапазоне 220÷850 нм. В зоне взаимодействия плазмы с образцом среднемассовая температура потока составляла ~7 кК с концентрацией электронов 1015 см-3.
На рисунке 1 представлены электронно-микроскопические изображения и данные рентгеновского элементного микроанализа пленки ZnO на сапфире до обработки (а) и после обработки в потоке низкотемпературной плазмы азота (b).
Электронно-микроскопическое изображение поверхности пленки ZnO до и после обработки в потоке плазмы азота обнаружило значительные различия, как в морфологии, так и в шероховатости. По данным атомно-силового микроскопа шероховатость после обработки увеличивается в 1.2 раз. Воздействие на образец потоком плазмы азота приводит к модификации его приповерхностного слоя в виде уплотнения и рекристаллизации в результате разогрева до температур свыше 1000 К и заполнения атомами азота точечных вакансий VO. По данным рентгеновского микроанализа концентрация примесных атомов азота увеличивается с 1.27 до 2.41 процента.
Преимущество заявляемого способа заключается в том, что кратковременное воздействие (7÷10 сек) высокоэнтальпийной низкотемпературной плазмы азота со среднемассовой температурой 7÷10 кК создает концентрацию потока электронов 1015 cm-3 на пленки ZnO, что позволяют увеличивать их сопротивление в 104 раз. После модифицирования пленки ZnO демонстрируют отчетливый отклик на ультрафиолетовой освещение. УФ-фоточувствительность по току и контрастность тока образцов при напряжении 6 В достигает величин 3.6⋅10-5 А/Вт и 16, соответственно. Время нарастания и спада фототока ~ 0.45 с.

Claims (1)

  1. Способ плазменного азотирования оксида кремния в твердой фазе в контролируемой среде, включающий воздействие на упомянутый оксид кремния низкотемпературной азотной плазмой, отличающийся тем, что упомянутое воздействие проводят при атмосферном давлении в течение 7-10 секунд, при этом низкотемпературную азотную плазму генерируют плазмотроном постоянного тока со среднемассовой температурой плазменного потока 7÷10 кK.
RU2019132757A 2019-10-16 2019-10-16 Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе RU2713008C9 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019132757A RU2713008C9 (ru) 2019-10-16 2019-10-16 Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019132757A RU2713008C9 (ru) 2019-10-16 2019-10-16 Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2713008C1 true RU2713008C1 (ru) 2020-02-03
RU2713008C9 RU2713008C9 (ru) 2020-08-05

Family

ID=69625242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019132757A RU2713008C9 (ru) 2019-10-16 2019-10-16 Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2713008C9 (ru)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EA011247B1 (ru) * 2003-06-27 2009-02-27 Сэн-Гобэн Гласс Франс Подложка, покрытая слоем диэлектрика, и способ и устройство для её изготовления
CN109355610A (zh) * 2018-09-30 2019-02-19 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种金属基体电磁发热涂层及其制备方法和应用
CN107299312B (zh) * 2017-05-24 2019-04-12 昆明理工大学 一种增强热喷涂涂层抗菌效果的方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EA011247B1 (ru) * 2003-06-27 2009-02-27 Сэн-Гобэн Гласс Франс Подложка, покрытая слоем диэлектрика, и способ и устройство для её изготовления
CN107299312B (zh) * 2017-05-24 2019-04-12 昆明理工大学 一种增强热喷涂涂层抗菌效果的方法
CN109355610A (zh) * 2018-09-30 2019-02-19 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种金属基体电磁发热涂层及其制备方法和应用

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
D. Wang, D. Zhao, F. Wang, В. Yao, D. Shen. Nitrogen-doped ZnO obtained by nitrogen plasma treatment, Phys. Status Solidi A., 2015, V. 212. No. 4, р. 846-850. *

Also Published As

Publication number Publication date
RU2713008C9 (ru) 2020-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10515782B2 (en) Atomic layer etching with pulsed plasmas
Maki et al. Nitrogen ion behavior on polar surfaces of ZnO single crystals
RU2713008C1 (ru) Способ азотирования оксидных соединений, находящихся в твердой фазе
JP7176977B2 (ja) 酸化ガリウムの製造方法
Jiang et al. MgxZn1− xO solar-blind photodetector grown by radio frequency magnetron sputtering
Matolın et al. Experimental system for GaN thin films growth and in situ characterisation by electron spectroscopic methods
How et al. Plasma diagnostic by optical emission spectroscopy on reactive magnetron sputtering plasma–A Brief Introduction
Ioka et al. Effects of Substrate Temperature on Film Hardness and Hydrogen Content in Diamond-like Carbon Films Prepared with a Repetitive Nanosecond Pulsed Glow Hydrogen/Methane Discharge Plasma
Ray et al. Optimization of a plasma immersion ion implantation process for shallow junctions in silicon
Low et al. Spectroscopic studies of magnetron sputtering plasma discharge in Cu/O2/Ar mixture for copper oxide thin film fabrication
Shaaban et al. Effect of inter-electrode distances of glow discharge on structural and optical properties of ZnSe
Glazunov et al. Vacuum-plasma properties of stainless steel after impact of combined glow-microwave discharges in argon atmosphere
Gadzhiev et al. The Influence of a Flow of Low-Temperature Nitrogen Plasma on the Morphology, Electric Properties, and UV Photoconductivity of ZnO Films on Sapphire
Sobolev et al. MBE-grown Si: Er light-emitting structures: Effect of epitaxial growth conditions on impurity concentration and photoluminescence
Tambasov et al. Effect of exposure to optical radiation and temperature on the electrical and optical properties of In 2 O 3 films produced by autowave oxidation
WO2016011559A1 (en) Methods for atom incorporation into materials using a plasma afterglow
van Sark et al. Role of ions in PECVD of amorphous silicon
Milenin et al. Quantum features of low-energy photoluminescence of aluminum nitride films
Novotny et al. Nitrogen doping of ZnO thin films grown by plasma-assisted pulsed-laser deposition
Kulanchikov et al. MAPbBr3 monocrystals under electron beam radiolysis and degradation revealed by cathodoluminescence spectroscopy
Bhattacharyya et al. Cold plasma processing for some novel material development
KR20230104380A (ko) 입실론 갈륨 옥사이드 에피택셜 기판 제조 방법 및 그에 의해 제조된 입실론 갈륨 옥사이드 에피택셜 기판
Fraga et al. Etching Studies of Post-Annealed SiC Films Deposited by PECVD: Influence of the Oxygen Concentration
Neustroev et al. Optical properties of thin films formed by carbon deposition in methane plasma and subsequent annealing
JP3212719B2 (ja) 低圧誘導結合型プラズマを用いたcvd法

Legal Events

Date Code Title Description
TH4A Reissue of patent specification
PD4A Correction of name of patent owner