RU2620868C2 - Система и способ контроля качества изделия - Google Patents

Система и способ контроля качества изделия Download PDF

Info

Publication number
RU2620868C2
RU2620868C2 RU2014119933A RU2014119933A RU2620868C2 RU 2620868 C2 RU2620868 C2 RU 2620868C2 RU 2014119933 A RU2014119933 A RU 2014119933A RU 2014119933 A RU2014119933 A RU 2014119933A RU 2620868 C2 RU2620868 C2 RU 2620868C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
product
specified
control zone
control
laser
Prior art date
Application number
RU2014119933A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2014119933A (ru
Inventor
Юбер ВУАЛОМ
Original Assignee
Юропиан Аэронотик Дефенс Энд Спейс Компани Эадс Франс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Юропиан Аэронотик Дефенс Энд Спейс Компани Эадс Франс filed Critical Юропиан Аэронотик Дефенс Энд Спейс Компани Эадс Франс
Publication of RU2014119933A publication Critical patent/RU2014119933A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2620868C2 publication Critical patent/RU2620868C2/ru

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01G—WEIGHING
    • G01G19/00—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B15/00—Systems controlled by a computer
    • G05B15/02—Systems controlled by a computer electric
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016—X-ray
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/645—Specific applications or type of materials quality control

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Заявленная группа изобретений относится к контролю качества изделия. Согласно изобретению эта система содержит защищенную камеру, содержащую входной порт, через который контролируемое изделие заходит в указанную камеру, и, по меньшей мере, один выходной порт. Кроме того указанная камера содержит зону контроля, устройство транспортировки для доставки указанного контролируемого изделия в указанную зону контроля и для обеспечения его удаления через указанный выходной порт. По меньшей мере один выходной порт, прибор взвешивания указанного изделия в указанной зоне контроля; блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне контроля, блок анализа структуры изделия в указанной зоне контроля при помощи лазерных пучков и/или соответственно рентгеновских лучей, при этом указанная защищенная камера выполнена из материала, непроницаемого для длин волн указанных лазерных пучков во время работы, соответственно для длин волн указанных лазерных пучков во время работы и указанных рентгеновских лучей, чтобы избегать любой утечки излучения. Технический результат – создание устройства и способа автоматической оценки качества изделия или детали, выходящих из производственной линии, которые являются простыми по своей концепции и по своему применению, а также скоростными, а также высокие темпы производства, а также защита операторов, находящихся на производственной линии, от возможных утечек лазерного света. 3 н. и 8 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к системе и к способу оценки качества изделия, изготовленного, в частности, на поточной производственной линии.
В некоторых областях промышленности, таких как авиационная или космическая промышленность, необходимо, чтобы каждая изготавливаемая конструктивная деталь отличалась высокой точностью размеров, формы или состояния поверхности и чтобы каждая из этих деталей отвечала необходимым заводским допускам.
Действительно, в таких технических областях, как аэрокосмическая промышленность, очень важно убеждаться в отсутствии дефектов в детали, чтобы этот дефект не развивался впоследствии при воздействии напряжений, связанных с эксплуатацией.
Известны различные методы, позволяющие оценивать качество изготовленной детали или изделия.
В таких областях, как аэрокосмическая промышленность, очень редко применяют ручной контроль деталей или изделий, так как он занимает слишком много времени и к тому же некоторые дефекты являются трудно различимыми невооруженным глазом, поэтому ручной контроль в основном зависит от опыта контролера.
Таким образом, эти ручные операции являются длительными, дорогими и имеют погрешность, не совместимую с все возрастающими требованиями в промышленных областях, таких как авиация и космонавтика.
Известны также методы автоматического контроля, среди которых можно указать, в частности, метод, согласно которому применяют контактные устройства для определения размеров и формы готовой детали или готового изделия.
Однако эти контактные устройства являются сложными, не гибкими и плохо адаптированы для мелких деталей.
Кроме того, очень трудно автоматизировать контроль этих мелких деталей, если они имеют сложную форму.
Автоматизация требует также программирования, которое может оказаться очень сложным.
Известны также методы оценки качества детали при помощи ультразвуков.
Однако даже незначительное отклонение в геометрии детали или изделия, допустимое с точки зрения критериев качества, может повлечь за собой серьезные проблемы позиционирования, если речь идет об ультразвуковом контроле, так как акустический пучок должен постоянно быть перпендикулярным к поверхности этой детали или этого изделия.
Поэтому задача изобретения состоит в создании системы и способа автоматической оценки качества изделия или детали, выходящих из производственной линии, которые являются простыми по своей концепции и по своему применению, скоростными и позволяют сгруппировать все операции контроля и оценки в рамках одного поста, чтобы получить выигрыш как в соответствующих трудовых затратах, так и во времени.
В частности, задача изобретения состоит в создании автоматической и гибкой системы оценки качества изделия или детали, способной следовать высоким темпам производства, защищать оператора или операторов, находящихся у производственной линии, от возможных утечек лазерного света, которые могут происходить при отражении лазерных пучков от контролируемой детали или изделия, в частности, когда последние имеют сложные формы.
Задача изобретения состоит также в создании установки для изготовления детали или изделия, или узла, содержащей такую систему контроля, расположенную в конце линии.
В связи с этим объектом изобретения является система контроля качества изделия.
Согласно изобретению эта система контроля содержит:
- защищенную камеру, содержащую входной порт, через который контролируемое изделие заходит в указанную камеру, и по меньшей мере один выходной порт, при этом указанная камера содержит зону контроля,
- устройство транспортировки для доставки указанного контролируемого изделия в указанную зону контроля и для обеспечения его удаления через указанный по меньшей мере один выходной порт,
- прибор взвешивания указанного изделия в указанной зоне контроля,
- блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне контроля,
- блок анализа структуры изделия в указанной зоне контроля при помощи лазерных пучков и/или соответственно рентгеновских лучей, и
- указанная защищенная камера выполнена из материала, непроницаемого для длин волн указанных лазерных пучков во время работы, соответственно для длин волн указанных лазерных пучков во время работы и указанных рентгеновских лучей, чтобы избегать любой утечки излучения.
Таким образом, эта система контроля предпочтительно позволяет сконцентрировать на одном посту все этапы оценки качества детали, изделия или узла. Она обеспечивает также защиту оператора или операторов, работающих на производственной линии, от случайных утечек лазерных и/или рентгеновских лучей.
В частных вариантах осуществления этой системы оценки, каждый из которых имеет свои преимущества и которые можно применять в различных технически возможных комбинациях:
- указанное устройство транспортировки содержит конвейерную ленту, при этом устройство взвешивания расположено под этой лентой,
- блок анализа структуры изделия в указанной зоне контроля содержит источник рентгеновских лучей и датчик, при этом контролируемое изделие располагают в указанной зоне контроля между указанным источником рентгеновских лучей и указанным датчиком,
- указанный блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне контроля содержит блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии и/или блок измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы,
- система содержит детектор присутствия для остановки указанного устройства транспортировки, когда контролируемое изделие оказывается в указанной зоне контроля,
- указанный прибор взвешивания выдает сигнал в ответ на взвешивание указанного изделия, указанный блок бесконтактного размерного измерения выдает сигнал размерного измерения изделия, и указанный блок анализа структуры изделия выдает сигнал, связанный с измерением структурного анализа указанного изделия, при этом система содержит центральный блок, связанный с носителем записи, содержащим по меньшей мере один файл данных, предварительно записанный на этом носителе записи, для определения контрольных параметров указанного изделия, при этом указанный центральный блок принимает каждый из указанных сигналов для их сравнения с указанными контрольными параметрами,
- система содержит устройство маркировки указанного изделия, когда при оценке его качества обнаруживают один или несколько дефектов,
- система дополнительно содержит блок контроля поверхностного состояния изделия и/или устройство оптической когерентной томографии (ОСТ - "Optical coherent Tomography).
Это последнее устройство позволяет, например, контролировать подтеки смолы в радиусах изгиба криволинейных деталей.
Объектом изобретения является также установка для изготовления изделия, причем эта установка оборудована описанной выше системой контроля качества этого изделия.
Объектом изобретения является также способ оценки качества изделия, согласно которому указанное изделие помещают в зону контроля, после чего осуществляют по меньшей мере первый из следующих этапов на этом изделии, помещенном в эту зону контроля:
a) взвешивают указанное изделие,
b) осуществляют бесконтактное размерное измерение указанного изделия,
c) осуществляют структурный анализ указанного изделия, и
- по завершении каждого из этих этапов полученный результат сравнивают с одним или несколькими контрольными измерениями и, если они соответствуют допустимым погрешностям, переходят к следующему этапу, если же они отличаются, изделие выбраковывают.
Предпочтительно дополнительно контролируют поверхностное состояние этого изделия.
Предпочтительно на этапе структурного анализа указанного изделия на указанное изделие направляют первый лазерный пучок для генерирования ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии, освещают указанное изделие вторым лазерным пучком таким образом, чтобы часть этого второго пучка отразилась от указанного изделия, и посредством интерферометрии измеряют эту отраженную часть второго пучка, при этом все эти лазерные пучки проходят через одну оптическую считывающую головку.
Далее следует более подробное описание изобретения со ссылками на прилагаемые чертежи.
На фиг. 1 схематично показана система контроля качества изделия согласно частному варианту осуществления изобретения вид сбоку; на фиг. 2 показана часть устройства транспортировки, изображенного на фиг. 1, увеличенный вид.
На фиг. 1 и 2 схематично показана система контроля качества изделия согласно предпочтительному варианту выполнения изобретения.
Эта система контроля расположена в конце линии изготовления изделий 1, при этом изделия направляют в систему при помощи конвейерного устройства 2, которое в данном случае является конвейерной лентой. Укладку контролируемых изделий 1 на эту конвейерную ленту производят, не прибегая к очень точному позиционированию.
Каждое изделие 1 заходит в защищенную камеру 3 через входной порт 4 этой камеры, затем поступает в зону 5 контроля этой камеры, где его обнаруживает детектор присутствия (не показан), который в этот момент останавливает конвейерное устройство 2 для обеспечения осуществления оценки его качества.
Находящееся в зоне 5 контроля контролируемое изделие 1 готово к последовательной оценке при помощи набора контрольно-измерительных устройств.
В конце этой оценки качества изделия 1, если оно соответствует заводским допускам как с точки зрения размеров, так и с точки зрения качества поверхности и формы, опять запускают конвейерное устройство 2, которое удаляет его через выходной порт 6.
Если в результате анализа оно оказывается не соответствующим допускам, маркировочное устройство (не показано) помечает дефектное изделие перед его удалением через выходной порт 6. Например, маркировку изделия 1, имеющего один или несколько дефектов, можно производить посредством нанесения краски на его поверхность.
На первом этапе оценки качества изделия 1, выходящего из производственной линии, производят взвешивание контролируемого изделия 1 при помощи устройства 7 взвешивания. В данном случае устройство 7 взвешивания представляет собой весы, расположенные под конвейерной лентой 2.
Это взвешивание изделия 1 может обеспечивать предварительную сортировку изделий 1 в случае наличия дефекта. Превышение веса изделия 1 по сравнению с контрольным весом может свидетельствовать о присутствии в нем постороннего тела. Кроме того, меньший вес изделия 1 относительно этого контрольного веса может свидетельствовать о присутствии воздушных пузырьков и/или о его чрезмерной пористости.
Для осуществления такого сравнения прибор 7 взвешивания выдает электрический сигнал в ответ на взвешивание изделия 1, причем этот электрический сигнал, характеризующий определенный таким образом вес изделия 1, поступает в центральный блок (не показан), связанный с носителем записи (не показан), содержащим по меньшей мере один файл данных или библиотеку файлов данных, предварительно записанных на этом носителе записи, для определения контрольных параметров контролируемого изделия 1.
В данном случае этот центральный блок содержит микропроцессор, выполненный с возможностью сравнения между сигналами измерения, поступающими от различных устройств оценки системы, и контрольными параметрами.
Если измеренный вес равен контрольному весу с учетом допустимых погрешностей измерения, определяют трехмерные размеры этого изделия 1 при помощи блока бесконтактного размерного измерения изделия 1, находящегося в зоне 5 контроля.
В данном случае этот блок бесконтактного размерного измерения содержит блок измерения посредством проецирования светового рисунка, такого как полоса или крест, на поверхность изделия 1 и посредством отслеживания этого рисунка при помощи стереоскопической системы, содержащей по меньшей мере две камеры 8, 9, одновременно снимающие световой рисунок, проецируемый на поверхность изделия 1. Эти камеры 8, 9 являются, например, камерами с матрицами CCD.
Этот метод размерного измерения сам по себе известен и его подробное описание опускается. Можно просто напомнить, что стереоскопия позволяет определять пространственное положение точек на основании координат их изображений в двух разных проекциях, чтобы осуществлять трехмерные измерения изделия 1.
Каждая из камер 8, 9 направляет сигнал, характеризующий измерение, произведенное соответствующей камерой, в центральный блок, который на основании этих сигналов определяет размеры изделия 1. Затем эти размеры сравнивают с контрольными размерами изделия 1, записанными на носителе записи.
Если определенные таким образом размеры изделия 1 соответствуют контрольным размерам с учетом допустимых погрешностей измерения, осуществляют анализ структуры изделия 1, находящегося в зоне 5 контроля.
Для этого применяют блок анализа структуры изделия в указанной зоне контроля, содержащий:
- первый лазерный источник 10, предназначенный для генерирования первого лазерного пучка с целью создания ультразвуковых волн в изделии 1,
- второй лазерный источник 11, предназначенный для генерирования второго лазерного пучка с целью освещения контролируемого изделия 1,
- интерферометр 12 для измерения части второго пучка, отраженной от изделия 1, находящегося в зоне 5 контроля, причем этот интерферометр 12 выполнен с возможностью генерирования электрического сигнала, который характеризует это измерение и который поступает в центральный блок для сравнения с контрольным параметром.
Эти первый и второй лазерные источники 10, 11, а также интерферометр 12 оптически связаны с измерительной головкой 13, установленной в камере 3, причем эта измерительная головка 13 содержит оптический сканер, позволяющий сканировать поверхность контролируемого изделия 1. В данном случае этот оптический сканер содержит два зеркала, установленные на гальванометре.
В данном случае первый лазерный источник 10 представляет собой лазер на диоксиде углерода (CO2) и генерирует первый лазерный пучок с длиной волны 10,6 мкм и с энергией порядка 200 мДж. Этот первый пучок поступает на оптический сканер измерительной головки 13, который направляет его на изделие 1, находящееся в зоне 5 контроля, для обеспечения сканирования этого изделия 1. Этот первый пучок генерирует ультразвуковые волны в контролируемом изделии 1.
Второй пучок, излучаемый вторым лазерным источником 11, связанным оптически с этой же оптической измерительной головкой 13, тоже направляется этой измерительной головкой 13 на контролируемое изделие 1. Часть этого второго пучка отражается изделием 1 и смещается по фазе ультразвуковыми волнами, генерируемыми первым пучком в изделии 1.
Отраженный лазерный пучок попадает в интерферометр 12, выполненный с возможностью генерирования электрического сигнала, характеризующего измеренную таким образом отраженную часть пучка. Этот электрический сигнал поступает в центральный блок для обработки с целью его сравнения с одним или несколькими контрольными параметрами изделия 1.
Если изделие 1 соответствует норме, конвейерная лента 2 перемещается для удаления этого изделия 1 и для подачи в зону 5 контроля нового контролируемого изделия 1.
В альтернативном варианте оптический сканер может содержать только одно сканирующее зеркало вдоль оси, перпендикулярной к продольной оси конвейерной ленты 2. При этом конвейерную ленту используют в качестве второй оси сканирования для обеспечения сканирования каждого изделия 1.
Второй лазерный пучок в данном случае излучается твердотельным лазером с диодной накачкой, таким как лазер на иттриево-алюминиевом гранате Nd:YAG, излучающий лазерный пучок с длиной волны λ=1064 нм и с мощностью 150 Вт. В данном случае интерферометр 12 является интерферометром Фабри-Перо и/или двухволновым интерферометром (TWM - "Two-wave mixing interferometer").
Защищенная камера 3 выполнена из материала, непроницаемого для длин волны лазерных пучков во время работы, чтобы избегать любой утечки лазерного света, который может быть опасным для здоровья операторов, работающих на производственной линии.

Claims (25)

1. Система контроля качества изделия, характеризующаяся тем, что содержит:
- защищенную камеру (3), имеющую входной порт, через который контролируемое изделие заходит в указанную камеру, и по меньшей мере один выходной порт, при этом указанная камера содержит зону (5) контроля,
- устройство транспортировки для доставки указанного контролируемого изделия в указанную зону (5) контроля и для обеспечения его удаления через указанный по меньшей мере один выходной порт,
- прибор (7) взвешивания, расположенный под указанным устройством транспортировки, для взвешивания указанного изделия в указанной зоне (5) контроля,
- блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне (5) контроля, содержащий блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии и/или блок измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы (8, 9),
- блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля при помощи лазерных пучков и/или соответственно рентгеновских лучей X, содержащий источник лазерных пучков и/или рентгеновских лучей X и датчик, при этом в случае необходимости контролируемое изделие расположено в указанной зоне (5) контроля между указанным источником рентгеновских лучей X и указанным датчиком,
- указанная защищенная камера (3) выполнена из материала, непроницаемого для длин волн указанных лазерных пучков во время работы, соответственно для длин волн указанных лазерных пучков во время работы и указанных рентгеновских лучей, чтобы избегать любой утечки излучения.
2. Система по п. 1, характеризующаяся тем, что блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля содержит:
- первый лазерный источник (10), выполненный с возможностью генерирования первого лазерного пучка для создания ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии,
- второй лазерный источник (11), выполненный с возможностью генерирования второго лазерного пучка для освещения указанного контролируемого изделия,
- интерферометр (12) для измерения части второго пучка, отраженной от указанного контролируемого изделия, при этом указанный интерферометр (12) выполнен с возможностью генерирования электрического сигнала, характеризующего это измерение,
- при этом указанные лазерные источники (10, 11) и указанный интерферометр (12) оптически связаны с оптической измерительной головкой (13), установленной в указанной камере (3), при этом указанная измерительная головка (13) содержит оптический сканер.
3. Система по п. 1 или 2, характеризующаяся тем, что блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля содержит источник рентгеновских лучей X и датчик, при этом контролируемое изделие расположено в указанной зоне (5) контроля между указанным источником рентгеновских лучей X и указанным датчиком.
4. Система по п. 1 или 2, характеризующаяся тем, что содержит детектор присутствия для остановки указанного устройства транспортировки, когда контролируемое изделие оказывается в указанной зоне (5) контроля.
5. Система по п. 1 или 2, характеризующаяся тем, что указанный прибор (7) взвешивания выдает сигнал в ответ на взвешивание указанного изделия, указанный блок бесконтактного размерного измерения изделия выдает сигнал размерного измерения изделия, и указанный блок анализа структуры изделия выдает сигнал, связанный с измерением структурного анализа указанного изделия, при этом система содержит центральный блок, связанный с носителем записи, содержащим по меньшей мере один файл данных, предварительно записанный на этом носителе записи, для определения контрольных параметров указанного изделия, при этом указанный центральный блок принимает каждый из указанных сигналов для их сравнения с указанными контрольными параметрами.
6. Система по п. 1 или 2, характеризующаяся тем, что содержит устройство маркировки указанного изделия, когда при оценке его качества обнаруживается один или несколько дефектов.
7. Система по п. 1 или 2, характеризующаяся тем, что дополнительно содержит блок контроля поверхностного состояния изделия и/или устройство оптической когерентной томографии.
8. Установка для изготовления изделия, оборудованная системой контроля качества указанного изделия по любому из пп. 1-7.
9. Способ оценки качества изделия, осуществляемый при помощи системы по одному из пп. 1-7, согласно которому указанное изделие помещают в зону (5) контроля, после чего осуществляют по меньшей мере первый из следующих этапов на этом изделии, помещенном в зону (5) контроля:
a) взвешивают указанное изделие,
b) осуществляют бесконтактное размерное измерение указанного изделия в указанной зоне (5) контроля при помощи блока бесконтактного размерного измерения, содержащего блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии и/или блока измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы (8, 9),
с) осуществляют структурный анализ указанного изделия, при этом
- по завершении каждого из этих этапов полученный результат сравнивают с одним или несколькими контрольными измерениями и, если они соответствуют допустимым погрешностям, переходят к следующему этапу, если же они отличаются, изделие выбраковывают.
10. Способ по п. 9, характеризующийся тем, что дополнительно контролируют поверхностное состояние этого изделия.
11. Способ по п. 9 или 10, характеризующийся тем, что на этапе структурного анализа указанного изделия на указанное изделие направляют первый лазерный пучок для генерирования ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии, освещают указанное изделие вторым лазерным пучком так, чтобы часть этого второго пучка отразилась от указанного изделия, и посредством интерферометрии измеряют эту отраженную часть второго пучка, при этом все эти лазерные пучки проходят через одну оптическую считывающую головку.
RU2014119933A 2011-10-17 2012-10-16 Система и способ контроля качества изделия RU2620868C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1159357A FR2981450B1 (fr) 2011-10-17 2011-10-17 Systeme et procede de controle de la qualite d'un objet
FR1159357 2011-10-17
PCT/EP2012/070510 WO2013057115A1 (fr) 2011-10-17 2012-10-16 Système et procédé de contrôle de la qualité d'un objet

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2014119933A RU2014119933A (ru) 2015-11-27
RU2620868C2 true RU2620868C2 (ru) 2017-05-30

Family

ID=47049154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014119933A RU2620868C2 (ru) 2011-10-17 2012-10-16 Система и способ контроля качества изделия

Country Status (10)

Country Link
US (1) US20140249663A1 (ru)
EP (1) EP2769196A1 (ru)
CN (1) CN104114992B (ru)
BR (1) BR112014009088A2 (ru)
CA (1) CA2852791A1 (ru)
FR (1) FR2981450B1 (ru)
MX (1) MX338117B (ru)
RU (1) RU2620868C2 (ru)
SG (1) SG11201400932PA (ru)
WO (1) WO2013057115A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2768110C2 (ru) * 2017-10-27 2022-03-23 Тиама Способ и установка для поточного контроля размеров промышленных изделий
RU2768553C1 (ru) * 2018-06-07 2022-03-24 Вилко Аг Способ проверки

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105445290A (zh) 2014-09-02 2016-03-30 同方威视技术股份有限公司 X射线产品质量在线检测装置
CN106290416B (zh) * 2016-08-26 2020-01-10 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种x射线食品异物检测系统
CN108088407B (zh) * 2017-12-15 2020-11-10 成都光明光电股份有限公司 光学玻璃制品形貌偏差校正方法及系统
EP3502672B1 (en) * 2017-12-20 2022-02-09 Fundación Tecnalia Research & Innovation Methods and systems for visual inspection
EP3553508A3 (en) * 2018-04-13 2019-12-04 Malvern Panalytical B.V. X-ray analysis apparatus and method
US10408606B1 (en) * 2018-09-24 2019-09-10 Faro Technologies, Inc. Quality inspection system and method of operation
CA3116716A1 (en) 2018-10-19 2020-07-09 Inkbit, LLC High-speed metrology
US11354466B1 (en) 2018-11-02 2022-06-07 Inkbit, LLC Machine learning for additive manufacturing
AU2019374148A1 (en) 2018-11-02 2021-05-27 Inkbit, LLC Intelligent additive manufacturing
WO2020102614A2 (en) 2018-11-16 2020-05-22 Inkbit, LLC Inkjet 3d printing of multi-component resins
WO2020106944A1 (en) * 2018-11-21 2020-05-28 Aaron Weber High speed pharmaceutical quality control metrology
US10974460B2 (en) 2019-01-08 2021-04-13 Inkbit, LLC Reconstruction of surfaces for additive manufacturing
US11077620B2 (en) 2019-01-08 2021-08-03 Inkbit, LLC Depth reconstruction in additive fabrication
EP3709006A1 (fr) * 2019-03-15 2020-09-16 Primetals Technologies France SAS Système de contrôle visuel pour un produit étendu
US10994477B1 (en) 2019-11-01 2021-05-04 Inkbit, LLC Optical scanning for industrial metrology
US11712837B2 (en) 2019-11-01 2023-08-01 Inkbit, LLC Optical scanning for industrial metrology
US10926473B1 (en) 2020-02-20 2021-02-23 Inkbit, LLC Multi-material scanning for additive fabrication
CN111288902B (zh) * 2020-02-21 2021-09-10 苏州大学 一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法
JP7433467B2 (ja) * 2020-07-01 2024-02-19 浜松ホトニクス株式会社 高速検査用の傾斜型光干渉断層撮影イメージング
US10994490B1 (en) 2020-07-31 2021-05-04 Inkbit, LLC Calibration for additive manufacturing by compensating for geometric misalignments and distortions between components of a 3D printer
CN112880787B (zh) * 2021-01-08 2023-03-31 重庆开谨科技有限公司 一种用于车辆称重传感器的波形处理方法
CN114923935A (zh) * 2022-04-02 2022-08-19 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 在线3d扫描系统及在线3d扫描方法
DE102022111511A1 (de) 2022-05-09 2023-11-09 Wipotec Gmbh Inspektionsvorrichtung mit darin integrierter Röntgen- und Wägevorrichtung

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4819783A (en) * 1986-07-29 1989-04-11 Cochlea Corporation Automated inspection system and method
US6633384B1 (en) * 1998-06-30 2003-10-14 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for ultrasonic laser testing
EP1950527A1 (en) * 2005-11-16 2008-07-30 Ishida Co., Ltd. X-ray inspection device
EP2198703A3 (en) * 2008-12-16 2010-09-01 ISHIDA CO., Ltd. Apparatus for determining the mass/weight of articles on a conveyer belt by X-ray imaging and for subsequent sorting of the articles by mass/weight

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4589141A (en) * 1984-03-12 1986-05-13 Texas Instruments Incorporated Apparatus for automatically inspecting printed labels
US4906098A (en) * 1988-05-09 1990-03-06 Glass Technology Development Corporation Optical profile measuring apparatus
JP2714277B2 (ja) * 1991-07-25 1998-02-16 株式会社東芝 リード形状計測装置
DE4232201A1 (de) * 1992-09-25 1994-03-31 Sp Reifenwerke Gmbh Vorrichtung zur Querschnittsvermessung von Fahrzeugreifen
US5414512A (en) * 1993-03-10 1995-05-09 Grant Engineering, Inc. Method and apparatus for viewing a shearographic image
US6175415B1 (en) * 1997-02-19 2001-01-16 United Technologies Corporation Optical profile sensor
JP3926055B2 (ja) * 1999-03-03 2007-06-06 株式会社ブリヂストン タイヤの内部検査方法及び装置
US6967716B1 (en) * 1999-04-23 2005-11-22 Pressco Technology Inc. Apparatus and method for inspecting multi-layer plastic containers
US6894775B1 (en) * 1999-04-29 2005-05-17 Pressco Technology Inc. System and method for inspecting the structural integrity of visibly clear objects
US8023724B2 (en) * 1999-07-22 2011-09-20 Photon-X, Inc. Apparatus and method of information extraction from electromagnetic energy based upon multi-characteristic spatial geometry processing
EP1282021A4 (en) * 2000-05-12 2006-02-15 Ishida Seisakusho PRODUCTION MANAGEMENT SYSTEM AND SYSTEM FOR VERIFYING OPERATING STATES OF PRODUCTION DEVICES
US6378387B1 (en) * 2000-08-25 2002-04-30 Aerobotics, Inc. Non-destructive inspection, testing and evaluation system for intact aircraft and components and method therefore
US7344082B2 (en) * 2002-01-02 2008-03-18 Metrologic Instruments, Inc. Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam
US7089131B2 (en) * 2002-03-22 2006-08-08 Lear Corporation Inspection and verification system and method
US20030229463A1 (en) * 2002-06-05 2003-12-11 Chun-Chen Chen Systematic method and system for quality control
DE10333802B4 (de) * 2003-07-24 2005-09-08 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Reifen
US7355709B1 (en) * 2004-02-23 2008-04-08 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for optical and non-optical measurements of a substrate
WO2005119174A1 (de) * 2004-05-26 2005-12-15 Werth Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät und verfahren zum messen eines objektes
DE102004026357B4 (de) * 2004-05-26 2022-11-17 Werth Messtechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Messen eines Objektes
EP1626271A1 (de) * 2004-08-14 2006-02-15 Collmann GmbH & Co. Spezialmaschinenbau KG Röntgenprüfverfahren für Fahrzeugreifen
US8294809B2 (en) * 2005-05-10 2012-10-23 Advanced Scientific Concepts, Inc. Dimensioning system
US7838858B2 (en) * 2005-05-31 2010-11-23 Nikon Corporation Evaluation system and method of a search operation that detects a detection subject on an object
FR2897303B1 (fr) * 2006-02-15 2009-11-13 Michelin Soc Tech Ensemble de roue et de pneumatique et procede de mesure en dynamique de parametres topologiques de la surface interne de la partie pertinente de pneumatique
EP1975603A1 (en) * 2007-03-27 2008-10-01 Visys NV Method and system for use in inspecting and/or removing unsuitable objects from a stream of products and a sorting apparatus implementing the same
US7917241B2 (en) * 2007-08-01 2011-03-29 Tel Epion Inc. Method and system for increasing throughput during location specific processing of a plurality of substrates
CA2672378A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-11 Lockheed Martin Corporation Non-destructive inspection using laser-ultrasound and infrared thermography
US8054470B2 (en) * 2008-05-15 2011-11-08 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for spectroscopic characterization of samples using a laser-ultrasound system
JP5352144B2 (ja) * 2008-07-22 2013-11-27 株式会社荏原製作所 荷電粒子ビーム検査方法及び装置
DE102008037356C5 (de) * 2008-08-12 2020-09-17 Bernward Mähner Stapelmodul und Zentriermodul für eine Prüfanlage zum Prüfen von Reifen
CN101685073B (zh) * 2008-09-26 2011-07-20 软控股份有限公司 载重轮胎x光机测试装置及其方法
US8765493B2 (en) * 2012-11-20 2014-07-01 Ultratech, Inc. Methods of characterizing semiconductor light-emitting devices based on product wafer characteristics

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4819783A (en) * 1986-07-29 1989-04-11 Cochlea Corporation Automated inspection system and method
US6633384B1 (en) * 1998-06-30 2003-10-14 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for ultrasonic laser testing
EP1950527A1 (en) * 2005-11-16 2008-07-30 Ishida Co., Ltd. X-ray inspection device
EP2198703A3 (en) * 2008-12-16 2010-09-01 ISHIDA CO., Ltd. Apparatus for determining the mass/weight of articles on a conveyer belt by X-ray imaging and for subsequent sorting of the articles by mass/weight

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2768110C2 (ru) * 2017-10-27 2022-03-23 Тиама Способ и установка для поточного контроля размеров промышленных изделий
RU2768553C1 (ru) * 2018-06-07 2022-03-24 Вилко Аг Способ проверки

Also Published As

Publication number Publication date
SG11201400932PA (en) 2014-09-26
BR112014009088A2 (pt) 2017-04-18
WO2013057115A1 (fr) 2013-04-25
MX338117B (es) 2016-04-01
FR2981450B1 (fr) 2014-06-06
MX2014004569A (es) 2014-11-25
RU2014119933A (ru) 2015-11-27
CA2852791A1 (fr) 2013-04-25
CN104114992B (zh) 2019-02-05
FR2981450A1 (fr) 2013-04-19
US20140249663A1 (en) 2014-09-04
EP2769196A1 (fr) 2014-08-27
CN104114992A (zh) 2014-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2620868C2 (ru) Система и способ контроля качества изделия
CN102077052B (zh) 用于超声波检查的扫描计划的视觉系统
Neef et al. Low coherence interferometry in selective laser melting
AU2009246269B2 (en) Vision system and method for mapping of ultrasonic data into CAD space
JP5103402B2 (ja) 欠陥と検査位置を投影するシステム及び関連方法
JP5312033B2 (ja) ワークピースの継ぎ目箇所を評価するための方法および装置
US10281579B2 (en) Method of operating a confocal white light sensor on a coordinate measuring machine
JP2004504610A (ja) 試験目的の超音波信号発生装置を配置し位置決めするためのシステムおよび方法
JP2009515705A5 (ru)
CN102323216A (zh) 焊接检查方法及其设备
US20090002686A1 (en) Sheet Metal Oxide Detector
JP2006300663A (ja) 欠点検出システム
JP6602061B2 (ja) 繊維ガラス及び複合部品内のピンホールを検出するためのシステム及び方法
Sansoni et al. Design and development of a 3D system for the measurement of tube eccentricity
JP7395950B2 (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
Usha In situ monitoring of metal additive manufacturing process: a review
CN115077412A (zh) 型面检测设备和型面检测方法、存储介质
JP2009133745A (ja) 検査方法及び検査装置
Bračun et al. Surface defect detection on power transmission belts using laser profilometry
KR20240077445A (ko) 테라헤르츠파 측정 시스템
TWI417510B (zh) 工件尺寸檢測裝置
Dumberger Submicron Displacement and Thickness Measurement with Confocal Sensors
KR200291821Y1 (ko) 결함 변형 동시 계측용 휴대용 비접촉 비파괴 레이저계측기
Pajić et al. AI APPLICATION IN QUALITY ASSURANCE OF INDUSTRIAL LASER WELDING PROCESSES
Kogel-Hollacher et al. OCT sensor technology enables guaranteed quality and first-time-right in 3D printing with powder and wire

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20191017