RU2473155C1 - Планарная фотонно-кристаллическая микролинза - Google Patents

Планарная фотонно-кристаллическая микролинза Download PDF

Info

Publication number
RU2473155C1
RU2473155C1 RU2011146840A RU2011146840A RU2473155C1 RU 2473155 C1 RU2473155 C1 RU 2473155C1 RU 2011146840 A RU2011146840 A RU 2011146840A RU 2011146840 A RU2011146840 A RU 2011146840A RU 2473155 C1 RU2473155 C1 RU 2473155C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
lens
holes
refractive index
optical axis
axis
Prior art date
Application number
RU2011146840A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Викторович Котляр
Виктор Александрович Сойфер
Антон Геннадьевич Налимов
Original Assignee
Российская академия наук Учреждение Российской академии наук Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН)
Filing date
Publication date
Application filed by Российская академия наук Учреждение Российской академии наук Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН) filed Critical Российская академия наук Учреждение Российской академии наук Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН)
Application granted granted Critical
Publication of RU2473155C1 publication Critical patent/RU2473155C1/ru

Links

Images

Abstract

Изобретение относится к фокусировке когерентного оптического излучения для получения фокусного пятна, ширина которого меньше дифракционного предела в 2D случае (цилиндрическая линза). Техническим результатом является фокусировка плоской световой волны вблизи ее границы с малым фокусным пятном. Планарная фотонно-кристаллическая микролинза, имеющая прямоугольную входную апертуру, содержит отверстия с периодом d поперек и вдоль оптической оси в материале линзы. Четные ряды отверстий, перпендикулярные оптической оси линзы, смещены на d/2 в положительном направлении поперечной оси х, при этом в них со стороны отрицательной части оси х добавлено по одному отверстию для сохранения осевой симметричности расположения отверстий, причем радиус отверстий находится из соотношения
Figure 00000015
где
Figure 00000016
- средний показатель преломления в ячейке с диагональными координатами (xa, yb) и (xa+1, yb+1), xa+1-xa=d, ya+1-ya=d,
Figure 00000017
где x - поперечная к оптической оси координата, L - длина линзы, n0 - показатель преломления материала линзы. 6 ил.

Description

Изобретение относится к фокусировке когерентного оптического излучения для получения фокусного пятна, ширина которого меньше дифракционного предела в 2D случае (цилиндрическая линза). Данная линза может быть использована в изображающих планарных устройствах, устройствах интегральной оптики, для соединения оптических волноводов, для ввода излучения в фотонно-кристаллические и планарные волноводы и т.д.
Для планарной фокусировки света используются различные типы линз. Самым простым вариантом являются обычные сферические или асферические линзы.
Например, в патенте США US 7408129 B2 от 5.08.2008 (аналог), МПК B23K 26/06, G02B 7/02 используются скрещенные цилиндрические линзы для фокусировки излучения. Излучение от источника вначале фокусируется одной линзой, затем сходящийся пучок фокусируется второй линзой.
Однако с помощью линз из вышеуказанного источника невозможно получить минимальное фокусное пятно в связи с низкой числовой апертурой.
Для достижения острой фокусировки следует использовать линзы с высокой числовой апертурой. Если считать, что фокусное пятно создается только распространяющимися волнами с максимальным наклоном к оптической оси, равным θ, то ширина фокуса по полуспаду интенсивности должна быть равной
Figure 00000001
,
где λ - длина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, в которой происходит фокусировка света. При числовой апертуре NA=nsinθ, стремящейся к n, ширина фокуса в 2D случае не может быть лучше
Figure 00000002
Эту величину можно рассматривать как дифракционный предел в 2D случае. Для уменьшения фокусного пятна меньше дифракционного предела следует фокусировать свет вблизи раздела двух сред, например, материал оптического элемента с показателем преломления n>1 и воздух с показателем преломления 1. Вблизи поверхности раздела сред возбуждаются поверхностные световые волны, конструктивная интерференция которых может приводить к уменьшению фокусного пятна ниже дифракционного предела. Это возможно потому, что поверхностные волны имеют проекцию волнового вектора kx на поперечную координату х, большую, чем волновое число в среде: kx>k0n, где k0=2π/λ - волновое число света в вакууме.
Известно, что градиентные линзы, показатель преломления в которых зависит от координат, могут фокусировать свет вблизи своей поверхности. Наилучшими фокусирующими свойствами обладает градиентная линза, показатель преломления которой описывается выражением:
Figure 00000003
где L - длина линзы, n0 - максимальный показатель преломления на оптической оси, x - поперечная координата (Микаэлян А.Л. Применение свойств среды для фокусирования волн // Доклады академии наук СССР. - 1951. - Вып.81. - С.569-571). Однако для ее изготовления необходимо создать среду, градиентный показатель преломления которой плавно меняется в диапазоне от 1 до n0. На практике это сделать почти невозможно. Обычно используют ступенчатое изменение значения показателя преломления за счет послойного нанесения материалов с различным показателем преломления. Внесение дискретности в изменение показателя преломления отрицательно сказывается на точности изменения показателя преломления, а также на качестве работы линзы. Кроме того, использование материалов с ограниченным набором показателей преломления создает ограничения на расчет (проектирование) такой линзы.
Также для фокусировки когерентного излучения используются дифракционные оптические элементы. Однако в данном случае фокусная плоскость находится за линзой в свободном пространстве, что приводит к увеличению диаметра фокусного пятна.
Наиболее близка к данному изобретению линза-прототип, описанная в статье «Фотонно-кристаллическая линза Микаэляна» Котляра В.В., Триандафилова Я.Р. (Компьютерная оптика. - 2007. - Т.31. - №3. - С.27-31). Данная линза рассчитывается по приведенной выше формуле среднего показателя преломления. Для достижения расчетного среднего показателя преломления в однородном материале линзы создается прямоугольная матрица отверстий размерностью M×N, где М - число отверстий по поперечной оси линзы и N - число отверстий по оптической оси линзы. Центры всех отверстий лежат в узлах прямоугольной сетки размером M×N. Расстояние между центрами d отверстий постоянное и меньше длины волны в среде d<λ/n, где λ - длина волны в вакууме, n - показатель преломления материала линзы. При этом радиусы отверстий рассчитывались по формуле:
Figure 00000004
где x - поперечная координата линзы, L - длина линзы вдоль оптической оси z. В работе («Фотонно-кристаллическая линза для сопряжения двух планарных волноводов» / Котляр В.В., Триандафилов Я.Р., Ковалев А.А., Котляр М.И., Волков А.В., Володкин Б.О., Сойфер В.А., О'Фелон Лим, Краусс Томас // Компьютерная оптика, 2008. - Т.32. - №.4. - С.326-336) с помощью моделирования показано, что такая фотонно-кристаллическая линза фокусирует свет в фокусное пятно вблизи своей поверхности с диаметром по полуспаду интенсивности, равным FWHM=0,32λ. Это значение меньше дифракционного предела FWHM=0,44λ, но все-таки достаточно велико, фокусировка света данной фотонно-кристаллической линзой недостаточно острая.
Можно достичь более острой фокусировки света при другой расстановке и расчета диаметра отверстий. Данное изобретение улучшает фокусирующие свойства известной фотонно-кристаллической линзы.
Цель данного изобретения разработать линзу (аналог цилиндрической линзы) для фокусировки плоской световой волны вблизи ее границы с малым фокусным пятном, совмещающую в себе преимущества градиентных линз и возможность простого практического изготовления, не состоящую из набора слоев различных материалов, а также позволяющую сфокусировать свет в пятно меньшего диаметра, чем известные фотонно-кристаллические линзы.
Этого удалось достичь за счет того, что у планарной фотонно-кристаллической микролинзы, имеющей прямоугольную входную апертуру, содержащей отверстия с периодом d поперек и вдоль оптической оси в материале линзы, согласно изобретению четные ряды отверстий, перпендикулярные оптической оси линзы, смещены на d/2 в положительном направлении поперечной оси x, при этом в них со стороны отрицательной части оси x добавлено по одному отверстию для сохранения осевой симметричности расположения отверстий, причем радиус отверстий находится из соотношения
Figure 00000005
где
Figure 00000006
- средний показатель преломления в ячейке с диагональными координатами (xa, yb) и (xa+1, yb+1), xa+1-xa=d, ya+1-ya=d,
Figure 00000007
где x - поперечная к оптической оси координата, L - длина линзы, n0 - показатель преломления материала линзы.
Так как при изготовлении линзы по технологии электронной литографии и ионно-химического травления нельзя создать в материале отверстие с очень большим аспектом (отношение глубины цилиндрического отверстия к его диаметру), то существует ограничение по возможному минимальному диаметру отверстия в линзе. Это обстоятельство учитывается при расчете.
Такую планарную линзу можно использовать для фокусировки света в планарный волновод, согласования планарных волноводов, создания изображающих планарных устройств и т.д. Линза рассчитана для телекоммуникационной длины волны света 1,55 мкм и выполнена в кремнии. Показатель преломления кремния для данной длины волны n=3,47. На практике изготовить линзу можно с помощью технологии плазменного или жидкостного травления кремния после нанесения на него маскирующего слоя резиста с отверстиями.
На Фиг.1 приведено (в полутонах) распределение показателя преломления в градиентной гиперболической секансной линзе (аналог) длиной L=2 мкм и шириной 2R=4,8 мкм.
На Фиг.2 приведено распределение интенсивности света в относительных единицах в фокальной плоскости линзы при z=2 мкм.
На Фиг.3 приведено распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе (прототип) с периодом отверстий d=250 нм.
На Фиг.4 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы при z=2 мкм.
На Фиг.5 приведено распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе с шахматной расстановкой отверстий.
На Фиг.6 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы с шахматной расстановкой отверстий.
Для расстановки отверстий в шахматном порядке вся площадь фотонно-кристаллической линзы разбита на М рядов. В первом ряду N отверстий, во 2-м - (N+1) отверстий, в 3-м - N, в 4-м - (N+1) и т.д. Каждое отверстие выполняется в квадратной ячейке. Размер ячейки выбирался из условия возможного размещения в нем отверстия с максимальным диаметром d<λ/n0 и в данном случае был равен 0,25×0,25 мкм.
Обозначим две диагональные координаты произвольной квадратной ячейки как (xa, yb) и (xa+1, yb+1), 1≤a≤N, 1≤b≤M. Средний показатель преломления в ячейке будет равен:
Figure 00000008
Так как показатель преломления не зависит от координаты у вдоль оптической оси, можно записать:
Figure 00000009
Тогда радиус отверстия с номером (а, b) rab находится по формуле:
Figure 00000010
На радиус отверстия накладывается ограничение:
rab<d/2.
В случае получения при расчете радиуса rab более указанных размеров, его размер уменьшается до половины стороны квадратной ячейки размером d. Отверстие располагается по центру ячейки.
На Фиг.1 приведено в градациях серого распределение показателя преломления в градиентной гиперболической секансной линзе (аналог). Видно, что показатель преломления, максимальный по центру, достигающий значения n0=3,47, и спадает к краям до n(R)=1. Ширина микролинзы составляет 2R=4,8 мкм, длина L=2 мкм. Линза рассчитана на длину волны света λ=1,55 мкм.
На Фиг.2 приведено распределение интенсивности I света в относительных единицах в фокальной плоскости линзы, показанной на Фиг.1. Фокальная плоскость расположена на границе линзы при z=2 мкм. Как видно из графика, ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=0,181 мкм=0,117λ. Дифракционный предел ширины фокусного пятна по полуспаду интенсивности для данного показателя преломления и длины волны составляет
Figure 00000011
На Фиг.3 приведено распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе с расположением отверстий, как в прототипе: центры отверстий находятся в узлах прямоугольной сетки отсчетов. Параметры линзы: максимальный диаметр отверстия равен периоду 0,25 мкм; линза выполнена из 8 рядов и 18 столбцов отверстий в кремнии с показателем преломления n=3,47; ширина и длина линзы те же, что и на Фиг.1.
На Фиг.4 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы, показатель преломления которой изображен на Фиг.3. Ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=0,138λ сразу за линзой.
На Фиг.5 показано распределение показателя преломления в фотонно-кристаллической линзе с расположением отверстий в шахматном порядке. Параметры линзы те же, что и на Фиг.3. Четные ряды линзы имеют по 19 отверстий, нечетные 18.
На Фиг.6 приведено распределение интенсивности света в фокальной плоскости фотонно-кристаллической линзы с расположением отверстий в шахматном порядке (распределение показателя преломления представлено на Фиг.5). Ширина фокального пятна по полуспаду интенсивности составляет FWHM=0,118λ сразу за линзой. Таким образом видно, что данное распределение отверстий имеет преимущество перед распределением отверстий в виде прямоугольной матрицы.
Из приведенного примера видно, что планарная линза с шахматным расположением отверстий формирует более узкое фокусное пятно (при прочих равных условиях), чем планарная фотонно-кристаллическая линза с прямоугольной матрицей отверстий (прототип). Преимущество данной линзы заключается также в простоте и удобстве изготовления с помощью технологий нанолитографии (запись отверстий в маскирующем слое электронного резиста типа ЭРП-40 электронным лучом в электронном микроскопе с литографической приставкой с последующим проявлением резиста и плазмо-химическим травлением подложки) или фотолитографии.

Claims (1)

  1. Планарная фотонно-кристаллическая микролинза, имеющая прямоугольную входную апертуру, содержащая отверстия с периодом d поперек и вдоль оптической оси в материале линзы, отличающаяся тем, что четные ряды отверстий, перпендикулярные оптической оси линзы, смещены на d/2 в положительном направлении поперечной оси x, при этом в них со стороны отрицательной части оси x добавлено по одному отверстию для сохранения осевой симметричности расположения отверстий, причем радиус отверстий находится из соотношения
    Figure 00000012

    где
    Figure 00000013
    - средний показатель преломления в ячейке с диагональными координатами (xa, yb) и (xa+1, yb+1), xa+1-xa=d, ya+1-ya=d,
    Figure 00000014
    , где x - поперечная к оптической оси координата, L - длина линзы, n0 - показатель преломления материала линзы.
RU2011146840A 2011-11-17 Планарная фотонно-кристаллическая микролинза RU2473155C1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2473155C1 true RU2473155C1 (ru) 2013-01-20

Family

ID=

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU204699U1 (ru) * 2020-06-01 2021-06-07 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) СВЧ (КВЧ) электрически управляемое устройство фокусировки излучения с субдифракционным размером

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU204699U1 (ru) * 2020-06-01 2021-06-07 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) СВЧ (КВЧ) электрически управляемое устройство фокусировки излучения с субдифракционным размером

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7199224B2 (ja) 中空ナノジェットレンズによる近傍界フォーカシング
JP2020522009A (ja) 分散設計型の誘電性メタ表面による広帯域アクロマティック平坦光学コンポーネント
US10317696B2 (en) Electromagnetic wave focusing device and optical apparatus including the same
KR102579589B1 (ko) 이중 재료 구조체를 포함하는 회절 격자
US9019468B2 (en) Interference projection exposure system and method of using same
US20100020400A1 (en) Diffractive optical element, method for manufacturing diffractive optical element, and laser beam machining method
WO2010073585A1 (ja) シート及び発光装置
US10061139B2 (en) Optical devices based on non-periodic sub-wavelength gratings
JP2020529925A (ja) 内部材料のレーザ加工方法
JP2018045073A (ja) メタサーフェス
US20210200079A1 (en) Negative refraction imaging lithographic method and equipment
RU2473155C1 (ru) Планарная фотонно-кристаллическая микролинза
RU2454760C1 (ru) Планарная бинарная микролинза
CN108646429B (zh) 一种结构光投影仪
RU2539850C2 (ru) Планарная цилиндрическая микролинза
CN113056698B (zh) 用于近场聚焦、光束形成和高效远场器件实现的非均质微透镜器件
CN111123535B (zh) 一种光学准直系统
Sotirova et al. Low Cross-Talk Optical Addressing of Trapped-Ion Qubits Using a Novel Integrated Photonic Chip
Stuerzebecher et al. Wafer scale fabrication of submicron chessboard gratings using phase masks in proximity lithography
US11933939B2 (en) Metalens with artificial focus pattern
Whitehead Physical and Digital methods for tunable metasurfaces
Yan Light Field Manipulation Via Engineered Microsphere for Optical Nano-Imaging
Yuan et al. Achromatic super-oscillatory lenses
TW202240209A (zh) 用於大偏轉角之具有高深寬比單位晶胞之光學超表面
JP2015007725A (ja) 光学的結像装置