RU2449342C1 - Reference-voltage source - Google Patents
Reference-voltage source Download PDFInfo
- Publication number
- RU2449342C1 RU2449342C1 RU2011122190/08A RU2011122190A RU2449342C1 RU 2449342 C1 RU2449342 C1 RU 2449342C1 RU 2011122190/08 A RU2011122190/08 A RU 2011122190/08A RU 2011122190 A RU2011122190 A RU 2011122190A RU 2449342 C1 RU2449342 C1 RU 2449342C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- transistor
- emitter
- base
- collector
- resistor
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
Abstract
Description
Предлагаемое изобретение относится к области электротехники и может использоваться в стабилизаторах напряжения, аналогово-цифровых преобразователях и других элементах автоматики и вычислительной техники.The present invention relates to the field of electrical engineering and can be used in voltage stabilizers, analog-to-digital converters and other elements of automation and computer technology.
Известны источники опорного напряжения (ИОН), имеющие высокую стабильность, но содержащие в своем составе биполярные транзисторы p-n-p типа и полевые транзисторы с изолированным затвором, что снижает их радиационную стойкость [Haiplik, H.. Voltage Reference Circuit. / US patent No.7626374, Dec.1, 2009].Reference voltage sources (IONs) are known that have high stability but contain p-n-p type bipolar transistors and insulated gate field effect transistors, which reduces their radiation resistance [Haiplik, H .. Voltage Reference Circuit. / US patent No.7626374, Dec.1, 2009].
Наиболее близким техническим решением, принятым за прототип, является ИОН, приведенный в [Scoones, K. Voltage Reference Circuit with Increased Intrinsic Accuracy. / US Patent No.6642777, Nov.4, 2003].The closest technical solution adopted for the prototype is the ION given in [Scoones, K. Voltage Reference Circuit with Increased Intrinsic Accuracy. / US Patent No.6642777, Nov.4, 2003].
На фиг.1 показана схема прототипа, содержащая первый транзистор, эмиттером соединенный с эмиттером второго транзистора, база которого подключена к коллектору первого транзистора и первому выводу первого резистора, второй вывод которого подключен к точке соединения базы первого транзистора, неинвертирующего входа операционного усилителя, выхода операционного усилителя, первого вывода второго резистора и выходом устройства, третий резистор, включенный между эмиттером первого транзистора и общей шиной, четвертый резистор, включенный между шиной питания и точкой соединения коллектора второго транзистора с инвертирующим входом операционного усилителя, а второй вывод второго резистора подключен к шине питания.Figure 1 shows a prototype circuit comprising a first transistor connected by an emitter to an emitter of a second transistor, the base of which is connected to the collector of the first transistor and the first output of the first resistor, the second output of which is connected to the connection point of the base of the first transistor, a non-inverting input of an operational amplifier, an operating output amplifier, the first output of the second resistor and the output of the device, the third resistor connected between the emitter of the first transistor and the common bus, the fourth resistor turned on I wait for the power bus and the connection point of the collector of the second transistor with the inverting input of the operational amplifier, and the second output of the second resistor is connected to the power bus.
Недостатком прототипа является низкий коэффициент стабилизации и малый диапазон изменения питающего напряжения.The disadvantage of the prototype is the low stabilization coefficient and a small range of changes in the supply voltage.
Задачей предлагаемого изобретения является повышение коэффициента стабилизации и расширение диапазона изменения питающего напряжения при сохранении высокой температурной стабильности выходного напряжения.The objective of the invention is to increase the stabilization coefficient and expand the range of variation of the supply voltage while maintaining high temperature stability of the output voltage.
Для решения поставленной задачи в схему прототипа, содержащую первый транзистор, эмиттером подключенный к эмиттеру второго транзистора, первый резистор, включенный между эмиттером первого транзистора и общей шиной, второй резистор, первым выводом подключенный к точке соединения базы первого транзистора с коллектором второго транзистора, второй вывод второго резистора подключен к базе второго транзистора и к выходу устройства, третий резистор, первым выводом подключенный к шине питания, а вторым к коллектору первого транзистора, четвертый резистор, первым выводом соединенный с шиной питания, введен третий транзистор, четвертый транзистор, пятый транзистор, шестой транзистор, первый и второй полевые транзисторы, причем база третьего транзистора соединена с базой второго транзистора, его эмиттер подключен к эмиттеру второго транзистора, коллектор третьего транзистора соединен со вторым выводом четвертого резистора и с истоком первого полевого транзистора, эмиттер четвертого транзистора соединен с выходом устройства, его коллектор соединен с шиной питания, а его база соединена со стоком первого полевого транзистора и коллектором пятого транзистора, база пятого транзистора соединена с базой и коллектором шестого транзистора и со стоком второго полевого транзистора, эмиттер пятого транзистора соединен с эмиттером шестого транзистора и общей шиной, затвор первого и второго полевого транзистора подключен к шине питания, а сток второго полевого транзистора соединен с коллектором первого транзистора.To solve this problem, a prototype circuit containing a first transistor connected by an emitter to an emitter of a second transistor, a first resistor connected between an emitter of a first transistor and a common bus, a second resistor connected to a base connection point of a first transistor with a collector of a second transistor, a second output the second resistor is connected to the base of the second transistor and to the output of the device, the third resistor, the first output connected to the power bus, and the second to the collector of the first transistor, four the third resistor, connected to the power bus by the first output, the third transistor, the fourth transistor, the fifth transistor, the sixth transistor, the first and second field effect transistors are introduced, the base of the third transistor connected to the base of the second transistor, its emitter connected to the emitter of the second transistor, the collector of the third transistor connected to the second output of the fourth resistor and to the source of the first field-effect transistor, the emitter of the fourth transistor is connected to the output of the device, its collector is connected to the power bus, and its base connected to the drain of the first field-effect transistor and the collector of the fifth transistor, the base of the fifth transistor is connected to the base and collector of the sixth transistor and to the drain of the second field-effect transistor, the emitter of the fifth transistor is connected to the emitter of the sixth transistor and a common bus, the gate of the first and second field-effect transistor is connected to the power bus and the drain of the second field-effect transistor is connected to the collector of the first transistor.
Заявляемый ИОН (фиг.2) содержит первый транзистор 1, эмиттером подключенный к эмиттеру второго транзистора 2, первый резистор 3, включенный между эмиттером первого транзистора 1 и общей шиной, второй резистор 4, первым выводом подключенный к точке соединения базы первого транзистора 1 с коллектором второго транзистора 2, третий транзистор 5, база которого подключена к базе второго транзистора 2 и к выходу устройства, эмиттер третьего транзистора 5 соединен с эмиттером второго транзистора 2, коллектор третьего транзистора 5 подключен к истоку первого полевого транзистора 6, затвор которого подключен к шине питания, а сток - к базе четвертого транзистора 7, третий резистор 8 включен между истоком первого полевого транзистора 6 и шиной питания, второй полевой транзистор 9, истоком подключенный к коллектору первого транзистора 1, затвором - к шине питания, а стоком - к точке соединения базы и коллектора пятого транзистора 10 и базы шестого транзистора 11, эмиттеры пятого транзистора 10 и шестого транзистора 11 подключены к общей шине, коллектор шестого транзистора 11 подключен к базе четвертого транзистора 7, коллектор которого подключен к шине питания, и четвертый резистор 12, включенный между шиной питания и истоком второго полевого транзистора 9.The inventive ION (Fig. 2) comprises a
Работу заявляемого ИОН можно пояснить следующим образом.The operation of the claimed ION can be explained as follows.
При подаче питающего напряжения на ИОН из эмиттера четвертого транзистора 7 поступает ток, обеспечивающий токи баз и коллекторов второго транзистора 2 и третьего транзистора 5. В этом случае за счет падения напряжения на втором резисторе 4 создается разность напряжений база - эмиттер транзисторов 1 и 2When the supply voltage to the ion is supplied from the emitter of the
где I2 - ток коллектора второго транзистора 2; R4 - сопротивление второго резистора 4; φT - температурный потенциал; I1 - ток коллектора первого транзистора 1, n - отношение площади эмиттера первого транзистора 1 к площади эмиттера второго транзистора 2.where I 2 is the collector current of the
Таким образом, ток коллектора первого транзистора 1 определяется разностью напряжений база - эмиттер транзисторов и, как известно, имеет положительный температурный дрейф.Thus, the collector current of the
Для выходного напряжения ИОН можно записать:For the output voltage of the ion can be written:
где UБЭ.2 - напряжение база - эмиттер второго транзистора 2; R3 - сопротивление первого резистора 3.where U BE.2 - voltage base - emitter of the
Дифференцируя (2) по температуре и приравнивая производную нулю, можно найти условие, при котором выходное напряжение не будет зависеть от температуры. Такое условие существует, так как напряжение база - эмиттер имеет отрицательный температурный дрейф, а разность напряжений база - эмиттер - положительный температурный дрейф. Отметим, что и ток I1 имеет положительный температурный дрейф, что можно подтвердить результатами моделирования.Differentiating (2) with respect to temperature and equating the derivative to zero, we can find a condition under which the output voltage will not depend on temperature. Such a condition exists, since the base - emitter voltage has a negative temperature drift, and the difference between the base - emitter voltages is a positive temperature drift. Note that the current I 1 has a positive temperature drift, which can be confirmed by the simulation results.
На фиг.3 приведена схема заявляемого ИОН в среде PSpice, а фиг.4 - схема прототипа. В качестве моделей использованы компоненты аналогового базового матричного кристалла (АБМК), выпускаемого Минским НПО «Интеграл» [Дворников, О.В. Аналоговый биполярно-полевой БМК с расширенными функциональными возможностями / О.В.Дворников, В.А.Чеховской // Chip News. - 1999. - №2. - С.21-23]. Транзисторы VT1-VT3 - GC_05_NPN, транзистор VT4 - PNPJF_JFET. Модели резисторов имеют линейный температурный коэффициент 0,15%/°С. В качестве операционного усилителя использована макромодель усилителя uА741 из библиотеки Spice-моделей OPAMP.LIB.Figure 3 shows a diagram of the claimed ION in the environment of PSpice, and figure 4 is a diagram of a prototype. As models, the components of the analog base matrix crystal (ABMK) manufactured by the Minsk NPO Integral [Dvornikov, O.V. Analog bipolar-field BMK with advanced functionality / O.V.Dvornikov, V.A. Chekhovskoy // Chip News. - 1999. - No. 2. - S.21-23]. Transistors VT1-VT3 - GC_05_NPN, transistor VT4 - PNPJF_JFET. Resistor models have a linear temperature coefficient of 0.15% / ° C. As an operational amplifier, the uA741 amplifier macro model from the OPAMP.LIB library of Spice models was used.
Результаты моделирования заявляемого ИОН при изменении температуры приведены на фиг.5.The simulation results of the claimed ION when the temperature changes are shown in Fig.5.
График, приведенный на фиг.5, иллюстрирует зависимость выходного напряжения от температуры (нижний плот) и относительный температурный дрейф выходного напряжения (верхний плот). В данном случае температурный дрейф выходного напряжения не хуже ±34 ppm/°C, а максимальное относительное отклонение выходного напряжения во всем диапазоне изменения температуры составляет ±0,035%.The graph in FIG. 5 illustrates the dependence of the output voltage on temperature (lower raft) and the relative temperature drift of the output voltage (upper raft). In this case, the temperature drift of the output voltage is not worse than ± 34 ppm / ° C, and the maximum relative deviation of the output voltage in the entire range of temperature changes is ± 0.035%.
Оценим коэффициент стабилизации схемы прототипа. Для этого запишем выходное напряжение в схеме прототипа в виде:Estimate the stabilization coefficient of the prototype circuit. To do this, we write the output voltage in the prototype circuit in the form:
где UБЭ.2 - напряжение база - эмиттер транзистора VT2 (фиг.1); I1, I2 - токи коллекторов транзисторов VT1 и VT2 соответственно; R2 - сопротивление резистора R2.where U BE.2 - voltage base - emitter of the transistor VT2 ( figure 1); I 1 , I 2 - collector currents of transistors VT1 and VT2, respectively; R 2 is the resistance of the resistor R2.
Чтобы определить нестабильность выходного напряжения в схеме прототипа, продифференцируем выражение (3) по входному напряжению ЕП:To determine the instability of the output voltage in the prototype circuit, we differentiate the expression (3) by the input voltage EP :
Заметим, что приращение тока через резистор R1 за счет действия глубокой отрицательной обратной связи равно приращению тока через резистор R3 и равно приращению тока коллектора I1 транзистора VT1.Note that the increment of the current through the resistor R1 due to the action of deep negative feedback is equal to the increment of the current through the resistor R3 and is equal to the increment of the collector current I 1 of the transistor VT1.
Приращение тока IR3 через резистор R3 и, следовательно, приращение тока I1 можно найти следующим образом:The current increment I R3 through the resistor R3 and, therefore, the current increment I 1 can be found as follows:
при условии, что dEП>>dUВЫХ.provided that dE П >> dU OUTPUT .
Первое слагаемое в выражении (4) можно представить какThe first term in expression (4) can be represented as
где rЭ.2 - дифференциальное сопротивление эмиттера транзистора VT2.where r E. 2 is the differential resistance of the emitter of the transistor VT2.
Поскольку для тока I2 справедливо выражениеSince for the current I 2 the expression
, ,
откудаwhere from
С учетом выражения (5) выражение (7) можно представить какGiven expression (5), expression (7) can be represented as
Подставляя (5), (6) и (8) в (4), получаем:Substituting (5), (6) and (8) in (4), we obtain:
Таким образом, если определить коэффициент стабилизации через конечные приращения какThus, if we determine the stabilization coefficient through finite increments as
, ,
из (9) следует:from (9) it follows:
По аналогии с предыдущим случаем для схемы заявляемого ИОН можно записать:By analogy with the previous case for the circuit of the claimed ION can be written:
где UБЭ.2 - напряжение база - эмиттер второго транзистора VT2 (фиг.2); I1 - ток коллектора первого транзистора VT1; I2 - ток коллектора второго транзистора VT2; I3 - ток коллектора третьего транзистора VТ3.where U BE.2 - base voltage - emitter of the second transistor VT2 ( figure 2); I 1 is the collector current of the first transistor VT1; I 2 is the collector current of the second transistor VT2; I 3 - collector current of the third transistor VT3.
Поскольку токи коллекторов транзисторов VT1 и VT3 практически равны и практически равны их приращения при изменении питающего напряжения, после дифференцирования выражения (11) получаем:Since the collector currents of transistors VT1 and VT3 are almost equal and almost equal to their increments when the supply voltage changes, after differentiating expression (11) we get:
С учетом того, что основное приращение тока через третий резистор 12 происходит за счет конечного сопротивления коллектор - база первого транзистора VT1, то естьGiven the fact that the main current increment through the third resistor 12 is due to the final collector resistance - the base of the first transistor VT1, that is
, ,
выражение (12) можно представить в виде:expression (12) can be represented as:
где rКБ - дифференциальное сопротивление коллектор - база первого транзистора VT1.where r KB is the differential resistance of the collector is the base of the first transistor VT1.
Используя преобразования, аналогичные предыдущему анализу схемы прототипа, для заявляемого ИОН находим:Using transformations similar to the previous analysis of the prototype circuit, for the claimed ION we find:
Из сопоставления выражений (14) и (10) видно, что при одинаковых режимах транзисторов, входящих в состав прототипа и заявляемого ИОН, будет выполняться условие:From a comparison of expressions (14) and (10) it can be seen that with the same modes of transistors that are part of the prototype and the claimed ION, the condition will be met:
Результаты сопоставительного моделирования схемы заявляемого ИОН и прототипа приведены на фиг.6 и фиг.7.The results of comparative modeling of the circuit of the claimed ION and the prototype are shown in Fig.6 and Fig.7.
График, приведенный на фиг.6, показывает зависимость изменения выходного напряжения схемы прототипа при изменении входного напряжения (нижний плот) и его коэффициента стабилизации (верхний плот).The graph shown in Fig.6 shows the dependence of the change in the output voltage of the prototype circuit when the input voltage (lower raft) and its stabilization coefficient (upper raft) change.
На фиг.7 представлены аналогичные зависимости для схемы заявляемого ИОН.Figure 7 presents similar dependencies for the circuit of the claimed ION.
Из представленных результатов моделирования видно, что коэффициент стабилизации заявляемого ИОН по крайней мере в шесть раз больше, чем в схеме прототипа. Кроме того, схема прототипа сохраняет функциональную годность при изменении входного напряжения в пределах ±0,1 В, а затем переходит в триггерный режим, а схема заявляемого ИОН сохраняет работоспособность в диапазоне изменения входного напряжения ±0,5 В и более. На фиг.8 приведено изменение выходного напряжения ИОН схемы прототипа при изменении температуры в пределах от -40°C до 120°C при параметрическом изменении питающего напряжения от 2,9 В до 3,2 В. При входном напряжении 3,2 В схема прототипа переходит в триггерный режим.From the presented simulation results, it is seen that the stabilization coefficient of the claimed ION is at least six times greater than in the prototype circuit. In addition, the prototype circuit maintains functional validity when the input voltage changes within ± 0.1 V, and then goes into the trigger mode, and the circuit of the claimed ION maintains operability in the range of the input voltage ± 0.5 V or more. On Fig shows the change in the output voltage of the ION circuit of the prototype when the temperature varies from -40 ° C to 120 ° C with a parametric change in the supply voltage from 2.9 V to 3.2 V. When the input voltage of 3.2 V circuit of the prototype goes into trigger mode.
На фиг.9 приведено изменение выходного напряжения заявляемого ИОН при изменении температуры в пределах от -40°C до 120°C при параметрическом изменении питающего напряжения от 5,5 В до 6,5 В. Как видно из приведенных графиков, работоспособность схемы заявляемого ИОН сохраняется во всем диапазоне изменения входного напряжения, причем абсолютное отклонение выходного напряжения не выходит за пределы нестабильности при изменении температуры.Figure 9 shows the change in the output voltage of the claimed ION when the temperature varies from -40 ° C to 120 ° C with a parametric change in the supply voltage from 5.5 V to 6.5 V. As can be seen from the above graphs, the performance of the circuit of the claimed ION remains in the entire range of input voltage variation, and the absolute deviation of the output voltage does not go beyond instability when the temperature changes.
Таким образом, задача предлагаемого изобретения - повышение коэффициента стабилизации при расширении диапазона изменения питающего напряжения решена.Thus, the task of the invention is to increase the stabilization coefficient while expanding the range of variation of the supply voltage is solved.
Дополнительным преимуществом предлагаемого изобретения является его повышенная радиационная стойкость, так как транзисторы n-p-n типа, входящие в состав АБМК, обладают повышенной радиационной стойкостью, а полевые транзисторы с управляющим p-n переходом и каналом p-типа практически не чувствительны к потоку нейтронов вплоть до интенсивности F=1013 n/см2·с. Результаты моделирования схемы заявляемого ИОН при различных уровнях радиационного воздействия, приведенные на фиг.10, показывают, что сохраняется не только функциональная годность заявляемого ИОН, но и в значительной мере сохраняется его свойство температурной стабильности вплоть до F=1013 n/см2·с.An additional advantage of the present invention is its increased radiation resistance, since npn type transistors included in the ABMK have increased radiation resistance, and field effect transistors with a pn junction control and a p-type channel are practically insensitive to neutron flux up to an intensity of F = 10 13 n / cm 2 · s The simulation results of the circuit of the claimed ION at various levels of radiation exposure, shown in Fig. 10, show that not only the functional validity of the claimed ION is maintained, but also its property of temperature stability is preserved up to F = 10 13 n / cm 2 · s .
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011122190/08A RU2449342C1 (en) | 2011-05-31 | 2011-05-31 | Reference-voltage source |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2011122190/08A RU2449342C1 (en) | 2011-05-31 | 2011-05-31 | Reference-voltage source |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2449342C1 true RU2449342C1 (en) | 2012-04-27 |
Family
ID=46297632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2011122190/08A RU2449342C1 (en) | 2011-05-31 | 2011-05-31 | Reference-voltage source |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2449342C1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2525745C1 (en) * | 2013-02-11 | 2014-08-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Source of reference voltage |
RU2546079C1 (en) * | 2014-02-25 | 2015-04-10 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Донской Государственный Технический Университет" (Дгту) | Reference voltage source based on triple width of silicon inhibited zone |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2332702C1 (en) * | 2007-03-07 | 2008-08-27 | ГОУ ВПО "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ЮРГУЭС) | Source of reference voltage |
EP1995655A1 (en) * | 2007-05-25 | 2008-11-26 | Micrel, Inc. | Voltage regulation system |
RU2394266C1 (en) * | 2009-05-15 | 2010-07-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Balance-type voltage stabiliser |
-
2011
- 2011-05-31 RU RU2011122190/08A patent/RU2449342C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2332702C1 (en) * | 2007-03-07 | 2008-08-27 | ГОУ ВПО "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ЮРГУЭС) | Source of reference voltage |
EP1995655A1 (en) * | 2007-05-25 | 2008-11-26 | Micrel, Inc. | Voltage regulation system |
RU2394266C1 (en) * | 2009-05-15 | 2010-07-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ГОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Balance-type voltage stabiliser |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2525745C1 (en) * | 2013-02-11 | 2014-08-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Source of reference voltage |
RU2546079C1 (en) * | 2014-02-25 | 2015-04-10 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Донской Государственный Технический Университет" (Дгту) | Reference voltage source based on triple width of silicon inhibited zone |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103729010B (en) | High-precision band-gap reference source circuit | |
CN107817860B (en) | Low-voltage bandgap reference circuit and voltage generating circuit | |
WO2023103748A1 (en) | Low-voltage detection circuit | |
RU2449342C1 (en) | Reference-voltage source | |
RU2332702C1 (en) | Source of reference voltage | |
CN101320279B (en) | Current generator | |
RU2461864C1 (en) | Source of reference voltage | |
CN206270791U (en) | A kind of band-gap reference circuit | |
RU2480899C1 (en) | Source of reference voltage | |
CN115328262A (en) | Low-voltage low-power-consumption CMOS reference voltage source with process compensation and debugging method | |
RU2447477C1 (en) | Reference-voltage source | |
RU2473951C1 (en) | Source of reference voltage | |
Jaeger et al. | Impact of mechanical stress on bipolar transistor current gain and early voltage | |
Nardmann et al. | A multiregion approach to modeling the base-collector junction capacitance | |
CN112947668B (en) | Band-gap reference voltage generation circuit with high-order temperature compensation | |
CN107491133B (en) | A kind of bandgap voltage reference | |
RU2530260C1 (en) | Heat stable reference voltage source base on stabilitron | |
CN104977972B (en) | Low pressure and low power-consumption band-gap reference circuit | |
Starchenko et al. | The radiation-hardened voltage references on bipolar and JFET transistors | |
CN208636736U (en) | Band-gap circuit and electronic equipment | |
CN108037789B (en) | Reinforcing method of anti-radiation band gap reference circuit | |
RU2546083C1 (en) | Temperature stable radiation-resistant reference-voltage source based on differential pair of field-effect transistors | |
RU2523121C1 (en) | Source of reference voltage | |
RU2474954C1 (en) | Current mirror | |
RU2480810C1 (en) | Source of reference voltage of negative polarity |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20130601 |