RU2265088C1 - Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава - Google Patents

Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава Download PDF

Info

Publication number
RU2265088C1
RU2265088C1 RU2004115036/15A RU2004115036A RU2265088C1 RU 2265088 C1 RU2265088 C1 RU 2265088C1 RU 2004115036/15 A RU2004115036/15 A RU 2004115036/15A RU 2004115036 A RU2004115036 A RU 2004115036A RU 2265088 C1 RU2265088 C1 RU 2265088C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
crystal
melt
working surface
former
rotation
Prior art date
Application number
RU2004115036/15A
Other languages
English (en)
Inventor
А.В. Бородин (RU)
А.В. Бородин
Original Assignee
Бородин Алексей Владимирович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Бородин Алексей Владимирович filed Critical Бородин Алексей Владимирович
Priority to RU2004115036/15A priority Critical patent/RU2265088C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2265088C1 publication Critical patent/RU2265088C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Изобретение относится к электронной промышленности, а конкретно к производству профилированных кристаллов из полупроводниковых и других материалов, применяемых в электронной промышленности. Изобретение может быть использовано также в иных отраслях, где возникает необходимость получения профилированных кристаллов для конструкционных узлов и изделий из материалов, расплавы которых смачивают материал применяемых формообразователей. Сущность изобретения: Способ заключается в выращивании профилированных кристаллов из расплава путем вытягивания перемещением затравкодержателя с сообщением вращения затравкодержателю и формообразователю с капиллярной зоной для подачи расплава, расположенной между внутренней и внешней криволинейными кромками рабочей поверхности, выполненными в виде спирали для координат которых выполняется условие
Figure 00000001
где R и α - радиус и угол полярной системы координат с центром в точке пересечения плоскости, в которой лежат кромки рабочей поверхности формообразователя, и оси вращения формообразователя. Формообразователь может быть выполнен таким образом, что его рабочая поверхность располагается под углом к плоскости ее базы. Формообразователь может быть выполнен с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности над ее базой. Изобретение позволяет выращивать кристаллы из рубина, сапфира, алюмоиттриевого граната, композиционных эвтектик тугоплавких окислов, ниобата лития, молибдатов редкоземельных металлов и других веществ самых разнообразных форм, в том числе полых, например, в виде конуса, сферы, стержня (цилиндра), эллипсоида или с сечением в виде трохоиды или какой-либо разомкнутой кривой и т.п. с однородной структурой. При этом при выращивании обеспечивается постоянство толщины стенки кристалла или ее изменение по заданному закону. 4 з.п. ф-лы, 10 ил.

Description

Изобретение относится к электронной промышленности, а конкретно к производству профилированных кристаллов из полупроводниковых и других материалов, применяемых в электронной промышленности. Изобретение может быть использовано также в иных отраслях, где возникает необходимость получения профилированных кристаллов для конструкционных узлов и изделий из материалов, расплавы которых смачивают материал применяемых формообразователей. С использованием изобретения могут выращиваться кристаллы из рубина, сапфира, алюмоиттриевого граната, композиционных эвтектик тугоплавких окислов, ниобата лития, молибдатов редкоземельных металлов и т.п.
Известен способ выращивания кристаллов с использованием формообразователя, выполненного в виде съемной насадки, которая устанавливается на тигель сверху и имеет расположенную по центру капиллярную систему, по которой поступает расплав. Расплав смачивает поверхность формообразователя, выполненную с заданной кривизной с образованием боковой поверхности. Кристалл вытягивается перемещением вверх затравки и формируется с поверхности формообразователя. Характер поверхности кристалла определяется кривизной поверхности формообразователя в зоне перехода к его наружной боковой поверхности и скоростью перемещения (см. Авторское свидетельство СССР №1604869, МПК 5 С 30 В 15/34, 1978 г.).
Этот метод позволяет выращивать кристаллы в виде стержней, пластин, различных замкнутых профилей.
Недостатком метода является невозможность выращивания однородных кристаллов сложных форм с изменяющейся площадью поперечного сечения, кристаллов с открытыми или полностью изолированными полостями.
Известен также способ получения вытягиванием монокристаллов в виде полых тел, который заключается в том, что кристаллодержатель одновременно вращают и перемещают радиально в пределах угла в 90° (см. Авторское свидетельство СССР №144153, МПК4 С 30 В 15/06, 1962 г.).
Этот способ позволяет выращивать кристаллы только сферической формы. С использованием этого способа не удается вырастить кристаллы, имеющие форму тора или эллипсоида, коническую или параболическую форму и т.п. Кроме того, недостаток способа заключается в том, что выращенные кристаллы имеют неоднородные, неровные поверхности.
Известен способ получения полых кристаллов в виде труб, который заключается в вытягивании кристалла из расплава на вращаемую затравку в форме кольца. Формообразователю, имеющему кольцевой капилляр, также сообщается вращение (см. Авторское свидетельство СССР №687654, МПК 4 С 30 В 15/34, 1987 г.).
В этом способе изменяют скорости вращения формообразователя и затравки в зависимости от требуемых параметров получаемого изделия, а также выбирают режимы нагрева расплава и формообразователя. Параметры проведения процесса определяют качество получаемого изделия.
Недостатком этого способа является ограниченная номенклатура получаемых изделий, поскольку способ можно использовать только для выращивания труб.
Наиболее близким аналогом изобретения является способ получения кристаллов, в котором для вытягивания кристалла с непрерывно изменяемым профилем боковой поверхности используют относительное горизонтальное перемещение оси вращения кристалла и формообразователя, который является малым элементом формы кристалла (см. Патент РФ №2160330, МПК 7 С 30 В 15/34, 2000 г.).
Недостатком способа является большое смещение выращиваемого кристалла относительно центральной оси нагревателя теплового узла, что приводит к искажению теплового поля в кристалле, высоким температурным напряжениям и, как следствие, к возникновению блоков в кристалле и большим углам разориентации между ними. Кроме того, поскольку выращивание изделия происходит лишь из малого элемента формы, то для получения крупногабаритного (диаметром 100 мм и более) кристалла высокого качества требуются чрезвычайно низкие скорости вытягивания (~3-4 мм/час), что значительно увеличивает время процесса роста и энергоемкость технологии. Также способ не обеспечивает возможность управлять изменением толщины стенки выращиваемого изделия.
Задача изобретения заключается в разработке способа получения профилированных кристаллов для конструкционных узлов и изделий из материалов, расплавы которых смачивают материал применяемых формообразователей. Способ должен позволять выращивать кристаллы рубина, сапфира, алюмоиттриевого граната, композиционных эвтектик тугоплавких окислов, ниобата лития, молибдатов редкоземельных металлов и других веществ самых разнообразных форм, в том числе полых, например конус, сфера, стержень (цилиндр), эллипсоид, с сечением в виде трохоиды, с сечением в виде какой-либо разомкнутой кривой и тому подобное.
При выращивании кристаллов должно обеспечиваться постоянство толщины стенки кристалла или ее изменение по заданному закону.
Выращиваемые кристаллы должны иметь однородную структуру.
Задачи изобретения решаются выращиванием профилированных кристаллов из расплава путем вытягивания перемещением затравкодержателя с сообщением вращения затравкодержателю и формообразователю. Расплав подается через капиллярную зону формообразователя, расположенную между внутренней и внешней криволинейными кромками рабочей поверхности, выполненными в виде спирали, для координат которых выполняется условие
Figure 00000003
где R и α - радиус и угол полярной системы координат с центром в точке пересечения плоскости, в которой лежат кромки рабочей поверхности формообразователя, и оси вращения формообразователя.
Изменение радиуса выращиваемого кристалла происходит за счет перемещения жидкого мениска от центра вращения кристалла по рабочей поверхности формообразователя при повороте формообразователя относительно оси вращения. При этом внешний и внутренний радиусы кристалла определяются условиями касания окружностей контура выращиваемого сечения внутренней и внешней кромок формообразователя. Жидкий мениск формирует целый сектор текущего сечения кристалла, в то время как все сечение образуется за счет вращения кристалла.
Неравенство
Figure 00000004
задает семейство спиралей, которые могут быть использованы при осуществлении изобретения. Условно можно сказать, что допустимо использовать любые разворачивающиеся спирали, а также как частный случай спирали, - окружность.
Формообразователь может быть выполнен таким образом, что его рабочая поверхность располагается под углом к плоскости ее базы, что позволяет выращивать кристаллы с углом наклона образующей поверхности вращения близкой к прямому углу (например, в случае выращивания кристалла в форме полусферы).
Формообразователь может быть выполнен с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности над ее базой, что позволяет более точно контролировать толщину стенки изделия в процессе роста.
Для случая выращивания кристалла замкнутого профиля соотношение скоростей вытягивания и вращения кристалла удовлетворяет условию
Figure 00000005
где L - протяженности пути подпитки расплавом текущего сечения, мм;
Vo - скорость вытягивания кристалла, мм/час;
hmax - максимальная высота мениска расплава, мм;
ω - скорость вращения кристалла, град/час;
Rвнешн - внешний радиус выращиваемого сечения, мм;
Rвнутр - внутренний радиус выращиваемого сечения, мм.
Величина hmax зависит от материала выращиваемого кристалла и определяется опытным путем.
Как варианты, кромки рабочей поверхности могут быть выполнены в форме эвольвенты, логарифмической спирали, спирали постоянного угла или спирали архимеда.
Возможность осуществления изобретения поясняется графическими материалами.
На фиг.1 показан формообразователь сверху.
На фиг.2 показан формообразователь с плоской рабочей поверхностью в разрезе по Б-Б на фиг.1.
На фиг.3 показан формообразователь с рабочей поверхностью, расположенной под углом к плоскости ее базы, в разрезе по Б-Б на фиг.1.
На фиг.4 показан формообразователь с рабочей поверхностью, выполненной с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности над ее базой, в разрезе по Б-Б на фиг.1.
На фиг.5 показана развертка спирали при выполнении формообразователя с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности; по виду А на фиг.1.
На фиг.6. показано положение мениска на рабочей поверхности формообразователя в ходе процесса роста кристалла.
На фиг.7 показана установка для выращивания кристаллов, фронтальный вид в разрезе.
На фиг.8 показана установка для выращивания кристаллов; увеличенно показан на виде с боку (фронтальный вид) в разрезе тигель, заполненный расплавом; установка показана для положения затравочного кристалла на начальном этапе выращивания кристалла в форме полого конуса.
На фиг.9 показана установка для выращивания кристаллов в зоне тигля; установка показана на этапе завершения выращивания кристалла в форме полого конуса.
На фиг.10 представлена фотография формообразователя и выращенного кристалла в форме полого конуса.
Для получения кристалла сапфира или других кристаллов тугоплавких оксидов изготавливается формообразователь (фиг.1), имеющий плоскую рабочую поверхность 1 и базовую поверхность 2 (фиг.2, 3). Рабочая поверхность 1 располагается на выступе с кромками 3 (фиг.1). На рабочую поверхность 1 выходит проходящий через весь формообразователь вертикальный капиллярный канал 4, через который расплав доставляется к рабочей поверхности 1.
Применяется установка «НИКА-С» (КУНИ. 442199.001 ТУ), которая выпускается Федеральным государственным унитарным предприятием Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро (ФГУП ЭЗАН) с 2001 г.
Установка выполнена с осью 5 вращения и вытягивания кристалла, а также - осью 6 вращения формообразователя (фиг.6). По оси вращения и вытягивания кристалла 5 монтируется затравкодержатель 7, в котором закрепляется затравочный кристалл 8 (фиг.8).
На начальном этапе выращивания кристалла затравкодержатель 7 опускается до контакта затравочного кристалла 8 с рабочей поверхностью 1 формообразователя. Затравочный кристалл подплавляется и образуется мениск 9.
Расплавом 10 материала для выращивания кристалла заполнен тигель 11, выполненный с ножкой 12 (фиг.7), установленной по оси 6 вращения формообразователя.
Тигель 11 установлен внутри графитового концентратора 13 тока высокой частоты (нагреватель), по внешней поверхности которого располагается теплоизоляция 14, изолятор 15, индуктор 16. Графитовый концентратор 13 закрыт крышкой 17, над которой располагаются радиационные тепловые экраны 18.
Ножка 12 тигля закрепляется на нижнем штоке 19. Ножка тигля 12 проходит через центральное отверстие основания 20, на котором смонтирован графитовый концентратор 13. Крышка 17 также выполнена с отверстием для прохождения верхнего штока 21, на котором устанавливается затравкодержатель 7.
Тигель 11 закрывается крышкой 22, в которой монтируется формообразователь 23.
Скорости вращения и перемещения штоков 19 и 21 задаются приводами (не показаны), связанными с системой управления. Оси вращения штоков 19 и 21 могут относительно смещаться.
Система управления обеспечивает перемещение и вращение верхнего 21 и вращение нижнего 19 штоков с заданными скоростями.
Процесс получения кристалла проводят в среде инертного газа (аргона) при избыточном давлении в камере 0,1-0,5 атм или в вакууме.
При подготовке установки тигель 11 (фиг.8) наполняют шихтой, приготовленной из боя кристаллов сапфира, полученных методом Вернейля. Тигель 11 наполняется через щель между его верхней кромкой и формообразователем или через другие технологические отверстия. После плавления загрузки тигля 11 образовавшийся расплав поднимается по капиллярным каналам 4 до уровня рабочей поверхности 1 формообразователя.
Кристалл вытягивается в направлении, перпендикуляром плоскости вращения формообразователя с одновременным вращением вокруг оси 5 вытягивания.
Изменение радиуса выращиваемого кристалла происходит за счет перемещения жидкого мениска от центра вращения кристалла по рабочей поверхности 1 формообразователя, выполненной в форме эвольвенты, которое достигается поворотом формообразователя относительно его центра вращения. Внешний и внутренний радиусы кристалла определяются условиями касания окружностей контура выращиваемого сечения внутренней и внешней кромок 3 формообразователя. Жидкий мениск формирует целый сектор текущего сечения кристалла. Все сечение образуется за счет вращения кристалла. Рост кристалла с толщиной стенки, задаваемой формообразователем, достигается управлением температурой зоны кристаллизации, а также выбором скоростей вращения и вытягивания кристалла.
Для выращивания кристалла замкнутого профиля необходимо, чтобы вертикальное перемещение кристалла за время отсутствия контакта любой области сечения выращиваемого кристалла с расплавом не превышало максимальной высоты мениска hmax. Для этого соотношение скоростей вытягивания и вращения кристалла должно удовлетворять условию
Figure 00000006
где L - протяженности пути подпитки расплавом текущего сечения, мм;
Vo - скорость вытягивания кристалла, мм/час;
hmax - максимальная высота мениска расплава, мм;
ω - скорость вращения кристалла, градус/час;
Rвнешн - внешний радиус выращиваемого сечения, мм;
Rвнутр - внутренний радиус выращиваемого сечения, мм.
Для получения кристалла сапфира (Al2O3) в форме полого конуса с диаметром 80 мм, толщиной стенки около 5 мм и углом при вершине 40 градусов полярные координаты R и α капиллярного канала 4 выбирают удовлетворяющими уравнению криволинейной спиральной линии в виде эвольвенты:
Figure 00000007
где α0 - начальный угол поворота капиллярного канала относительно центра координат, равный 1,71 рад.
В декартовых координатах кривая линия образующая капиллярный канал запишется в виде
хк=-4(cosβ+βsinβ)
yк=4(sinβ-βcosβ)
β=α-α0.
Координаты кромок формообразователей задаются радиальным сдвигом линии, образующей капиллярный канал, во внутреннюю и внешнюю стороны на полуширину d рабочей поверхности, равной 2,5 мм:
Figure 00000008
или в декартовых координатах:
Figure 00000009
Figure 00000010
Figure 00000011
Figure 00000012
Рабочая поверхность и база применяемого формообразователя показаны на фиг.1 и фиг.6.
Процесс получения кристалла проводили в среде аргона при давлении 0,3 атм. Затравочный кристалл имеет радиус 8 мм. Ширина рабочей поверхности формообразователя равна 5 мм. Смещение оси вращения кристалла относительно оси вращения формообразователя составляет 4 мм. Скорость вытягивания устанавливалась в пределах 0,1-0,2 мм/мин, скорость вращения кристалла - 2-5 об/мин, скорость вращения формообразователя - 0,003-0,010 об/мин.
hmax для Al2O3 составляет 0,3-0,4 мм.
В результате получают кристалл в форме полого конуса. Толщина стенок, измеренная в направлении, перпендикулярном оси вытягивания, составляет 4,8-4,95 мм.
Выращивание кристалла в форме полусферы проводят с использованием формообразователя, у которого рабочая поверхность располагается под углом к плоскости ее базы.
При необходимости обеспечения точного соблюдения толщины стенки кристалла применяют формообразователь с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности над ее базой.

Claims (5)

1. Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава путем вытягивания перемещением затравкодержателя с сообщением вращения затравкодержателю и формообразователю с капиллярной зоной для подачи расплава, расположенной между внутренней и внешней криволинейными кромками рабочей поверхности, отличающийся тем, что они образуют спираль и для их координат выполняется условие
Figure 00000013
где R и α - радиус и угол полярной системы координат с центром в точке пересечения плоскости, в которой лежат кромки рабочей поверхности формообразователя, и оси вращения формообразователя.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что формообразователь выполнен таким образом, что его рабочая поверхность располагается под углом к плоскости ее базы.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что формообразователь выполнен с постепенным увеличением высоты формообразующей поверхности над ее базой.
4. Способ по п.1, или 2, или 3, отличающийся тем, что для выращивания кристалла замкнутого профиля соотношение скоростей вытягивания и вращения кристалла удовлетворяет условию
Figure 00000014
где L - протяженность пути подпитки расплавом текущего сечения, мм;
Vо - скорость вытягивания кристалла, мм/ч;
hmax - максимальная высота мениска расплава, мм;
ω - скорость вращения кристалла, град/ч;
Rвнешн - внешний радиус выращиваемого сечения, мм;
Rвнутр - внутренний радиус выращиваемого сечения, мм.
5. Способ по п.1, или 2, или 3, или 4, отличающийся тем, что кромки рабочей поверхности выполнены в форме или эвольвенты, или логарифмической спирали, или спирали постоянного угла, или спирали Архимеда.
RU2004115036/15A 2004-05-18 2004-05-18 Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава RU2265088C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2004115036/15A RU2265088C1 (ru) 2004-05-18 2004-05-18 Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2004115036/15A RU2265088C1 (ru) 2004-05-18 2004-05-18 Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2265088C1 true RU2265088C1 (ru) 2005-11-27

Family

ID=35867701

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2004115036/15A RU2265088C1 (ru) 2004-05-18 2004-05-18 Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2265088C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2451117C2 (ru) * 2010-06-09 2012-05-20 Федеральное государственное унитарное предприятие Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро Российской академии наук Устройство для выращивания профилированных кристаллов в виде полых тел вращения
CN104088010A (zh) * 2014-07-31 2014-10-08 中国电子科技集团公司第二十六研究所 一种直接成型蓝宝石整流罩的方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2451117C2 (ru) * 2010-06-09 2012-05-20 Федеральное государственное унитарное предприятие Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро Российской академии наук Устройство для выращивания профилированных кристаллов в виде полых тел вращения
CN104088010A (zh) * 2014-07-31 2014-10-08 中国电子科技集团公司第二十六研究所 一种直接成型蓝宝石整流罩的方法
CN104088010B (zh) * 2014-07-31 2016-09-21 中国电子科技集团公司第二十六研究所 一种直接成型蓝宝石整流罩的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Antonov et al. A review of developments in shaped crystal growth of sapphire by the Stepanov and related techniques
KR101094823B1 (ko) 석영 유리 도가니의 제조 방법과 장치, 및 석영 유리 도가니
Osiko et al. Synthesis of refractory materials by skull melting technique
Pollock Filamentary sapphire: Part 1 Growth and microstructural characterisation
JPH01148718A (ja) 石英るつぼの製造方法
CN111607823A (zh) 一种蓝宝石单晶的提拉法制备装置及方法
CN104745843A (zh) 一种自动化合金流变浆料制备及流变成型的装置和方法
RU2265088C1 (ru) Способ выращивания профилированных кристаллов из расплава
US5114528A (en) Edge-defined contact heater apparatus and method for floating zone crystal growth
JP5169814B2 (ja) シリコン単結晶の育成方法及びその方法で育成されたシリコン単結晶
RU2451117C2 (ru) Устройство для выращивания профилированных кристаллов в виде полых тел вращения
CN104152984B (zh) 一种用于定向生长蓝宝石单晶的可重复使用坩埚
EP1024118A2 (en) Large diameter quartz glass crucible for pulling up single crystalline silicon
JP2003095783A (ja) 酸化物系共晶体のバルクの製造装置と製造方法
CN104534879B (zh) 同步辐射μ-XRD技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉
EP0608213A1 (en) Apparatus for growing hollow crystalline bodies from the melt
JP2002137988A (ja) 単結晶引上げ方法
JP2005035861A (ja) 単結晶育成用坩堝及びそのアフターヒーター
JP2001002492A (ja) 単結晶製造方法およびその装置
KR20130098903A (ko) 석영 도가니, 석영 도가니의 제조 방법 및 주조 장치
TW200528591A (en) Method for manufacturing single crystal semiconductor
TWI310058B (ru)
KR100846632B1 (ko) 실리콘 단결정의 제조방법, 그리고 그 방법으로 제조된실리콘 단결정 잉곳 및 웨이퍼
RU2531823C1 (ru) Устройство для выращивания монокристаллических труб и способ их получения
CN110129879A (zh) 一种双副室单晶硅筒生长炉及单晶硅生长方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20060519

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20060519

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20071027

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20090519

RZ4A Other changes in the information about an invention
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20110519

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20121227

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140519