RU2237873C2 - Тензопреобразователь давления - Google Patents

Тензопреобразователь давления Download PDF

Info

Publication number
RU2237873C2
RU2237873C2 RU2002116176A RU2002116176A RU2237873C2 RU 2237873 C2 RU2237873 C2 RU 2237873C2 RU 2002116176 A RU2002116176 A RU 2002116176A RU 2002116176 A RU2002116176 A RU 2002116176A RU 2237873 C2 RU2237873 C2 RU 2237873C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
strain
membrane
pressure
thickness
longitudinal
Prior art date
Application number
RU2002116176A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2002116176A (ru
Inventor
В.А. Гридчин (RU)
В.А. Гридчин
В.В. Грищенко (RU)
В.В. Грищенко
В.М. Любимский (RU)
В.М. Любимский
А.В. Шапорин (RU)
А.В. Шапорин
Original Assignee
Новосибирский государственный технический университет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Новосибирский государственный технический университет filed Critical Новосибирский государственный технический университет
Priority to RU2002116176A priority Critical patent/RU2237873C2/ru
Publication of RU2002116176A publication Critical patent/RU2002116176A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2237873C2 publication Critical patent/RU2237873C2/ru

Links

Images

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения давления жидкостей и газов. Тензопреобразователь давления, содержащий выполненную из монокристаллического кремния плоскую квадратную мембрану с продольными и поперечными тензорезисторами, мембрана имеет разную толщину, причем толщина у краев больше толщины ее средней части, а указанные тензорезисторы расположены на части с большей толщиной. Технический результат - увеличение выходного сигнала тензопреобразователя давления. 4 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения давления жидкостей и газов.
Известен тензопреобразователь давления мембранного типа с мембраной, имеющей два концентратора механического напряжения (деформации) [1]. Все тензорезисторы расположены поперек оси симметрии мембраны (поперечные тензорезисторы): два между ее краем и концентратором механического напряжения (1 и 3 тензорезисторы) и два в центре мембраны между двумя концентраторами механического напряжения (2 и 4 тензорезисторы). Под действием давления два тензорезистора увеличивают свое сопротивление, а два других - уменьшают. При этом сопротивление Rj тензорезистора j зависит от деформации (ε ) поверхности мембраны в месте расположения резистора
Rj=Rj(ε ).
Деформация ε пропорциональна приложенному давлению P
ε =А(Т)P,
где А(Т) - коэффициент упругого преобразования, который определяется конструкцией тензопреобразователя давления и упругими характеристиками применяемых в нем материалов.
Сопротивление j - тензорезистора под действием деформации, возникающей при подаче давления, изменяется как:
Rj=R(l+Kε j), j=1, 2, 3, 4,
где К - коэффициент тензочувствительности поперечного тензорезистора.
В тензопреобразователе тензорезисторы соединены в мостовую схему, выходной сигнал которой при питании от генератора напряжения записывается в виде:
Uвых.=Uпит.(Кε 1-Кε 2+Кε 3-Кε 4)/4, (1)
где U num. - напряжение питания моста,
ε 1, ε 2, ε 3, ε 4 - деформации 1, 2, 3, 4 тензорезисторов.
Коэффициенты тензочувствительности поперечных тензорезисторов кремния р-типа равны:
K=-(1+vSi)m44,
где vSi - коэффициент Пуассона кремния,
m44 - коэффициент эластосопротивления кремния p-типа.
Тензорезисторы расположены так, что ε 13, ε 24 и имеют разные знаки. Тогда формула (1), без учета знаков деформаций тензорезисторов, может быть записана в виде:
Uвых.=Uпит.К(ε 12)/2.
Наличие концентраторов механических напряжений на мембране позволяет увеличить деформацию в местах расположения поперечных тензорезисторов из кремния p-типа по сравнению с плоской мембраной и соответственно увеличить выходной сигнал мостовой схемы до 50% без увеличения нелинейности выходного сигнала мостовой схемы [1].
Недостатками рассмотренной конструкции тензопреобразователя давления является то, что в этой конструкции используются только поперечные тензорезисторы. Поэтому данная конструкция возможна исключительно при использовании тех материалов, у которых коэффициент тензочувствительности поперечных тензорезисторов близок по абсолютной величине к коэффициенту тензочувствительности продольных тензорезисторов, как, например, в кремнии p-типа проводимости, у которого коэффициенты тензочувствительности поперечных и продольных тензорезисторов равны по абсолютной величине, а также указанная конструкция не допускает миниатюрное исполнение с продольными тензорезисторами.
Кроме того, известен тензопреобразователь давления мембранного типа [2], являющийся прототипом предлагаемого изобретения и содержащий мост из поликремниевых тензорезисторов, расположенных на окисленной подложке из монокристаллического кремния, ориентированной в плоскости (100). Тензорезисторы в виде мезаструктур расположены у краев плоской мембраны на осях ее симметрии, первый и третий вдоль оси, а два других (второй и четвертый) - перпендикулярно оси. Тензопреобразователь давления изготовлен методами микроэлектронной технологии.
Механические напряжения в плоской квадратной мембране (Фиг.3) имеют наибольшие значения на краях и в центре мембраны, причем на краях мембраны механические напряжения вдоль оси ее симметрии (ТL) значительно больше механических напряжений в перпендикулярном направлении (T1) и связаны с деформациями следующими соотношениями:
ε L=S11· TL+S12· Tt, ε t=S12· TL+S11· Tt
где S11 и S12 - коэффициенты упругой податливости кремниевой подложки.
Учитывая, что на оси симметрии мембраны у края мембраны TL>>Tt и ε t≈ 0, выходной сигнал мостовой схемы тензопреобразователя давления может быть записан в виде:
Uвых.=Uпит.(KLε L1-Ktε L2+KLε L3-Ktε L4)/4, (2)
где KL - коэффициент тензочувствительности продольного тензорезистора,
Kt - коэффициент тензочувствительности поперечного тензорезистора,
ε L1, ε L2, ε L3, ε L4 - деформации 1, 2, 3, 4 тензорезисторов.
Недостатком данного тензопреобразователя давления является то, что при типичных размерах мембраны 2000× 2000 мкм2 и тензорезисторов 200× 20× 0,5 мкм3, 150× 15× 0,5 мкм3, 100× 10× 0,5 мкм3 средние механические напряжения (средние деформации), действующие на продольные тензорезисторы, расположенные у края мембраны, меньше максимальных соответственно на 35%, 27%, 18% (см. Фиг.1 Приложения). Учитывая, что коэффициенты тензочувствительности продольных и поперечных тензорезисторов из поликристаллического кремния соответственно равны 36 и -11.2, выходной сигнал мостовой схемы будет меньше максимально возможного (резисторы - точечные и расположены на краю мембраны) соответственно на 26%, 21%, 14%.
Задачей предлагаемого изобретения является увеличение выходного сигнала тензопреобразователя давления.
Поставленная задача достигается тем, что в известном тензопреобразователе давления мембранного типа с продольными и поперечными тензорезисторами, расположенными у края мембраны, мембрана не плоская, а имеет разную толщину, причем толщина у краев больше толщины ее средней части, а указанные тензорезисторы расположены на части с большей толщиной.
На Фиг.1 приведен общий вид тензопреобразователя давления, на Фиг.2 - разрез тензопреобразователя давления по А-А, на Фиг.3 и 4 - зависимости безразмерных механических напряжений TL/TLmax и T1/TLmax от безразмерной координаты х/а в мембране с тонкой средней частью.
Тензопреобразователь давления (Фиг.1) содержит: 1 – мембрану; 2 - поперечные тензорезисторы, расположенные на мембране 1; 3 - продольные тензорезисторы, расположенные на мембране 1; 4 - алюминиевую разводку, соединяющую тензорезисторы 2, 3; 5 - контактные окна к тензорезисторам.
На Фиг.2 приведен разрез тензопреобразователя давления по А-А: 1 – мембрана; 6 - подложка (опорное основание); 7 - изолирующий окисел на поверхности мембраны 1; 8 - защитный окисел.
Квадратная мембрана 1 (см. Фиг.1, 2) расположена в средней части тензопреобразователя давления и сформирована анизотропным травлением подложки 6 из монокристаллического кремния со слоем изолирующего окисла 7 и имеет разную толщину, причем у краев толще, чем в средней части. На поверхности мембраны 1 (см. Фиг.1) методами микроэлектронной технологии сформированы поперечные 2 и продольные 3 тензорезисторы. Для стабилизации характеристик тензопреобразователь давления покрыт слоем защитного окисла 8, в котором вскрыты окна под контактные площадки 5.
Устройство работает следующим образом.
При действии давления на тензопреобразователь давления происходит деформация мембраны 1, которая передается поперечным 2 и продольным 3 тензорезисторам. Механические напряжения вдоль оси симметрии мембраны в зависимости от безразмерной координаты х/а в мембране с общим размером а× а=2000× 2000 мкм2, толщиной толстой части 30 мкм и толщиной тонкой части 25 мкм, размером 1800× 1800 мкм2, рассчитанные методом конечных элементов, приведены на Фиг.4.
Продольные 3 и поперечные 2 тензорезисторы расположены на толстой части мембраны, продольные 3 от
Figure 00000002
до
Figure 00000003
а поперечные 2 от
Figure 00000004
до
Figure 00000005
Средние механические напряжения в продольных тензорезисторах меньше максимальных на 4%, а не на 18%, как в случае плоской мембраны при длине тензорезисторов 100 мкм. Для поликремниевых тензорезисторов с коэффициентами тензочувствительности продольных тензорезисторов КL=36 и поперечных тензорезисторов Kt=-11.2 выходной сигнал мостовой схемы, вычисленный по формуле (2), будет меньше максимально возможного (тензорезисторы - точечные и расположены на краю мембраны) на 6%.
Таким образом, по сравнению с прототипом выходной сигнал мостовой схемы увеличивается на 12%.
Литература
1. L.В. Wilner, A diffused silicon pressure transducer with stress concentrated at transverse gages, ISA Transactions, v.17, No.1, 83-87.
2. Патент SU 1830138 A3, G 01 L 9/04.

Claims (1)

  1. Тензопреобразователь давления, содержащий выполненную из монокристаллического кремния плоскую мембрану, на которой расположены продольные и поперечные тензорезисторы, отличающийся тем, что мембрана имеет разную толщину, причем толщина у краев больше толщины ее средней части, а указанные тензорезисторы расположены на части с большей толщиной.
RU2002116176A 2002-06-19 2002-06-19 Тензопреобразователь давления RU2237873C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002116176A RU2237873C2 (ru) 2002-06-19 2002-06-19 Тензопреобразователь давления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002116176A RU2237873C2 (ru) 2002-06-19 2002-06-19 Тензопреобразователь давления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2002116176A RU2002116176A (ru) 2004-03-10
RU2237873C2 true RU2237873C2 (ru) 2004-10-10

Family

ID=33537029

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002116176A RU2237873C2 (ru) 2002-06-19 2002-06-19 Тензопреобразователь давления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2237873C2 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2631016C1 (ru) * 2016-07-19 2017-09-15 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Новосибирский Государственный Технический Университет" Тензопреобразователь давления

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2631016C1 (ru) * 2016-07-19 2017-09-15 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Новосибирский Государственный Технический Университет" Тензопреобразователь давления

Also Published As

Publication number Publication date
RU2002116176A (ru) 2004-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100507942B1 (ko) 반도체용 압력 센서
US8146443B2 (en) Rotating body dynamic quantity measuring device and system
US3137834A (en) Piezoresistive stress gages
EP1363104A2 (en) Tilt sensor and method of forming such device
US6700473B2 (en) Pressure transducer employing on-chip resistor compensation
US4932265A (en) Pressure transducer using thick film resistor
US6838303B2 (en) Silicon pressure sensor and the manufacturing method thereof
JP2615887B2 (ja) 半導体圧力センサ
CN100334453C (zh) 加速度传感器
RU2237873C2 (ru) Тензопреобразователь давления
JPH08107219A (ja) 半導体加速度センサ及び半導体加速度センサの製造方法
RU2329480C2 (ru) Тензопреобразователь давления
Roylance A MINIATURE INTEGRATED CIRCUIT ACCELEROMETER FOR BIOMEDICAL APPLICATIONS.
EP0320299B1 (en) Pressure transducers and a method of measuring pressure
RU2243517C2 (ru) Тензопреобразователь давления
RU42893U1 (ru) Тензопреобразователь давления
RU42894U1 (ru) Тензопреобразователь давления
Guan et al. A novel 0–3 kPa piezoresistive pressure sensor based on a Shuriken-structured diaphragm
RU2050033C1 (ru) Интегральный балочный тензопреобразователь
JPH0786617A (ja) 半導体圧力センサ
Guckel et al. Design and construction techniques for planar polysilicon pressure transducers with piezoresistive read-out
JPH055750A (ja) 半導体加速度センサ
Igarashi Semiconductor dynamic sensors
RU1830138C (ru) Тензопреобразователь давлени
JP2006294892A (ja) 一軸半導体加速度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20070620