RU2051390C1 - Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании - Google Patents
Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании Download PDFInfo
- Publication number
- RU2051390C1 RU2051390C1 SU4862651A RU2051390C1 RU 2051390 C1 RU2051390 C1 RU 2051390C1 SU 4862651 A SU4862651 A SU 4862651A RU 2051390 C1 RU2051390 C1 RU 2051390C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- failure
- electronic equipment
- prediction
- restored
- radio electronic
- Prior art date
Links
Images
Abstract
Сущность изобретения: способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре заключается в том, что одновременно подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном. Отличительной особенностью способа является нагрев всего объекта контроля до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния объекта контроля с последующей регистрацией отказавшего элемента. 1 ил.
Description
Изобретение относится к контролю и прогнозированию отказов.
Наиболее близким к предлагаемому является способ температурных испытаний, при котором в камеру нагнетается воздух, который нагревает контролируемый аппарат.
Недостатком этого способа является невозможность определить вероятное место отказа в радиоэлектронной аппаратуре.
Целью изобретения является повышение достоверности прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре.
Цель достигается тем, что в способе прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре производят нагрев аппарата до наступления восстановимого отказа, а затем поэлементное охлаждение, при этом подают напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют электрические параметры и контролируют их величину, сравнивая с эталоном. При охлаждении ненадежного элемента, вызывающего отказ, происходит восстановление рабочего состояния аппарата.
Предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что после нагрева до появления восстановимого отказа производят поэлементное охлаждение до восстановления работоспособности.
На чертеже показано устройство, с помощью которого осуществляют предлагаемый способ.
Устройство содержит клапан 2 для впуска остронаправленной струи охладителя, камеру 3 с горячим воздухом, испытуемый аппарат 4, устройство 5 контроля параметров и блок 1 питания.
Устройство работает следующим образом.
Аппарат 4 помещают в камеру 3 и производят нагрев до появления восстанавливаемого отказа. Затем производят поэлементное охлаждение до обнаружения виновного в отказе. При этом аппарат восстанавливает рабочее состояние, которое регистрируется устройством 5 контроля параметров.
Использование изобретения позволяет прогнозировать и вовремя выявлять могущие отказать элементы в радиоэлектронных аппаратах, за счет чего улучшается качество выпускаемых изделий, кроме того, ранний процесс нахождения некачественных изделий намного дешевле, чем выявление и устранение дефектов в процессе эксплуатации.
Claims (1)
- СПОСОБ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ВЕРОЯТНОГО МЕСТА ОТКАЗА В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЕ ПРИ НАГРЕВАНИИ, в соответствии с которым на объект контроля подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, снимают выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности прогнозирования, при отказе одного из элементов объекта контроля за счет выявления вероятного места отказа осуществляют температурные воздействия, состоящие в том, что производят нагрев всего объекта до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния всего объекта контроля, а затем регистрируют номер отказавшего элемента.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4862651 RU2051390C1 (ru) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4862651 RU2051390C1 (ru) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2051390C1 true RU2051390C1 (ru) | 1995-12-27 |
Family
ID=21534043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4862651 RU2051390C1 (ru) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2051390C1 (ru) |
-
1990
- 1990-08-23 RU SU4862651 patent/RU2051390C1/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Измерение параметров цифровых интегральных микросхем./Под ред. Д.Ю.Эйдукаса и Б.В.Орлова. М., 1982, с.69-72. * |
Митрейкин Н.А. и Озерский И.А. Надежность и испытания радиодеталей и радиокомпонентов. М., 1981, с.136-147. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5294198A (en) | Infrared inspection system and method employing emissivity indications | |
Cova et al. | On the effect of power cycling stress on IGBT modules | |
EP0475570A2 (en) | Product defect detection using thermal ratio analysis | |
CN101424666A (zh) | 在模拟现场运行状态下测试与评定机器构件的方法和装置 | |
Ursutiu et al. | Low-frequency noise used as a lifetime test of LEDs | |
US8147129B2 (en) | Apparatus for testing infrared sensors | |
KR20140127056A (ko) | 열전소자의 시험장치 및 그 시험방법 | |
CN104459411B (zh) | 一种双腔式变压器热老化实时模拟测量装置及其应用 | |
US5570027A (en) | Printed circuit board test apparatus and method | |
RU2051390C1 (ru) | Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании | |
JPS63274885A (ja) | 半導体集積回路をバ−ン・イン中に試験する方法及び回路基板 | |
CN112162011B (zh) | 一种复合绝缘子缺陷检测方法、设备及存储介质 | |
Pareek et al. | Towards data driven failure analysis using infrared thermography | |
US6577146B2 (en) | Method of burning in an integrated circuit chip package | |
TWI230952B (en) | Testing method for electronic part and testing device | |
CN108227673A (zh) | 一种预测塞拉门控制器寿命的评估方法 | |
ES2113935T3 (es) | Procedimiento y disposicion de conexion para vigilancia y limitacion de la temperatura de servicio de aparatos calentados electricamente, asi como aplicacion del procedimiento. | |
JP2015064329A (ja) | 絶縁寿命評価方法および絶縁寿命評価装置 | |
KR20050023042A (ko) | 열피로시험을 위한 열응력 발생장치의 제어 장치 및 제어방법 | |
KR100783352B1 (ko) | Pcb 어셈블리 검사 장치와 방법 | |
KR200194289Y1 (ko) | 반도체 칩 검사 장비에서의 번-인 시스템 | |
KR100352507B1 (ko) | 배전용 피뢰기 장기신뢰성 검사장치 | |
EP1668690A2 (en) | Electric ultimate defects analyzer detecting all defects in pcb/mcm | |
CN110531238A (zh) | Gis绝缘劣化检测装置、方法及gis绝缘劣化诊断系统 | |
JP3457175B2 (ja) | 温度センサの検査方法とその装置 |