RU2051390C1 - Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании - Google Patents

Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании Download PDF

Info

Publication number
RU2051390C1
RU2051390C1 SU4862651A RU2051390C1 RU 2051390 C1 RU2051390 C1 RU 2051390C1 SU 4862651 A SU4862651 A SU 4862651A RU 2051390 C1 RU2051390 C1 RU 2051390C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
failure
electronic equipment
prediction
restored
radio electronic
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Вадим Викторович Щербаков
Original Assignee
Вадим Викторович Щербаков
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Вадим Викторович Щербаков filed Critical Вадим Викторович Щербаков
Priority to SU4862651 priority Critical patent/RU2051390C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2051390C1 publication Critical patent/RU2051390C1/ru

Links

Images

Abstract

Сущность изобретения: способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре заключается в том, что одновременно подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном. Отличительной особенностью способа является нагрев всего объекта контроля до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния объекта контроля с последующей регистрацией отказавшего элемента. 1 ил.

Description

Изобретение относится к контролю и прогнозированию отказов.
Наиболее близким к предлагаемому является способ температурных испытаний, при котором в камеру нагнетается воздух, который нагревает контролируемый аппарат.
Недостатком этого способа является невозможность определить вероятное место отказа в радиоэлектронной аппаратуре.
Целью изобретения является повышение достоверности прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре.
Цель достигается тем, что в способе прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре производят нагрев аппарата до наступления восстановимого отказа, а затем поэлементное охлаждение, при этом подают напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют электрические параметры и контролируют их величину, сравнивая с эталоном. При охлаждении ненадежного элемента, вызывающего отказ, происходит восстановление рабочего состояния аппарата.
Предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что после нагрева до появления восстановимого отказа производят поэлементное охлаждение до восстановления работоспособности.
На чертеже показано устройство, с помощью которого осуществляют предлагаемый способ.
Устройство содержит клапан 2 для впуска остронаправленной струи охладителя, камеру 3 с горячим воздухом, испытуемый аппарат 4, устройство 5 контроля параметров и блок 1 питания.
Устройство работает следующим образом.
Аппарат 4 помещают в камеру 3 и производят нагрев до появления восстанавливаемого отказа. Затем производят поэлементное охлаждение до обнаружения виновного в отказе. При этом аппарат восстанавливает рабочее состояние, которое регистрируется устройством 5 контроля параметров.
Использование изобретения позволяет прогнозировать и вовремя выявлять могущие отказать элементы в радиоэлектронных аппаратах, за счет чего улучшается качество выпускаемых изделий, кроме того, ранний процесс нахождения некачественных изделий намного дешевле, чем выявление и устранение дефектов в процессе эксплуатации.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ВЕРОЯТНОГО МЕСТА ОТКАЗА В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЕ ПРИ НАГРЕВАНИИ, в соответствии с которым на объект контроля подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, снимают выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности прогнозирования, при отказе одного из элементов объекта контроля за счет выявления вероятного места отказа осуществляют температурные воздействия, состоящие в том, что производят нагрев всего объекта до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния всего объекта контроля, а затем регистрируют номер отказавшего элемента.
SU4862651 1990-08-23 1990-08-23 Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании RU2051390C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4862651 RU2051390C1 (ru) 1990-08-23 1990-08-23 Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4862651 RU2051390C1 (ru) 1990-08-23 1990-08-23 Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2051390C1 true RU2051390C1 (ru) 1995-12-27

Family

ID=21534043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4862651 RU2051390C1 (ru) 1990-08-23 1990-08-23 Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2051390C1 (ru)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Измерение параметров цифровых интегральных микросхем./Под ред. Д.Ю.Эйдукаса и Б.В.Орлова. М., 1982, с.69-72. *
Митрейкин Н.А. и Озерский И.А. Надежность и испытания радиодеталей и радиокомпонентов. М., 1981, с.136-147. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5294198A (en) Infrared inspection system and method employing emissivity indications
Cova et al. On the effect of power cycling stress on IGBT modules
EP0475570A2 (en) Product defect detection using thermal ratio analysis
CN101424666A (zh) 在模拟现场运行状态下测试与评定机器构件的方法和装置
Ursutiu et al. Low-frequency noise used as a lifetime test of LEDs
US8147129B2 (en) Apparatus for testing infrared sensors
KR20140127056A (ko) 열전소자의 시험장치 및 그 시험방법
CN104459411B (zh) 一种双腔式变压器热老化实时模拟测量装置及其应用
US5570027A (en) Printed circuit board test apparatus and method
RU2051390C1 (ru) Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании
JPS63274885A (ja) 半導体集積回路をバ−ン・イン中に試験する方法及び回路基板
CN112162011B (zh) 一种复合绝缘子缺陷检测方法、设备及存储介质
Pareek et al. Towards data driven failure analysis using infrared thermography
US6577146B2 (en) Method of burning in an integrated circuit chip package
TWI230952B (en) Testing method for electronic part and testing device
CN108227673A (zh) 一种预测塞拉门控制器寿命的评估方法
ES2113935T3 (es) Procedimiento y disposicion de conexion para vigilancia y limitacion de la temperatura de servicio de aparatos calentados electricamente, asi como aplicacion del procedimiento.
JP2015064329A (ja) 絶縁寿命評価方法および絶縁寿命評価装置
KR20050023042A (ko) 열피로시험을 위한 열응력 발생장치의 제어 장치 및 제어방법
KR100783352B1 (ko) Pcb 어셈블리 검사 장치와 방법
KR200194289Y1 (ko) 반도체 칩 검사 장비에서의 번-인 시스템
KR100352507B1 (ko) 배전용 피뢰기 장기신뢰성 검사장치
EP1668690A2 (en) Electric ultimate defects analyzer detecting all defects in pcb/mcm
CN110531238A (zh) Gis绝缘劣化检测装置、方法及gis绝缘劣化诊断系统
JP3457175B2 (ja) 温度センサの検査方法とその装置