RU2020129525A - Device and method for hybrid scanning of electronic equipment - Google Patents

Device and method for hybrid scanning of electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
RU2020129525A
RU2020129525A RU2020129525A RU2020129525A RU2020129525A RU 2020129525 A RU2020129525 A RU 2020129525A RU 2020129525 A RU2020129525 A RU 2020129525A RU 2020129525 A RU2020129525 A RU 2020129525A RU 2020129525 A RU2020129525 A RU 2020129525A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
test
control
hybrid scanning
scanning device
outputs
Prior art date
Application number
RU2020129525A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2020129525A3 (en
RU2781091C2 (en
Inventor
Виктор Андреевич Лосич
Original Assignee
Общество с Ограниченной Ответственностью "Измерительные технологии"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с Ограниченной Ответственностью "Измерительные технологии" filed Critical Общество с Ограниченной Ответственностью "Измерительные технологии"
Priority to RU2020129525A priority Critical patent/RU2781091C2/en
Priority claimed from RU2020129525A external-priority patent/RU2781091C2/en
Publication of RU2020129525A publication Critical patent/RU2020129525A/en
Publication of RU2020129525A3 publication Critical patent/RU2020129525A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2781091C2 publication Critical patent/RU2781091C2/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Claims (5)

1. Устройство гибридного сканирования, содержащее электронно-вычислительную машину, не менее одного устройства управления, не менее одной памяти ответных векторов, не менее одной памяти тестовых векторов, не менее одного краевого разъема, объект контроля, не менее одного тестового интерфейса объекта контроля, не менее одного типового интерфейса объекта контроля, не менее одного устройства управления типовыми и тестовыми интерфейсами, не менее одного интерфейса краевых разъемов объекта контроля, не менее одного устройства для функциональной поверки изделия, блок формирования модельных интервалов времени и синхронизации, не менее одного типового отладочного интерфейса, не менее одного периферийного контроллера, отличающиеся тем, что объект контроля выполнен с возможностью подключения к устройству гибридного сканирования через интерфейс краевых разъемов и типовые тестовые интерфейсы, причем при тестировании выделяют дискретный модельный интервал времени в интервале времени от 10 пикосекунд до 24 часов.1. A hybrid scanning device containing an electronic computer, at least one control device, at least one response vector memory, at least one test vector memory, at least one edge connector, an object of control, at least one test interface of the object of control, not less than less than one typical interface of the test object, at least one control device for typical and test interfaces, at least one edge connector interface of the test object, at least one device for functional verification of the product, a block for generating model time intervals and synchronization, at least one typical debugging interface, at least one peripheral controller, characterized in that the control object is configured to connect to the hybrid scanning device via the edge connector interface and standard test interfaces, and during testing, a discrete model time interval is selected in the time interval from 10 picoseconds d up to 24 hours. 2. Устройство гибридного сканирования по п. 1, отличающееся тем, что дискретный модельный интервал времени определяется временем завершения переходных процессов в объекте контроля при подаче тестовых воздействий.2. The hybrid scanning device according to claim 1, characterized in that the discrete model time interval is determined by the completion time of transient processes in the control object when test actions are applied. 3. Устройство гибридного сканирования по п. 1, отличающееся тем, дискретный модельный интервал времени используется для анализа ответной реакции объекта контроля.3. The hybrid scanning device according to claim 1, characterized in that a discrete model time interval is used to analyze the response of the control object. 4. Устройство гибридного сканирования по п. 1, отличающееся тем, что остальные временные интервалы используются для доступа к элементам объекта контроля через типовые и тестовые интерфейсы4. The hybrid scanning device according to claim 1, characterized in that the remaining time intervals are used to access the elements of the control object through standard and test interfaces 5. Способ гибридного сканирования, в котором вначале анализируют структурную, функциональную, принципиальную схемы или физический образец объекта контроля затем формируют модель объекта контроля в который входят отдельные функциональные кластеры, выводы краевых разъемов и выводы программируемых элементов, за этим определяют набор тестовых последовательностей для каждого из кластеров в соответствии с его функциональной моделью, после чего подают тестовые воздействия через краевые разъемы и выводы программируемых элементов, при этом сканируют состояния выводов краевых разъемов и состояния выводов программируемых элементов и в заключение делают вывод о правильности работы объекта контроля.5. The method of hybrid scanning, in which, first, a structural, functional, schematic diagram or a physical sample of the control object is analyzed, then a model of the test object is formed, which includes individual functional clusters, terminals of edge connectors and outputs of programmable elements, then a set of test sequences is determined for each of clusters in accordance with its functional model, after which test actions are applied through the edge connectors and outputs of the programmable elements, while scanning the states of the outputs of the edge connectors and the state of the outputs of the programmable elements, and finally, a conclusion is made about the correct operation of the control object.
RU2020129525A 2020-09-07 Device and method for hybrid scanning of radio-electronic equipment RU2781091C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020129525A RU2781091C2 (en) 2020-09-07 Device and method for hybrid scanning of radio-electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020129525A RU2781091C2 (en) 2020-09-07 Device and method for hybrid scanning of radio-electronic equipment

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2020129525A true RU2020129525A (en) 2022-03-09
RU2020129525A3 RU2020129525A3 (en) 2022-05-04
RU2781091C2 RU2781091C2 (en) 2022-10-05

Family

ID=

Also Published As

Publication number Publication date
RU2020129525A3 (en) 2022-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1065062A (en) Non-logic printed wiring board test system
CN102169846B (en) Method for writing multi-dimensional variable password in parallel in process of testing integrated circuit wafer
CN107861862A (en) UI automated testing methods, device and computer-readable recording medium
DE10318394A1 (en) Automatic test system and device for integrated circuits using an integrative computer and method therefor
DE10056160A1 (en) Automatic semiconductor device test system has pin unit bus to transmit data between main computer and pin units which are configured according to input or output pins of test item when group selection address is provided by computer
CN106556793A (en) Chip test system and method for testing
JP4334463B2 (en) Semiconductor integrated circuit test apparatus and method
CN102789405A (en) Automated testing method and system for mainboard
CN108628734B (en) Functional program debugging method and terminal
CN107704376B (en) Game automation testing method and system
RU2020129525A (en) Device and method for hybrid scanning of electronic equipment
CN117112403A (en) Product automatic testing method, device, system and photovoltaic equipment
CN109710480B (en) Memory mirror image card debugging method and system
CN103165405A (en) Mutli-dimensional variable code real-time generation method through general purpose interface bus (GPIB) interface
US20050204230A1 (en) Method and a unit for programming a memory
CN112363045A (en) Chip scanning test method and device, processor chip and server
CN109189623B (en) CPU testing method and device and electronic equipment
US11639960B2 (en) Integrated circuit spike check apparatus and method
CN112798925B (en) Synchronous testing device and method based on automatic testing system
CN213633700U (en) System suitable for testing intelligent switch control chip and testing finished product
AU2021102988A4 (en) Reliability test teaching device
JP4839638B2 (en) Tester simulation apparatus and test simulation method
CN109358863B (en) IC burning method for ICT machine control
RU2475821C1 (en) Method for preliminary assessment of quality of diagnostic tests
US10663514B2 (en) Virtual probe sequencing