RU2013145400A - Способ определения степени черноты поверхности материалов - Google Patents

Способ определения степени черноты поверхности материалов Download PDF

Info

Publication number
RU2013145400A
RU2013145400A RU2013145400/28A RU2013145400A RU2013145400A RU 2013145400 A RU2013145400 A RU 2013145400A RU 2013145400/28 A RU2013145400/28 A RU 2013145400/28A RU 2013145400 A RU2013145400 A RU 2013145400A RU 2013145400 A RU2013145400 A RU 2013145400A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
blackness
degree
optical system
temperature
Prior art date
Application number
RU2013145400/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2548921C1 (ru
Inventor
Сергей Сергеевич Зенченко
Ирина Евгеньевна Карпова
Антон Викторович Матвеенцев
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр" (ФГУП "Крыловский государственный научный центр")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр" (ФГУП "Крыловский государственный научный центр") filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр" (ФГУП "Крыловский государственный научный центр")
Priority to RU2013145400/28A priority Critical patent/RU2548921C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2548921C1 publication Critical patent/RU2548921C1/ru
Publication of RU2013145400A publication Critical patent/RU2013145400A/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

1. Способ определения степени черноты поверхности материалов, включающий наблюдение поверхности образца материалов в инфракрасном диапазоне спектра 8÷14 мкм посредством оптической системы с установленными параметрами, варьирование показателя степени черноты, юстировку, защиту от вредного окружающего фона, измерение радиационной температуры поверхности образца с покрытием известной степени черноты и поверхности без покрытия, сопоставление значений радиационной температуры, выравнивание их и по совпадению, принятие решения об искомом значении степени черноты, отличающийся тем, что до начала наблюдения поверхности образца, варьирования показателя степени черноты и измерения радиационной температуры поверхности образца с покрытием известной степени черноты, создают в том же диапазоне спектра контрастную инфракрасную метку, идентифицирующую координаты центра и размеры необходимой для контроля площади круга поверхности образца и длину трассы излучения.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что юстируют оптическую систему на инфракрасную метку при идентифицированной длине трассы излучения, установленных параметрах оптической системы, надирных углах визирования, совпадении оптической оси системы с центром инфракрасной метки так, что обеспечивают равенство площадей разрешения оптической системы и круга метки, жестко фиксируют отъюстированные параметры системы, вводят в поле зрения оптической системы вместо инфракрасной метки образец материала с покрытием известной степени черноты и фиксируют его положение.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что наблюдение поверхности образца осуществляют при отъюсти�

Claims (11)

1. Способ определения степени черноты поверхности материалов, включающий наблюдение поверхности образца материалов в инфракрасном диапазоне спектра 8÷14 мкм посредством оптической системы с установленными параметрами, варьирование показателя степени черноты, юстировку, защиту от вредного окружающего фона, измерение радиационной температуры поверхности образца с покрытием известной степени черноты и поверхности без покрытия, сопоставление значений радиационной температуры, выравнивание их и по совпадению, принятие решения об искомом значении степени черноты, отличающийся тем, что до начала наблюдения поверхности образца, варьирования показателя степени черноты и измерения радиационной температуры поверхности образца с покрытием известной степени черноты, создают в том же диапазоне спектра контрастную инфракрасную метку, идентифицирующую координаты центра и размеры необходимой для контроля площади круга поверхности образца и длину трассы излучения.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что юстируют оптическую систему на инфракрасную метку при идентифицированной длине трассы излучения, установленных параметрах оптической системы, надирных углах визирования, совпадении оптической оси системы с центром инфракрасной метки так, что обеспечивают равенство площадей разрешения оптической системы и круга метки, жестко фиксируют отъюстированные параметры системы, вводят в поле зрения оптической системы вместо инфракрасной метки образец материала с покрытием известной степени черноты и фиксируют его положение.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что наблюдение поверхности образца осуществляют при отъюстированных параметрах оптической системы и при контролируемых температурой и влажностью воздуха вблизи места фиксации образца материала.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что защиту от вредного поля окружающего фона обеспечивают отделением от фона контролируемого объема оптической системы и в его пределах контролируемой площади круга поверхности образца сплошным экраном с высоким показателем коэффициента отражения и низкой теплопроводностью и исключением влияния контактных эффектов при соприкосновении в рамках объема экрана с оптической системой и поверхностью образца.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что одновременно создают с обратной стороны образца с покрытием направленное к поверхности и стабильное по температуре тепловое поле, соответствующее по размерам площади разрешения оптической системы.
6. Способ по п.5, отличающийся тем, что посредством теплового поля каждой фиксированной температуры обеспечивают максимум излучения определенной длины волны в пределах области, равной площади разрешения оптической системы.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что измерение радиационной температуры от поверхности образца с покрытием известной черноты начинают с оптимальной задержкой не менее 2-х минут с момента завершения переходного процесса установления теплового поля на обратной стороне образца и создания на измеряемой поверхности образца поля с размером, превышающим площадь разрешения оптической системы.
8. Способ по п.7, отличающийся тем, что повторяют измерения радиационной температуры от образца с покрытием известной степени черноты при варьировании показателя степени черноты в диапазоне от 0,1 до известного значения степени черноты с шагом 0,1 и при контролируемых одновременно параметрах температуры и влажности воздуха.
9. Способ по п.5, отличающийся тем, что изменяют фиксированное значение температуры теплового поля в пределах от 20° до 90°C с шагом 10° и на каждом фиксированном положении измеряют значения радиационной температуры при повторении варьирования показателя степени черноты и при контролируемых параметрах температуры и влажности воздуха.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что до начала сопоставления значений радиационной температуры анализируют результаты измерений, отбраковывая данные несовпадающих значений температуры и влажности воздуха и строят номограммы влияния степени черноты на значения радиационной температуры для всего диапазона фиксированных значений теплового поля, с учетом выборки измерений при одних значениях температуры и влажности воздуха определяют 95% доверительный интервал для каждой номограммы.
11. Способ по п.1, отличающийся тем, что повторяют измерения по пп.8-10 для той же стороны образца контролируемой площади поверхности и при тех же размерах площади разрешения, но без покрытия поверхности и при контролируемых значениях температуры и влажности воздуха, а сопоставление данных осуществляют только для полученных в одних условиях для поверхности с покрытием и без него нанесением данных измерений без покрытия на номограммы измерений с покрытием, а за совпадение данных принимают попадание значений для поверхности без покрытия в область 95% доверительного интервала номограммы для поверхности с покрытием, после чего принимают решение об искомом значении степени черноты поверхности материала.
RU2013145400/28A 2013-10-09 2013-10-09 Способ определения степени черноты поверхности материалов RU2548921C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013145400/28A RU2548921C1 (ru) 2013-10-09 2013-10-09 Способ определения степени черноты поверхности материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013145400/28A RU2548921C1 (ru) 2013-10-09 2013-10-09 Способ определения степени черноты поверхности материалов

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2548921C1 RU2548921C1 (ru) 2015-04-20
RU2013145400A true RU2013145400A (ru) 2015-04-20

Family

ID=53282681

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013145400/28A RU2548921C1 (ru) 2013-10-09 2013-10-09 Способ определения степени черноты поверхности материалов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2548921C1 (ru)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2617725C1 (ru) * 2016-04-14 2017-04-26 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") Способ определения излучательной способности твердых материалов и устройство для его осуществления
RU2659457C2 (ru) * 2016-05-25 2018-07-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский институт строительной физики Российской академии архитектуры и строительных наук" (НИИСФ РААСН) Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором
RU2746656C1 (ru) * 2020-07-27 2021-04-19 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева" Способ создания селективного инфракрасного покрытия с высокой излучательной способностью в заданном диапазоне длин волн

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU770333A1 (ru) * 1979-05-31 2005-11-20 В.Н. Жигалов Способ измерения степени черноты твердых тел
RU2003085C1 (ru) * 1991-07-08 1993-11-15 Головное конструкторское бюро Научно-производственного объединени "Энерги " им.акад.С.П.Королева Способ тепловых измерений на элементах конструкции издели
RU2132549C1 (ru) * 1998-01-20 1999-06-27 Бронников Вадим Александрович Способ и устройство для определения теплофизических характеристик тонкослойных материалов
RU2224245C2 (ru) * 2002-04-02 2004-02-20 Мурманский государственный технический университет Способ определения теплофизических характеристик материалов
RU2362151C1 (ru) * 2008-01-15 2009-07-20 Закрытое акционерное общество "Центр тепловизионной диагностики" Способ создания оптического контраста на поверхности объекта для тепловизионных приборов
RU2379668C1 (ru) * 2008-10-13 2010-01-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Вологодский государственный технический университет" (ВоГТУ) Способ теплового неразрушающего контроля рабочего тела

Also Published As

Publication number Publication date
RU2548921C1 (ru) 2015-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107144356B (zh) 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法
CN106596626B (zh) 瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置
EP2797104A3 (en) Imaging mass analysis data processing method and imaging mass spectrometer
NZ703875A (en) Spectroscopic analysis
JP2016530524A5 (ja) 同時複数試料光散乱検出装置及びその方法
Qi et al. Terahertz time-domain spectroscopy combined with support vector machines and partial least squares-discriminant analysis applied for the diagnosis of cervical carcinoma
EP2772738A3 (en) Optical fiber temperature distribution measurement device and method of measuring optical fiber temperature distribution
WO2015161914A3 (en) Method for detecting micro-colonies growing on a membrane or an agarose medium of a sample and a sterility testing apparatus
CN103712777A (zh) 检测紫外光电成像系统性能参数的装置及检测方法
RU2013145400A (ru) Способ определения степени черноты поверхности материалов
CN104458701A (zh) 拉曼光谱爆炸物识别仪自动校准方法
WO2018232752A1 (zh) 一种物质检测方法、装置及设备
CN104237143A (zh) 一种基于太赫兹光谱的固体农药鉴别方法
ITGE970086A1 (it) Termografia ad impulso costante.
CN103105369B (zh) 液态物质光谱基线校正定量分析方法
JP2014142309A5 (ru)
CN104280120B (zh) 一种光谱带宽测量方法和装置
CN107389204B (zh) 红外焦平面探测器弱光谱信号的测试平台及其方法
CN105334166A (zh) 一种用于食品成分分析的双探测器近红外光谱仪
EP4361602A3 (en) Infrared imaging of biological material
Świt et al. Beam characterization of a microfading tester: evaluation of several methods
CN102645321B (zh) 基于等效照明的主动近红外摄像机作用距离评价系统
CN208109699U (zh) 一种介质光学参数估计装置
CN103822713A (zh) 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置
RU2016120217A (ru) Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором