CN107144356B - 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 - Google Patents
非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107144356B CN107144356B CN201710496167.5A CN201710496167A CN107144356B CN 107144356 B CN107144356 B CN 107144356B CN 201710496167 A CN201710496167 A CN 201710496167A CN 107144356 B CN107144356 B CN 107144356B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- tested
- detector assembly
- focal plane
- infrared focal
- black matrix
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000004044 response Effects 0.000 title claims abstract description 72
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 37
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 3
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000003491 array Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
- G01J5/53—Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/265—Contactless testing
- G01R31/2656—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
本发明提供一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法，包括黑体、斩波器、被测探测器组件、测试系统，测试方法为：黑体发出的辐射，经过斩波器斩波后照射到被测非制冷红外焦平面探测器阵列上，被测非制冷红外焦平面探测器阵列对不同频率的辐射产生不同的响应，通过采集不同斩波频率下被测非制冷红外焦平面探测器阵列的响应值，经过快速傅立叶变换FFT变换得到频域下相应频率点下的响应幅值，按照公式拟合求得热响应时间；本方法采用了FFT变换，有效排除了噪声对热响应时间测试的影响，测量精度高，测试结果稳定可靠；本方法利用黑体、斩波器等标准设备即可进行测试，测试用时短，可行性强，效率高。
Description
技术领域
本发明涉及红外探测器技术领域，特别涉及到一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试系统及测试方法。
背景技术
非制冷红外焦平面阵列技术是当今红外技术发展的主要方向。非制冷红外焦平面探测器具有体积小、重量轻、高性价比及功耗低等特点，在军事、工业、医疗卫生、科学研究及环境监测等各领域得到广泛应用。热响应时间是衡量非制冷红外焦平面探测器性能的一个重要参数。当照射到探测器的入射辐射发生变化时，探测器的输出需要一定时间才能上升或下降至与辐射功率相对应的稳定值。
非制冷红外焦平面探测器的热响应时间越短，对入射辐射的变化越灵敏，其用途越广。因此，准确测试出非制冷红外焦平面探测器的热响应时间对于评价红外焦平面的探测器的性能，指导改进探测器的设计制造及工艺水平以及明确探测器的适用范围至关重要。然而，目前热响应时间的获取主要依赖于模拟仿真或是精度较低的评估方法，由于各种材料参数的缺失以及工艺的不稳定性，往往导致设计参数与实测参数差距较大，而无法指导工艺过程的参数调节。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种准确可靠的测定非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试系统及测试方法。
为实现上述发明目的，本发明技术方案如下：
一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统，包括黑体、斩波器、被测探测器组件、测试系统，所述被测探测器组件包括被测非制冷红外焦平面探测器阵列、适配板，黑体的辐射面中心正对被测非制冷红外焦平面阵列的中心，斩波器置于黑体与被测探测器组件之间，测试系统通过黑体、斩波器及探测器组件提供的外接控制端口控制它们的状态，被测探测器的输出数据通过数据采集卡传输至测试系统。
作为优选方式，所述系统还包括光学镜头，所述光学镜头置于被测非制冷红外焦平面探测器阵列的前方，黑体的辐射面中心正对光学镜头的中心。
作为优选方式，黑体为腔式黑体或面源黑体。
为实现上述发明目的，本发明还提供一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试方法，利用上述系统进行测试，该方法为：黑体发出的辐射，经过斩波器斩波后照射到被测非制冷红外焦平面探测器阵列上，被测非制冷红外焦平面探测器阵列对不同斩波频率下的辐射产生不同的响应，通过采集不同斩波频率下被测非制冷红外焦平面探测器阵列的响应值，经过快速傅立叶变换FFT变换得到频域下相应频率点下的响应幅值，按照公式拟合求得热响应时间，其中RV(f)表示FFT变换后频率f对应的响应幅值，RV(0)是直流响应幅值，τ是热响应时间，f是斩波器斩波的频率。
作为优选方式，所述测试方法进一步包括以下步骤：
步骤1：测量探测器的直流响应：
被测探测器组件上电稳定后，用常温物体完全遮住探测器组件，测量并记录此时探测器组件的输出VL；将黑体辐射温度设定为T,T高于常温，待黑体辐射温度稳定后，将被测探测器组件对准黑体，测量并记录探测器组件的输出V0；为避免黑体不能辐射到探测器全部面阵的情况，取面阵中心区域M×N的像素点求平均值计算探测器组件的直流响应
步骤2：测量不同斩波频率下探测器的响应：
被测探测器组件工作在f0Hz，使用斩波器对黑体的输出辐射进行斩波，斩波器的斩波频率不应高于采集不同斩波频率f下探测器组件的输出数据，每组连续采集N*f帧，N≥2；将不同斩波频率下的数据进行快速傅立叶变换FFT，得到频域下对应频率的响应幅值Vf，选取步骤1中相同区域M×N的像素点求平均值计算不同斩波频率下探测器组件的响应
步骤3：按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ：
根据步骤2测试计算得到的不同频率f下的Rv(f)，以Rv(0)和τ作为未知参数按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ，将探测器组件的直流响应Rv作为拟合时Rv(0)的初始值。
作为优选方式，所述方法的步骤3中τ的初始值设为0.01s。
作为优选方式，所述方法的步骤中涉及到的计算需要剔除盲元。
本发明的有益效果为：1、本方法采用了FFT变换(快速傅立叶变换)，有效排除了噪声对热响应时间测试的影响，测量精度高，测试结果稳定可靠。2、本方法利用黑体、斩波器等标准设备即可进行测试，测试用时短，可行性强，效率高。
附图说明
图1为本发明测试非制冷红外焦平面探测器阵列的热响应时间流程示意图；
图2为本发明热响应时间测试平台示意图；
图3为热响应时间测试结果的拟合曲线图；
其中，1为腔式黑体，2为斩波器，3为光学镜头，4为被测探测器组件，5为测试系统。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。
如图2所示，一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统，包括腔式黑体1、斩波器2、被测探测器组件4、测试系统5，所述被测探测器组件包括被测非制冷红外焦平面探测器阵列、适配板、光学镜头3，所述光学镜头置于被测非制冷红外焦平面探测器阵列的前方，黑体的辐射面中心正对光学镜头的中心，黑体的辐射面中心正对被测非制冷红外焦平面阵列的中心，斩波器置于黑体与被测探测器组件之间，黑体为腔式黑体或面源黑体。测试系统通过黑体、斩波器及探测器组件提供的外接控制端口控制它们的状态，被测探测器的输出数据通过数据采集卡传输至测试系统。
图1为本发明测试红外焦平面探测器阵列的热响应时间流程示意图。
本实施例还提供一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试方法，利用上述系统进行测试，该方法为：黑体发出的辐射，经过斩波器斩波后照射到被测非制冷红外焦平面探测器阵列上，被测非制冷红外焦平面探测器阵列对不同斩波频率下的辐射产生不同的响应，通过采集不同斩波频率下被测非制冷红外焦平面探测器阵列的响应值，经过快速傅立叶变换FFT变换得到频域下相应频率点下的响应幅值，按照公式拟合求得热响应时间，其中RV(f)表示FFT变换后频率f对应的响应幅值，RV(0)是直流响应幅值，τ是热响应时间，f是斩波器斩波的频率。
具体的，所述测试方法进一步包括以下步骤：
步骤1：按照图2搭建测试平台：将腔式黑体、斩波器、被测探测器组件(含被测探测器、适配板、光学镜头)以及测试系统(PC)等设备进行连接。调整腔式黑体与被测探测器组件的平面距离，确保腔式黑体辐射面与光学镜头平面间距使聚焦后的成像清晰，并使光学镜头处于辐射面正中央处。调整斩波器的位置，确保通过斩波器的黑体辐射可均匀辐射到被测探测器组件上，确认无误后设备上电启动；
步骤2：测量探测器的直流响应：
被测探测器组件上电稳定后，探测器组件帧频设定为50Hz，用常温物体完全遮住探测器组件，测量并记录此时探测器组件的输出VL；将黑体辐射温度设定为T，T高于常温，待黑体辐射温度稳定后，将被测探测器组件对准黑体，测量并记录探测器组件的输出V0；为避免黑体不能辐射到探测器全部面阵的情况，取面阵中心区域M×N的像素点求平均值计算探测器组件的直流响应
步骤3：测量不同斩波频率下探测器的响应：
被测探测器组件工作在f0Hz，使用斩波器对黑体的输出辐射进行斩波，斩波器的斩波频率不应高于采集不同斩波频率f下探测器组件的输出数据，每组连续采集N*f帧，N≥2；将不同斩波频率下的数据进行快速傅立叶变换FFT，得到频域下对应频率的响应幅值Vf，选取步骤1中相同区域M×N的像素点求平均值计算不同斩波频率下探测器组件的响应
步骤4：按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ：
根据步骤3测试计算得到的不同频率f下的Rv(f)，以Rv(0)和τ作为未知参数按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ，将探测器组件的直流响应Rv作为拟合时Rv(0)的初始值。τ的初始值设为0.01s。
图3为拟合成的曲线，热响应时间为8.6ms。
所述方法的步骤中涉及到的计算需要剔除盲元。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (2)
1.一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试方法，利用非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统进行测试，其特征在于：
包括黑体、斩波器、被测探测器组件、测试系统，所述被测探测器组件包括被测非制冷红外焦平面探测器阵列、适配板，黑体的辐射面中心正对被测非制冷红外焦平面探测器阵列的中心，斩波器置于黑体与被测探测器组件之间，测试系统通过黑体、斩波器及被测探测器组件提供的外接控制端口控制它们的状态，被测探测器组件的输出数据通过数据采集卡传输至测试系统；
黑体发出的辐射，经过斩波器斩波后照射到被测非制冷红外焦平面探测器阵列上，被测非制冷红外焦平面探测器阵列对不同斩波频率下的辐射产生不同的响应，通过采集不同斩波频率下被测非制冷红外焦平面探测器阵列的响应值，经过快速傅立叶变换FFT变换得到频域下相应频率点下的响应幅值，按照公式拟合求得热响应时间，其中RV(f)表示FFT变换后频率f对应的响应幅值，RV(0)是直流响应幅值，τ是热响应时间，f是斩波器斩波的频率；
测试方法包括以下步骤：
步骤1：测量探测器的直流响应：
被测探测器组件上电稳定后，用常温物体完全遮住被测探测器组件，测量并记录此时被测探测器组件的输出VL；将黑体辐射温度设定为T,T高于常温，待黑体辐射温度稳定后，将被测探测器组件对准黑体，测量并记录被测探测器组件的输出V0；为避免黑体不能辐射到被测探测器组件全部面阵的情况，取面阵中心区域M×N的像素点求平均值计算被测探测器组件的直流响应
步骤2：测量不同斩波频率下被测探测器组件的响应：
被测探测器组件工作在f0Hz，使用斩波器对黑体的输出辐射进行斩波，斩波器的斩波频率不高于采集不同斩波频率f下被测探测器组件的输出数据，每组连续采集N*f帧，N≥2；将不同斩波频率下的数据进行快速傅立叶变换FFT，得到频域下对应频率的响应幅值Vf，选取步骤1中相同区域M×N的像素点求平均值计算不同斩波频率下被测探测器组件的响应
步骤3：按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ：
根据步骤2测试计算得到的不同频率f下的Rv(f)，以Rv(0)和τ作为未知参数按照公式拟合曲线并求出热响应时间τ，将被测探测器组件的直流响应Rv作为拟合时Rv(0)的初始值。
2.根据权利要求1所述的一种非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间的测试方法，其特征在于：步骤3中τ的初始值设为0.01s。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710496167.5A CN107144356B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 |
| US15/968,758 US10274376B2 (en) | 2017-06-26 | 2018-05-02 | System for testing thermal response time of uncooled infrared focal plane detector array and method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710496167.5A CN107144356B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN107144356A CN107144356A (zh) | 2017-09-08 |
| CN107144356B true CN107144356B (zh) | 2019-06-04 |
Family
ID=59784285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710496167.5A Active CN107144356B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10274376B2 (zh) |
| CN (1) | CN107144356B (zh) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107884077A (zh) * | 2017-11-10 | 2018-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法 |
| CN108871619B (zh) * | 2018-04-27 | 2019-11-05 | 重庆大学 | 一种高速热电偶时间常数测量装置与测量方法 |
| CN109406110A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-03-01 | 成都福森元光电科技有限公司 | 一种红外镜头测试系统 |
| CN110346052B (zh) * | 2019-06-13 | 2020-05-05 | 无锡物联网创新中心有限公司 | Mems非制冷红外探测器热学参数测试电路及测试方法 |
| CN111024237A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-04-17 | 天津津航技术物理研究所 | 非接触式宽温差红外温度测量方法 |
| CN110940422B (zh) * | 2019-12-23 | 2024-08-16 | 江苏创芯海微科技有限公司 | 一种mems红外探测器响应时间测量装置及方法 |
| CN112446161B (zh) * | 2020-11-18 | 2022-11-11 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种红外焦平面探测器阵列像素内响应灵敏度的仿真方法 |
| CN113503969A (zh) * | 2021-07-08 | 2021-10-15 | 成都盈盛源电气科技有限公司 | 一种制冷型红外探测器多工位测试系统及方法 |
| CN113701899B (zh) * | 2021-09-27 | 2023-06-23 | 西安中科立德红外科技有限公司 | 一种非制冷红外热像仪及获取温度信息的方法 |
| CN116754080B (zh) * | 2023-06-28 | 2024-07-23 | 浙江珏芯微电子有限公司 | 一种红外焦平面器件的不稳定像元测试方法 |
| CN117030034A (zh) * | 2023-06-30 | 2023-11-10 | 武汉高德智感科技有限公司 | 一种检测热成像仪拖影时间的方法及系统 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4885463A (en) * | 1988-08-29 | 1989-12-05 | Santa Barbara Research Center | Method and apparatus for testing infrared detectors |
| US8119987B2 (en) * | 2008-06-27 | 2012-02-21 | Yoon Howard W | Process and apparatus for the measurement of thermal radiation using regular glass optics and short-wave infrared detectors |
| CN105092054A (zh) * | 2015-07-28 | 2015-11-25 | 昆明物理研究所 | 一种用于热释电非制冷红外焦平面探测器的测试评价装置 |
| CN205352557U (zh) * | 2015-12-29 | 2016-06-29 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置 |
| CN105930560A (zh) * | 2016-04-13 | 2016-09-07 | 电子科技大学 | 一种测定热释电红外探测器响应时间的方法 |
| CN106768392A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置及方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4907895A (en) * | 1988-03-31 | 1990-03-13 | Ivac Corporation | Optical chopper for infrared thermometer |
| US5751830A (en) * | 1995-05-24 | 1998-05-12 | Lockheed Martin Energy Systems, Inc. | Method and apparatus for coherent imaging of infrared energy |
| US6585410B1 (en) * | 2001-05-03 | 2003-07-01 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Radiant temperature nulling radiometer |
| DE10159722B4 (de) * | 2001-12-05 | 2008-02-07 | Bruker Optik Gmbh | Abbildendes FTIR-Spektrometer |
| US7385199B2 (en) * | 2005-09-26 | 2008-06-10 | Teledyne Licensing, Llc | Microbolometer IR focal plane array (FPA) with in-situ mirco vacuum sensor and method of fabrication |
| US20120133776A1 (en) * | 2010-02-24 | 2012-05-31 | Nova Research, Inc. | Low contrast midwave flir implementation |
| CN101825516A (zh) * | 2010-05-04 | 2010-09-08 | 电子科技大学 | 一种红外焦平面阵列器件的测试装置及其测试方法 |
| US8507867B1 (en) * | 2010-10-07 | 2013-08-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Radiometric cargo security device |
| EP2947435A1 (en) * | 2014-05-16 | 2015-11-25 | MBDA ITALIA S.p.A. | Method for estimating the spectral response of an infrared photodetector |
| US20170276548A1 (en) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | Harris Corporation | Optical Nonlinearity Estimation Using Increase in Harmonic Content With Increase in Intensity |
-
2017
- 2017-06-26 CN CN201710496167.5A patent/CN107144356B/zh active Active
-
2018
- 2018-05-02 US US15/968,758 patent/US10274376B2/en active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4885463A (en) * | 1988-08-29 | 1989-12-05 | Santa Barbara Research Center | Method and apparatus for testing infrared detectors |
| US8119987B2 (en) * | 2008-06-27 | 2012-02-21 | Yoon Howard W | Process and apparatus for the measurement of thermal radiation using regular glass optics and short-wave infrared detectors |
| CN105092054A (zh) * | 2015-07-28 | 2015-11-25 | 昆明物理研究所 | 一种用于热释电非制冷红外焦平面探测器的测试评价装置 |
| CN205352557U (zh) * | 2015-12-29 | 2016-06-29 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 二代面阵红外探测器组件像元光谱响应一致性测试装置 |
| CN105930560A (zh) * | 2016-04-13 | 2016-09-07 | 电子科技大学 | 一种测定热释电红外探测器响应时间的方法 |
| CN106768392A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 弱光条件下红外光电探测器响应特性参数标定装置及方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 红外焦平面阵列性能参数测试平台;肖静;《红外技术》;20040930;第26卷(第5期);正文第2-4节，图1 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107144356A (zh) | 2017-09-08 |
| US10274376B2 (en) | 2019-04-30 |
| US20180252590A1 (en) | 2018-09-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN107144356B (zh) | 非制冷红外焦平面探测器阵列热响应时间测试系统及方法 | |
| CN110095192B (zh) | 一种红外热像仪综合性能参数测试系统及其方法 | |
| CN106248204B (zh) | 一种光纤输出的激光光束质量测量装置 | |
| US10816404B2 (en) | Method for determining a temperature without contact, and infrared measuring system | |
| Piuzzi et al. | Complex radar cross section measurements of the human body for breath-activity monitoring applications | |
| US20160080666A1 (en) | Test and measurement system with removable imaging tool | |
| CN106053356B (zh) | 基于辐射量测量的金属凝固点黑体有效发射率测量系统及方法 | |
| US20190154512A1 (en) | Method for Determining a Temperature without Contact, and Infrared Measuring System | |
| Jaffery et al. | Temperature measurement of solar module in outdoor operating conditions using thermal imaging | |
| Pulkkinen et al. | Ultrasound field characterization using synthetic schlieren tomography | |
| CN104390931A (zh) | 高精度红外样品材料光谱发射率测量装置及方法 | |
| CN109060731B (zh) | 红外光学系统光谱透过率测试装置及方法 | |
| CN108204888A (zh) | 一种仿真用红外动态场景模拟器现场校准装置 | |
| CN110940422A (zh) | 一种mems红外探测器响应时间测量装置及方法 | |
| Bowers et al. | Unpolarized calibration and nonuniformity correction for long-wave infrared microgrid imaging polarimeters | |
| US20190154510A1 (en) | Method for Determining a Temperature without Contact and Infrared Measuring System | |
| CN107389204B (zh) | 红外焦平面探测器弱光谱信号的测试平台及其方法 | |
| CN104833419A (zh) | 一种1-3μm准直光源辐射照度测量仪 | |
| Vendt et al. | Effects of environmental conditions on the performance of thermal imagers | |
| CN202066595U (zh) | 电器产品可触及表面温升快速检测装置 | |
| CN201892573U (zh) | 一种近红外辐射温度计 | |
| CN108225554A (zh) | 一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置 | |
| CN211013253U (zh) | 一种mems红外探测器响应时间测量装置 | |
| Krankenhagen et al. | Determination of the spatial energy distribution generated by means of a flash lamp | |
| dos Santos et al. | Non-uniformity correction in a Long Wave Infrared Focal Plane Array as a calibration temperature function |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |