RU2012101798A - Светоизлучающие диоды - Google Patents

Светоизлучающие диоды Download PDF

Info

Publication number
RU2012101798A
RU2012101798A RU2012101798/28A RU2012101798A RU2012101798A RU 2012101798 A RU2012101798 A RU 2012101798A RU 2012101798/28 A RU2012101798/28 A RU 2012101798/28A RU 2012101798 A RU2012101798 A RU 2012101798A RU 2012101798 A RU2012101798 A RU 2012101798A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
gap
layer
metal
mixture
columns
Prior art date
Application number
RU2012101798/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Тао Ванг
Original Assignee
Серен Фотоникс Лимитед
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB0910619A external-priority patent/GB0910619D0/en
Priority claimed from GB0917794A external-priority patent/GB0917794D0/en
Priority claimed from GBGB1005582.0A external-priority patent/GB201005582D0/en
Application filed by Серен Фотоникс Лимитед filed Critical Серен Фотоникс Лимитед
Publication of RU2012101798A publication Critical patent/RU2012101798A/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/508Wavelength conversion elements having a non-uniform spatial arrangement or non-uniform concentration, e.g. patterned wavelength conversion layer, wavelength conversion layer with a concentration gradient of the wavelength conversion material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

1. Светоизлучающее устройство, включающее в себя:первый и второй полупроводниковые слои и излучающий слой между полупроводниковыми слоями, расположенные таким образом, чтобы формировать светоизлучающий диод;промежуток в одном из слоев; иметалл, расположенный в промежутке достаточно близко к излучающему слою для возникновения связи поверхностного плазмона между металлом и излучающим слоем.2. Устройство по п.1, включающее в себя смесь, сформированную из металла, которая представляет собой частицы металла и материал-основу, причем смесь расположена в промежутке.3. Устройство по п.2, в котором материал-основа включает в себя материал, преобразующий длину волны.4. Устройство по любому из предыдущих пунктов, в котором металл или смесь расположен непосредственно рядом с поверхностью промежутка.5. Устройство по любому из пп.1-3, в котором промежуток проходит частично, но не полностью через второй полупроводниковый слой в направлении излучающего слоя.6. Устройство по любому из пп.1-3, в котором промежуток проходит через второй полупроводниковый слой, и часть промежутка ограничена поверхностью излучающего слоя.7. Устройство по п.6, в котором металл или смесь расположен в промежутке непосредственно рядом с поверхностью излучающего слоя.8. Устройство по п.6, в котором слой, содержащий металл, контактирует с указанной поверхностью излучающего слоя.9. Устройство по п.7 или 8, в котором промежуток проходит через излучающий слой и часть промежутка ограничена поверхностью первого полупроводникового слоя.10. Устройство по любому из пп.1-3, в котором первый полупроводниковый слой сформирован на подложке.11. Устройство по любому из пп.1-3,

Claims (30)

1. Светоизлучающее устройство, включающее в себя:
первый и второй полупроводниковые слои и излучающий слой между полупроводниковыми слоями, расположенные таким образом, чтобы формировать светоизлучающий диод;
промежуток в одном из слоев; и
металл, расположенный в промежутке достаточно близко к излучающему слою для возникновения связи поверхностного плазмона между металлом и излучающим слоем.
2. Устройство по п.1, включающее в себя смесь, сформированную из металла, которая представляет собой частицы металла и материал-основу, причем смесь расположена в промежутке.
3. Устройство по п.2, в котором материал-основа включает в себя материал, преобразующий длину волны.
4. Устройство по любому из предыдущих пунктов, в котором металл или смесь расположен непосредственно рядом с поверхностью промежутка.
5. Устройство по любому из пп.1-3, в котором промежуток проходит частично, но не полностью через второй полупроводниковый слой в направлении излучающего слоя.
6. Устройство по любому из пп.1-3, в котором промежуток проходит через второй полупроводниковый слой, и часть промежутка ограничена поверхностью излучающего слоя.
7. Устройство по п.6, в котором металл или смесь расположен в промежутке непосредственно рядом с поверхностью излучающего слоя.
8. Устройство по п.6, в котором слой, содержащий металл, контактирует с указанной поверхностью излучающего слоя.
9. Устройство по п.7 или 8, в котором промежуток проходит через излучающий слой и часть промежутка ограничена поверхностью первого полупроводникового слоя.
10. Устройство по любому из пп.1-3, в котором первый полупроводниковый слой сформирован на подложке.
11. Устройство по любому из пп.1-3, также включающее в себя контактный слой, расположенный рядом и находящийся в электрическом контакте со вторым полупроводниковым слоем таким образом, чтобы он закрывал, по крайней мере, часть промежутка.
12. Устройство по любому из пп.1-3, в котором столбики формируются, по крайней мере, из одного из слоев посредством промежутка, формирующегося между столбиками.
13. Устройство по п.12, в котором среднее наименьшее расстояние между двумя соседними столбиками, измеренное между соответствующими сторонами двух соседних столбиков, меньше 500 нм и, предпочтительно, меньше 200 нм.
14. Устройство по любому из пп.1-3, включающее в себя множество указанных промежутков, которые отделены друг от друга таким образом, что металл или смесь представляют собой столбики.
15. Устройство по п.14, в котором средний диаметр столбиков меньше 500 нм и, предпочтительно, меньше 200 нм.
16. Способ производства светоизлучающего устройства, включающий в себя:
формирование первого и второго полупроводниковых слоев и излучающего слоя между полупроводниковыми слоями;
формирование промежутка в одном из слоев;
помещение металла в промежуток достаточно близко к излучающему слою для возникновения связи поверхностного плазмона между металлом и излучающим слоем.
17. Способ по п.16, включающий в себя:
формирование смеси из металла, которая представляет собой частицы металла и материал-основу; и
расположение смеси в промежутке и достаточно близко к излучающему слою для образования связи поверхностного плазмона между частицами металла и излучающим слоем.
18. Способ по п.17, в котором материал-основа включает в себя материал, преобразующий длину волны.
19. Способ по любому из пп.16-18, в котором металл или смесь расположен непосредственно рядом с поверхностью промежутка.
20. Способ по любому из пп.16-18, в котором промежуток проходит частично, но не полностью через второй полупроводниковый слой в направлении излучающего слоя.
21. Способ по любому из пп.16-18, в котором промежуток сформирован проходящим через второй полупроводниковый слой, и часть промежутка ограничена поверхностью излучающего слоя.
22. Способ по п.21, в котором металл или смесь расположен в промежутке непосредственно рядом с указанной поверхностью излучающего слоя.
23. Способ по п.22, в котором слой, содержащий металл, контактирует с указанной поверхностью излучающего слоя.
24. Способ по п.22 или п.23, в котором промежуток сформирован проходящим через излучающий слой, и часть промежутка ограничена поверхностью первого полупроводникового слоя.
25. Способ по любому из пп.16-18, в котором первый полупроводниковый слой сформирован на подложке.
26. Способ по любому из пп.16-18, дополнительно включающий в себя формирование контактного слоя, расположенного рядом и находящегося в электрическом контакте со вторым полупроводниковым слоем таким образом, чтобы он закрывал, по крайней мере, часть промежутка.
27. Способ по любому из пп.16-18, в котором столбики формируются, по крайней мере, из одного из слоев посредством промежутка, формирующегося между столбиками.
28. Способ по п.27, в котором столбики формируются таким образом, что среднее наименьшее расстояние между двумя соседними столбиками, измеренное между соответствующими сторонами двух соседних столбиков, меньше 500 нм и, предпочтительно, меньше 200 нм.
29. Способ по любому из пп.16-18, включающий в себя формирование множества указанных промежутков, которые отделены друг от друга таким образом, что металл или смесь представляют собой столбики.
30. Способ по п.29, в котором средний диаметр столбиков меньше 500 нм и, предпочтительно, меньше 200 нм.
RU2012101798/28A 2009-06-19 2010-06-14 Светоизлучающие диоды RU2012101798A (ru)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0910619A GB0910619D0 (en) 2009-06-19 2009-06-19 Light emitting diodes
GB0910619.6 2009-06-19
GB0917794A GB0917794D0 (en) 2009-10-12 2009-10-12 Light emitting diodes
GB0917794.0 2009-10-12
GBGB1005582.0A GB201005582D0 (en) 2010-04-01 2010-04-01 Light emitting diodes
GB1005582.0 2010-04-01
PCT/GB2010/050992 WO2010146390A2 (en) 2009-06-19 2010-06-14 Light emitting diodes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2012101798A true RU2012101798A (ru) 2013-07-27

Family

ID=42988259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012101798/28A RU2012101798A (ru) 2009-06-19 2010-06-14 Светоизлучающие диоды

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20120161185A1 (ru)
EP (1) EP2443675A2 (ru)
JP (1) JP2012530373A (ru)
CN (1) CN102804424A (ru)
GB (1) GB2483388B (ru)
RU (1) RU2012101798A (ru)
WO (1) WO2010146390A2 (ru)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010051286A1 (de) * 2010-11-12 2012-05-16 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zu dessen Herstellung
GB2487917B (en) * 2011-02-08 2015-03-18 Seren Photonics Ltd Semiconductor devices and fabrication methods
US9276380B2 (en) * 2011-10-02 2016-03-01 Keh-Yung Cheng Spontaneous and stimulated emission control using quantum-structure lattice arrays
US8835965B2 (en) 2012-01-18 2014-09-16 The Penn State Research Foundation Application of semiconductor quantum dot phosphors in nanopillar light emitting diodes
KR101373398B1 (ko) 2012-04-18 2014-04-29 서울바이오시스 주식회사 고효율 발광다이오드 제조방법
TWI478382B (zh) * 2012-06-26 2015-03-21 Lextar Electronics Corp 發光二極體及其製造方法
DE102013100291B4 (de) 2013-01-11 2021-08-05 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronischer Halbleiterchip
DE102013200509A1 (de) 2013-01-15 2014-07-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip
CN103227254B (zh) * 2013-04-11 2015-05-27 西安交通大学 一种含左手材料的led光子晶体及制备方法
GB2522406A (en) * 2014-01-13 2015-07-29 Seren Photonics Ltd Semiconductor devices and fabrication methods
EP3149783B8 (en) * 2014-05-27 2018-09-05 Lumileds Holding B.V. Spatial positioning of photon emitters in a plasmonic illumination device
US20200152841A1 (en) * 2017-07-31 2020-05-14 Yale University Nanoporous micro-led devices and methods for making
DE102019103492A1 (de) * 2019-02-12 2020-08-13 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronisches bauelement
EP3855513A3 (en) 2020-01-22 2021-11-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor led and method of manufacturing the same
KR20210102741A (ko) 2020-02-12 2021-08-20 삼성전자주식회사 반도체 발광 소자 및 이의 제조 방법
CN117080342B (zh) * 2023-10-18 2024-01-19 江西兆驰半导体有限公司 一种发光二极管芯片及其制备方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0442002B1 (de) * 1990-02-13 1994-01-12 Siemens Aktiengesellschaft Strahlungserzeugendes Halbleiterbauelement
JP4193471B2 (ja) * 2001-12-14 2008-12-10 日亜化学工業株式会社 発光装置およびその製造方法
US7524686B2 (en) * 2005-01-11 2009-04-28 Semileds Corporation Method of making light emitting diodes (LEDs) with improved light extraction by roughening
CN1967901A (zh) * 2005-11-18 2007-05-23 精工电子有限公司 电致发光元件及使用该电致发光元件的显示装置
JP2007214260A (ja) * 2006-02-08 2007-08-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体発光素子およびその製造方法
US20100259184A1 (en) * 2006-02-24 2010-10-14 Ryou Kato Light-emitting device
WO2008066712A2 (en) * 2006-11-15 2008-06-05 The Regents Of The University Of California High light extraction efficiency light emitting diode (led) with emitters within structured materials
KR100896583B1 (ko) * 2007-02-16 2009-05-07 삼성전기주식회사 표면 플라즈몬 공명을 이용한 반도체 발광 소자 제조방법
US8080480B2 (en) * 2007-09-28 2011-12-20 Samsung Led Co., Ltd. Method of forming fine patterns and manufacturing semiconductor light emitting device using the same

Also Published As

Publication number Publication date
US20120161185A1 (en) 2012-06-28
WO2010146390A3 (en) 2011-02-10
GB2483388A (en) 2012-03-07
EP2443675A2 (en) 2012-04-25
GB2483388B (en) 2013-10-23
JP2012530373A (ja) 2012-11-29
CN102804424A (zh) 2012-11-28
GB201120013D0 (en) 2012-01-04
WO2010146390A2 (en) 2010-12-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012101798A (ru) Светоизлучающие диоды
US20140284633A1 (en) Stacked light emitting diode array structure
RU2011116095A (ru) Полупроводниковые светоизлучающие устройства, выращенные на композитных подложках
KR101047792B1 (ko) 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지
CN104040716B (zh) 以大角度发射光的半导体发光器件灯
US8633042B2 (en) Light emitting diode
EP2161752A3 (en) Light-emitting device and method of manufacturing the same
RU2013119742A (ru) Светоизлучающее устройство с преобразованной длиной волны
TW200731567A (en) Production method for nitride semiconductor light emitting device
WO2007032546A8 (en) Production method for nitride semiconductor light emitting device
WO2009002129A3 (en) Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
TWI528579B (zh) 發光二極體元件
WO2019067182A3 (en) Mesa shaped micro light emitting diode with bottom n-contact
WO2019076129A1 (zh) 发光二极管及其制作方法以及显示装置
TW201216520A (en) Semiconductor light emitting device
US9627584B2 (en) Light emitting device and light emitting device package
JP2013501350A5 (ru)
US9000445B2 (en) Light emitting diode with wave-shaped Bragg reflective layer and method for manufacturing same
US8174039B2 (en) Light-emitting diode device with high luminescent efficiency
TWI462331B (zh) 發光二極體晶片及其製造方法
WO2011105858A3 (ko) 발광 다이오드 및 그 제조방법
MY165794A (en) Light emitting diode and fabrication method thereof
US20150091033A1 (en) Light enhancing structure for a light emitting diode
RU2011106966A (ru) Светоизлучающее полупроводниковое устройство
TWI535071B (zh) 發光二極體

Legal Events

Date Code Title Description
FA92 Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted)

Effective date: 20140912