RU2011148604A - Способ и устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, предпочтительно путем сравнения выбираемых участков, а также применение устройства для выполнения способа - Google Patents

Способ и устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, предпочтительно путем сравнения выбираемых участков, а также применение устройства для выполнения способа Download PDF

Info

Publication number
RU2011148604A
RU2011148604A RU2011148604/28A RU2011148604A RU2011148604A RU 2011148604 A RU2011148604 A RU 2011148604A RU 2011148604/28 A RU2011148604/28 A RU 2011148604/28A RU 2011148604 A RU2011148604 A RU 2011148604A RU 2011148604 A RU2011148604 A RU 2011148604A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
decor
sample
test sample
camera
interference spectrum
Prior art date
Application number
RU2011148604/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2562137C2 (ru
Inventor
Йоханнес ЯШУЛЬ
Мартин КОЗИНА
Кай Райнер ХУММЕЛЬ
Original Assignee
Шаттдекор Аг
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Шаттдекор Аг filed Critical Шаттдекор Аг
Publication of RU2011148604A publication Critical patent/RU2011148604A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2562137C2 publication Critical patent/RU2562137C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0251—Colorimeters making use of an integrating sphere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0254—Spectrometers, other than colorimeters, making use of an integrating sphere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8983—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood for testing textile webs, i.e. woven material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Способ выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, которые соответственно неоднородно окрашены и/или структурированы, в особенности, для сравнения по меньшей мере двух декоров или выбираемых из них участков, со следующими признаками:исследуемый образец (UR, LE, I), характеризуемый неоднородностью в структуре и/или цвете, освещается рассеянным светом,из отраженного от исследуемого образца (UR, LE, I) света посредством спектрометра (23) формируется спектр интерференции,сформированный спектрометром (23) спектр интерференции отображается на камеру (25, 25'),полученный спектр интерференции и/или выведенные из него значения исследуемого образца (I) служат в качестве значений образца, которые сравниваются с соответственно полученными значениями образца для эталонного образца (UR, LE).2. Способ по п.1, отличающийся тем, что посредством камеры (25, 25') формируется эквивалентный спектр интерференции исследуемых образцов (UR, LE, I), который воспроизводит распределение интенсивности в зависимости от длины волны отраженного света относительно оцениваемых образцов (UR, LE, I).3. Способ по п.2, отличающийся тем, что эквивалентный спектр интерференции имеет разрешение от 1 нм до 20 нм, предпочтительно разрешение предпочтительно меньше чем 20 нм, в особенности меньше чем 15 нм, 14 нм, 13 нм, 12 нм, 11 нм, 10 нм, 9 нм, 8 нм, 7 нм, 6 нм, 5 нм, 4 нм, 3 нм, 2 нм.4. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что исследуемый образец (UR, LE, I) облучается диффузным светом, который формируется с помощью сферы Ульбрихта (11).5. Способ по п.4, отличающийся тем, что исследуемый образец (UR, LE, I) размещен непосредственно по соседству с отверстием (17) для выхода света с�

Claims (27)

1. Способ выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, которые соответственно неоднородно окрашены и/или структурированы, в особенности, для сравнения по меньшей мере двух декоров или выбираемых из них участков, со следующими признаками:
исследуемый образец (UR, LE, I), характеризуемый неоднородностью в структуре и/или цвете, освещается рассеянным светом,
из отраженного от исследуемого образца (UR, LE, I) света посредством спектрометра (23) формируется спектр интерференции,
сформированный спектрометром (23) спектр интерференции отображается на камеру (25, 25'),
полученный спектр интерференции и/или выведенные из него значения исследуемого образца (I) служат в качестве значений образца, которые сравниваются с соответственно полученными значениями образца для эталонного образца (UR, LE).
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что посредством камеры (25, 25') формируется эквивалентный спектр интерференции исследуемых образцов (UR, LE, I), который воспроизводит распределение интенсивности в зависимости от длины волны отраженного света относительно оцениваемых образцов (UR, LE, I).
3. Способ по п.2, отличающийся тем, что эквивалентный спектр интерференции имеет разрешение от 1 нм до 20 нм, предпочтительно разрешение предпочтительно меньше чем 20 нм, в особенности меньше чем 15 нм, 14 нм, 13 нм, 12 нм, 11 нм, 10 нм, 9 нм, 8 нм, 7 нм, 6 нм, 5 нм, 4 нм, 3 нм, 2 нм.
4. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что исследуемый образец (UR, LE, I) облучается диффузным светом, который формируется с помощью сферы Ульбрихта (11).
5. Способ по п.4, отличающийся тем, что исследуемый образец (UR, LE, I) размещен непосредственно по соседству с отверстием (17) для выхода света сферы Ульбрихта (11), причем промежуток между отверстием (17) для выхода света и поверхностью исследуемого образца (UR, LE, I) составляет меньше чем 20 мм, в особенности меньше чем 15 мм, или меньше чем 10 мм, или меньше чем 5 мм.
6. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что диаметрально противоположно отверстию (17) для выхода света в сфере Ульбрихта (11) предусмотрено измерительное отверстие (11), через которое отраженный от исследуемого образца (UR, LE, I) свет выходит и направляется к спектрометру (23).
7. Способ по п.6, отличающийся тем, что в качестве спектрометра (23) применяется дифракционная решетка (23').
8. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что в качестве камеры (25) применяется матричная или строчная камера, предпочтительно в форме CDD-камеры (25') или CMOS-камеры.
9. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что из отображенного на камеру (25, 25') спектра интерференции выводится оцифрованный спектр интерференции и/или выведенные из него значения.
10. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что от измеряемого образца (UR, LE, I) или принадлежащего ему участка (A1, A2, A3) посредством камеры (31) определения позиции получают отображение предпочтительно на основе характеристических признаков декора, в особенности областей декора со структурами, такими как текстуры древесины или годовые линии для деревянных декоров и т.д., и эти данные отображения исследуемого образца (UR, LE, I) или исследуемого участка (A1, A2, A3) совместно сохраняются вместе с данными относительно полученного спектра интерференции и/или выведенными из него оцифрованными спектральными данными.
11. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что при измерении нового фактического образца (I) отображение сохраненного участка предыдущего эталонного образца (UR, LE), a также участков (A1, A2, A3) измеряемого в текущий момент образца (I) проецируются друг над другом, чтобы на основе характеристических признаков декора, таких как, в особенности области декора, текстуры древесины и т.д., проверить, расположены ли оба участка изображения конгруэнтно по отношению друг к другу или нет.
12. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что выполняется способ позиционирования, чтобы отыскать или установить два идентичных участка декора (A1, A2, A3) относительно сопоставляемых образцов декора (UR, LE, I), причем в способе позиционирования с соответствующим заметным местом в сопоставляемых участках декора (A1, A2, A3) соотносится маркировочный или позиционирующий крест, причем при неконгруэнтных маркировочных или позиционирующих крестах двух сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3), путем формирования разности между центрами маркировочных или позиционирующих крестов, сравниваемые образцы декора (UR, LE, I) перемещаются относительно друг друга, пока не будет достигнута конгруэнтность между маркировочными или позиционирующими крестами.
13. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что выполняется автоматический способ позиционирования относительно двух сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3) по меньшей мере двух образцов декора (UR, LE, I) на основе корреляции содержаний изображения сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3).
14. Устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, которые соответственно неоднородно окрашены и/или структурированы, в особенности, для сравнения по меньшей мере двух декоров или выбираемых из них участков, со следующими признаками:
предусмотрено устройство формирования рассеянного света, посредством которого исследуемый образец (UR, LE, I), характеризуемый неоднородностью в структуре и/или цвете, освещается рассеянным светом,
предусмотрен спектрометр (23) для формирования спектра интерференции из света, отраженного от исследуемого образца (UR, LE, I),
предусмотрена камера (25, 25'), посредством которой сформированный спектрометром (23) спектр интерференции отображается на камеру (25, 25'),
предусмотрено устройство (29) оценки, посредством которого полученный спектр интерференции и/или выведенные из него значения относительно исследуемого образца (I) сравниваются с соответствующими значениями образца для эталонного образца (UR, LE).
15. Устройство по п.14, отличающееся тем, что посредством камеры (25, 25') формируется эквивалентный спектр интерференции с соответствующим распределением интенсивности в зависимости от длины волны отраженного света относительно оцениваемого образца (UR, LE, I).
16. Устройство по п.15, отличающееся тем, что эквивалентный спектр интерференции имеет разрешение от 1 нм до 20 нм, предпочтительно разрешение <15 нм, <14 нм, <13 нм, <12 нм, <11 нм, <10 нм, <9 нм, <8 нм, <7 нм, <6 нм, <5 нм, <4 нм, <3 нм или <2 нм.
17. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что предусмотрена сфера Ульбрихта (11), посредством которой исследуемый образец (UR, LE, I) может облучаться диффузным светом.
18. Устройство по п.17, отличающееся тем, что исследуемый образец (UR, LE, I) размещен непосредственно по соседству с отверстием (17) для выхода света сферы Ульбрихта (11), причем промежуток между отверстием (17) для выхода света и поверхностью исследуемого образца (UR, LE, I) составляет меньше чем 20 мм, в особенности меньше чем 15 мм, или меньше чем 10 мм, или меньше чем 5 мм.
19. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что диаметрально противоположно отверстию (17) для выхода света в сфере Ульбрихта (11) предусмотрено измерительное отверстие (15), через которое отраженный от исследуемого образца (UR, LE, I) свет выходит и направляется к спектрометру (23).
20. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что в качестве спектрометра (23) предусмотрена дифракционная решетка (23').
21. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что в качестве камеры (25) предусмотрена матричная или строчная камера, предпочтительно в форме CDD-камеры (25') или CMOS-камеры.
22. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что из отображенного на камеру (25, 25') спектра интерференции посредством устройства (29) оценки может выводиться оцифрованный спектр интерференции и/или производные от него значения.
23. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что устройство и в особенности предусмотренное устройство (29) оценки выполнены таким образом, что от измеряемого образца (UR, LE, I) или принадлежащего ему участка (A1, A2, A3) посредством камеры (31) определения позиции получают отображение предпочтительно на основе характеристических признаков декора, в особенности областей декора со структурными элементами или текстурами, такими как годовые линии деревянного декора и т.д., и эти данные отображения исследуемого образца (UR, LE, I) или исследуемого участка (A1, A2, A3) совместно сохраняются вместе с данными относительно полученного спектра интерференции и/или с выведенными из него оцифрованными спектральными данными.
24. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что устройство и/или устройство (29) оценки, в особенности с относящимся к нему дисплеем, выполнено таким образом, что при измерении нового фактического образца (I) отображение сохраненного участка предыдущего эталонного образца (UR, LE), а также участка (A1, A2, A3) измеряемого в текущий момент образца (I) проецируются друг над другом, чтобы на основе характеристических признаков декора, таких как, в особенности области декора с текстурами древесины и т.д., проверять, расположены ли оба участка изображения конгруэнтно по отношению друг к другу или нет.
25. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что предусмотрено устройство (29) оценки и управления и/или выполнено таким образом, что может выполняться способ позиционирования, чтобы отыскать или установить два идентичных участка декора (A1, A2, A3) относительно сопоставляемых образцов декора (UR, LE, I), причем в способе позиционирования с соответствующим заметным местом в сопоставляемых участках декора (A1, A2, A3) соотносится маркировочный или позиционирующий крест, причем при неконгруэнтных маркировочных или позиционирующих крестах двух сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3), путем формирования разности между центрами маркировочных или позиционирующих крестов, сравниваемые образцы декора (UR, LE, I) перемещаются таким образом относительно друг друга, пока не будет достигнута конгруэнтность между маркировочными или позиционирующими крестами.
26. Устройство по любому из пп.14-16, отличающееся тем, что предусмотрено устройство (29) оценки и управления и/или выполнено таким образом, что выполняется автоматический способ позиционирования относительно двух сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3) по меньшей мере двух образцов декора (UR, LE, I) на основе корреляции содержаний изображения сопоставляемых участков декора (A1, A2, A3).
27. Применение устройства по любому из пп.14-25 для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, которые соответственно неоднородно окрашены и/или структурированы, в особенности для сравнения по меньшей мере двух декоров или выбираемых из них участков.
RU2011148604/28A 2009-04-30 2010-04-29 Способ и устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, предпочтительно путем сравнения выбираемых участков, а также применение устройства для выполнения способа RU2562137C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009019545.9 2009-04-30
DE102009019545.9A DE102009019545B4 (de) 2009-04-30 2009-04-30 Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung eines optischen Vergleiches zwischen zumindest zwei Mustern, vorzugsweise durch Vergleich von auswählbaren Ausschnitten
PCT/EP2010/002642 WO2010124866A1 (de) 2009-04-30 2010-04-29 Verfahren und vorrichtung zur durchführung eines optischen vergleiches zwischen zumindest zwei mustern, vorzugsweise durch vergleich von auswählbaren ausschnitten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011148604A true RU2011148604A (ru) 2013-06-10
RU2562137C2 RU2562137C2 (ru) 2015-09-10

Family

ID=42312675

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011148604/28A RU2562137C2 (ru) 2009-04-30 2010-04-29 Способ и устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, предпочтительно путем сравнения выбираемых участков, а также применение устройства для выполнения способа

Country Status (8)

Country Link
US (1) US8947660B2 (ru)
EP (1) EP2409125B1 (ru)
CN (1) CN102428355B (ru)
BR (1) BRPI1014354B1 (ru)
DE (1) DE102009019545B4 (ru)
PL (1) PL2409125T3 (ru)
RU (1) RU2562137C2 (ru)
WO (1) WO2010124866A1 (ru)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202011050535U1 (de) * 2011-06-22 2012-09-24 Eltromat Gmbh Bahnbeobachtungssystem für Rotationsdruckmaschinen
DE102011114779A1 (de) * 2011-10-01 2013-04-04 Robert Bosch Gmbh Registermarkensensor zur Beleuchtung von Registermarken auf einem Material und Erfassung des reflektierten Lichts
JP5925725B2 (ja) * 2013-04-25 2016-05-25 日本分光株式会社 積分球、および、反射光の測定方法
JP7099540B2 (ja) * 2018-10-30 2022-07-12 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 検反装置およびそれを備えたインクジェット捺染装置
DE102019109791A1 (de) * 2019-04-12 2020-10-15 Stephan Krebs Vorrichtung zur Druckbildkontrolle für eine Druck- oder Konfektioniermaschine und Verfahren zur Validierung von Inspektionsalgorithmen einer Vorrichtung zur Druckbildkontrolle
JP2020193928A (ja) * 2019-05-30 2020-12-03 株式会社分光応用技術研究所 ２次元分光測定システム及びデータの処理方法
EP3868559A1 (de) * 2020-02-20 2021-08-25 Flooring Technologies Ltd. Verfahren zur übernahme analoger vorlagen in den dekordruck
CN113255033B (zh) * 2021-05-11 2022-04-05 上海慧之建建设顾问有限公司 基于bim技术的建筑工程监理智能一体化云平台及监理方法
EP4108472A1 (de) * 2021-06-24 2022-12-28 Swiss Krono TEC AG Verfahren zum bearbeiten von dekorpapieren

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5120126A (en) 1991-06-14 1992-06-09 Ball Corporation System for non-contact colored label identification and inspection and method therefor
DE69330813T2 (de) 1992-03-06 2002-06-13 Omron Tateisi Electronics Co Bildprozessor und verfahren dafuer
US5412578A (en) * 1992-10-30 1995-05-02 Hitachi, Ltd. Method and device for pattern form recognition and automatic pattern match cutting device
US6078398A (en) * 1998-11-09 2000-06-20 General Electric Company Pattern analyzer
EP1041378A1 (en) * 1999-03-29 2000-10-04 Ncr International Inc. Produce recognition system including a produce data collector
DE19920364A1 (de) 1999-05-04 2000-11-16 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zur Erkennung von Farbmustern auf Oberflächen
JP3742279B2 (ja) * 2000-06-09 2006-02-01 日本電信電話株式会社 画像照合装置、画像照合方法及び画像照合プログラムを記録した記録媒体
JP3925301B2 (ja) * 2001-07-12 2007-06-06 コニカミノルタセンシング株式会社 分光特性測定装置および同装置の分光感度の波長シフト補正方法
RU2205450C1 (ru) * 2001-10-11 2003-05-27 Осипов Игорь Алексеевич Способ идентификации антикварных вещей
WO2004090488A1 (en) 2003-03-27 2004-10-21 The Sherwin-Williams Company Color compison for control of wood stain production
DE102004028056A1 (de) * 2004-04-22 2005-11-17 Maschinenfabrik Wifag Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung von Registerfehlern
KR100591736B1 (ko) * 2004-07-13 2006-06-22 삼성전자주식회사 기판의 반복 결함 분류 방법 및 장치
US20060161788A1 (en) 2004-11-01 2006-07-20 Ken Turpin Full color spectrum object authentication methods and systems
EP1775565B1 (de) * 2005-10-17 2008-05-07 X-Rite Europe AG Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern
AT504213B1 (de) 2006-09-22 2008-04-15 Ipac Improve Process Analytics Verfahren zum ähnlichkeitsvergleich von gegenständen

Also Published As

Publication number Publication date
EP2409125B1 (de) 2019-07-17
US20120105860A1 (en) 2012-05-03
DE102009019545A1 (de) 2010-11-11
BRPI1014354A2 (pt) 2016-04-05
CN102428355B (zh) 2015-08-26
CN102428355A (zh) 2012-04-25
WO2010124866A1 (de) 2010-11-04
BRPI1014354B1 (pt) 2019-11-12
DE102009019545B4 (de) 2018-11-22
PL2409125T3 (pl) 2020-01-31
US8947660B2 (en) 2015-02-03
EP2409125A1 (de) 2012-01-25
RU2562137C2 (ru) 2015-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011148604A (ru) Способ и устройство для выполнения оптического сравнения между по меньшей мере двумя образцами, предпочтительно путем сравнения выбираемых участков, а также применение устройства для выполнения способа
US7872754B2 (en) Optical measurement device
EP2108919A3 (en) Interferometer for determining characteristics of an object surface
US8355141B2 (en) Device for the investigation of textured surfaces
BRPI0821295A8 (pt) Dispositivo de avaliação do aspecto da superfície de um pneumático e método de avaliação da superfície de um paneumático
JP6053506B2 (ja) 反射特性の測定装置
BRPI0409915A (pt) métodos e dispositivo para a autenticação de documentos e mercadorias
JP2006030203A (ja) 光学的表面特性の検査装置および検査方法
US8867043B2 (en) Method and device for determining properties of textured surfaces
CN107449370A (zh) 用于检测作为样品的平面物的表面的检测装置和检测方法
JP7116771B2 (ja) 表面特性を決定する多段階方法および調査装置
JP2012505397A (ja) バックライトビジョンマシン
JP2009520184A (ja) 照明器に依存しない色測定のための装置及び方法
Elias et al. Review of several optical non-destructive analyses of an easel painting. Complementarity and crosschecking of the results
CN108760712A (zh) 基于拉曼光谱分析的文物光损伤判定方法
JP4629554B2 (ja) 検査表面特性の光学的検査方法および該方法を実施するための装置
Yuan et al. A LED-based measurement system for affinity between bitumen and aggregate
ATE350656T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der chromatischen dispersion von optischen komponenten
TR200402066T4 (tr) Kırılma elemanına sahip olan gerçeklik özelliklerinin değerlendirilmesi için cihaz
CN206648944U (zh) 一种多角度光泽度仪的光学系统
EP1353210A3 (de) Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Ermittlung der Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls
Colao et al. Report on LIF measurements in Seville—Part 2: Santa Ana Church
Neate et al. The technological study of books and manuscripts as artefacts
JP2023025303A (ja) 光学特性評価装置
Bonifazi et al. Hyperspectral imaging based techniques in ornamental stone characterization