RU2011133050A - Способ измерения параметров световозвращения - Google Patents

Способ измерения параметров световозвращения Download PDF

Info

Publication number
RU2011133050A
RU2011133050A RU2011133050/28A RU2011133050A RU2011133050A RU 2011133050 A RU2011133050 A RU 2011133050A RU 2011133050/28 A RU2011133050/28 A RU 2011133050/28A RU 2011133050 A RU2011133050 A RU 2011133050A RU 2011133050 A RU2011133050 A RU 2011133050A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
angle
angles
illumination
scattering
Prior art date
Application number
RU2011133050/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2497091C2 (ru
Inventor
Лев Алексеевич Иванов
Дмитрий Владимирович Кизеветтер
Виктор Иванович Малюгин
Original Assignee
Лев Алексеевич Иванов
Дмитрий Владимирович Кизеветтер
Виктор Иванович Малюгин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Лев Алексеевич Иванов, Дмитрий Владимирович Кизеветтер, Виктор Иванович Малюгин filed Critical Лев Алексеевич Иванов
Priority to RU2011133050/28A priority Critical patent/RU2497091C2/ru
Publication of RU2011133050A publication Critical patent/RU2011133050A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2497091C2 publication Critical patent/RU2497091C2/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Способ измерения параметров световозвращения, заключающийся в освещении образца сколлимированным лучом, регистрации отраженного излучения системой фотоприемников, усреднении измерений по различным точкам образца, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности измерений, получения дополнительных сведений о качестве световозвращателя - соотношения световозвращенной и диффузной составляющих, увеличения точности расчета светотехнических характеристик на основании измеренных параметров световозвращателя, а также определения диаграммы направленности и минимизации времени измерений, выбираются углы освещения образца исходя из углов наблюдения: β=α/2, где α- угол наблюдения i-го фотоприемника, включая α=0; при регистрация излучения сканирующим по углу α фотоприемником углы β выбираются произвольно с шагом от 0,1° до 0,5°;осуществляют измерение усредненных по различным точкам образца индикатрисы рассеяния I(α), в том числе при малых углах наблюдения - световозвращенной составляющей индикатрисы рассеяния (I(α)≈0); первое измерение производят при α=0 и β=0, производят оценку полуширины w индикатрисы рассеяния I(α) при β=0 по уровню 0,1 от максимального значения; далее производят измерение I(α) для угла освещения β, соответствующего выбранному стандарту измерений; если w<10°…30°, то изменяют угол освещения на ближайший к величине β=w/2 и аналогичным образом измеряют усредненную по различным участкам образца индикатрису рассеяния I(α); если w>30°, то βзадают как ближайшее к 15° значение;последовательно изменяют угол освещения βна βи повторяют регистрацию усредненных значений пока в диапазоне углов наблюдения от α=0 до α=2βра�

Claims (1)

  1. Способ измерения параметров световозвращения, заключающийся в освещении образца сколлимированным лучом, регистрации отраженного излучения системой фотоприемников, усреднении измерений по различным точкам образца, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности измерений, получения дополнительных сведений о качестве световозвращателя - соотношения световозвращенной и диффузной составляющих, увеличения точности расчета светотехнических характеристик на основании измеренных параметров световозвращателя, а также определения диаграммы направленности и минимизации времени измерений, выбираются углы освещения образца исходя из углов наблюдения: βii/2, где αi - угол наблюдения i-го фотоприемника, включая αi=0; при регистрация излучения сканирующим по углу α фотоприемником углы β выбираются произвольно с шагом от 0,1° до 0,5°;
    осуществляют измерение усредненных по различным точкам образца индикатрисы рассеяния I(α), в том числе при малых углах наблюдения - световозвращенной составляющей индикатрисы рассеяния (I(α)≈0); первое измерение производят при α=0 и β=0, производят оценку полуширины w индикатрисы рассеяния I(α) при β=0 по уровню 0,1 от максимального значения; далее производят измерение I(α) для угла освещения β, соответствующего выбранному стандарту измерений; если w<10°…30°, то изменяют угол освещения на ближайший к величине βw=w/2 и аналогичным образом измеряют усредненную по различным участкам образца индикатрису рассеяния I(α); если w>30°, то βi задают как ближайшее к 15° значение;
    последовательно изменяют угол освещения βi на βi+1 и повторяют регистрацию усредненных значений пока в диапазоне углов наблюдения от α=0 до α=2βw распределение I(α) не станет двумодальным с локальным минимумом функции I(α) с величиной менее 15%-20% от величины 0,5·(I(α=0, β=0)+I(2βw)), далее определяют вид индикатрисы рассеяния относительно направления зеркального отражения I(α-2β) и аппроксимируют ее функцией fA(x), где x=α-2β; если локальный минимум не наблюдается, то после выполнения измерений I(α) при β вблизи нуля, аналогично случаю w>30°, переходят на угол βi, наиболее близкий к 15°;
    продолжают увеличивать βi на сколько это возможно и измерять усредненные индикатрисы рассеяния; на основании измерений определяют величины интенсивности в направлении зеркального отражения Im(β) и производят аппроксимацию этой функции в диапазоне от β>w/2 (или 15°) до 45° функцией IA(β), вид которой выбирают исходя из вида функции Im(β); далее производят экстраполяцию IA(β) в область β<w/2 и определяют величину IA(β=0);
    определяют световозвращенную и диффузную составляющие при нулевых углах освещения и наблюдения как разность: Ii=I(α=0, β=0)-IA(β=0); для ненулевого (стандартного) угла βS вычисляют как: Ii=I(α=0, β=βS)-fAS)·IAS);
    если Ii(β=0)<<IA(β=0), то полагают, что исследованный образец не обладает истинным световозвращением;
    для углов освещения, близких к 90° относительно нормали («скользящих»), используют заявляемый способ, применяя методику для описанного выше случая для w>30°, задавая требуемые углы αD, βD, но проводя интерполяцию зависимостей Im(β) в области β<90°-w/2-βD и экстраполируя результаты в область β>90°-w/2-βD.
RU2011133050/28A 2011-08-02 2011-08-02 Способ измерения параметров световозвращения RU2497091C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011133050/28A RU2497091C2 (ru) 2011-08-02 2011-08-02 Способ измерения параметров световозвращения

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011133050/28A RU2497091C2 (ru) 2011-08-02 2011-08-02 Способ измерения параметров световозвращения

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011133050A true RU2011133050A (ru) 2013-02-10
RU2497091C2 RU2497091C2 (ru) 2013-10-27

Family

ID=49119613

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011133050/28A RU2497091C2 (ru) 2011-08-02 2011-08-02 Способ измерения параметров световозвращения

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2497091C2 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111077115A (zh) * 2019-12-28 2020-04-28 交通运输部公路科学研究所 一种用于逆反射测量的精密角度调节装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2554284C1 (ru) * 2014-04-08 2015-06-27 Александр Дмитриевич Ишков Устройство для определения коэффициента световозвращения стеклянных микрошариков
RU2558628C1 (ru) * 2014-04-08 2015-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "Сферастек" Способ оценки световозвращающей способности стеклянных микрошариков для горизонтальной дорожной разметки
RU2758031C1 (ru) * 2020-07-31 2021-10-25 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Элемент 120" (ООО "НПП "Элемент 120") Способ оценки световозвращающей способности стеклянных микросфер с нанесенным металлизированным покрытием

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6166813A (en) * 1997-04-18 2000-12-26 Georgia Tech Research Corporation Retroreflectometer and method for measuring retroreflectivity of materials
US6055490A (en) * 1998-07-27 2000-04-25 Laser Technology, Inc. Apparatus and method for determining precision reflectivity of highway signs and other reflective objects utilizing an optical range finder instrument
US6674878B2 (en) * 2001-06-07 2004-01-06 Facet Technology Corp. System for automated determination of retroreflectivity of road signs and other reflective objects
RU2202814C1 (ru) * 2002-05-28 2003-04-20 Барышников Николай Васильевич Устройство для измерения показателя световозвращения оптико-электронных приборов
US7961328B2 (en) * 2005-02-25 2011-06-14 Belfort Instrument Company Multiple-angle retroreflectometer
RU2329475C1 (ru) * 2007-03-22 2008-07-20 Федеральное государственное учреждение "Федеральный государственный научно-исследовательский испытательный центр радиоэлектронной борьбы и оценки эффективности снижения заметности" Министерства обороны Российской Федерации Устройство для измерения характеристик светорассеяния оптико-электронных приборов

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111077115A (zh) * 2019-12-28 2020-04-28 交通运输部公路科学研究所 一种用于逆反射测量的精密角度调节装置

Also Published As

Publication number Publication date
RU2497091C2 (ru) 2013-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2523092C2 (ru) Способ и устройство для измерения геометрии профиля сферически изогнутых, в частности, цилиндрических тел
JP6053506B2 (ja) 反射特性の測定装置
CN107209116B (zh) 包括考虑样本内的光学路径长度的变化的光学检查系统和方法
RU2011133050A (ru) Способ измерения параметров световозвращения
CN104316443A (zh) 一种基于ccd后向散射的pm 2.5浓度监测方法
ES2571330T3 (es) Método para determinar características del material de un objeto
Jin et al. High-resolution 3D reconstruction of microtubule structures by quantitative multi-angle total internal reflection fluorescence microscopy
CN106767493B (zh) 一种变基准面凹坑深度测量方法
CN109358334A (zh) 基于部分相干光的纳米位移台精密定位方法
US20140233040A1 (en) Methods and Devices for Measuring Homogeneously Reflective Surfaces
CN113639661B (zh) 形貌检测系统及形貌检测方法
CN105203504B (zh) 一种提高表面等离子共振传感器灵敏度的方法
Chen et al. Characterizing the performance impacts of target surface on underwater pulse laser ranging system
CN104246476A (zh) 光学断层图像获取装置
RU2758031C1 (ru) Способ оценки световозвращающей способности стеклянных микросфер с нанесенным металлизированным покрытием
CN104330387A (zh) 液面油污测量系统
CN104359810A (zh) 一种远程无线pm2.5浓度检测装置
Huang et al. Measuring atmospheric turbulence strength based on differential imaging of light column
Rachakonda et al. A method of determining sphere center to center distance using laser trackers for evaluating laser scanners
RU2535519C2 (ru) Способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности
Szajna et al. Calibration of glossmeter
Costantino et al. Evaluation of reflectance for building materials classification with terrestrial laser scanner radiation
CN109974577A (zh) 波面干涉仪及其校正方法
CN110646171A (zh) 一种测量光源平行性的方法
Fiorentin et al. Illuminance from luminance measurement experimental results

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140803