RU2008141365A - Способ и устройство для измерения качества поверхности подложки - Google Patents

Способ и устройство для измерения качества поверхности подложки Download PDF

Info

Publication number
RU2008141365A
RU2008141365A RU2008141365/28A RU2008141365A RU2008141365A RU 2008141365 A RU2008141365 A RU 2008141365A RU 2008141365/28 A RU2008141365/28 A RU 2008141365/28A RU 2008141365 A RU2008141365 A RU 2008141365A RU 2008141365 A RU2008141365 A RU 2008141365A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
digital image
pixel
pixels
substrate
physical characteristics
Prior art date
Application number
RU2008141365/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Рой Роналд РОЗЕНБЕРГЕР (US)
Рой Роналд РОЗЕНБЕРГЕР
Original Assignee
Верити Иа, Ллк (Us)
Верити Иа, Ллк
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Верити Иа, Ллк (Us), Верити Иа, Ллк filed Critical Верити Иа, Ллк (Us)
Publication of RU2008141365A publication Critical patent/RU2008141365A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34Paper
    • G01N33/346Paper sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)

Abstract

1. Способ измерения качества поверхности подложки, включающий следующие этапы: ! получение цифрового изображения участка поверхности подложки используя устройство получения изображения; и ! измерение одной или более физических характеристик полученного цифрового изображения, чтобы дать указание качества поверхности подложки. ! 2. Способ по п.1, включающий этап освещения под углом к основной плоскости подложки части поверхности подложки до получения цифрового изображения. ! 3. Способ по пп.1 или 2, где полученное цифровое изображение включает ряд пикселей, и способ включает измерение для измеряемой области пикселей в полученном цифровом изображении, физической характеристики каждого пикселя и сравнение измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой соседнего пикселя. ! 4. Способ по п.1, где физическая характеристика измеряется как яркость каждого пикселя. ! 5. Способ по п.1, включающий этап сравнения измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой двух или более соседних пикселей. ! 6. Способ по п.1, где тестируемая область пикселей в полученном цифровом изображении включает ряд пикселей в рядах и столбцах, и способ включает сравнение измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой первого соседнего пикселя, расположенного в том же ряду и с измеренной физической характеристикой второго соседнего пикселя, расположенного в том же столбце. ! 7. Способ по п.6. включающий сравнение измеренной физической хара�

Claims (26)

1. Способ измерения качества поверхности подложки, включающий следующие этапы:
получение цифрового изображения участка поверхности подложки используя устройство получения изображения; и
измерение одной или более физических характеристик полученного цифрового изображения, чтобы дать указание качества поверхности подложки.
2. Способ по п.1, включающий этап освещения под углом к основной плоскости подложки части поверхности подложки до получения цифрового изображения.
3. Способ по пп.1 или 2, где полученное цифровое изображение включает ряд пикселей, и способ включает измерение для измеряемой области пикселей в полученном цифровом изображении, физической характеристики каждого пикселя и сравнение измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой соседнего пикселя.
4. Способ по п.1, где физическая характеристика измеряется как яркость каждого пикселя.
5. Способ по п.1, включающий этап сравнения измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой двух или более соседних пикселей.
6. Способ по п.1, где тестируемая область пикселей в полученном цифровом изображении включает ряд пикселей в рядах и столбцах, и способ включает сравнение измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой первого соседнего пикселя, расположенного в том же ряду и с измеренной физической характеристикой второго соседнего пикселя, расположенного в том же столбце.
7. Способ по п.6. включающий сравнение измеренной физической характеристики каждого пикселя в тестируемой области с измеренной физической характеристикой соседнего пикселя, находящегося в соседнем ряду или столбце.
8. Способ по п.1, включающий измерение, по меньшей мере, тестируемой области пикселей в полученном цифровом изображении, физической характеристики группы соседних пикселей и сравнение измеренной физической характеристики этой группы пикселей с измеренной физической характеристикой соседней группы пикселей.
9. Способ по п.8, где измеренная физическая характеристика это средняя яркость каждой группы соседних пикселей.
10. Способ по п.1, где полученное цифровое изображение это цветное цифровое изображение, причем способ включает этап преобразования цветнового цифрового изображения в полутоновое цифровое изображение до измерения физической характеристики каждого пикселя цифрового изображения.
11. Способ по п.10, включающий этап измерения на тестируемой области цифрового изображения среднего значения яркости пикселей и стандартного отклонения значений яркости для всех пикселей в тестируемой области.
12. Способ по п.1, в котором полученное цифровое изображение это цветное цифровое изображение, причем способ включает этап разделения цветного цифрового изображения на каждый его компонент для получения трех отдельных полутоновых цифровых изображений.
13. Способ по п.12, включающий этап измерения в тестируемой области каждого компонента полутоновых цифровых изображений среднего значения яркости пикселей и стандартного отклонения значений яркости для всех пикселей на тестируемой области.
14. Способ по п.13, включающий последующий этап выбора дальнейшего анализа компонента полутонового цифрового изображения с самым большим стандартным отклонением яркости пикселей.
15. Способ по п.12, где компонент синего света полутонового цифрового изображения не используется для дальнейшего анализа, если подложка содержит проясняющий агент.
16. Способ по п.10, включающий этап улучшения полутонового цифрового изображения.
17. Способ по п.16, где значение яркости для каждого пикселя в тестируемой области полутонового цифрового изображения регулируется, если значение яркости этого пикселя отличается от среднего значения яркости для всех пикселей в тестируемой области полутонового цифрового изображения.
18. Способ по п.17, где улучшение включает регулировку значения яркости каждого пикселя в тестируемой области посредством коэффициента усиления.
19. Способ по п.18, где коэффициент усиления определяется посредством арифметического расстояния значения яркости каждого пикселя от среднего значения яркости пикселя всех пикселей в тестируемой области.
20. Способ по п.16, включающий этап регулировки значения яркости для каждого пикселя в тестируемой области, чтобы распространить значения яркости пикселей всех пикселей в тестируемой области в принципе равномерно по всему видимому диапазону.
21. Способ по п.16, включающий этап создания просматриваемого выхода цифрового дисплея улучшенного полутонового цифрового изображения.
22. Способ по п.1, включающий этап создания просматриваемого выхода, указывающего качество печатного изображения.
23. Устройство получения изображения, содержащее:
устройство получения цифрового изображения части поверхности подложки;
запоминающее устройство для хранения информации, относящейся к полученному цифровому изображению; и
устройство для измерения одного или более физических характеристик полученного цифрового изображения, чтобы предоставить информацию, показывающую качество подложки, где устройство также включает источник света для освещения части поверхности подложки, чтобы бросать тени на поверхность подложки у областей, близких к поверхности подложки, которые не являются равными.
24. Устройство по п.23 для использования в способе по любому из пп.1-22.
25. Способ в принципе как он описан выше со ссылкой на сопроводительные чертежи.
26. Устройство получения изображения в принципе как он описан выше со ссылкой на сопроводительные чертежи.
RU2008141365/28A 2006-03-21 2006-11-17 Способ и устройство для измерения качества поверхности подложки RU2008141365A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US74361506P 2006-03-21 2006-03-21
US60/743,615 2006-03-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2008141365A true RU2008141365A (ru) 2010-04-27

Family

ID=39636424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2008141365/28A RU2008141365A (ru) 2006-03-21 2006-11-17 Способ и устройство для измерения качества поверхности подложки

Country Status (9)

Country Link
US (1) US20100231708A1 (ru)
EP (1) EP2016367A2 (ru)
JP (1) JP2009536316A (ru)
CN (1) CN101460809A (ru)
AU (1) AU2006352693A1 (ru)
BR (1) BRPI0621434A2 (ru)
CA (1) CA2646683A1 (ru)
RU (1) RU2008141365A (ru)
WO (1) WO2008087463A2 (ru)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100302367A1 (en) * 2009-05-26 2010-12-02 Che-Hao Hsu Intelligent surveillance system and method for the same
CN102759511A (zh) * 2012-07-05 2012-10-31 宁波亚洲浆纸业有限公司 一种对纸板吸墨检测结果进行定量化的方法
TWI460395B (zh) * 2012-07-25 2014-11-11 Ind Tech Res Inst 平整度檢測裝置及其檢測方法
US10309771B2 (en) 2015-06-11 2019-06-04 United States Gypsum Company System and method for determining facer surface smoothness
CN110900454B (zh) * 2019-12-04 2021-03-23 长沙理工大学 一种磨削表面粗糙度实时检测与智能控制系统
CN111750781B (zh) * 2020-08-04 2022-02-08 润江智能科技(苏州)有限公司 一种基于ccd的自动测试系统及其方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5040225A (en) * 1987-12-07 1991-08-13 Gdp, Inc. Image analysis method
US4878114A (en) * 1988-05-10 1989-10-31 University Of Windsor Method and apparatus for assessing surface roughness
US5113454A (en) * 1988-08-19 1992-05-12 Kajaani Electronics Ltd. Formation testing with digital image analysis
JP3508836B2 (ja) * 1999-06-22 2004-03-22 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 2次元コードの概略位置検出装置及び検出方法
US6947150B2 (en) * 2002-05-16 2005-09-20 Boise White Paper, Llc Method and apparatus for determining out-of-plane defects in a paper sample
EP1620712A1 (en) * 2003-04-29 2006-02-01 Surfoptic Limited Measuring a surface characteristic
US7465948B2 (en) * 2003-09-16 2008-12-16 Paper Australia Pty Ltd. Sheet-surface analyser and method of analysing a sheet-surface

Also Published As

Publication number Publication date
EP2016367A2 (en) 2009-01-21
CA2646683A1 (en) 2008-07-24
AU2006352693A1 (en) 2008-07-24
WO2008087463A2 (en) 2008-07-24
BRPI0621434A2 (pt) 2012-01-24
US20100231708A1 (en) 2010-09-16
JP2009536316A (ja) 2009-10-08
WO2008087463A3 (en) 2008-11-20
CN101460809A (zh) 2009-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9135851B2 (en) Methods and systems for measuring and correcting electronic visual displays
US9500526B2 (en) High-throughput and high resolution method for measuring the color uniformity of a light spot
US9911394B2 (en) Method and apparatus for controlling image display
US9210418B2 (en) Method and apparatus for calibrating multi-spectral sampling system
CN107256689B (zh) Led显示屏亮度校正后的均匀性修复方法
WO2010146733A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
WO2010146732A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
CN107071371B (zh) 全景摄像模组的镜头颜色亮度校准方法及装置
US7616314B2 (en) Methods and apparatuses for determining a color calibration for different spectral light inputs in an imaging apparatus measurement
CN101352049A (zh) 镜头阴影补偿装置和方法以及使用该镜头阴影补偿装置和方法的图像处理器
JP2009122690A (ja) ムラ欠陥の低減方法、およびディスプレー
RU2008141365A (ru) Способ и устройство для измерения качества поверхности подложки
KR20160026681A (ko) 계조 검사 장치 및 계조 검사 방법
US7907154B2 (en) Method and apparatus for on-site calibration of visual displays
CN112185301B (zh) 显示装置的校正方法及装置、处理器
US20110267365A1 (en) Methods and systems for correcting the appearance of images displayed on an electronic visual display
CN111066062B (zh) 使用分数像素测量电子视觉显示器的方法和系统
JP2010098364A (ja) ラインセンサを用いた動画応答特性の測定方法及び装置
CN108803097A (zh) 像素暗态漏光的检测方法及检测装置
JP2014090410A (ja) ホワイトバランス調整方法
CN115346464A (zh) 显示补偿数据设置方法、显示补偿方法、驱动芯片
CN101655978B (zh) 一种图像分析的方法和装置
TWI493160B (zh) 用於計算一光斑之色彩均勻性的方法及設備
CN111982477B (zh) 显示面板的测试方法、测试装置
Wu et al. Measurement for opto-electronic conversion functions (OECFs) of digital still-picture camera