RU2007114854A - Способ определения дефектов кварцевой линзы - Google Patents

Способ определения дефектов кварцевой линзы Download PDF

Info

Publication number
RU2007114854A
RU2007114854A RU2007114854/28A RU2007114854A RU2007114854A RU 2007114854 A RU2007114854 A RU 2007114854A RU 2007114854/28 A RU2007114854/28 A RU 2007114854/28A RU 2007114854 A RU2007114854 A RU 2007114854A RU 2007114854 A RU2007114854 A RU 2007114854A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
quartz lens
quartz
pattern
optical system
radiation
Prior art date
Application number
RU2007114854/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2379656C2 (ru
Inventor
Ольга Юрьевна Пикуль (RU)
Ольга Юрьевна Пикуль
Original Assignee
ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU), ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) filed Critical ГОУ ВПО "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) (RU)
Priority to RU2007114854/28A priority Critical patent/RU2379656C2/ru
Publication of RU2007114854A publication Critical patent/RU2007114854A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2379656C2 publication Critical patent/RU2379656C2/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Способ определения дефектов кварцевой линзы, заключающийся в пропускании монохроматического излучения через оптическую систему, содержащую последовательно расположенные источник излучения, исследуемую кварцевую линзу, перпендикулярно установленные к оси оптической системы, и в получении интерференционной картины, по локальному искажению радиусов колец которой судят о наличии поверхностного дефекта кварцевой линзы, отличающийся тем, что кварцевую линзу устанавливают между скрещенными поляризатором и анализатором, в качестве источника излучения выбирают источник сходящегося монохроматического излучения, интерференционную картину получают в виде коноскопической картины, при этом о наличии внутреннего дефекта кварцевой линзы судят по разрыву колец со смещением их относительно центра коноскопической картины.

Claims (1)

  1. Способ определения дефектов кварцевой линзы, заключающийся в пропускании монохроматического излучения через оптическую систему, содержащую последовательно расположенные источник излучения, исследуемую кварцевую линзу, перпендикулярно установленные к оси оптической системы, и в получении интерференционной картины, по локальному искажению радиусов колец которой судят о наличии поверхностного дефекта кварцевой линзы, отличающийся тем, что кварцевую линзу устанавливают между скрещенными поляризатором и анализатором, в качестве источника излучения выбирают источник сходящегося монохроматического излучения, интерференционную картину получают в виде коноскопической картины, при этом о наличии внутреннего дефекта кварцевой линзы судят по разрыву колец со смещением их относительно центра коноскопической картины.
RU2007114854/28A 2007-04-19 2007-04-19 Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы RU2379656C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007114854/28A RU2379656C2 (ru) 2007-04-19 2007-04-19 Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007114854/28A RU2379656C2 (ru) 2007-04-19 2007-04-19 Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2007114854A true RU2007114854A (ru) 2008-10-27
RU2379656C2 RU2379656C2 (ru) 2010-01-20

Family

ID=42121034

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007114854/28A RU2379656C2 (ru) 2007-04-19 2007-04-19 Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2379656C2 (ru)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2473072C1 (ru) * 2011-06-06 2013-01-20 Открытое акционерное общество "Сибирский химический комбинат" (ОАО "СХК") Оптико-электронное устройство для контроля положения оптической оси корундовых сферических подпятников в составе маятников газовых центрифуг

Also Published As

Publication number Publication date
RU2379656C2 (ru) 2010-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5122581B2 (ja) 干渉法検査用レンズ、ならびに干渉法検査用システムおよび装置
WO2021143527A1 (zh) 一种轴向差动暗场共焦显微测量装置及其方法
DE602005012163D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur optischen inspektion eines gegenstands
CN108717062A (zh) 一种大口径超精密表面的暗场缺陷检测装置及其测量方法
TW200834061A (en) Defect detection device for plate glass, production method for plate glass, plate glass article, quality judging device for plate glass, and inspection method for plate glass
RU2012141228A (ru) Способ контроля поверхности и устройство контроля поверхности для стального листа, покрытого смолой
ATE428168T1 (de) Verfahren und anordnung zur konfokalen, chromatischen, interferometrischen, spektroskopischen abtastung fur optische mehrlagen-datenspeicher
WO2008152801A1 (ja) 検査装置、検査方法およびプログラム
ATE477674T1 (de) Optisches und digitales zoomen für eine abbildungseinrichtung
DE60320369D1 (de) Abbildungsvorrichtung für mikroscopie und bilderzeugungsverfahren
TW200712479A (en) Surface defect inspection apparatus and surface defect inspection method
ATE545011T1 (de) Einrichtung zum automatischen messen von kenngrössen einer brillenlinse
WO2012117353A3 (en) Method and apparatus for measuring the thickness of a transparent object in an automatic production line
WO2007008265A3 (en) Apparatus and method for in situ and ex situ measurement of spatial impulse response of an optical system using phase-shifting point-diffraction interferometry
WO2007008787A3 (en) Application of visbreaker analysis tools to optimize performance
DE60132551D1 (de) Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragung
WO2020127758A3 (de) Vorrichtung und verfahren zur optischen vermessung einer innenkontur einer brillenfassung
RU2007114854A (ru) Способ определения дефектов кварцевой линзы
TW200734626A (en) An apparatus for illuminating and inspecting a surface
WO2008086632A8 (en) Method and apparatus for detecting and registering properties of samples
WO2021143525A1 (zh) 一种横向差动暗场共焦显微测量装置及其方法
TW200519473A (en) Inspection device and method of polarizer
TW200745602A (en) Optical measurement instrument and optical measurement method
ATE336021T1 (de) Anordnung und verfahren zum polarisationsoptischen interferenzkontrast
JP2007093339A (ja) 検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150420