DE60132551D1 - Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragung - Google Patents
Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragungInfo
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0010794 | 2000-08-22 | ||
FR0010794A FR2813391B1 (fr) | 2000-08-22 | 2000-08-22 | Procede et appareil de mesure en transmission de la structure geometrique d'un composant optique |
PCT/FR2001/002626 WO2002016902A1 (fr) | 2000-08-22 | 2001-08-17 | Procede et appareil de mesure en transmission de la structure geometrique d'un composant optique |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE60132551D1 true DE60132551D1 (de) | 2008-03-13 |
DE60132551T2 DE60132551T2 (de) | 2009-01-22 |
Family
ID=8853640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE60132551T Expired - Lifetime DE60132551T2 (de) | 2000-08-22 | 2001-08-17 | Verfahren und apparat zur messung der geometrischen struktur eines optischen bauteils durch lichtübertragung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6909498B2 (de) |
EP (1) | EP1224448B1 (de) |
JP (1) | JP5173106B2 (de) |
AT (1) | ATE384940T1 (de) |
DE (1) | DE60132551T2 (de) |
ES (1) | ES2300355T3 (de) |
FR (1) | FR2813391B1 (de) |
WO (1) | WO2002016902A1 (de) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10348509A1 (de) * | 2003-10-18 | 2005-05-19 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Wellenfrontsensor |
GB0402941D0 (en) * | 2004-02-11 | 2004-03-17 | Qinetiq Ltd | Surface shape measurement |
FR2866718B1 (fr) * | 2004-02-24 | 2006-05-05 | Essilor Int | Dispositif centreur-bloqueur d'une lentille ophtalmique de lunettes, methode de detection automatique et methodes de centrage manuel associees |
FR2866719B1 (fr) * | 2004-02-24 | 2006-05-19 | Essilor Int | Methode de contrage manuel d'une lentille ophtalmique de lunettes dans un centreur-bloqueur et dispositif centreur-bloqueur associe |
FR2879736B1 (fr) * | 2004-12-20 | 2007-02-02 | Essilor Int | Procede et dispositif de mesure sans contact de la courbure d'un objet ophtalmique |
FR2880118B1 (fr) * | 2004-12-23 | 2007-03-02 | Essilor Int | Procede et appareil de mesure locale des caracteristiques de refraction d'une lentille en un ou plusieurs points specifiques de cette lentille |
JP4683270B2 (ja) * | 2005-03-30 | 2011-05-18 | 株式会社ニデック | レンズメータ |
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EP2637011A1 (de) * | 2012-03-09 | 2013-09-11 | Essilor International | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der geometrischen Struktur einer optischen Komponente |
US9726572B2 (en) | 2012-07-31 | 2017-08-08 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique | Method and system for identification of a given geometrical feature of an optical component |
DE102012019110B4 (de) * | 2012-09-28 | 2017-05-11 | Bundesrepublik Deutschland, endvertreten durch die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) | Topographiemessverfahren und Topographiemessvorrichtung |
CN105164507B (zh) * | 2013-05-02 | 2019-07-26 | 卡尔蔡司光学国际有限公司 | 用于确定对象的空间结构的方法和系统 |
DE102013219838B4 (de) * | 2013-09-30 | 2015-11-26 | Carl Zeiss Ag | Verfahren und System für das Ermitteln der räumlichen Struktur eines Gegenstands |
DE102018001385A1 (de) * | 2018-02-21 | 2019-08-22 | Schneider Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen mindestens eines optisch wirksamen Gegenstands |
US11067476B2 (en) | 2018-02-21 | 2021-07-20 | Schneider Gmbh & Co. Kg | Apparatus and method for measuring at least one optically effective object |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2698362B2 (ja) * | 1987-12-09 | 1998-01-19 | 株式会社トプコン | 被測定物の透過波面の形状測定方法及びその方法に用いる装置 |
JPH0611323A (ja) * | 1992-06-26 | 1994-01-21 | Minolta Camera Co Ltd | 形状測定装置 |
EP0644411B1 (de) * | 1993-09-17 | 1997-03-26 | ESSILOR INTERNATIONAL (Compagnie Générale d'Optique) | Verfahren und Gerät zur absoluten Messung der geometrischen oder optischen Struktur eines optischen Bestandteiles |
WO1995034800A1 (en) * | 1994-06-14 | 1995-12-21 | Visionix Ltd. | Apparatus for mapping optical elements |
FR2737568B1 (fr) * | 1995-08-02 | 1997-09-26 | Essilor Int | Appareil et procede de deflectometrie a franges |
US6043885A (en) * | 1996-07-12 | 2000-03-28 | Essilor International | Fringe deflectometry apparatus and method |
JPH1114498A (ja) * | 1997-06-26 | 1999-01-22 | Canon Inc | 光学系、測定方法及び装置 |
US6072570A (en) * | 1997-07-24 | 2000-06-06 | Innotech | Image quality mapper for progressive eyeglasses |
JPH11237311A (ja) * | 1998-02-23 | 1999-08-31 | Canon Inc | 波面測定方法及び波面測定装置 |
NL1009366C2 (nl) * | 1998-06-10 | 1999-12-13 | Stichting Tech Wetenschapp | Interferometer. |
JP2000065684A (ja) * | 1998-08-17 | 2000-03-03 | Ricoh Co Ltd | 屈折率分布の測定方法及び装置 |
US6750958B1 (en) * | 1999-06-09 | 2004-06-15 | Optikos Corporation | Automated optical measurement apparatus and method |
-
2000
- 2000-08-22 FR FR0010794A patent/FR2813391B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-17 EP EP01965331A patent/EP1224448B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-08-17 AT AT01965331T patent/ATE384940T1/de not_active IP Right Cessation
- 2001-08-17 JP JP2002521949A patent/JP5173106B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-17 US US10/110,152 patent/US6909498B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-08-17 WO PCT/FR2001/002626 patent/WO2002016902A1/fr active IP Right Grant
- 2001-08-17 DE DE60132551T patent/DE60132551T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-08-17 ES ES01965331T patent/ES2300355T3/es not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2813391B1 (fr) | 2002-11-29 |
EP1224448B1 (de) | 2008-01-23 |
ES2300355T3 (es) | 2008-06-16 |
DE60132551T2 (de) | 2009-01-22 |
EP1224448A1 (de) | 2002-07-24 |
WO2002016902A1 (fr) | 2002-02-28 |
US6909498B2 (en) | 2005-06-21 |
FR2813391A1 (fr) | 2002-03-01 |
ATE384940T1 (de) | 2008-02-15 |
US20030112426A1 (en) | 2003-06-19 |
JP5173106B2 (ja) | 2013-03-27 |
JP2004507730A (ja) | 2004-03-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |