RU198732U1 - OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER - Google Patents
OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER Download PDFInfo
- Publication number
- RU198732U1 RU198732U1 RU2019138423U RU2019138423U RU198732U1 RU 198732 U1 RU198732 U1 RU 198732U1 RU 2019138423 U RU2019138423 U RU 2019138423U RU 2019138423 U RU2019138423 U RU 2019138423U RU 198732 U1 RU198732 U1 RU 198732U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- mirror
- plasma
- mounting plane
- optical delay
- delay device
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Данная полезная модель относится к устройству оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра. Технический результат состоит в повышении точности измерений при укорочении длительности зондирующего импульса. Устройство оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра содержит: неподвижное зеркало 21; подвижное зеркало 22, установленное в непосредственной близости от неподвижного зеркала 21, причем плоскость установки подвижного зеркала 22 практически параллельна плоскости установки неподвижного зеркала 21; микрометрическое средство перемещения для перемещения (26) подвижного зеркала 22 перпендикулярно к его плоскости установки. 4 фиг.This utility model relates to an optical delay device for a shear polaro interferometer. The technical result consists in improving the measurement accuracy while shortening the duration of the probe pulse. An optical delay device for a polaro-shift interferometer contains: a fixed mirror 21; a movable mirror 22 mounted in close proximity to the fixed mirror 21, the mounting plane of the movable mirror 22 being substantially parallel to the mounting plane of the fixed mirror 21; micrometric movement means for moving (26) the movable mirror 22 perpendicular to its mounting plane. 4 fig.
Description
Область техники, к которой относится полезная модельThe technical field to which the utility model belongs
Данная полезная модель относится к устройству оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра.This utility model relates to an optical delay device for a shear polaro interferometer.
Уровень техникиState of the art
Известны интерферометры, позволяющие определять параметры плазмы по изменению интерферометрической картине, возникающей от наложения двух лучей за счет наличия разности фаз волн этих лучей. К примеру, такие интерферометры описаны в авторском свидетельстве СССР №1673925 (опубл. 30.08.1991) и в международной заявке WO 94/15159 (опубл. 07.07.1994). Однако эти интерферометры имеют ограниченные возможности в силу использования только двух лучей.Known interferometers, which make it possible to determine the parameters of the plasma by the change in the interferometric pattern arising from the superposition of two beams due to the presence of the phase difference of the waves of these beams. For example, such interferometers are described in the USSR author's certificate No. 1673925 (publ. 30.08.1991) and in the international application WO 94/15159 (publ. 07.07.1994). However, these interferometers have limited capabilities due to the use of only two beams.
Гораздо более широкие возможности дает поляроинтерферометр, выбранный в качестве наиболее близкого аналога (Болховитинов Е.А. и др. Трехканальный поляроинтерферометр для диагностики магнитных полей в высокотемпературной плазме // ПТЭ, 2007, №3, с. 101-105). Он представляет собой трехканальный поляроинтерферометр, в котором обеспечиваются три методики измерения: скорости расширения и формы непрозрачного плазменного облака (теневое фотографирование), пространственного распределения концентрации электронов (интерферометрия) и магнитных полей в прозрачной, подкритической области плазмы (полярометрия), и при этом используется один лазерный импульс. Схема такого поляроинтерферометра приведена на Фиг. 1.Much wider possibilities are given by a polarointerferometer, chosen as the closest analogue (Bolkhovitinov EA et al. Three-channel polarointerferometer for diagnostics of magnetic fields in high-temperature plasma // PTE, 2007, No. 3, pp. 101-105). It is a three-channel polarointerferometer, which provides three measurement techniques: the expansion rate and shape of an opaque plasma cloud (shadow photography), the spatial distribution of the electron concentration (interferometry) and magnetic fields in a transparent, subcritical plasma region (polarometry), and one laser pulse. The diagram of such a polarointerferometer is shown in Fig. 1.
В верхней части Фиг. 1 показаны ориентации оптических осей кристаллов, в нижней - векторные диаграммы поляризации пучков в соответствующих точках оптической схемы. Ссылочными позициями обозначено: 1 - формирующая диафрагма; 2 - отрицательная линза; 3, 11 - окна вакуумной камеры; 4, 8 - положительные линзы; 5, 10 - призмы Глана; 6 - положение объекта и изображение формирующей диафрагмы в его плоскости; 1, 9 - двулучепреломляющие клинья; 12 - устройство из двух зеркал, обеспечивающее синхронизацию интерферирующих пучков; 13 - светофильтры; 14 - матрица ПЗС-камеры; β - угол начальной раскрестки оптических осей клина 7 и призмы 5 Глана. Пучок формирует теневое изображение, пучок - поляризационное изображение, а пучки и - интерференционное изображение.At the top of FIG. 1 shows the orientations of the optical axes of the crystals, in the bottom - vector diagrams of the polarization of the beams at the corresponding points of the optical scheme. Reference numbers designate: 1 - forming diaphragm; 2 - negative lens; 3, 11 - windows of the vacuum chamber; 4, 8 - positive lenses; 5, 10 - Glan prisms; 6 - the position of the object and the image of the forming diaphragm in its plane; 1, 9 - birefringent wedges; 12 - device of two mirrors, providing synchronization of interfering beams; 13 - light filters; 14 - matrix of the CCD camera; β is the angle of the initial intersection of the optical axes of the
На выходе этого поляроинтерферометра (на матрице 14 ПЗС-камеры) за счет двулучепреломляющих клиньев 7, 9 и поляризаторов 5, 10 создаются три пучка, разнесенных по пространству: (теневой канал), (поляризационный канал), (пучок, образующий интерференционный канал при перекрытии на матрице 14 ПЗС-камеры с частью пучка ). Одновременное получение трех изображений плазмы, а именно теневого, интерференционного и поляризационного, формируемых зондирующим лазерным пучком, позволяет восстановить профиль электронной концентрации плазмы и структуру спонтанных магнитных полей.At the output of this polarointerferometer (on the
Разработанная схема для исследования высокотемпературной плазмы обладала естественным ограничением на длительность зондирующего импульса около 1 пс. Это связано с тем, что интерферирующие пучки, проходящие через двулучепреломляющие элементы схемы, приходят в плоскость формирования интерференционной картины с временной задержкой одного из пучков по отношению к другому: обладая взаимно-ортогональными поляризациями внутри двулучепреломляющих анализирующих кристаллов, пучки имеют разные фазовые скорости и несколько различные оптические пути. Это приводит к тому, что при длительностях зондирующего импульса меньше 1 пс импульсы перестают перекрываться по времени в плоскости регистрации и поэтому не интерферируют.The developed scheme for studying high-temperature plasma had a natural limitation on the probe pulse duration of about 1 ps. This is due to the fact that the interfering beams passing through the birefringent elements of the circuit arrive at the plane of the formation of the interference pattern with a time delay of one of the beams with respect to the other: possessing mutually orthogonal polarizations inside the birefringent analyzing crystals, the beams have different phase velocities and somewhat different optical paths. This leads to the fact that when the duration of the probe pulse is less than 1 ps, the pulses cease to overlap in time in the plane of registration and therefore do not interfere.
В случае, когда не требовалось получения высокого временного разрешения, в качестве зондирующего использовался импульс на основной длине волны излучения неодимового лазера (1064 нм) с длительностью 6 нс. Для перехода в диапазон пикосекундного разрешения при зондировании плазмы использовался импульс длительностью 2 пс на длине волны 400 нм, который еще позволял получить достаточный контраст интерференционных полос.In the case when a high temporal resolution was not required, a pulse at the fundamental wavelength of a neodymium laser (1064 nm) with a duration of 6 ns was used as a probe. To switch to the picosecond resolution range when probing the plasma, a 2 ps pulse at a wavelength of 400 nm was used, which still made it possible to obtain a sufficient contrast of interference fringes.
Но для быстропротекающих процессов в лазерной плазме часто требуется обеспечить максимально высокое временное разрешение поляроинтерферометра, то есть зондировать плазму фемтосекундным импульсом.But for fast processes in laser plasma, it is often required to provide the highest temporal resolution of the polarointerferometer, that is, to probe the plasma with a femtosecond pulse.
Раскрытие полезной моделиDisclosure of a utility model
Таким образом, задачей данной полезной модели является разработка такого устройства, которое позволяло бы компенсировать задержку одного интерферирующего пучка по отношению к другому и тем самым получить технический результат, состоящий в повышении точности измерений при укорочении длительности зондирующего импульса.Thus, the task of this utility model is to develop such a device that would make it possible to compensate for the delay of one interfering beam in relation to another and thereby obtain a technical result consisting in increasing the measurement accuracy while shortening the duration of the probe pulse.
Для решения указанной задачи и достижения отмеченного технического результата в настоящей полезной модели предложено устройство оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра, содержащее: неподвижное зеркало; подвижное зеркало, установленное в непосредственной близости от неподвижного зеркала, причем плоскость установки подвижного зеркала практически параллельна плоскости установки неподвижного зеркала; микрометрическое средство перемещения для перемещения подвижного зеркала перпендикулярно к его плоскости установки.To solve this problem and achieve the noted technical result in this utility model, an optical delay device for a shear polarointerferometer is proposed, comprising: a fixed mirror; a movable mirror mounted in close proximity to the fixed mirror, the mounting plane of the movable mirror being substantially parallel to the mounting plane of the fixed mirror; micrometric movement means for moving the movable mirror perpendicular to its mounting plane.
Особенность устройство по настоящей полезной модели состоит в том, что неподвижное зеркало может быть установлено с возможностью регулировки его плоскости установки.The peculiarity of the device according to the present utility model is that the stationary mirror can be installed with the possibility of adjusting its installation plane.
Еще одна особенность устройства по настоящей полезной модели состоит в том, что неподвижное и подвижное зеркала могут быть выполнены квадратными и могут соприкасаться одно с другим при их расположении в одной плоскости.Another feature of the device according to the present utility model is that the fixed and movable mirrors can be made square and can be in contact with one another when they are located in the same plane.
Краткое описание чертежейBrief Description of Drawings
Полезная модель иллюстрируется приложенными чертежами, на которых одинаковые элементы обозначены одними и теми же ссылочными позициями.The utility model is illustrated in the attached drawings, in which like elements are designated by the same reference numbers.
На Фиг. 1 показана схема сдвигового поляроинтерферометра из ближайшего аналога.FIG. 1 shows a schematic diagram of a shear polarointerferometer from the closest analogue.
На Фиг. 2 представлена схема работы сдвигового поляроинтерферометра по настоящей полезной модели.FIG. 2 shows a schematic diagram of the operation of a shear polarointerferometer according to the present utility model.
На Фиг. 3 и 4 показан с разных сторон вариант осуществления сдвигового поляроинтерферометра по настоящей полезной модели.FIG. 3 and 4 show from different sides an embodiment of a shear polarointerferometer according to the present utility model.
Подробное описание вариантов осуществленияDetailed Description of Embodiments
Устройство оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра по данной полезной модели (Фиг. 2) содержит неподвижное зеркало 21 и подвижное зеркало 22, которое установлено в непосредственной близости от неподвижного зеркала 21. Как видно на Фиг. 2, оба зеркала 21 и 22 выполнены квадратными, однако это необязательно. Предпочтительно, чтобы оба зеркала 21 и 22 имели соседние прямые края, поэтому их форма может быть, к примеру, трапецеидальной, треугольной, шестиугольной, в виде полуокружности. Важно, чтобы плоскость установки подвижного зеркала 22 была практически параллельна плоскости установки неподвижного зеркала 21. Как видно из Фиг. 2 оба зеркала 21 и 22 закреплены на соответствующих держателях 23 и 24, причем держатель 24 подвижного зеркала 22 имеет возможность такого перемещения в основании 25, указанного двусторонней стрелкой 26, что плоскости обоих зеркал 21 и 22 всегда остаются параллельны.The optical delay device for a shear polarointerferometer according to this utility model (Fig. 2) contains a
Устройство оптической задержки для сдвигового поляроинтерферометра по настоящей полезной модели содержит также в основании 25 микрометрическое средство перемещения для перемещения подвижного зеркала 22 (на Фиг. 2 не показано). Регулятор 27 этого микрометрического средства перемещения виден на Фиг. 3 и 4, где устройство оптической задержки по настоящей полезной модели показано в изометрии с разных сторон. Деления на регуляторе 27 отградуированы в мкм что позволяет смещать держатель 24 подвижного зеркала 22 с точностью 10 мкм относительно держателя 23 неподвижного зеркала 21.The optical delay device for a shear polaro-interferometer according to the present invention also contains at the base 25 a micrometric movement means for moving the movable mirror 22 (not shown in Fig. 2). The
На Фиг. 2 стрелками с ссылочными позициями 28, 29 и 30 обозначены транслируемые в оптическом тракте, соответственно, поляризационное и теневые изображения плазмы в разделенном зондирующем лазерном пучке после прохождения двулучепреломляющих клиньев.FIG. 2, arrows with
На Фиг. 3 и 4 видны регулировочные винты 31 и 32, с помощью которых возможна регулировка плоскости установки неподвижного зеркала 21 относительно плоскости установки подвижного зеркала 22.FIG. 3 and 4, adjusting
Устройство оптической задержки по настоящей полезной модели предназначено для работы в сдвиговом поляроинтерферометре.The optical delay device according to the present utility model is intended for operation in a shear polarointerferometer.
Трехканальный поляроинтерферометр служит для регистрации и измерения спонтанных магнитных полей, возникающих, например, в лазерной плазме при взаимодействии лазерного излучения с материалом мишени, и является инструментом активной диагностики плазмы. Его принцип работы основан на эффекте Фарадея, состоящего в том, что зондирующее плоскополяризованное лазерное излучение, проходя через плазму, испытывает поворот плоскости поляризации на определенный угол в тех областях плазмы, где возникает магнитное поле. Величина угла поворота вектора поляризации зависит от величины магнитного поля и профиля электронной концентрации в плазме, через которую прошел зондирующий лазерный луч. Таким образом, измерив угол поворота плоскости поляризации лазерного излучения и определив профиль электронной концентрации, можно судить о величине возникающих магнитных полей.The three-channel polarointerferometer is used to register and measure spontaneous magnetic fields that arise, for example, in a laser plasma during the interaction of laser radiation with the target material, and is a tool for active plasma diagnostics. Its principle of operation is based on the Faraday effect, which consists in the fact that the probing plane-polarized laser radiation, passing through the plasma, experiences a rotation of the plane of polarization by a certain angle in those regions of the plasma where the magnetic field arises. The magnitude of the angle of rotation of the polarization vector depends on the magnitude of the magnetic field and the profile of the electron density in the plasma through which the probe laser beam passed. Thus, by measuring the angle of rotation of the plane of polarization of the laser radiation and determining the profile of the electron density, one can judge the magnitude of the arising magnetic fields.
Входная прямоугольная диафрагма 1 задает рабочее поле, в котором регистрируется плазма, входная призма 5 Глана задает начальную поляризацию зондирующего лазерного излучения, а на выходе двух двулучепреломляющих клиньев 7, 9 из исландского шпата получаются четыре изображения рабочего поля зондирующего лазерного излучения с плазмой. Два из этих изображений являются поляризационными, т.к. изображение на них сильно зависит от изменения поляризации лазерного излучения, прошедшего через плазму, а два других являются теневыми, т.к. они не чувствительны к повороту плоскости поляризации. Наконец, выходная призма 10 Глана служит для выравнивания интенсивностей в трех каналах (одном поляризационном и двух теневых), интенсивность четвертого же канала при этом автоматически зануляется. На векторных диаграммах на Фиг. 1 этот процесс подробно показан. Важным элементом также является выходная линза 8, которая строит изображение рабочего поля с плазмой на детекторе (14). Фокусное расстояние линзы 8 и углы двулучепреломляющих клиньев 7, 9 подбираются таким образом, чтобы изображения плазмы полностью попадали в апертуру детектора, и при этом обеспечивалось нужное перекрытие одного теневого канала с плазмой и поляризационного канала в его свободной от плазмы области, т.к. в этой области возникает интерференционная картина, необходимая для измерения профиля электронной концентрации в плазме.The input
Данный поляроинтерферометр по сути является интерферометром сдвигового типа. Лазерные пучки в нем идут в одном направлении, но по несколько разным оптическим путям. В случае работы с фемтосекундными лазерными установками необходима компенсация задержки в распространении разных пучков, для чего в устройстве оптической задержки по настоящей полезной модели используется микрометрическое средство перемещения.This polarointerferometer is essentially a shear type interferometer. The laser beams in it go in the same direction, but along slightly different optical paths. In the case of work with femtosecond lasers, it is necessary to compensate for the delay in the propagation of different beams, for which a micrometric displacement device is used in the optical delay device according to the present utility model.
В этом устройстве неподвижное зеркало 21 и подвижное зеркало 22 совмещают таким образом, что на одно из них попадает два изображения рабочего поля зондирующего лазера (поляризационное и опорное теневое, ссылочные позиции 29 и 30 на Фиг. 2), а на другое - второе теневое изображение с плазмой (ссылочная позиция 28 на Фиг. 2), которое в дальнейшем при попадании на детектор должно перекрываться со свободной от плазмы частью поляризационного изображения и дать устойчивую интерференционную картину. Используя данное устройство, удалось добиться временного разрешения (т.е. времени зондирующего импульса, при котором регистрируется интерференционная картина) в 50 фс. Кроме того, одно из зеркал оснащено системой юстировки по углу наклона, таким образом зеркала можно делать немного не параллельными между собой и благодаря этому регулировать размер области перекрытия интерферирующих пучков (теневого и поляризационного).In this device, the
Устройство оптической задержки по настоящей полезной модели позволяет работать как с вертикально, так и с горизонтально расположенными лазерными мишенями. В зависимости от расположения мишени нужно лишь закрепить данное устройство соответствующим образом - для горизонтальной мишени зеркала 21 и 22 располагаются одно над другим, а для вертикальной мишени - одно рядом с другим в горизонтальной плоскости.The optical delay device according to this utility model allows you to work with both vertically and horizontally located laser targets. Depending on the location of the target, you just need to fix this device appropriately - for a horizontal target,
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019138423U RU198732U1 (en) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019138423U RU198732U1 (en) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU198732U1 true RU198732U1 (en) | 2020-07-23 |
Family
ID=71741004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019138423U RU198732U1 (en) | 2019-11-27 | 2019-11-27 | OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU198732U1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010529A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nikon Corp | Measuring method, measuring apparatus, interferometer system, and exposure apparatus |
US20120224182A1 (en) * | 2010-10-14 | 2012-09-06 | Fiber Sensys, Inc. | Interferometer systems |
RU2484500C2 (en) * | 2007-10-09 | 2013-06-10 | Данмаркс Текниске Университет | Coherent lidar system based on semiconductor laser and amplifier |
-
2019
- 2019-11-27 RU RU2019138423U patent/RU198732U1/en active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010529A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nikon Corp | Measuring method, measuring apparatus, interferometer system, and exposure apparatus |
RU2484500C2 (en) * | 2007-10-09 | 2013-06-10 | Данмаркс Текниске Университет | Coherent lidar system based on semiconductor laser and amplifier |
US20120224182A1 (en) * | 2010-10-14 | 2012-09-06 | Fiber Sensys, Inc. | Interferometer systems |
RU2557324C2 (en) * | 2010-10-14 | 2015-07-20 | Файберсоникс, Инк | System with interferometers |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Е.А.БОЛХОВИТИНОВ статья "ТРЕХКАНАЛЬНЫЙ ПОЛЯРОИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ В ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЕ", в журнале "ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА И ЭКСПЕРИМЕНТА", номер 3, 2007 год. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106352789B (en) | Instantaneous phase shift interferometer | |
US10444004B2 (en) | Phase shift interferometer | |
US7561279B2 (en) | Scanning simultaneous phase-shifting interferometer | |
CN106767389B (en) | Striking rope type simultaneous phase-shifting interference testing device based on prismatic decomposition phase shift | |
CN105466359A (en) | Precise surface shape measuring device | |
RU2601530C1 (en) | Device for measuring angular movements of object | |
Silin et al. | The design and characteristics of a 630-mm phase-shifting interferometer | |
CN104880258A (en) | Device and method for measuring near-field correlation pulse width of ultrashort optical pulses | |
RU198732U1 (en) | OPTICAL DELAY DEVICE FOR SHEARING POLARO INTERFEROMETER | |
KR102007004B1 (en) | Apparatus for measuring three dimensional shape | |
US20110299090A1 (en) | Real-time interferometer | |
EP2535679A1 (en) | Improvements in or relating to interferometry | |
EP3500828B1 (en) | Compact interferometer spectrometer | |
JP2007298281A (en) | Measuring method and device of surface shape of specimen | |
JPH07190734A (en) | Circumferential surface profile measuring method | |
Chatterjee et al. | Measurement of residual wedge angle with a reversal shear interferometer | |
Fischedick et al. | Investigation of the uncertainty contributions of the alignment of PTB’s double-ended interferometer by virtual experiments | |
US6804009B2 (en) | Wollaston prism phase-stepping point diffraction interferometer and method | |
JPH07280535A (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus | |
Arosa et al. | Measuring the wedge of flat optical windows | |
RU210340U1 (en) | hyperspectrometer | |
Stetson | Speckle and its application to strain sensing | |
Peng et al. | A full-path phasing technique based on the far-field interference fringe for tiled-aperture coherent beam combining | |
JP2009079933A (en) | Interferometer device for measuring large-sized sample | |
JPH02259506A (en) | Fringe scanning type interference measuring instrument |