RU1817267C - Contactor - Google Patents
ContactorInfo
- Publication number
- RU1817267C RU1817267C SU4938351A RU1817267C RU 1817267 C RU1817267 C RU 1817267C SU 4938351 A SU4938351 A SU 4938351A RU 1817267 C RU1817267 C RU 1817267C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- holes
- frame
- pins
- movable guide
- movable
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
и 40. Затем провер емую плату 12 поджимают подпружиненным упором 50. Сверху накладку 37 с установленной провер емой платой 12 накрывают зажимной планкой 19. Таким образом обеспечиваетс прилегание контактных площадок 11 провер емой платы 12 к поверхности 32 фотошаблона 28 (с нанесенными на ней точками 33, образующими поле 30, идентичное полю 9 отверстий 7), а также жестка св зь накладки 37 с рамкой 20 и втулок 46 и 47 с соответствующими базовыми штыр ми 29 и 30.and 40. Then, the test board 12 is pressed with a spring-loaded stop 50. From above, the cover 37 with the test card 12 installed is covered with a clamping bar 19. In this way, the contact pads 11 of the test card 12 adhere to the surface 32 of the photomask 28 (with points 33 on it) forming a field 30 identical to the field 9 of the holes 7), as well as the rigid connection of the lining 37 with the frame 20 and the bushings 46 and 47 with the corresponding base pins 29 and 30.
Сцепление рамок 16 и 20 между собой описанным выше способом позвол ет рамке 20 скользить по поверхности соприкосно- вени ее с рамкой 16 в направлении, задаваемом поворотом маховичка 22 эксцентриковой оси 21. Расположение эксцентриковых осей 21 и пазов 26 обеспечивает перемещение рамки 20 в любом направлении .The engagement of the frames 16 and 20 with each other in the manner described above allows the frame 20 to slide along its contact surface with the frame 16 in the direction specified by the rotation of the handwheel 22 of the eccentric axis 21. The location of the eccentric axes 21 and the slots 26 allows the frame 20 to be moved in any direction.
После установки накладки 37 с провер емой платой 12 на рамку 20 последнюю вручную поворачивают на 180 вокруг оси 15.After installing the cover 37 with the tested board 12 on the frame 20, the latter is manually rotated 180 around axis 15.
Перед наблюдателем оказываютс прозрачный фотошаблон 28, через который вид- ны точки 33, образующие поле 34, конта ные площадки 11. образующие поле 10, а также маховички 22 эксцентриковых осей 21, Враща tor или иной маховичок 22, одновременно перемещают рамку 20 с установленными на ней фотошаблоном 28 и базовыми штыр ми 29 и 30 с плавающими втулками 46 и 47 относительно рамки 16 с жестко соединенной с ней накладкой 37 и провер емой платой 12, добива сь полного совмещени всех точек 33 фотошаблона 28 с контактными площадками 11 провер емой платы 12. При этом поле 10 контактных площадок 11 провер емой платы 12 занимает определенное положение относительно базовых штырей 29 и 30 с установленными на них соответствующими втулками 46 и 47.In front of the observer there is a transparent photomask 28, through which the points 33 forming the field 34, the contact pads 11. forming the field 10, as well as the handwheels 22 of the eccentric axes 21, Rotating tor or another handwheel 22 are visible, simultaneously move the frame 20 with the it with a photo mask 28 and base pins 29 and 30 with floating sleeves 46 and 47 relative to the frame 16 with the plate 37 rigidly connected to it and the tested board 12, ensuring that all points 33 of the photo mask 28 are fully aligned with the contact pads 11 of the tested board 12. In this field 1 0 pads 11 of the tested board 12 occupies a certain position relative to the base pins 29 and 30 with the corresponding bushings 46 and 47 mounted on them.
Дл более точного совмещени точек 33 фотошаблона 28 с контактными площадками 11 провер емой платы 12 можно использовать какой-либо оптический прибор, например микроскоп. Добившись полного совмещени точек 33 фотошаблона 28 с контактными площадками 11, возвращают рамку 16 в исходное положение и зат гивают гайки 48 и 49, тем самым, закрепл втулки 46 и 47 на накладке 37.To more accurately align the points 33 of the photomask 28 with the contact pads 11 of the test board 12, some kind of optical device, such as a microscope, can be used. Having achieved full alignment of the points 33 of the photomask 28 with the contact pads 11, the frame 16 is returned to its original position and the nuts 48 and 49 are tightened, thereby securing the sleeves 46 and 47 on the plate 37.
Так как базовые штыри 29 и 30 по своим посадочным размерам идентичны соответствующим базовым штыр м 13 и 14, установленным на подвижной направл ющей 3, а их ориентаци относительно пол 34 точек 33 идентична ориентации базовых штырейSince the base pins 29 and 30 are identical in their mounting dimensions to the corresponding base pins 13 and 14 mounted on the movable guide 3, and their orientation relative to the floor 34 of the points 33 is identical to the orientation of the base pins
13 и 14 относительно пол 9 отверстий 7, то при переустановке съемной накладки 37 на подвижную направл ющую 3 обеспечиваетс автоматическое совмещение контактных13 and 14 relative to the floor 9 of the holes 7, then when reinstalling the removable lining 37 on the movable guide 3 provides automatic alignment of the contact
площадок 11 провер емой платы 12 с отверсти ми 7 и расположенными в них упругими контактами 8.pads 11 of the tested board 12 with holes 7 and elastic contacts 8 located therein.
Наличие и использование двух съемных накладок 37 обеспечивает совмещение вто0 рой провер емой платы 12 одновременно с автоматической проверкой первой платы.The presence and use of two removable pads 37 ensures the combination of the second testable board 12 simultaneously with the automatic check of the first board.
Использование предлагаемого технического решени позволит расширить Функциональные оозможности контактногоUsing the proposed technical solution will expand the functionality of the contact
5 устройства за счет обеспечени контрол печатных плат с большой степенью интеграции , у которых топологи недостаточно точно прив зана к базовым поверхност м платы, а малые размеры контактных площа0 док не компенсируют этой неточности, а также повысить производительность труда за счет снижени вспомогательного времени .5 devices by providing control of printed circuit boards with a high degree of integration, in which topologies are not accurately connected to the base surfaces of the board, and the small size of the contact areas does not compensate for this inaccuracy, and also increase labor productivity by reducing the auxiliary time.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4938351 RU1817267C (en) | 1991-05-20 | 1991-05-20 | Contactor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4938351 RU1817267C (en) | 1991-05-20 | 1991-05-20 | Contactor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1817267C true RU1817267C (en) | 1993-05-23 |
Family
ID=21575608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4938351 RU1817267C (en) | 1991-05-20 | 1991-05-20 | Contactor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1817267C (en) |
-
1991
- 1991-05-20 RU SU4938351 patent/RU1817267C/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3495519A (en) | Xy table | |
US3927943A (en) | Mask alignment method | |
US4171162A (en) | System for positioning an object in an optical projection system | |
KR960024695A (en) | Exposure equipment | |
IT1272069B (en) | ALIGNMENT SYSTEM FOR TEST EQUIPMENT | |
US3798782A (en) | Register mark punch system and method | |
RU1817267C (en) | Contactor | |
KR100278115B1 (en) | Liquid crystal panel inspection device | |
CN1093945C (en) | Light exposure installation of double-sided printed circuit plate through artworks | |
HK187695A (en) | A device for testing a printed circuit board | |
JPS6273263A (en) | Device for inspecting transmission and reflection plate | |
EP0961127A2 (en) | Adjustable fast press with PCB shuttle and modular expansion capabilities | |
KR100278130B1 (en) | Inspection stage for liquid crystal panel | |
US3040642A (en) | Photographic apparatus | |
GB1564003A (en) | Screen printing apparatus | |
DK287684D0 (en) | METHOD AND APPARATUS FOR INSTALLING ELECTRONIC COMPONENTS ON A CIRCUIT CARD | |
CN210347851U (en) | Common two-section FPC false pressure detection jig | |
JPS6153790A (en) | Printing mask positioning device | |
GB1247793A (en) | Step and repeat cameras | |
DE4138731A1 (en) | X=ray exposure appts. with microchip support for IC mfr. - has target object holder mounted for shifting w.r.t. microchip support into 2 positions for mounting and exposing | |
JP2661266B2 (en) | Circuit alignment apparatus for flexible printed wiring board and transparent substrate and method of using the same | |
JPH0529442A (en) | Table device | |
DE3469227D1 (en) | Supporting unit for a printed circuit testing device, especially for ceramic circuit boards | |
CN114384096B (en) | X-ray photographing jig and equipment for surface-mounted crystal components | |
JPS5582009A (en) | Alignment system for tested printed board |