RU181381U1 - Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов - Google Patents
Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов Download PDFInfo
- Publication number
- RU181381U1 RU181381U1 RU2018107980U RU2018107980U RU181381U1 RU 181381 U1 RU181381 U1 RU 181381U1 RU 2018107980 U RU2018107980 U RU 2018107980U RU 2018107980 U RU2018107980 U RU 2018107980U RU 181381 U1 RU181381 U1 RU 181381U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- diffraction
- radiation
- relief
- diffraction structure
- input
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 25
- 238000001914 filtration Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 39
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 20
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003542 behavioural effect Effects 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
- G02B27/44—Grating systems; Zone plate systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
- G02B27/46—Systems using spatial filters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
Полезная модель относится к оптоэлектронике. Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов содержит дифракционную решетку и пространственный фильтр. В качестве дифракционной решетки применена зеркально отражающая рельефная периодическая дифракционная структура с высоким коэффициентом отражения, с прямоугольной формой рельефа в форме «меандр», с глубиной рельефа Н, которая превышает длину волны входного оптического излучения λ. Структура установлена на поворотной платформе, которая связана с механизмом регулировки угла падения светового пучка, падающего на эту дифракционную структуру таким образом, чтобы плоскость падения была параллельна линии рельефа дифракционной структуры. Пространственный фильтр расположен в отраженном от дифракционной структуры пучке излучения таким образом, чтобы он выделял нулевой порядок в дифракционной картине после отражения оптического пучка от дифракционной структуры. Технический результат заключается в повышении коэффициента передачи мощности оптического излучения с входа устройства на его выход при фильтрации определенных длин волн оптического излучения. 4ил.
Description
Полезная модель относится к оптоэлектронике, оптике и приборостроению и касается устройства для фильтрации спектров оптических сигналов.
Устройство предназначено для фильтрации спектральных компонент оптического сигнала, а именно для запрета прохождения на выход устройства излучения с определенной длиной волны λ1 и для пропускания излучения с другой длиной волны λ2.
Известны устройства для разделения и фильтрации компонент спектра оптического сигнала: многослойные диэлектрические интерференционные фильтры, окрашенные стекла, поглощающие излучение в области определенных длин волн оптического излучения, но пропускающие излучение в другой области длин волн, спектральные приборы с использованием дифракционных решеток. Эти устройства являются аналогами предлагаемой полезной модели, [В.В. Лебедева. Экспериментальная оптика. // Иэд. Московского университета. 1984 г.].
Многослойный интерференционный фильтр состоит из большого количества диэлектрических слоев с различными показателями преломления, он имеет высокий коэффициент пропускания в определенной области длин волн, но низкий коэффициент передачи вне полосы пропускания. Изготовленный многослойный фильтр невозможно перестроить на другую длину волны, что является недостатком этого устройства.
Цветные окрашенные стекла имеют определенные полосы длин волн пропускания и полосы поглощения, однако цветные стекла также не имеют возможности перестройки длин волн полос поглощения и пропускания, что является их недостатком.
Наиболее близкий аналог (прототип) предлагаемого устройства - это устройство фильтрации оптического сигнала, состоящее из дифракционной решетки и пространственного фильтра, который расположен в первом или в одном из высших дифракционных порядков, которые образованы после взаимодействия коллимированного оптического пучка с дифракционной решеткой [В.В. Лебедева. Экспериментальная оптика. // Иэд. Московского университета. 1984 г.].
Устройство - прототип работает следующим образом. В результате взаимодействия с дифракционной решеткой оптическое излучение распадается на дифракционные порядки, при этом каждой длине оптической волны соответствует определенное направление излучения в выбранном дифракционном порядке. С помощью пространственного фильтра выделяют определенную область длин волн в пространственном спектре оптического сигнала в выбранном дифракционном порядке и попускают на выход только эту область спектра. Недостатком устройства - прототипа является невысокий коэффициент передачи мощности с входа на выход, т.е. невысокая эффективность дифракционной решетки. Так, например, у амплитудной дифракционной решетки максимальная дифракционная эффективность, т.е. отношениие мощности в первом порядке дифракции к мощности входного излучения составляет порядка 10%, а у плоской фазовой дифракционной решетки максимальная дифракционная эффективность составляет порядка 35-40%.
Технический результат полезной модели, схема которой изображена на фигуре 1, заключается в повышении коэффициента передачи мощности оптического излучения с входа устройства на его выход при фильтрации определенных длин волн оптического излучения. При этом в отличие от других устройств - аналогов предлагаемая полезная модель имеет возможность перестройки спектральной характеристики фильтра, т.е. изменения положения областей длин волн, которые соответствуют минимальному и максимальному коэффициенту передачи излучения с входа устройства на его выход.
Технический результат достигается тем, что в устройстве применена зеркально отражающая рельефная периодическая дифракционная структура 2 с прямоугольным профилем рельефа поверхности в форме меандра 7, с глубиной рельефа Н, которая превышает половину длины волны входного оптического излучения λ, т.е. Н>0,5λ, имеющая высокий коэффициент отражения поверхности. Период ΛР дифракционной структуры значительно больше длины волны оптического излучения, при этом обычно ΛР>10λ. Рельефная периодическая дифракционная структура закреплена на поворотной платформе 3, которая установлена на неподвижном основании 6 и связана с механизмом поворота 4 платформы 3, который предназначен для регулировки величины угла падения входного светового пучка от источника 1 на дифракционную структуру 2, а пространственный фильтр 5 расположен в отраженном от дифракционной структуры 2 пучке излучения таким образом, чтобы выделить нулевой порядок в дифракционном пучке после отражения падающего оптического пучка от дифракционной структуры 2, при этом линии рельефа дифракционной структуры параллельны плоскости падения входного оптического пучка.
Пространственный фильтр представляет собой непрозрачный экран с отверстием, пропускающим пучок только нулевого порядка дифракции, при этом пучки первых и высших порядков не пропускаются пространственным фильтром, а разделение дифракционных порядков осуществляется за счет естественного расхождения дифракционных пучков в пространстве. Для надежного разделения дифракционных порядков должны выполняться следующие условия: поперечный размер оптического пучка DП в направлении попек линий дифракционной структуры должен быть в несколько раз (практически более, чем в 3-4 раза) больше периода дифракционной структуры, а расстояние LФ от отражающей дифракционной структуры до пространственного фильтра должно составлять:
где kз - коэффициент запаса составляет порядка kз≥2.
Устройство работает следующим образом. Пучок излучения от источника излучения (от лазера) 1 направляют на поверхность отражательной дифракционной структуры, которая составлена из канавок с прямоугольной формой профиля с формой типа «меандр», с одинаковой шириной выступов и впадин. Диаметр пучка во много раз (типично в 10-20 раз) больше периода этой дифракционной структуры. Поскольку отражение лазерного пучка происходит от рельефа с прямоугольным профилем типа «меандр», волновой фронт отраженного пучка имеет пространственную фазовую модуляцию прямоугольной формы, типа «меандр». В результате отражения лазерного пучка от рельефа с глубиной Н, глубина пространственной фазовой модуляции волнового фронта выражается формулой:
а амплитуда пространственной фазовой модуляции волнового фронта, которая равна половине глубины фазового рельефа, выражается формулой:
Мощность излучения в нулевом порядке дифракции Р0 зависит от глубины отражательной дифракционной решетки и определяется следующим соотношением [.В.А. Комоцкий, Ю.М. Соколов, А.Н. Алексеев, Е.В. Басистый. Исследование оптоэлектронного датчика угловых смещений на основе глубокой отражательной фазовой дифракционной решетки // Вестник РУДН. Серия Математика. Информатика. Физика - 2009 - №4 - С95-104]:
R - коэффициент отражения, РВХ - мощность входного излучения, падающего на дифракционную рельефную решетку.
Максимумы зависимости Р0(Н) соответствуют условию , а из этого следует условие, при котором наблюдаются максимумы мощности отраженного излучения в нулевом дифракционном порядке:
Минимумы зависимости Р0(Н) соответствуют условию , а из этого следует условие, при котором наблюдаются минимумы мощности отраженного излучения в нулевом дифракционном порядке:
Зависимость мощности дифракционного пучка нулевого порядка от угла падения Θ для структуры с глубиной рельефа Н=2λ приведена на фигуре 2.
Число минимумов на этой кривой равно 4, оно зависит от отношения γ=(Н/λ), и равно 2γ.
Если выбрать некоторый угол падения ΘВХ и зафиксировать его, то зависимость коэффициент передачи мощности излучения с входа устройства на выход нулевого порядка дифракции от длины волны будет выражена соотношением:
В качестве примера рассмотрим фильтр на основе дифракционной структуры с относительной глубиной γ=(Н/λ)=2, который не пропускал бы на выход излучение с длиной волны гелий - неонового лазера λ=0,633 мкм. Положим, что глубина рельефной структуры составит Н=2λ=1,266 мкм.
Рассчитаем значение Θmin для γ=(Н/λ)=2, пользуясь следующей формулой, полученной из формулы (6):
Положив n=3, получим; . Это одно из возможных значений углов падения, при котором коэффициент передачи kP мощности излучения с длиной волны λ=0,633 мкм с входа на выход устройства равен нулю. Установим угол падения входного излучения равным расчетному углу ΘВX=Θmin1=29°. Зависимость нормированного коэффициента передачи мощности kP=Р0/(РВХ⋅R) с входа на выход устройства от длины волны, рассчитанная при условии Н=1,266 мкм, при ΘBX=29° приведена на фигуре 3,
На этой зависимости можно видеть полосы подавления некоторых длин волн и полосы пропускания других длин волн. Один из минимумов расположен на длине волны λ=0,633 мкм. При этом в минимумах нормированный коэффициент передачи равен нулю, а в максимумах нормированный коэффициент передачи равен 1. Реальный коэффициент передачи в максимумах равен коэффициенту отражения излучения поверхности рельефной структуры, и он может быть близок к 1, если рельеф покрыт металлической пленкой с высоким коэффициентом отражения, например, пленкой серебра, которая имеет коэффициент отражения более 90% в области длин волн более 400 ангстрем.
Пример практической реализации фильтра.
Поставим практическую задачу отфильтровать спектральную линию излучения аргонового лазера λ2=0,514 мкм от другой сильной линии λ1=0,488 мкм. При этом коэффициент передачи мощности излучения с входа на выход устройства на длине волны λ2=0,514 мкм должен быть максимальным , близким к единице, а коэффициент передачи на длине волны λ1=0,488 мкм должен быть минимальным , близким к нулю.
Рассмотрим некоторые соотношения, используя которые можно приближенно оценить необходимую глубину рельефной структуры. Найдем отношение длин волн, соответствующих максимальному и минимальному значениям коэффициента передачи мощности излучения с входа на выход устройства: λ2/λ1=0,514/0,488=1,0532.
Далее запишем соотношение длин волн, соответствующих максимальному и минимальному коэффициентам передачи устройства из формул (5) и (6), с учетом того, что угол падения в этих формулах будет один и тот же: приравняв углы падения в формулах (5) и (6), получим: . Отсюда следует соотношение для оценок:
Из соотношения (9) следует, что если взять значение n=10, то получим отношение , что очень близко к отношению λ2/λ1=1,0532 для заданных выше длин волн аргонового лазера. Далее, если приять условие n=10, то глубина рельефа должна составлять порядка 6 длин волн. Действительно, если γ=(Н/λ)=6, то максимальное число n должно удовлетворять условию: n≤2γ-0,5, которое следует из того, что аргумент функции в формуле (6) не может быть больше единицы, т.е. получаем: n≤11. При этом допускается как выбор как n=11, так и выбор n=10.
Для построения фильтра выберем глубину рельефа Н=3 мкм. и n=10. Затем найдем угол, при котором коэффициент передачи для излучения с длиной волны λ1=0,488 мкм будет минимальным (равным нулю). Положив число n=10, получим в соответствии с формулой (8) следующее значение угла падения:
При этом же значении угла падения коэффициент передачи мощности излучения устройства на второй длине волны λ2=0,514 мкм в соответствии с формулой (4) составит:
Как видно, коэффициент передачи мощности на длине волны λ2=0,514 мкм близок к 100%.
Зависимость коэффициента передачи мощности от длины волны излучения в диапазоне длин волн от 0,42 мкм до 0,55 мкм приведена на фигуре 4.
В результате поведенных расчетов параметры конструкции фильтра, построенного по схеме, изображенной на фигуре 1, будут следующими. Рельефная структура имеет глубину Н=3 микрометра. Если выбрать ΛP=50 мкм и при размере лазерного пучка 2 мм расстояние LФ составит: что приемлемо для практики.
Выбор периода рельефной структуры ΛР не является критичным, он влияет на величину расстояния LФ от рельефной структуры до диафрагмы пространственного фильтра, которая определяется формулой (1).
Рельеф может быть изготовлен на подложке из стекла методом химического травления поверхности подложки через маску из фоторезиста, а затем рельеф следует покрыть отражающей пленкой из серебра или алюминия.
Установка расчетного угла падения осуществляется с реально достижимой точностью за счет поворота платформы 3, а затем угол падения может быть скорректирован по критерию минимальной мощности излучения на длине волны λ1=0,488 мкм на выходе устройства.
Claims (1)
- Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов, содержащее дифракционную решетку и пространственный фильтр, отличающееся тем, что в качестве дифракционной решетки применена зеркально отражающая рельефная периодическая дифракционная структура с высоким коэффициентом отражения, с прямоугольной формой рельефа в форме «меандр», с глубиной рельефа Н, которая превышает длину волны входного оптического излучения λ, эта структура установлена на поворотной платформе, которая связана с механизмом регулировки угла падения светового пучка, падающего на эту дифракционную структуру таким образом, чтобы плоскость падения была параллельна линии рельефа дифракционной структуры, а пространственный фильтр расположен в отраженном от дифракционной структуры пучке излучения таким образом, чтобы он выделял нулевой порядок в дифракционной картине после отражения оптического пучка от дифракционной структуры, при этом длины волн, при которых коэффициент передачи излучения с входа на выход устройства минимален, определяются соотношением: , а длины волн, при которых коэффициент передачи излучения с входа на выход устройства максимален, определяются соотношением: , где n - целое число.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018107980U RU181381U1 (ru) | 2018-03-05 | 2018-03-05 | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018107980U RU181381U1 (ru) | 2018-03-05 | 2018-03-05 | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU181381U1 true RU181381U1 (ru) | 2018-07-11 |
Family
ID=62915316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2018107980U RU181381U1 (ru) | 2018-03-05 | 2018-03-05 | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU181381U1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU208574U1 (ru) * | 2021-04-02 | 2021-12-24 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5268911A (en) * | 1991-07-10 | 1993-12-07 | Young Eddie H | X-cut crystal quartz acousto-optic modulator |
US7729030B2 (en) * | 2002-10-21 | 2010-06-01 | Hrl Laboratories, Llc | Optical retro-reflective apparatus with modulation capability |
RU2411620C1 (ru) * | 2009-08-13 | 2011-02-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) | Модулятор лазерного излучения |
RU2616935C1 (ru) * | 2015-12-04 | 2017-04-18 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) | Устройство для модуляции лазерного излучения |
-
2018
- 2018-03-05 RU RU2018107980U patent/RU181381U1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5268911A (en) * | 1991-07-10 | 1993-12-07 | Young Eddie H | X-cut crystal quartz acousto-optic modulator |
US7729030B2 (en) * | 2002-10-21 | 2010-06-01 | Hrl Laboratories, Llc | Optical retro-reflective apparatus with modulation capability |
RU2411620C1 (ru) * | 2009-08-13 | 2011-02-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) | Модулятор лазерного излучения |
RU2616935C1 (ru) * | 2015-12-04 | 2017-04-18 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) | Устройство для модуляции лазерного излучения |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU208574U1 (ru) * | 2021-04-02 | 2021-12-24 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Дальневосточный государственный университет путей сообщения" (ДВГУПС) | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5598300A (en) | Efficient bandpass reflection and transmission filters with low sidebands based on guided-mode resonance effects | |
US5221957A (en) | Nonuniform holographic filter in a spectroscopic system | |
KR920001246B1 (ko) | 회절격자, 그 제조방법 및 그 제조시스템 | |
US4281894A (en) | Very low absorption, low efficiency laser beamsampler | |
US8338802B2 (en) | Terahertz radiation anti-reflection devices and methods for handling terahertz radiation | |
RU181381U1 (ru) | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов | |
US9081150B2 (en) | Rayleigh reflectors and applications thereof | |
US6600602B2 (en) | Diffraction grating and uses of a diffraction grating | |
Lukin | Holographic optical elements | |
RU2411620C1 (ru) | Модулятор лазерного излучения | |
JPH03291523A (ja) | エンコーダ | |
US7729053B2 (en) | Wavelength filter with a broad bandwidth of reflection spectrum | |
RU208574U1 (ru) | Устройство для фильтрации спектров оптических сигналов | |
RU2616935C1 (ru) | Устройство для модуляции лазерного излучения | |
RU161122U1 (ru) | Оптическая схема компактного коллиматорного прицела на основе объёмной голографической дифракционной решётки | |
JP6358710B2 (ja) | 回折光学素子 | |
JP6455933B2 (ja) | 回折光学素子およびその製造方法 | |
SU1682950A1 (ru) | Отражающий интерференционный светофильтр | |
CN114236650B (zh) | 雷达外壳减反结构的设计方法 | |
RU181211U1 (ru) | Устройство записи и тестирования голографических объёмных отражательных решёток | |
Goldina | Design of metal-dielectric interference coatings | |
SU1265678A1 (ru) | Интерференционный фильтр полного внутреннего отражени | |
Syuy et al. | Reflective Deep Relief Structure with Variable Depth Produced by the Action of Modified Femtosecond Laser Radiation | |
Goossens | When do patterned thin-film filters become too tiny? | |
Voloshina et al. | Inscription study of superimposed chirped fiber Bragg gratings |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM9K | Utility model has become invalid (non-payment of fees) |
Effective date: 20200306 |