RU1797025C - Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей - Google Patents

Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей

Info

Publication number
RU1797025C
RU1797025C SU904863712A SU4863712A RU1797025C RU 1797025 C RU1797025 C RU 1797025C SU 904863712 A SU904863712 A SU 904863712A SU 4863712 A SU4863712 A SU 4863712A RU 1797025 C RU1797025 C RU 1797025C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
binder
wave
controlled material
polarization
amount
Prior art date
Application number
SU904863712A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Александрович Тиханович
Original Assignee
Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Прикладной Физики Ан Бсср filed Critical Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority to SU904863712A priority Critical patent/RU1797025C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1797025C publication Critical patent/RU1797025C/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в авиационной промышленности дл  определени  количества св зующего в однослойных композиционных материалах на основе углеродных нитей. Сущность изобретени : изобретение позвол ет с высокой точностью контролировать количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей за счет приема как прошедшей, так и отраженной СВЧ-волны, осуществление трехкратного взаимодействи  одной из составл ющих с контактируемым материалом при различных состо ни х пол ризации и определени  количества св зующего по эллиптичности суммарной СВЧ-волны, полученной в результате смешивани  прошедшей и отраженной составл ющих. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл  определени  количества св зующего или толщины композиционных материалов на основе углеродных нитей в авиационной промышленности.
Известен способ измерени  диэлектри ческой проницаемости веществ, при котором облучают контролируемый материал двум  пол ризованными электромагнитными волнами различной частоты, раздел ют каждую волну на ортогонально-пол ризованные составл ющие до взаимодействи  с исследуемым материалом, одну из составл ющих каждой из волн пропускают через контролируемый материал, смешивают обе составл ющие каждой из волн, измер ют величину эллиптичности каждой волны и определ ют разность их эллиптичностью, по которой суд т о диэлектрической проницаемости или толщине контролируемого материала . Основным недостатком известного способа  вл етс  низка  точность при контроле слоев малой толщины, обусловленна  тем, что фазовый сдвиг составл ющей прошедшей через контролируемый материал относительно опорной в результате однократного прохождени  через контролируемый слой составл ет единицы или доли градусов. Кроме того, частотно-временна  нестабильность источников излучени  приводит к дополнительной погрешности измерений . Следует также отметить, что Согласно известному способу, облучение контролируемого материала осуществл етс  ортогонально пол ризованными волнами различной частоты, что не позвол ет использовать известный способ дл  контрол  анизотропных материалов, в частности, композитов на основе углеродных нитей.
Известен способ измерени  параметров диэлектрических материалов, основан Ч|
ный на облучении контролируемого материала линейно пол ризованной СВЧ-волной, разделении волны до взаимодействи  с контролируемым материалом на две ортогонально-пол ризованные составл ющие, пропускании одной из них через контролируемый материал, смешивании провзаимо- действовавшей и опорной составл ющих в одном канале и измерении эллипсометриче- ских параметров суммарной СВЧ-волны. Основным недостатком известного способа  вл етс  низка  точность при контроле композитов малой толщины. Низка  точность обусловлена тем, что согласно известному способу осуществл етс  только однократное взаимодействие и только одной пол ризованной составл ющей с контролируемым материалом. Уменьшение длины волны зондирующего излучени , хот  и приводит к увеличению чувствительности известного, метода, однако позвол ет повысить точность контрол  параметров композитов, по- скольку в этом случае существенное вли ние на результаты контрол  оказывает шероховатость поверхности композита.
Из известных способов наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  способ контрол  количества св зующего в композиционных материалах, заключающийс  в облучении под углом контролируемого материала линейно-пол ризованной СВЧ-волной, плоскость пол ризации которой устанавливаетс  под углом 45° к направлению углеродных нитей, одновременном приеме прошедшей и отраженной волн, изменении их плоскости пол ризации на 90° и направлени  распространени  на 180°, повторном облучении контролируемого материала, приеме обеих волн и их суммировании, измерении эллипсометрических параметров, по величине которых суд т о количестве св зующего . Основным недостатком известного способа  вл етс  низка  точность измерений, обусловленна  следующими причинами. Во-первых, вследствие того, с контролируемым материалом дважды взаимодействует как составл юща  пол ризованна  в плоскости падени , так и составл юща  пол ризованна  в плоскости перпендикул рной плоскости падени , относительный фазовый сдвиг между ними, величина которого определ етс  количеством св зующего будет всегда меньше, чем в случае однократного взаимодействи  с контролируемым материалом одной составл ющей , и многократного взаимодействи  другой составл ющей. Во-вторых, известный способ предназначен дл  контрол  количества Св зующего в однослойных
композиционных материалах на основе углеродных нитей только при односторонней пропитке или нанесении св зующего. В случае двухсторонней пропитки св зующим углеродных нитей контролируемый материал можно моделировать как однородный слой св зующего в середине которого расположены углеродные волокна. Известный способ практически не применим дл  контрол 
0 таких материалов из-за очень низкой чувствительности и точности измерений, поскольку фазовые сдвиги обеих составл ющих в этом случае практически равны, а относительный фазовый сдвиг обе5 их составл ющих близок к нулю. Поскольку на практике даже при односторонней пропитке часть св зующего неизбежно попадает на другую сторону углеродного волокна точность измерений известным способом
0 может оказатьс  недопустимо низкой, поскольку она пропорциональна разности количества св зующего по обе стороны углеродного волокна.
Цель изобретени  - повышение точно5 сти контрол  количества св зующего в ком- позиционных материалах на основе углеродных нитей.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в известном способе включающем облуче0 ни  под углом контролируемого материала линейно-пол ризованный под углом 45° к направлению углеродных нитей СВЧ-волной, одновременный прием прошедшей и отраженной волн, изменение плоско5 сти пол ризации на 90° и направлени  распространени  на 180° отраженной волны, согласно изобретению измен ют плоскость пол ризации на 90° и направление распространени  на 180° отраженной волны после
0 повторного взаимодействи  с контролируемым материалом, дополнительно облучают контролируемый материал отраженной волной , смешивают прошедшую и многократно провзаимодействовавшую волны в одном
5 канале, а о количестве св зующего суд т по величине эллиптичности суммарной волны. Сопоставительный анализ за вленного технического решени  с прототипом показывает , что за вленный способ отличаетс  от
0 известного тем, что измен ют плоскость пол ризации на 90° и направление распространени  на 180° отраженной волны после повторного взаимодействи  с контролируемым материалом, дополнительно облучают
5 контролируемый материал отраженной волной , смешивают прошедшую и многократно отраженную волны. Предлагаемый способ позвол ет повысить точность измерений по следующим причинам. Во-первых, вследствие многократного взаимодействи  только
одной составл ющей СВЧ-волны с контролируемым материалом, относительный фазовый сдвиг в за вленном техническом решении в два раза больше, чем в прототипе , что в свою очередь позвол ет приблизи- тельно в два раза увеличить точность измерений композитов в односторонней пропиткой. Во-вторых, чувствительность и точность измерений за вленным способом не зависит от разности количества св зую- щего по обе стороны от углеродного полотна , что позвол ет дополнительно увеличить точность измерений за счет регистрации св зующего с обеих сторон углеродных нитей . В-третьих, за вленный способ позвол - ет в отличие от прототипа контролировать количество св зующего в композитах с двухсторонней пропиткой.
На чертеже показана блок схема устройства , реализующего за вленный спо- соб.
Устройство содержит последовательно установленные генератор электромагнитного излучени  1, пол ризатор 2, контролируемый образец 3. первый 4 и второй 5 вращатели плоскости пол ризации на 90°, установленные по обе стороны контролируемого образца, последовательно соединенные блок измерени  эллипсометрических параметров 6 и блок обработки 7. Блок из- мерени  эллипсометрических параметров 6 установлен с обратной стороны контролируемого материала 3 таким образом, что СВЧ- волна с выхода пол ризатора 2 после прохождени  контролируемого с ло  3 по- ступает на его вход.
Способ осуществл етс  следующим образом .
Контролируемый материал облучают под углом линейно пол ризованной СВЧ- волной, плоскость пол ризации которой составл ет 45° с направлением углеродных волокон. Заданное направление плоскости пол ризации СВЧ волны, генерируемой генератором СВЧ 1, устанавливаетс  с по- мощью пол ризатора 2. При падении зондирующей волны на контролируемый материал 3 происходит разделение волны на две ортогонально-пол ризованные составл ющие , одна из которых отражаетс , а друга  проходит через контролируемый материал .
Отраженна  от углеродных нитей контролируемого материала составл юща  СВЧ-волны, пол ризованна  параллельно углеродным нит м попадает в первый вращатель 4 плоскости пол ризации на 90°.
Первый 4 и второй 5 вращатели плоскости пол ризации выполнены на основе уголковых отражателей. Во вращателе плоскости пол ризации 4 происходит изменение направлени  распространени  волны на 180° и поворот ее плоскости пол ризации на 90°. После вращател  4 СВЧ-волна повторно направл етс  на контролируемый участок образца , и вследствие того, что плоскость ее пол ризации составл ет 90° с направлением углеродных нитей, практически полностью- проходит через контролируемый материал 3 и попадает во второй вращатель 5 плоскости пол ризации на 90°. Во вращателе 5 также осуществл етс  поворот плоскости пол ризации волны на 90° и изменение направлени  ее распространени  на 180°, после чего СВЧ-волна снова направл етс  на контролируемый участок материала с обратной стороны. Поскольку плоскость пол ризации СВЧ-волны выход щей из вращател  плоскости пол ризации 5 параллельна направлени м углеродных нитей контролируемого композита, то .она практически полностью отражаетс  от контролируемого материала и поступает на вход блока измерени  эллипсометрических параметров 6. На вход блока б поступает также ортогонально-пол ризованна  составл юща  зондирующей волны прошедша  через контролируемый материал. Обе составл ющие смешиваютс  в одном канале блока измерени  эллипсометрических параметров 6, где формируетс  эллиптически пол ризованна  волна и измер етс  ее эллиптичность. Блок измерени  эллипсометрических параметров 6 выполнен по известной схеме на основе модернизированных узлов автоматического СВЧ-эллипсометра. Полученные значени  эллиптичности поступают на блок обработки 7, выполненной на основе вычислительного управл ющего устройства К1-20, в котором по известным зависимост м дл  заданных типов композитов и марки св зующего осуществл етс  расчет количества св зующего.
Использование предлагаемого способа по сравнению с существующими аналогами и прототипом обеспечивает более высокую точность измерений за счет регистрации как отраженной, так и прошедшей составл ющих СВЧ-волны, многократного взаимодействи  только одной из составл ющих с контролируемым участком материала, смешивани  многократно провзаимодейство- вавшей волны с прошедшей СВЧ-волной.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ контрол  количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей, заключающийс  в облучении под углом контролируемого материала линейно-пол ризованной под углом 45° к направлению углеродных нитей СВЧ-вол- ной, одновременном приеме прошедшей и отраженной волн, изменение плоскости пол ризации на 90° и направлени  распространени  на 180°отраженной волны,приеме
    ее, а о количестве св зующего суд т по величине эллиптичности суммарной волны, о т- л и чающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол , дополнительно из . мен ют плоскость пол ризации на 90° и направление распространени  на 180° отраженной волны после поворотного взаимодействи  с контролируемым материалом, облучают ею контролируемый материал,
    суммарную волну получают суммированием прошедшей и многократно провзаимодей- ствовавшей отраженной волны.
SU904863712A 1990-09-04 1990-09-04 Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей RU1797025C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904863712A RU1797025C (ru) 1990-09-04 1990-09-04 Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904863712A RU1797025C (ru) 1990-09-04 1990-09-04 Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1797025C true RU1797025C (ru) 1993-02-23

Family

ID=21534659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904863712A RU1797025C (ru) 1990-09-04 1990-09-04 Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1797025C (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1742687,кл. G 01 N 22/00,1990. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7829855B2 (en) Methods and apparatus for determining fibre orientation
Martin et al. Evaluation of wood characteristics: internal scanning of the material by microwaves
FI851819L (fi) Ellipsometriskt foerfarande samt ellipsometrisk anordning foer undersoekning av de fysikaliska egenskaperna i prov eller ytskikten i prov.
EP0200978B1 (en) Static interferometric ellipsometer
DE3067238D1 (en) Ellipsometric method and ellipsometric device for testing the physical properties of the surface of a sample
WO2008110017A1 (en) Systems and methods for monitoring wood product characteristics
FI78356C (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
JP5268151B2 (ja) 木材含水率同定装置および木材含水率同定方法
US6859046B2 (en) Method and apparatus for evaluating anisotropic materials
RU1797025C (ru) Способ контрол количества св зующего в композиционных материалах на основе углеродных нитей
JP2023526569A (ja) 反射マイクロ波の透過測定のための装置および方法
US4310247A (en) Method and apparatus for analyzing the state of polarization of radiation
SU1742687A1 (ru) Способ контрол параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей
JPS60122333A (ja) 偏光解析装置
CA2388453C (en) Method and apparatus to evaluate dielectrically-anisotropic materials using analysis of multiple microwave signals in different planes of polarization
Hong et al. Mueller matrix ellipsometry study of a circular polarizing filter
Tiuri et al. A microwave method for measurement of fiber orientation in paper
Antikainen et al. Comparison of the accuracy of two on-line industrial veneer moisture content and density measurement systems
KR102618723B1 (ko) 뮬러행렬타원계
SU1167535A1 (ru) Способ и устройство дл измерени диэлектрической проницаемости веществ
Nee et al. Nondestructive Evaluation Of Surface Roughness In The 0.01-To 1.0-Pm Range Using Infrared Ellipsometry
JP2529562B2 (ja) エリプソメ−タ
JPH049467B2 (ru)
DE1798030A1 (de) Verfahren zur Messung des Wassergehaltes in festen oder fluessigen Stoffschichten und Vorrichtung zur Durchfuehrung dieses Verfahrens
JPH01161124A (ja) 光波長測定方法