RU1793347C - Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов - Google Patents

Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов

Info

Publication number
RU1793347C
RU1793347C SU904853920A SU4853920A RU1793347C RU 1793347 C RU1793347 C RU 1793347C SU 904853920 A SU904853920 A SU 904853920A SU 4853920 A SU4853920 A SU 4853920A RU 1793347 C RU1793347 C RU 1793347C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
computer
input
output
laser
sample
Prior art date
Application number
SU904853920A
Other languages
English (en)
Inventor
Малхаз Георгиевич Бережиани
Паата Джамлетович Кервалишвили
Игорь Игоревич Петров
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Стабильных Изотопов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Стабильных Изотопов filed Critical Научно-Исследовательский Институт Стабильных Изотопов
Priority to SU904853920A priority Critical patent/RU1793347C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1793347C publication Critical patent/RU1793347C/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Сущность изобретени : устройство дополнительно содержит йзмерйте е то лЩй- ны с полыми щупатми дл  измерени  коэффициента теплового расширени  образца . 1 ил. . ;о

Description

Изобретение относитс  к измерению т( плофизических свойств материалов и мо- жэт быть использовано дл  исследований в металлургии, в полупррводникЬврй и  дер- ной технике, в физике твердого тела.
Известно устройство дл  определени  к( эффициента температуропроводимости материалов, содержащее электрическую с ему дл  формировани  Геплового импуль- сг на поверхности исследуемого образца, э/ ектронную схему дл  автоматического из- м (рени  и регистрации интервала времени с момента подачи теплового импульса до достижени  заданного сЬотнршени  темше- р турных сигналов от двух термопар, распо- лйженных на разных рассто ни х от нагреваемой поверхности;
Наиболее близкой к предлагаемой по технической сущности  вл етс  система дл  измерени  коэффициента температуропроводности с помощью световых импульсов, содержаща  импульсный лазер, соединенный с блоком управлени  и оптически сопр женный с фронтальной поверхностью исследуемого образца, со стороны тыльной поверхности которого установлен фотоде- тектор, выход «бторого че еэ усилйтель со- единён с входами рстдйллографа и компьютера, оптически св занный с излучением лазера фотоэлемент, выход которого через внешний триггер соединен с входом синхронизации осциллографа и с дискретным входом компьютера
Недостатком системы  вл етс  ограничение функции определением коэффициента температуропроводности, а также зависимость точности измерени  от качества обработки поверхностей плоскопараллельного образца (из-за трудности измерени  толщины образца непосредственно в области теплового возмущени ), что соответственно ухудшает экспресность измерений.
ы со
XI
Целью изобретени   вл етс  расширение функций и повышение точности системы .
На чертеже изображена блок-схема системы дл  исследовани  теплофизических свойств твердых материалов.
Система содержит импульсный лазер 1, соединенный с блоком 2 управлени , излучение лазера 1 через оптическую систему 3 сопр жено с фронтальной поверхностью образца 4, со стороны тыльной поверхности которого установлен фотодотектор 5, выход которого через первый усилитель-формирователь 6 соединен с входом осциллографа 7 и с первым входом компьютера 8, оптически св занный с излучением лазера 1 фотоэлемент 9, который через триггер-одновибра- тор 10 соединен с входом синхронизации осциллографа 7 и с дискретным входом компьютера 8, позади импульсного лазера 1 соосно установлен юстировочный лазер 11, система содержит также измеритель толщины образца 12, состо щий из двух полых щупов 13 и 14, соединенный с датчиком 15 перемещени , выход которого соединен с вторым входом компьютера 8, а ось каналов щупов 13 и 14 совпадает с осью луча лазера 1, острие щупов выполнено из термостойкого твердого материала с невысоким коэффициентом теплопроводности (например из корунда), после канала заднего щупа 14 установлена диафрагма 16, на этом же щупе 14 закреплен миниатюрный звукосниматель 17 (например пьезокристаллический), выход которого соединен с входом второго усилител -формировател  17, в систему включены два вычислительны-- устройства 19 и 20 дл  анализа фронта сигналов, выходы которых соединены с цифровыми входами компьютера 8, а к входам вычислительных устройств 19 и 20 через разделительные конденсаторы 21 и 22 подсоединены выходы первого 6 и второго 18 усилителей-формирователей соответственно , входы запуска устройств 19 и 20 подключены к выходу триггера 10, блок управлени  лазера 1 двухсторонней св зью соединен с компьютером 8.
Система работает следующим образом.
Лазер непрерывного излучени  11 используетс  дл  юстировки элементов системы: лазера 1, оптической системы 3, измерител  толщины 15 (щупов 13 и 14), диафрагмы 16, фотодетектора 5. Щупы 13 и 14 располагают таким образом, чтобы сигнал от фотодетектора 5, отображаемый на осциллографе 7, не отклон лс  от значени  соответствующего сигнала без установленного измерител  толщины (т, е. щупы не должны оттен ть луч лазера). Юстировку системы осуществл ют по мере необходимости , а в процессе работы лазер 11 обычно отключен.
Образец 4 установлен таким образом,
чтобы остри  щупов 13 и 14 прижимались к нему с двух сторон. Так, как щуп 14 неподвижен , тыльна  поверхность образца расположена на фиксированном рассто нии от фотодетектора 5, информаци  о толщине об0 разца вводитс  в компьютер.
Измерение проводитс  под управлением компьютера 8 по соответствующей программе . При соответствии режима работы лазера 1 (энергий импульса) заданному, по
5 сигналу от компьютера 8 лазер 1 излучает импульс света. После прохождени  оптиче: ской системы 3 (состо щий из аттенюатора, фокусирующих и отражающих элементов) излучение лазера фокусируетс  на фрон0 тальной поверхности образца 8. при этом луч не касаетс  стенок канала щупа 13. От импульсного теплового возмущени  по толщине образца распростран етс  тепловое возмущение, а также звукова  (упруга ) вол5 на. Инфракрасное излучение с тыльной поверхности образца, проход  сквозь канал щупа 14 и через диафрагму 16, попадает на фотодетектор 5, выполн ющий функцию датчика температуры. Усилитель-формиро0 ватель 6 с учетом нелинейных характеристик излучени  и фотоприемника формирует сигнал температуры, поступающий на осциллограф 7, на вход вычислительного устройства 19 и в компьютер 8.
5 Звукова  волна детектируетс  с помощью звукоснимател  17. Усилитель-формирователь 18 из пакета импульсов от датчика 17 формирует один сигнал, фронт которого определ етс  фронтом первого
0 импульса от датчика 17 (дл  этого блок 18 на входе или выходе содержит пиковый детектор ). Синхронизаци  развертки осциллографа 7, запуск вычислительных устройств 19 и 20 осуществл етс  от импульсного сигнала,
5 вырабатываемого триггером 10, когда на
фотоэлемент 9 попадает часть отраженного
от оптической системы излучени  лазера 1.
На вычислительные устройства 19 и 20
через конденсаторы 21 и 22, служащие дл 
0 отсечки фоновых (посто нных) составл ющих сигналов, поступают сигналы о распространении температурной и звуковой волн по толщине образца. Устройства 19 и 20 определ ют соответствующие интервалы
5 времени достижени  заданных уровней фронтов сигналов (обычно 50% от максимального ), соответственные значени  временных интервалов распространени  температурных и звуковых волн ввод тс  в рмпьютер 8- Компьютер по заданной программе осуществл 1ет непрерывный ввод wформации от измерител  толщины 12 и те ипературного датчика 6.
Так, как скорость охлаждени  образца значительно меньше скорости нарастани  температуры на тыльной поверхности образца , на этапе спада температуры можно параллельно исследовать динамику изменени  температуры и линейного размера образца..
Следовательно, после завершени  измерени  в компьютере содержитс  следующа  информаци : интервалы времени ра ;пространени  температурной Гт и звуко- во Г3 волн, массивы информации о кине- типе изменени  температуры Т и линейного размера образца X.
По времени ту определ етс  значение коэффициента температуропроводимости образца
5Г2 0.1388 -,
где X - среднее значение массива данных о толщине образца.
I По времени гэ определ етс  скорость распространени  упругих волн (звука) в образ це
,(2)
э и
где Т0 - врем  запаздывани  распространени  звуковой волны в элементах системы: в щупе 14, датчике 17, и т, д. (т0 заранее определ етс  с помощью экспериментов на эталонных образцах).
По скорости распространени  упругих волн в материале можно вычислить температуру Деба  в:
5 10
15
20
25
30
35
y hU()1/3,(3)
где h - посто нна  Планка;
N - полное число частиц в объеме V элементарной  чейки.
Информаци  о кинетике изменени  температуры и толщины образца позвол ет оценить значение коэффициента теплового расширени  образца (К.Т.Р.)К:
где AT и АХ - изменени  температуры и толщины образца.
В зависимости от программы компьютер может провести серию повторных измерений .
Осциллограф 7 предназначен дл  параллельного отображени  температурной кривой и дл  получени  ее фотоотпечаток. Сигнал, поступающий на дискретный вход компьютера 8 от триггера 10, служит дл  инницировани  режима слежени  компьютера .
Технико-экономическа  эффективность использовани  изобретени  предопредел етс  широкими функци ми системы, позвол ющей определить коэффициент температуропроводности, коэффициент теплового расширени  и температуры Деба  твердых материалов. Автоматизированное измерение толщины в непосредственной близости от области теплового возмущени  позвол ет обойтись без тщательной подготовки поверхностей образцов , а измерение температуры области образца, ограниченной диаметром канала щупа, повышает точности измерений.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Система дл  исследовани  теплофизи- ческ/ix свойств твердых материалов, содержаща  импульсный лазер, соединенный с блоком управлени  и оптически сопр женный : фронтальной поверхностью исследуемого образца, со стороны тыльной поверхности которого установлен фотодетектор , выход которого через первый усили- тельгформирователь соединен с входом осциллографа и с первым входом компьютера , оптически св занный с излучением импульсного лазера фотоэлемент, выход которого через триггер соединен с входом синхронизации осциллографа и с дискретным входом компьютера, отличающ а  с   тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей и повышени  точности , дополнительно введены котировочный лазер, измеритель толщины образца, состо щий из двух полых щупов, соединенных с датчиком перемещени , выход которого соединен с вторым входом компьютера, а ось каналов щупов совпадает с осью луча лазера , диафрагма, установленна  после Шла4 заднего щупа, звукосниматель, закрепленный на этом же щупе, выход которого соединен с входом второго усилител -формировател , два вычислительных устройства дл  анализа фронта сигналов, выходы которых соединены с цифровыми входами компьютера, входы вычислительных устройств соединены через разделительные конденсаторы с выходами первого и второго усилителей-формирователей, входы запуска вычислительных устройств подключены к
    выходу триггера, а блок управлени  лазера соединен двухсторонней св зью с компьютером .
SU904853920A 1990-07-25 1990-07-25 Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов RU1793347C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904853920A RU1793347C (ru) 1990-07-25 1990-07-25 Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904853920A RU1793347C (ru) 1990-07-25 1990-07-25 Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1793347C true RU1793347C (ru) 1993-02-07

Family

ID=21529130

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904853920A RU1793347C (ru) 1990-07-25 1990-07-25 Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1793347C (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112051184A (zh) * 2020-09-25 2020-12-08 沈阳理工大学 一种密闭容器活性材料烤燃实验测试系统及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112051184A (zh) * 2020-09-25 2020-12-08 沈阳理工大学 一种密闭容器活性材料烤燃实验测试系统及方法
CN112051184B (zh) * 2020-09-25 2024-03-22 沈阳理工大学 一种密闭容器活性材料烤燃实验测试系统及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3782824A (en) Apparatus and method for measuring extinction coefficient of an atmospheric scattering medium
US4243327A (en) Double-beam optical method and apparatus for measuring thermal diffusivity and other molecular dynamic processes in utilizing the transient thermal lens effect
CN107356320B (zh) 一种脉冲超声声场检测装置与方法
US20150308892A1 (en) Impulsive synchronization spectrometer based on adjustable time window
US4679936A (en) Process and apparatus for measuring optical density changes and transit times in transparent materials
US5048969A (en) Piezoelectric measurement of laser power
US4798477A (en) Apparatus and method for static stress measurement in an object
RU1793347C (ru) Система дл исследовани теплофизических свойств твердых материалов
US6445457B1 (en) Laser detection of material thickness
JPH1038856A (ja) 光吸収率測定装置及び測定方法
Bach et al. Temperature measurement of particulate surfaces
JP2006038765A (ja) 吸収計測装置
JPS59149126A (ja) 屈折力・眼軸長測定装置
CN212364068U (zh) 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置
RU2800721C1 (ru) Устройство для измерения энергии лазерных импульсов
CN213984981U (zh) 一种金属厚度检测装置
JPH04295711A (ja) レーザー光の位置検出方法
SU922581A1 (ru) Устройство дл испытани материалов на ударное сжатие
CN111443062B (zh) 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法
RU2031362C1 (ru) Устройство для измерения линейных размеров движущихся объектов
SU1659813A1 (ru) Способ измерени коэффициента температуропроводности плоского прозрачного образца и устройство дл его осуществлени
CN111443062A (zh) 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法
RU2024826C1 (ru) Устройство для измерения коэффициентов поглощения и рассеяния ик-излучения
McLaughlin et al. Scanning Densitometer for Continuous Recording of Spectral Transmission Density at Low Spatial Contrast
JP2885979B2 (ja) 温度分布検出装置