RU176244U1

RU176244U1 - Chip Control Panel

Info

Publication number: RU176244U1
Application number: RU2017125913U
Authority: RU
Inventors: Дмитрий Викторович Могильников; Лариса Николаевна Афанасьева; Антон Сергеевич Воробьев
Original assignee: Акционерное общество "МЦСТ"
Priority date: 2017-07-19
Filing date: 2017-07-19
Publication date: 2018-01-12

Abstract

Полезная модель относится к области испытательной техники и может быть использована для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также для контроля динамических параметров микросхем. Техническим результатом является расширение функциональных возможностей панели за счет обеспечения контроля параметров одновременно нескольких микросхем. Панель контроля параметров микросхем содержит четыре контактирующих устройства, четыре контрольные точки, четыре соединителя и перемычку. 3 ил.

The utility model relates to the field of testing equipment and can be used to conduct reliability tests and electrothermation of semiconductor devices and integrated circuits, as well as to control the dynamic parameters of microcircuits. The technical result is to expand the functionality of the panel by providing control of the parameters of several chips simultaneously. The microcircuit parameters control panel contains four contacting devices, four control points, four connectors and a jumper. 3 ill.

Description

Полезная модель относится к области испытательной техники и может быть использована для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также для контроля динамических параметров микросхем.The utility model relates to the field of testing equipment and can be used to conduct reliability tests and electrothermation of semiconductor devices and integrated circuits, as well as to control the dynamic parameters of microcircuits.

Известно устройство для электротермотренировки интегральных схем [RU №1582902 C, H01G 9/42, 27.08.1995], содержащее камеру с входными и выходными патрубками для подачи и отвода теплоносителя, электровводы, соединенные с разъемами для подключения интегральных схем, блок питания интегральных схем, блок подачи входных сигналов к интегральным схемам, выходы которого соединены с электровводами, управляемый блок аварийной защиты, отличающееся тем, что, с целью увеличения производительности и уменьшения габаритов, в него введен блок циклической коммутации, входы которого соединены с выходом источника питания интегральных схем, а выходы соединены с электровводами, каждый из которых соединен с входом соответствующего интегрирующего звена, выход которого соединен с анодом диода, а катод диода подключен к входу общего компаратора, выход которого соединен с управляющим входом блока аварийной защиты.A device for electrically testing integrated circuits [RU No. 1582902 C, H01G 9/42, 08/27/1995], comprising a camera with inlet and outlet pipes for supplying and discharging a heat carrier, electrical inputs connected to connectors for connecting integrated circuits, an integrated circuit power supply, a unit for supplying input signals to integrated circuits, the outputs of which are connected to electric inputs, a controllable emergency protection unit, characterized in that, in order to increase productivity and reduce dimensions, a cyclic switching unit is introduced into it, the inputs of which are connected to the output of the power source of the integrated circuits, and the outputs are connected to electrical inputs, each of which is connected to the input of the corresponding integrating link, the output of which is connected to the anode of the diode, and the cathode of the diode is connected to the input of a common comparator, the output of which is connected to the control input of the emergency unit protection.

Недостатком данного устройства является его большие габариты.The disadvantage of this device is its large dimensions.

Наиболее близким к заявляемому является Контактирующее устройство для контроля динамических параметров микросхем [АС СССР №686107 A1, H01L 21/66, 15.09.1979], содержащее основание с углублениями, в которых расположены зонды, зонды выполнены в виде диэлектрических пластин, одна из боковых поверхностей которых содержит экран, а другая - по меньшей мере, две печатные полоски, каждая из которых соединена с одной стороны с закрепленными в углублении на пластине высокочастотными разъемами, а с другой - через металлизированные отверстия с V-образным наконечником, закрепленным в углублении вне печатных полосок на одном из концов пластин.Closest to the claimed is a contacting device for monitoring the dynamic parameters of microcircuits [USSR AS No. 686107 A1, H01L 21/66, 09/15/1979], containing a base with recesses in which the probes are located, the probes are made in the form of dielectric plates, one of the side surfaces which contains a screen, and the other contains at least two printing strips, each of which is connected on one side with high-frequency connectors fixed in the recess on the plate, and on the other through metallized holes with a V-shaped tip com, fixed in the recess is printed strips at one end of the plates.

Недостатком данного устройства является то, что оно позволяет проводить контроль параметров одновременно только одной микросхемы.The disadvantage of this device is that it allows you to control the parameters of only one chip at a time.

Техническим результатом является расширение функциональных возможностей панели за счет обеспечения контроля параметров одновременно нескольких микросхем.The technical result is to expand the functionality of the panel by providing control of the parameters of several chips simultaneously.

Технический результат достигается тем, что «Панель контроля параметров микросхем», содержащая контактирующее устройство, дополнительно введены три контактирующих устройства, четыре соединителя, четыре контрольных точки и перемычка, которая соединена одним концом с входом тестовых данных второго соединителя, а другим - с его выходом тестовых данных, входы первой, второй, третьей и четвертой контрольных точек соединены с выходами соответственно первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств, выход сигнала тестового тактирования первого соединителя соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и второго соединителя, вход сигнала выбора режима тестирования которого соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и одноименным выходом первого соединителя, выход тестовых данных которого соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и первого соединителя, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных второго контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных четвертого контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных третьего контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого соединителя, выход шина питания третьего соединителя соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и четвертого соединителя.The technical result is achieved by the fact that the "Chip Parameters Control Panel" containing the contacting device, additionally introduced three contacting devices, four connectors, four control points and a jumper that is connected at one end to the input of the test data of the second connector, and the other to its output of test data, the inputs of the first, second, third and fourth control points are connected to the outputs of the first, second, third and fourth contacting devices, respectively, the output of the test signal of the first connector is connected to the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the second connector, the input of the test mode selection signal of which is connected to the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the same output of the first connector, test data output which is connected to the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the first connector, the test data path of which is connected to the test data input of the second contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the fourth contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the third contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the first contacting device devices, the test data output of which is connected to the test data input of the first connector, the output of the power bus of the third connector with It is single with the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the fourth connector.

На фиг. 1 представлена блок-схема панели.In FIG. 1 is a block diagram of a panel.

На фиг. 2 представлен общий вид контактирующего устройства.In FIG. 2 shows a general view of a contacting device.

На фиг. 3 представлен механизм захвата выводов.In FIG. 3 shows the mechanism for capturing conclusions.

Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) содержит четыре контактирующих устройства 5, 6, 10 и 11, четыре контрольные точки 2, 3, 12 и 13, четыре соединителя 1, 4, 8 и 9, и перемычку.The microcircuit parameters control panel (Fig. 1) contains four contacting devices 5, 6, 10 and 11, four control points 2, 3, 12 and 13, four connectors 1, 4, 8 and 9, and a jumper.

Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) содержит четыре контактирующих устройства 5, 6, 10 и 11, четыре контрольные точки 2, 3, 12 и 13, четыре соединителя 1, 4, 8 и 9, и перемычку 7, которая соединена одним концом с входом тестовых данных второго соединителя 4, а другим - с его выходом тестовых данных, входы первой 2, второй 3, третьей 12 и четвертой 13 контрольных точек соединены с выходами соответственно первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств, выход сигнала тестового тактирования первого соединителя 1 соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и второго соединителя 4, вход сигнала выбора режима тестирования которого соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и одноименным выходом первого соединителя 1, выход тестовых данных которого соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и первого соединителя 1, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных второго контактирующего устройства 6, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных четвертого контактирующего устройства 11, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных третьего контактирующего устройства 10, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого контактирующего устройства 5, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого соединителя, выход шина питания третьего соединителя 8 соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и четвертого соединителя 9.The microcircuit parameters control panel (Fig. 1) contains four contacting devices 5, 6, 10 and 11, four control points 2, 3, 12 and 13, four connectors 1, 4, 8 and 9, and a jumper 7, which is connected at one end with the input of the test data of the second connector 4, and the other with its output of test data, the inputs of the first 2, second 3, third 12 and fourth 13 control points are connected to the outputs of the first 5, second 6, third 10 and fourth 11 contacting devices, output the test clock signal of the first connector 1 is connected to the same inputs of the first 5, second 6, third 10 and fourth 11 contacting devices and the second connector 4, the input of the test mode selection signal which is connected to the combined inputs of the same name of the first 5, second 6, third 10 and fourth 11 contacting devices and the same output of the first connector 1, the output of the test data of which is connected to the combined inputs of the same name of the first 5, second 6, third 10 and fourth 11 contacting devices and the first connector 1, the output of the test data of which is single with the test data input of the second contacting device 6, the test data output of which is connected to the test data input of the fourth contacting device 11, the test data output of which is connected to the test data input of the third contacting device 10, the test data output of which is connected to the test data input of the first contacting device 5, the test data output of which is connected to the test data input of the first connector, the output of the power bus of the third connector 8 is connected to noimennymi first inputs 5, second 6, third 10 and fourth 11 contacting devices 9 and the fourth connector.

Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) работает следующим образом.The control panel parameters of microcircuits (Fig. 1) works as follows.

Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) представляет собой печатную плату, предназначенную для контроля электрических параметров и функционального контроля при проведении испытаний на безотказность и электротермотренировки микросхем серий 1891 и 1991. Для каждого типа микросхем серий 1891 и 1991 изготавливается отдельный вид панели с учетом конструкторско-технологических требований на конкретный тип микросхем.The microchip parameters control panel (Fig. 1) is a printed circuit board designed to control electrical parameters and functional control during fail-safe tests and electrothermal testing of microchips of the 1891 and 1991 series. For each type of microchip of the 1891 and 1991 series, a separate type of panel is made taking into account the design -technological requirements for a specific type of chip.

В качестве контактирующего устройства (фиг. 2) используется устройство для микросхем с шариковыми выводами с прижимным захватом выводов контактами в двух точках каждого вывода. Размеры А и В и количество контактов зависят от размеров корпуса микросхемы и количества шариковых выводов.As a contacting device (Fig. 2), a device is used for microcircuits with ball terminals with pressure-gripping terminals with contacts at two points of each terminal. Dimensions A and B and the number of contacts depend on the dimensions of the housing of the microcircuit and the number of ball terminals.

Прижимной механизм (фиг. 3) с захватом вывода с двух сторон обеспечивает надежный контакт микросхемы с печатной платой, минимальные повреждения выводов во время установки-снятия микросхем и обеспечивает компактный размер самого контактирующего устройства.The clamping mechanism (Fig. 3) with the capture of the output on both sides provides reliable contact between the microcircuit and the printed circuit board, minimal damage to the terminals during installation and removal of the microcircuit, and provides a compact size of the contacting device itself.

Каждая микросхема устанавливается в соответствующее контактирующее устройство 5, 6, 10. и 11. Контрольно-измерительное оборудование при проведении контроля электрических параметров микросхем подключается набор контрольных точек 2, 3, 12 и 13.Each microcircuit is installed in the corresponding contacting device 5, 6, 10. and 11. Control and measuring equipment, when monitoring the electrical parameters of microcircuits, a set of control points 2, 3, 12 and 13 is connected.

Функциональный контроль микросхем на панели контроля параметров микросхем (фиг. 1) проводится средствами скан-тестирования по стандарту IEEE 1149.1 (JTAG).Functional control of microcircuits on the microcircuit parameters control panel (Fig. 1) is carried out by means of scan testing according to the IEEE 1149.1 (JTAG) standard.

На панели контроля параметров микросхем (фиг. 1) расположен входной соединитель 1 для подключения внешнего контроллера IEEE 1149.1 (JTAG). Сигналы тестового тактирования и выбора режима тестирования (сигналы TCK и TMS стандарта IEEE 1149.1) с соединителя 1 поступают на контактирующие устройства 5, 6, 10, 11. Перемычка 7 в замкнутом состоянии служит для замыкания входа тестовых данных (сигнал TDI стандарта IEEE 1149.1) с соединителя 1 на вход контактирующего устройства 6. Выход тестовых данных (сигнал TDO стандарта IEEE 1149.1) с контактирующего устройства 6 поступает на вход контактирующего устройства 11. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 11 поступает на вход контактирующего устройства 10. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 10 поступает на вход контактирующего устройства 5. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 5 поступает на соединитель 1.An input connector 1 for connecting an external IEEE 1149.1 (JTAG) controller is located on the chip parameter control panel (Fig. 1). Test clock and test mode selection signals (TCK and TMS signals of IEEE 1149.1 standard) from connector 1 are sent to contacting devices 5, 6, 10, 11. Jumper 7 in the closed state serves to close the input of test data (TDI signal of IEEE 1149.1 standard) with connector 1 to the input of the contacting device 6. The output of test data (TDO signal of IEEE 1149.1 standard) from the contacting device 6 is fed to the input of the contacting device 11. The output of test data from the contacting device 11 is fed to the input of the contacting device 10 The output of test data from the contacting device 10 is fed to the input of the contacting device 5. The output of test data from the contacting device 5 is fed to the connector 1.

Для выполнения требования по выборке микросхем для испытаний большей, чем четыре, что позволяет установить одна панель контроля параметров микросхем (фиг. 1), реализована возможность расширения за счет объединения нескольких панелей в одну скан-цепь. Для этого предназначен выходной соединитель 4, расположенный этого на панели. Сигналы тестового тактирования, выбора режима тестирования и вход тестовых данных с соединителя 1 поступают на соединитель 4. Перемычка 7 в разомкнутом состоянии служит для замыкания выхода тестовых данных с соединителя 4 на вход контактирующего устройства 6. В случае объединения нескольких панелей контроля параметров микросхем в одну скан-цепь, перемычка 7 должна быть замкнута у последней панели в цепи, а у остальных разомкнута. Таким образом, для проведения функционального контроля всех микросхем объединенной цепи достаточно одного контроллера IEEE 1149.1 (JTAG), подключаемого к соединителю 1 первой панели в цепи.To fulfill the requirement for a sampling of microchips for testing more than four, which allows you to install one control panel of the parameters of the microcircuits (Fig. 1), the possibility of expansion is realized by combining several panels in one scan circuit. For this, the output connector 4 is located located on the panel. The signals of the test clock, the selection of the test mode and the input of test data from connector 1 are fed to connector 4. Jumper 7 in the open state serves to close the output of test data from connector 4 to the input of the contacting device 6. If several control panels of microcircuit parameters are combined into one scan -chain, jumper 7 must be closed at the last panel in the circuit, and the rest is open. Thus, to carry out functional control of all integrated circuit microcircuits, one IEEE 1149.1 (JTAG) controller is enough to be connected to connector 1 of the first panel in the circuit.

Входной соединитель 8 предназначен для подачи питающих напряжений на микросхемы с внешних источников питания, а выходной соединитель 9 предназначен для подачи транзитного питания на другую панель контроля параметров микросхем в случае объединения плат в одну скан-цепь.The input connector 8 is designed to supply voltage to the microcircuit from external power sources, and the output connector 9 is designed to supply transit power to another control panel of the microcircuit parameters in case of combining the boards into one scan circuit.

Таким образом, обеспечивает возможность контроля параметров одновременно нескольких микросхем.Thus, it provides the ability to control the parameters of several microcircuits simultaneously.

Claims

A microchip parameters control panel containing a contacting device, characterized in that three contacting devices, four connectors, four control points and a jumper that is connected at one end to the input of test data of the second connector and the other to its output of test data are introduced into it, the inputs of the first, second, third and fourth control points are connected to the outputs of the first, second, third and fourth contacting devices, respectively, the output of the test clock signal the connector is connected to the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the second connector, the input of the test mode selection signal of which is connected to the combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the same output of the first connector, the test data output of which is connected with combined inputs of the same name of the first, second, third and fourth contacting devices and the first connector, test data output x which is connected to the test data input of the second contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the fourth contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the third contacting device, the test data output of which is connected to the test data input of the first contacting device, the output of test data of which is connected to the input of test data of the first connector, the output of the power bus of the third connector is connected to the same inputs of the first, second, third and fourth contacting devices and the fourth connector.