RU1297504C - Способ получения пленок химических соединений - Google Patents

Способ получения пленок химических соединений Download PDF

Info

Publication number
RU1297504C
RU1297504C SU3914977A RU1297504C RU 1297504 C RU1297504 C RU 1297504C SU 3914977 A SU3914977 A SU 3914977A RU 1297504 C RU1297504 C RU 1297504C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
discharge
discharge voltage
flow
adjusting
reproducibility
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Л.А. Сейдман
Е.И. Колесов
Original Assignee
Научно-исследовательский институт "Пульсар"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт "Пульсар" filed Critical Научно-исследовательский институт "Пульсар"
Priority to SU3914977 priority Critical patent/RU1297504C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1297504C publication Critical patent/RU1297504C/ru

Links

Abstract

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для нанесения защитных покрытий и пленочных элементов интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение воспроизводимости свойств пленок. Для осаждения пленок нитрида кремния распыляли мишень из монокристаллического кремния. Магнетронным источником устанавливали ток разряда 1,5 А. В процессе очистки в среде аргона напряжение разряда было 890 - 930 В. Затем напускали в камеру азот, регулируя его поток так, чтобы напряжение разряда достигло 550 В. Общее давление в камере при этом составляет (9-10,5)·10-1Па. Стабилизация тока разряда источником питания, а напряжение разряда - регулировкой потока активного газа при постоянном потоке инертного газа позволяет получать точность воспроизведения толщины пленки и скорости ее осаждения в пределах 10%. Воспроизводимость состава пленок оценивается по времени их травления в плавиковой кислоте (15 ± 10 мин) .

Description

Изобретение относится к области электронной техники и микроэлектроники и может быть использовано для нанесения защитных покрытий и пленочных элементов интегральных микросхем.
Целью изобретения является повышение воспроизводимости свойств пленок за счет повышения устойчивости. Стабилизация потока инертного газа делает его независимым от возмущающих факторов: появления примесных газов (водорода или гелия), изменения температуры подложки. Действия возмущающих факторов компенсируются только небольшими изменениями потока активного газа. В результате сдвиг от исходного режима меньше, чем в способе - прототипе. Стабилизация тока разряда и поддержание постоянной величины напряжения разряда регулировкой потока активного газа позволяет использовать предлагаемый способ для разрядов в магнетронном источнике, имеющем монотонную вольтамперную характеристику (ВАХ), у которой в рабочей точке динамическое сопротивление разряда больше статического, или S-образную ВАХ.
Подджержание постоянным напряжения разряда при заданном токе разряда путем регулирования потока активного газа позволяет поддерживать неизменной скорость осаждения пленки, что основано на сильной зависимости вольт-амперных характеристик магнетронного источника от парциальных давлений активного газа, В зависимости от конкретного газа напряжение разряда при заданном его токе может расти с ростом парциального давления, а может и уменьшаться. Эти изменения достигают нескольких сотен вольт при росте концентрации активного газа до 50%. Такие изменения напряжения легко фиксируются, и соответствующим изменением потока активного газа напряжение можно привести к первоначальному значению. Обеспечив постоянство скорости осаждения, получают высокую воспроизводимость толщины пленки при заданном времени осаждения и концентрации активного газа в пленке, т.е. повышается воспроизводимость свойств пленки.
Эффективность применения способа можно оценить по величине отношения относительных изменений напряжения и тока в рабочей точке ВАХ= т.е. по величине.
Figure 00000001
:
Figure 00000002
=
Figure 00000003
·
Figure 00000004
=
Figure 00000005
Здесь обозначены Rд=
Figure 00000006
- динамическое сопротивление разряда и Rд=
Figure 00000007
- статическое сопротивление в рабочей точке. Если указанное отношение больше единицы, то целесообразно применение предлагаемого способа, так как величина напряжения разряда изменяется сильнее, чем его ток при воздействии возникающих факторов.
П р и м е р. Проводили осаждение пленок нитрида кремния в вакуумной установке УРМЗ/.279-017, оснащенной магнетронным источником. Мишень источника была изготовлена из монокристаллического кремния толщиной 6 мм. В камеру подавались независимо друг от друга аргон и азот, потоки которых регулировали игольчатыми натекателями. После откачки вакуумной камеры до вакуума 8 ˙10-4 Па, в камеру напускали аргон до давления 6˙ 10-1 Па, в дальнейшем его поток не менялся. Включали магнетронный источник и устанавливали ток разряда 1,5 А. В этом режиме две минуты проводили очистку поверхности мишени, распыляя ее на заслонку. Напряжение разряда в это время было 890-930 В. Затем напускали в камеру азот, регулируя его поток так, чтобы напряжение разряда снизилось до 550 В. Общее давление в вакуумной камере при этом было (9-10,5)˙ 10-1Па. В этом режиме проводили осаждение пленок в течение 12 мин на подложки, установленные на вращающейся карусели. В десяти экспериментах были получены пленки толщиной 0,2±0,02 мкм. Полученная точность воспроизведения толщины пленки и скорости ее осаждения ±10% достаточно высока для технологии современных полупроводниковых приборов и ИС.
Воспроизводимость состава пленок оценивалась по времени травления в плавиковой кислоте (15±10 мин). Это говорит о хорошей воспроизводимости по сравнению с прототипом, в котором разброс по толщине достигал ±20%.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПЛЕНОК ХИМИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ, включающий распыление металлической или полупроводниковой мишени в смеси инертного и активного газов плазмой разряда, имеющего вольт-амперную характеристику с динамическим сопротивлением, большим статического при стабилизации тока и напряжения разряда в процессе распыления, причем один из параметров стабилизируют источником питания, а другой - посредством регулировки потока активного газа, отличающийся тем, что, с целью повышения воспроизводимости свойств пленок за счет повышения устойчивости режима разряда, источником питания стабилизируют ток разряда, а регулировкой потока активного газа - напряжение разряда, при этом в процессе распыления поток инертного газа поддерживают постоянным.
SU3914977 1985-06-21 1985-06-21 Способ получения пленок химических соединений RU1297504C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3914977 RU1297504C (ru) 1985-06-21 1985-06-21 Способ получения пленок химических соединений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3914977 RU1297504C (ru) 1985-06-21 1985-06-21 Способ получения пленок химических соединений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1297504C true RU1297504C (ru) 1994-07-30

Family

ID=30440279

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU3914977 RU1297504C (ru) 1985-06-21 1985-06-21 Способ получения пленок химических соединений

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1297504C (ru)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Электронная техника", сер.3, "Микроэлектроника", вып.7, 1973, с.93-98. *
Патент Великобритании N 2005309, кл. C 23C 15/00, 1978. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4812712A (en) Plasma processing apparatus
JP2690460B2 (ja) 半導体材料のプラズマ除去法
US4579623A (en) Method and apparatus for surface treatment by plasma
US4380489A (en) Method of producing polysilicon structure in the 1 μm range on substrates containing integrated semiconductor circuits by plasma etching
US5939149A (en) Method of forming hydrogen-free diamond like carbon (DLC) films
US4222838A (en) Method for controlling plasma etching rates
US20060051975A1 (en) Novel deposition of SiON dielectric films
US4246296A (en) Controlling the properties of native films using selective growth chemistry
CN110832623A (zh) 蚀刻方法和等离子体蚀刻材料
US5045346A (en) Method of depositing fluorinated silicon nitride
RU1297504C (ru) Способ получения пленок химических соединений
CN111527591A (zh) 等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置
Grande et al. Characterization of etch rate and anisotropy in the temperature‐controlled chemically assisted ion beam etching of GaAs
JPH08330278A (ja) 表面処理方法および表面処理装置
US20230162972A1 (en) Plasma etching method using perfluoroisopropyl vinyl ether
US6465363B1 (en) Vacuum processing method and vacuum processing apparatus
US5053104A (en) Method of plasma etching a substrate with a gaseous organohalide compound
JP3143252B2 (ja) 硬質炭素薄膜形成装置およびその形成方法
KR20200118761A (ko) 에칭 방법 및 플라즈마 처리 장치
RU1163656C (ru) Способ плазменного реактивного нанесения пленок в вакууме
KR102461689B1 (ko) 펜타플루오로프로판올(pentafluoropropanol)을 이용한 플라즈마 식각 방법
SU1093175A1 (ru) Способ получени структур кремний-двуокись кремни -нитрид кремни
US5275692A (en) Method for fabricating integrated circuits
RU2118206C1 (ru) Способ получения легированных алмазоподобных покрытий
KR910008977B1 (ko) 산화막 형성방법