RO80159B1 - Aparat pentru testarea modulelor de memorie cu circuite mos - Google Patents

Abstract

Inventia rezolva o problema din domeniul industriei de tehnica de calcul si anume referitoare la echiparea liniilor de fabricatie a memoriilor calculatoarelor electronice cu aparatura de verificare. Aparat pentru testarea modulelor de memorie cu circuite MOS este format dintr-un dispozitiv de comanda care coordoneaza functionarea de ansambluri a testorului, un panou de programare si vizualizare care permite afisarea locatiei erorilor pe modulul de memorie si starii la un moment dat a unui test, programeaza regimurile de functionare si introduce comenzi pentru dispozitivul de comanda, un generator de coduri programat de dispozitivul de comanda si care furnizeaza adrese prin intermediul unui bus, unui formator de adrese, prin intermediul unui bus date de catre un formator de date si comenzi catre o baza de timp din niste registre de contabilizare adrese, niste registre de contabilizare date citite, date de comparatie, niste comparatoare cu bit, care compara datele citite cu datele de comparatie erorile rezultate fiind înmagazinate într-o memorie a locatiilor erorilor pe modul, niste surse pilotate care sunt comandate de dispozitivul de comanda si care furnizeaza tensiuni pentru un cuplor în care se introduce modulul de test.